Your Search Results
Use materials about this topic in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content - such as case studies and journal articles - for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Topic: X-ray Detection
Results
2011 / IEEE
By: Rupitsch, S.J.; Weisfield, R.L.; Kragler, K.; Schick, A.; Alatas, F.; Koerdel, M.; Lerch, R.;
By: Rupitsch, S.J.; Weisfield, R.L.; Kragler, K.; Schick, A.; Alatas, F.; Koerdel, M.; Lerch, R.;
2011 / IEEE
By: Zwerger, A.; Mix, M.; Fauler, A.; Campbell, M.; Blaj, G.; Fiederle, M.; Ballabriga, R.; Hamann, E.; Lubke, J.; Pichotka, M.; Procz, S.;
By: Zwerger, A.; Mix, M.; Fauler, A.; Campbell, M.; Blaj, G.; Fiederle, M.; Ballabriga, R.; Hamann, E.; Lubke, J.; Pichotka, M.; Procz, S.;
2011 / IEEE
By: Zanotti, L.; Calestani, D.; Zambelli, N.; Benassi, G.; Mingzheng Zha; Marchini, L.; Gombia, E.; Caroli, E.; Auricchio, N.; Zappettini, A.; Pavesi, M.; Zanichelli, M.; Mosca, R.;
By: Zanotti, L.; Calestani, D.; Zambelli, N.; Benassi, G.; Mingzheng Zha; Marchini, L.; Gombia, E.; Caroli, E.; Auricchio, N.; Zappettini, A.; Pavesi, M.; Zanichelli, M.; Mosca, R.;
2011 / IEEE
By: Seller, P.; Cernik, R.C.; Jones, L.L.; Bell, S.J.; Veale, M.C.; Wilson, M.D.; Veeramani, P.; Sellin, P.J.; Kitou, D.; Allwork, C.;
By: Seller, P.; Cernik, R.C.; Jones, L.L.; Bell, S.J.; Veale, M.C.; Wilson, M.D.; Veeramani, P.; Sellin, P.J.; Kitou, D.; Allwork, C.;
2012 / IEEE
By: Fleetwood, D. M.; Weiss, S. M.; Zhang, E. X.; Bhandaru, S.; Reed, R. A.; Rogers, B. R.; Harl, R. R.; Weller, R. A.;
By: Fleetwood, D. M.; Weiss, S. M.; Zhang, E. X.; Bhandaru, S.; Reed, R. A.; Rogers, B. R.; Harl, R. R.; Weller, R. A.;
2012 / IEEE
By: Hall, D.J.; Murray, N.J.; Holland, A.D.; Tutt, J.H.; Evagora, A.M.; Clarke, A.; Harriss, R.D.;
By: Hall, D.J.; Murray, N.J.; Holland, A.D.; Tutt, J.H.; Evagora, A.M.; Clarke, A.; Harriss, R.D.;
2012 / IEEE
By: Yabashi, M.; Kimura, H.; Tono, K.; Matsubara, S.; Togashi, T.; Nagasono, M.; Fukuda, T.; Higashiya, A.; Wakamiya, A.; Kano, M.; Sarukura, N.; Shimizu, T.; Nakazato, T.; Cadatal-Raduban, M.; Sakai, K.; Yamanoi, K.; Ishikawa, T.; Ohashi, H.;
By: Yabashi, M.; Kimura, H.; Tono, K.; Matsubara, S.; Togashi, T.; Nagasono, M.; Fukuda, T.; Higashiya, A.; Wakamiya, A.; Kano, M.; Sarukura, N.; Shimizu, T.; Nakazato, T.; Cadatal-Raduban, M.; Sakai, K.; Yamanoi, K.; Ishikawa, T.; Ohashi, H.;
2012 / IEEE
By: Shimizu, T.; Nakazato, T.; Cadatal-Raduban, M.; Takeda, K.; Sakai, K.; Sarukura, N.; Wakamiya, A.; Kano, M.; Yamanoi, K.; Fukuda, T.;
