Your Search Results
Use materials about this topic in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content - such as case studies and journal articles - for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Topic: X-ray Optics
Results
2011 / IEEE
By: Barquinha, P.; Goncalves, G.; Parthiban, S.; Saji, K.J.; Elangovan, E.; Fortunato, E.; Martins, R.;
By: Barquinha, P.; Goncalves, G.; Parthiban, S.; Saji, K.J.; Elangovan, E.; Fortunato, E.; Martins, R.;
2011 / IEEE / 978-3-8007-3356-9
By: Mocuta, C.; Lagay, N.; Guillamet, R.; Decobert, J.; Lagree, P.; Carbone, G.;
By: Mocuta, C.; Lagay, N.; Guillamet, R.; Decobert, J.; Lagree, P.; Carbone, G.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0336-2
By: Mitsuishi, I.; Kanamori, Y.; Ohashi, T.; Ogawa, T.; Mita, M.; Moriyama, T.; Ezoe, Y.; Maeda, A.; Mitsuda, K.;
By: Mitsuishi, I.; Kanamori, Y.; Ohashi, T.; Ogawa, T.; Mita, M.; Moriyama, T.; Ezoe, Y.; Maeda, A.; Mitsuda, K.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0336-2
By: Ishizu, K.; Ezoe, Y.; Mitsuda, K.; Mitsuishi, I.; Ogawa, T.; Moriyama, T.;
By: Ishizu, K.; Ezoe, Y.; Mitsuda, K.; Mitsuishi, I.; Ogawa, T.; Moriyama, T.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0336-2
By: Kanamori, Y.; Ohashi, T.; Moriyama, T.; Ezoe, Y.; Mitsuishi, I.; Riveros, R.; Ogawa, T.; Yamaguchi, H.; Mitsuda, K.;
By: Kanamori, Y.; Ohashi, T.; Moriyama, T.; Ezoe, Y.; Mitsuishi, I.; Riveros, R.; Ogawa, T.; Yamaguchi, H.; Mitsuda, K.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-978-2
By: Tieg, C.; Thomson, T.; Morrison, C.; Bisig, A.; Barton, C.; Buttner, F.; Schaffert, S.; Rhensius, J.; Moutafis, C.; Klaui, M.; Eisebitt, S.; Gunther, C.M.; Pfau, B.;
By: Tieg, C.; Thomson, T.; Morrison, C.; Bisig, A.; Barton, C.; Buttner, F.; Schaffert, S.; Rhensius, J.; Moutafis, C.; Klaui, M.; Eisebitt, S.; Gunther, C.M.; Pfau, B.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-8939-8
By: Rocca, J.J.; Marconi, M.C.; Howlett, I.D.; Carbajo, S.; Menoni, C.S.;
By: Rocca, J.J.; Marconi, M.C.; Howlett, I.D.; Carbajo, S.; Menoni, C.S.;
2007 / American Institute of Physics
By: L. F. Cao; E. Förster; A. Fuhrmann; C. K. Wang; L. Y. Kuang; S. Y. Liu; Y. K. Ding;
By: L. F. Cao; E. Förster; A. Fuhrmann; C. K. Wang; L. Y. Kuang; S. Y. Liu; Y. K. Ding;
2007 / American Institute of Physics
By: A. Jarre; J. Seeger; C. Ollinger; C. Fuhse; C. David; T. Salditt;
By: A. Jarre; J. Seeger; C. Ollinger; C. Fuhse; C. David; T. Salditt;
2007 / American Institute of Physics
By: Nicholas R. Kyele; Roelof G. van Silfhout; Spyros Manolopoulos; S. Nikitenko;
By: Nicholas R. Kyele; Roelof G. van Silfhout; Spyros Manolopoulos; S. Nikitenko;
2006 / American Institute of Physics
By: Hirokatsu Yumoto; Hidekazu Mimura; Satoshi Matsuyama; Soichiro Handa; Yasuhisa Sano; Makina Yabashi; Kazuto Yamauchi; Yoshinori Nishino; Kenji Tamasaku; Tetsuya Ishikawa;
By: Hirokatsu Yumoto; Hidekazu Mimura; Satoshi Matsuyama; Soichiro Handa; Yasuhisa Sano; Makina Yabashi; Kazuto Yamauchi; Yoshinori Nishino; Kenji Tamasaku; Tetsuya Ishikawa;
2006 / American Institute of Physics
By: S. Matsuyama; H. Mimura; K. Yamauchi; H. Yumoto; H. Hara; K. Yamamura; Y. Sano; K. Endo; Y. Mori; M. Yabashi; Y. Nishino; K. Tamasaku; T. Ishikawa;
By: S. Matsuyama; H. Mimura; K. Yamauchi; H. Yumoto; H. Hara; K. Yamamura; Y. Sano; K. Endo; Y. Mori; M. Yabashi; Y. Nishino; K. Tamasaku; T. Ishikawa;
2007 / American Institute of Physics
By: Michael C. Bertilson; Per A. Takman; Anders Holmberg; Ulrich Vogt; Hans M. Hertz;
By: Michael C. Bertilson; Per A. Takman; Anders Holmberg; Ulrich Vogt; Hans M. Hertz;
2007 / American Institute of Physics
By: Maurizio Sacchi; Carlo Spezzani; Alessandro Carpentiero; Mauro Prasciolu; Renaud Delaunay; François Polack; Jan Lüning;
By: Maurizio Sacchi; Carlo Spezzani; Alessandro Carpentiero; Mauro Prasciolu; Renaud Delaunay; François Polack; Jan Lüning;
2014 / IEEE
By: Ezoe, Yuichiro; Ogawa, Tomohiro; Nakajima, Kazuo; Morishita, Kohei; Kakiuchi, Takuya; Mitsuishi, Ikuyuki; Ohashi, Takaya; Sato, Mayu; Ikuta, Masahiro; Mitsuda, Kazuhisa;
By: Ezoe, Yuichiro; Ogawa, Tomohiro; Nakajima, Kazuo; Morishita, Kohei; Kakiuchi, Takuya; Mitsuishi, Ikuyuki; Ohashi, Takaya; Sato, Mayu; Ikuta, Masahiro; Mitsuda, Kazuhisa;
2014 / IEEE
By: Ezoe, Yuichiro; Maeda, Ryutaro; Hiroshima, Hiroshi; Nakajima, Kazuo; Morishita, Kohei; Ogawa, Tomohiro; Yamaguchi, Hitomi; Mitsuda, Kazuhisa; Sato, Mayu; Ikuta, Masahiro; Kanamori, Yoshiaki;
By: Ezoe, Yuichiro; Maeda, Ryutaro; Hiroshima, Hiroshi; Nakajima, Kazuo; Morishita, Kohei; Ogawa, Tomohiro; Yamaguchi, Hitomi; Mitsuda, Kazuhisa; Sato, Mayu; Ikuta, Masahiro; Kanamori, Yoshiaki;
1995 / IEEE
By: Dattoli, G.; Ciocci, F.; Torre, A.; Ottaviani, P.L.; De Angelis, A.; Giannessi, L.; Garosi, F.; Faatz, B.;
By: Dattoli, G.; Ciocci, F.; Torre, A.; Ottaviani, P.L.; De Angelis, A.; Giannessi, L.; Garosi, F.; Faatz, B.;