By: Shimizu, T.; Nakazato, T.; Cadatal-Raduban, M.; Takeda, K.; Sakai, K.; Sarukura, N.; Wakamiya, A.; Kano, M.; Yamanoi, K.; Fukuda, T.;
2012 / IEEE
By: Peloso, R.; Fiorini, C.; Beverina, L.; Giussani, M.; Sampietro, M.; Binda, M.; Natali, D.; Iacchetti, A.;
By: Peloso, R.; Fiorini, C.; Beverina, L.; Giussani, M.; Sampietro, M.; Binda, M.; Natali, D.; Iacchetti, A.;
2012 / IEEE
By: Marchini, L.; James, R.B.; Camarda, G.S.; Bolotnikov, A.E.; Zambelli, N.; Zha, M.; Zappettini, A.;
By: Marchini, L.; James, R.B.; Camarda, G.S.; Bolotnikov, A.E.; Zambelli, N.; Zha, M.; Zappettini, A.;
2012 / IEEE
By: Trucchi, D.M.; Conte, G.; Allegrini, P.; Girolami, M.; Salvatori, S.; Ralchenko, V.G.;
By: Trucchi, D.M.; Conte, G.; Allegrini, P.; Girolami, M.; Salvatori, S.; Ralchenko, V.G.;
2004 / IEEE / 978-5-87911-088-3
By: Kovalev, V.G.; Kuznetsov, V.S.; Bluhm, H.; An, V.; Engelko, V.I.; Mueller, G.; Vyazmenova, G.A.;
By: Kovalev, V.G.; Kuznetsov, V.S.; Bluhm, H.; An, V.; Engelko, V.I.; Mueller, G.; Vyazmenova, G.A.;
2004 / IEEE / 978-5-87911-088-3
By: Rupasov, A.A.; Lahtushko, N.I.; Kartashov, A.V.; Zaitsev, V.I.; Volkov, G.S.; Shikanov, A.S.;
By: Rupasov, A.A.; Lahtushko, N.I.; Kartashov, A.V.; Zaitsev, V.I.; Volkov, G.S.; Shikanov, A.S.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-329-2
By: Morell, A.; Lassalle, F.; d'Almeida, T.; Zucchini, F.; Maury, P.; Calamy, H.;
By: Morell, A.; Lassalle, F.; d'Almeida, T.; Zucchini, F.; Maury, P.; Calamy, H.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1070-4
By: Zarubin, A.; Tyazhev, A.; Tolbanov, O.; Novikov, V.; Mokeev, D.;
By: Zarubin, A.; Tyazhev, A.; Tolbanov, O.; Novikov, V.; Mokeev, D.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1376-7
By: Aufderheide, M.B.; Haiyin Chen; Glascoe, L.G.; Roberson, G.P.; White, W.T.;
By: Aufderheide, M.B.; Haiyin Chen; Glascoe, L.G.; Roberson, G.P.; White, W.T.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0586-1
By: Weiss, S.M.; Weller, R.A.; Reed, R.A.; Fleetwood, D.M.; Zhang, E.X.; Bhandaru, S.;
By: Weiss, S.M.; Weller, R.A.; Reed, R.A.; Fleetwood, D.M.; Zhang, E.X.; Bhandaru, S.;
2011 / IEEE / 978-1-4673-0120-6
By: Lalleman, A.-S.; Verger, L.; Paulus, C.; Mougel, F.; Rosse, B.; Ferrand, G.; Tabary, J.; Wrobel, R.; Thfoin, I.; Pierron, N.B.;
By: Lalleman, A.-S.; Verger, L.; Paulus, C.; Mougel, F.; Rosse, B.; Ferrand, G.; Tabary, J.; Wrobel, R.; Thfoin, I.; Pierron, N.B.;
2011 / IEEE / 978-1-4673-0120-6