1997 / IEEE / 0-7803-3895-2
By: Underwood, J.; Tejnik, E.; Medecki, H.; Lee, S.; Goldberg, K.; Bokor, J.; Attwood, D.;
By: Underwood, J.; Tejnik, E.; Medecki, H.; Lee, S.; Goldberg, K.; Bokor, J.; Attwood, D.;
1997 / IEEE / 0-7803-3895-2
By: Yanagihara, M.; Mayama, K.; Furudate, M.; Yamamoto, M.; Watanabe, M.;
By: Yanagihara, M.; Mayama, K.; Furudate, M.; Yamamoto, M.; Watanabe, M.;
1998 / IEEE
By: Kissel, S.; Bautz, M.; Jones, S.; Pivovaroff, M.; Prigozhin, G.; Miyata, E.; Tsunemi, H.; Ricker, G.;
By: Kissel, S.; Bautz, M.; Jones, S.; Pivovaroff, M.; Prigozhin, G.; Miyata, E.; Tsunemi, H.; Ricker, G.;
1998 / IEEE
By: Krausz, F.; Schnurer, M.; Scrinzi, A.; Geissler, M.; Spielmann, C.; Burnett, N.H.; Kan, C.; Brabec, T.;
By: Krausz, F.; Schnurer, M.; Scrinzi, A.; Geissler, M.; Spielmann, C.; Burnett, N.H.; Kan, C.; Brabec, T.;
1998 / IEEE / 0-7803-4909-1
By: Majkova, E.; Jergel, M.; Mikulik, P.; Konecnikova, A.; Kostic, I.; Luby, S.; Brunel, M.; Hudek, P.; Pincik, E.; Senderak, R.;
By: Majkova, E.; Jergel, M.; Mikulik, P.; Konecnikova, A.; Kostic, I.; Luby, S.; Brunel, M.; Hudek, P.; Pincik, E.; Senderak, R.;
1999 / IEEE
By: Stone, G.F.; Rambo, P.W.; Moreno, J.C.; Da Silva, L.B.; Celliers, P.; Trebes, J.E.; Barbee, T.W., Jr.; Wan, A.S.; Cauble, R.; Weber, F.;
By: Stone, G.F.; Rambo, P.W.; Moreno, J.C.; Da Silva, L.B.; Celliers, P.; Trebes, J.E.; Barbee, T.W., Jr.; Wan, A.S.; Cauble, R.; Weber, F.;
1999 / IEEE
By: Phalippou, D.; Joyeux, D.; Sebban, S.; Ros, D.; Klisnick, A.; Jamelot, G.; Zeitoun-Fakiris, A.; Jaegle, P.; Carillon, A.; Albert, F.; Zeitoun, P.; Boussoukaya, M.;
By: Phalippou, D.; Joyeux, D.; Sebban, S.; Ros, D.; Klisnick, A.; Jamelot, G.; Zeitoun-Fakiris, A.; Jaegle, P.; Carillon, A.; Albert, F.; Zeitoun, P.; Boussoukaya, M.;
1999 / IEEE / 0-7803-5661-6
By: Dong Gun Lee; Hyun Joon Shin; Chang Hee Nam; Kyung Han Hong; Yong Ho Cha;
By: Dong Gun Lee; Hyun Joon Shin; Chang Hee Nam; Kyung Han Hong; Yong Ho Cha;
1999 / IEEE / 0-7803-5634-9
By: Merriam, A.J.; Sharpe, S.J.; Harris, S.E.; Yin, G.Y.; Manuszak, D.; Xia, H.;
By: Merriam, A.J.; Sharpe, S.J.; Harris, S.E.; Yin, G.Y.; Manuszak, D.; Xia, H.;
1999 / IEEE / 0-7803-5224-6
By: Obenschain, S.; Lehecka, T.; Aglitskiy, Y.; Seely, J.; Brown, C.M.; Pawley, C.;
By: Obenschain, S.; Lehecka, T.; Aglitskiy, Y.; Seely, J.; Brown, C.M.; Pawley, C.;
1996 / IEEE / 1-55752-443-2
By: Chattopadhyay, S.; Kim, K.-J.; Govil, R.; Volfbeyn, P.; Schoenlein, R.W.; Leemans, W.P.; Shank, C.V.; Glover, T.E.; Chin, A.H.;
By: Chattopadhyay, S.; Kim, K.-J.; Govil, R.; Volfbeyn, P.; Schoenlein, R.W.; Leemans, W.P.; Shank, C.V.; Glover, T.E.; Chin, A.H.;
2000 / IEEE / 1-55752-634-6
By: Chang Hee Nam; Kyung Han Hong; Yong Ho Cha; Dong Gun Lee; Hyun Joon Shin;
By: Chang Hee Nam; Kyung Han Hong; Yong Ho Cha; Dong Gun Lee; Hyun Joon Shin;
2000 / IEEE / 1-55752-634-6
By: Martinez, O.E.; Chilla, J.L.A.; Marconi, M.C.; Kanizay, K.; Filevich, J.; Rocca, J.J.;
By: Martinez, O.E.; Chilla, J.L.A.; Marconi, M.C.; Kanizay, K.; Filevich, J.; Rocca, J.J.;
2000 / IEEE / 1-55752-634-6
By: Kojima, T.; Sekikawa, T.; Konno, S.; Watanabe, S.; Fujikawa, S.; Togashi, T.; Nabekawa, Y.; Yasui, K.;
By: Kojima, T.; Sekikawa, T.; Konno, S.; Watanabe, S.; Fujikawa, S.; Togashi, T.; Nabekawa, Y.; Yasui, K.;
2001 / IEEE / 0-7803-7141-0
By: Rupasov, A.A.; Bohacek, V.; Schmidt, J.; Kolacek, K.; Ripa, M.; Kishinets, A.S.; Skladnik-Sadowska, E.; Baranowski, J.;
By: Rupasov, A.A.; Bohacek, V.; Schmidt, J.; Kolacek, K.; Ripa, M.; Kishinets, A.S.; Skladnik-Sadowska, E.; Baranowski, J.;
2001 / IEEE / 1-55752-663-X
By: Grillon, G.; Audebert, P.; Sebban, S.; Rousse, A.; Fourmaux, S.; Gauthier, J.-C.; Balcou, P.; Geindre, J.-P.; Forster, E.; Uschmann, I.; Rischel, C.; Hulin, D.;
By: Grillon, G.; Audebert, P.; Sebban, S.; Rousse, A.; Fourmaux, S.; Gauthier, J.-C.; Balcou, P.; Geindre, J.-P.; Forster, E.; Uschmann, I.; Rischel, C.; Hulin, D.;
2001 / IEEE / 1-55752-663-X
By: Durfee, C.G.; Kapteyn, H.C.; Murnane, M.M.; Backus, S.; Misoguti, L.;
By: Durfee, C.G.; Kapteyn, H.C.; Murnane, M.M.; Backus, S.; Misoguti, L.;
2001 / IEEE / 1-55752-663-X
By: Murnane, M.M.; Christov, I.P.; Backus, S.; Bartels, R.A.; Kapteyn, H.C.;
By: Murnane, M.M.; Christov, I.P.; Backus, S.; Bartels, R.A.; Kapteyn, H.C.;
2001 / IEEE / 1-55752-663-X
By: De Silvestri, S.; de Lisio, C.; Bruzzese, R.; Altucci, C.; Villoresi, P.; Tondello, G.; Poletto, L.; Svelto, O.; Stagira, S.; Priori, E.; Nisoli, M.; Cerullo, G.;
By: De Silvestri, S.; de Lisio, C.; Bruzzese, R.; Altucci, C.; Villoresi, P.; Tondello, G.; Poletto, L.; Svelto, O.; Stagira, S.; Priori, E.; Nisoli, M.; Cerullo, G.;
2001 / IEEE / 0-7803-6738-3
By: Sekikawa, T.; Junhua Lu; Suganuma, T.; Togashi, T.; Watanabe, S.; Chuangtian Chen; Jiyang Wang; Zuyan Xu;
By: Sekikawa, T.; Junhua Lu; Suganuma, T.; Togashi, T.; Watanabe, S.; Chuangtian Chen; Jiyang Wang; Zuyan Xu;