By: Hoff, J.; Grybos, P.; Deptuch, G.; Carini, G.; Baumbaugh, A.; Maj, P.; Trimpl, M.; Yarema, R.; Szczygiel, R.; Siddons, P.;
By: Hoff, J.; Grybos, P.; Deptuch, G.; Carini, G.; Baumbaugh, A.; Maj, P.; Trimpl, M.; Yarema, R.; Szczygiel, R.; Siddons, P.;
2011 / IEEE / 978-1-4673-0120-6
By: Raulo, A.; Fiederle, M.; Fauler, A.; James, R.B.; Sowinska, M.; Hennard, G.;
By: Raulo, A.; Fiederle, M.; Fauler, A.; James, R.B.; Sowinska, M.; Hennard, G.;
2011 / IEEE / 978-1-4673-0120-6
By: Pivovaroff, M.; Alhassen, F.; Hernandez, A.; Sangtaek Kim; Youngho Seo; Gould, R.G.; Hyo-Min Cho;
By: Pivovaroff, M.; Alhassen, F.; Hernandez, A.; Sangtaek Kim; Youngho Seo; Gould, R.G.; Hyo-Min Cho;
2011 / IEEE / 978-1-4673-0120-6
By: Kuster, M.; Hauf, S.; Struder, L.; Stefanescu, A.; Neff, S.; Lang, P.; Hoffmann, D.H.H.; Pia, M.G.;
By: Kuster, M.; Hauf, S.; Struder, L.; Stefanescu, A.; Neff, S.; Lang, P.; Hoffmann, D.H.H.; Pia, M.G.;
2011 / IEEE / 978-1-4673-0120-6
By: Ballabriga, R.; Mohr, J.L.; Doesburg, R.M.N.; Walsh, M.F.; Butler, P.H.; Butler, A.P.H.;
By: Ballabriga, R.; Mohr, J.L.; Doesburg, R.M.N.; Walsh, M.F.; Butler, P.H.; Butler, A.P.H.;
2011 / IEEE / 978-1-4673-0120-6
By: Vykydal, Z.; Zwerger, A.; Soukup, P.; Jakubek, J.; Fiederle, M.; Fauler, A.;
By: Vykydal, Z.; Zwerger, A.; Soukup, P.; Jakubek, J.; Fiederle, M.; Fauler, A.;
2011 / IEEE / 978-1-4673-0120-6
By: Raulo, A.; Sowinska, M.; Hennard, G.; Perillo, E.; Marano, D.; Paternoster, G.; Campajola, L.;
By: Raulo, A.; Sowinska, M.; Hennard, G.; Perillo, E.; Marano, D.; Paternoster, G.; Campajola, L.;
2011 / IEEE / 978-1-4673-0120-6
By: David, J.P.R.; Chee Hing Tan; Pin Jern Ker; Gomes, R.B.; Jo Shien Ng;
By: David, J.P.R.; Chee Hing Tan; Pin Jern Ker; Gomes, R.B.; Jo Shien Ng;
2011 / IEEE / 978-1-4673-0120-6
By: Kugel, A.; Gerlach, T.; Fischer, P.; Muntefering, D.; Klar, H.; Hansen, K.; Wurz, A.;
By: Kugel, A.; Gerlach, T.; Fischer, P.; Muntefering, D.; Klar, H.; Hansen, K.; Wurz, A.;
2011 / IEEE / 978-1-4673-0120-6
By: Verger, L.; Brambilla, A.; Lafford, T.A.; Marrakchi, G.; Gros d'aillon, E.; Buis, C.;
By: Verger, L.; Brambilla, A.; Lafford, T.A.; Marrakchi, G.; Gros d'aillon, E.; Buis, C.;
2011 / IEEE / 978-1-4673-0120-6
By: Vines, P.; Ng, J.S.; Tan, C.H.; David, J.P.R.; Lees, J.E.; Babazadeh, N.; Gomes, R.B.;
By: Vines, P.; Ng, J.S.; Tan, C.H.; David, J.P.R.; Lees, J.E.; Babazadeh, N.; Gomes, R.B.;
2011 / IEEE / 978-1-4673-0120-6
By: Witkowska-Baran, M.; Kochanowska, D.; Mycielski, A.; Raulo, A.; Simon, H.; Sowinska, M.; James, R.B.;