2001 / IEEE / 0-7803-7105-4
By: Kishimoto, M.; Sasaki, A.; Kado, M.; Hasegawa, N.; Tanaka, M.; Kawachi, T.; Kato, Y.; Daido, H.; Koike, M.; Tang, H.-J.; Nagashima, K.; Tai, R.; Namba, S.; Takahashi, K.; Lu, P.; Sukegawa, K.;
By: Kishimoto, M.; Sasaki, A.; Kado, M.; Hasegawa, N.; Tanaka, M.; Kawachi, T.; Kato, Y.; Daido, H.; Koike, M.; Tang, H.-J.; Nagashima, K.; Tai, R.; Namba, S.; Takahashi, K.; Lu, P.; Sukegawa, K.;
2001 / IEEE / 0-7803-7008-2
By: Kaplin, V.V.; Nasonov, N.N.; Gary, Ch.K.; Piestrup, M.A.; Zabaev, N.; Uglov, S.R.;
By: Kaplin, V.V.; Nasonov, N.N.; Gary, Ch.K.; Piestrup, M.A.; Zabaev, N.; Uglov, S.R.;
2001 / IEEE / 0-7803-7191-7
By: Koseki, T.; Kamiya, Y.; Nakamura, N.; Nakayama, K.; Aoki, N.; Takaki, H.;
By: Koseki, T.; Kamiya, Y.; Nakamura, N.; Nakayama, K.; Aoki, N.; Takaki, H.;
2001 / IEEE / 0-7803-7324-3
By: Dangendorf, V.; Jagutzki, O.; Spillmann, U.; Schmidt-Bocking, H.; Ullmann-Pfleger, K.; Haberle, K.;
By: Dangendorf, V.; Jagutzki, O.; Spillmann, U.; Schmidt-Bocking, H.; Ullmann-Pfleger, K.; Haberle, K.;
2001 / IEEE / 0-7803-7324-3
By: Soltau, H.; Struder, L.; Gianoncelli, A.; Guazzoni, C.; Fiorini, C.; Longoni, A.; Lechner, P.; Wedell, R.; Kolarik, V.; Langhoff, N.; Schmalz, J.; Bjeoumikhov, A.;
By: Soltau, H.; Struder, L.; Gianoncelli, A.; Guazzoni, C.; Fiorini, C.; Longoni, A.; Lechner, P.; Wedell, R.; Kolarik, V.; Langhoff, N.; Schmalz, J.; Bjeoumikhov, A.;
2002 / IEEE / 1-55752-706-7
By: Kienberger, R.; Krausz, F.; Spielmann, C.; Reider, G.; Drescher, M.; Hentschel, M.;
By: Kienberger, R.; Krausz, F.; Spielmann, C.; Reider, G.; Drescher, M.; Hentschel, M.;
2002 / IEEE / 1-55752-706-7
By: Bartels, R.; Backus, S.; Attwood, D.; Liu, Y.; Murnane, M.M.; Kapteyn, H.C.; Paul, A.; Gibson, E.;
By: Bartels, R.; Backus, S.; Attwood, D.; Liu, Y.; Murnane, M.M.; Kapteyn, H.C.; Paul, A.; Gibson, E.;
2002 / IEEE
By: Schmalz, J.; Bjeoumikhov, A.; Lechner, P.; Soltau, H.; Struder, L.; Langhoff, N.; Guazzoni, C.; Fiorini, C.; Longoni, A.; Gianoncelli, A.; Wedell, R.;
By: Schmalz, J.; Bjeoumikhov, A.; Lechner, P.; Soltau, H.; Struder, L.; Langhoff, N.; Guazzoni, C.; Fiorini, C.; Longoni, A.; Gianoncelli, A.; Wedell, R.;
2002 / IEEE / 0-7803-7500-9
By: Krausz, F.; Spielmann, C.; Drescher, M.; Reider, G.A.; Hentschel, M.; Kienberger, R.;
By: Krausz, F.; Spielmann, C.; Drescher, M.; Reider, G.A.; Hentschel, M.; Kienberger, R.;