By: Witkowska-Baran, M.; Kochanowska, D.; Mycielski, A.; Raulo, A.; Simon, H.; Sowinska, M.; James, R.B.;
2011 / IEEE / 978-1-4673-0120-6
By: Marchini, L.; Armani, N.; Zambelli, N.; Zappettini, A.; Calestani, D.; Benassi, G.;
By: Marchini, L.; Armani, N.; Zambelli, N.; Zappettini, A.; Calestani, D.; Benassi, G.;
CdTe linear pixel X-ray detector with enhanced spectrometric performance for high flux X-ray imaging
2011 / IEEE / 978-1-4673-0120-6By: Ouvrier-Buffer, P.; Brambilla, A.; Verger, L.; Boudou, C.; Gonon, G.; Rinkel, J.;
High-flux experiments and simulations of pulse-mode 3D-position-sensitive CdZnTe pixelated detectors
2011 / IEEE / 978-1-4673-0120-6By: Rodrigues, M.L.; Zhong He;
2011 / IEEE / 978-1-4673-0120-6
By: Iwata, A.; Maeda, T.; Ohmoto, T.; Imamura, T.; Doty, J.P.; Tsunemi, H.; Nakashima, S.; Takeda, A.; Arai, Y.; Tsuru, T.G.; Ryu, S.G.; Nakajima, H.;
By: Iwata, A.; Maeda, T.; Ohmoto, T.; Imamura, T.; Doty, J.P.; Tsunemi, H.; Nakashima, S.; Takeda, A.; Arai, Y.; Tsuru, T.G.; Ryu, S.G.; Nakajima, H.;
2011 / IEEE / 978-1-4673-0120-6
By: Lingxiong Shao; Sidky, E.Y.; Prevrhal, S.; Jinghan Ye; Xiaochuan Pan; Jiong Wang; Junguo Bian; Xiao Han;
By: Lingxiong Shao; Sidky, E.Y.; Prevrhal, S.; Jinghan Ye; Xiaochuan Pan; Jiong Wang; Junguo Bian; Xiao Han;
2011 / IEEE / 978-1-4673-0120-6
By: Clemens, J.-C.; Kronland-Martinet, C.; Bonissent, A.; Boursier, Y.; Debarbieux, F.; Dupont, M.; Ouamara, H.; Brunner, F.C.; Morel, C.;
By: Clemens, J.-C.; Kronland-Martinet, C.; Bonissent, A.; Boursier, Y.; Debarbieux, F.; Dupont, M.; Ouamara, H.; Brunner, F.C.; Morel, C.;
2011 / IEEE / 978-1-4673-0120-6
By: Weizeorick, J.; Walder, J.; McVittie, P.; Joseph, J.M.; Zheng, B.; Contarato, D.; Andresen, N.; Doering, D.; Denes, P.;
By: Weizeorick, J.; Walder, J.; McVittie, P.; Joseph, J.M.; Zheng, B.; Contarato, D.; Andresen, N.; Doering, D.; Denes, P.;
2011 / IEEE / 978-1-4673-0120-6
By: Hoon Jang; Joon Hwang; Chee Hong Choi; Sun Jae Hwang; So Eun Park;
By: Hoon Jang; Joon Hwang; Chee Hong Choi; Sun Jae Hwang; So Eun Park;
2011 / IEEE / 978-1-4244-9289-3
By: Sporea, D.; Lewis, E.; O'Keeffe, S.; McCarthy, D.; Tiseanu, I.; Sporea, A.;
By: Sporea, D.; Lewis, E.; O'Keeffe, S.; McCarthy, D.; Tiseanu, I.; Sporea, A.;
2011 / IEEE / 978-1-4673-0120-6
By: Seung-Wan Lee; Yu-Na Choi; Hyo-Min Cho; Hee-Joung Kim; Young-Jin Lee; Hyun-Ju Ryu;
By: Seung-Wan Lee; Yu-Na Choi; Hyo-Min Cho; Hee-Joung Kim; Young-Jin Lee; Hyun-Ju Ryu;
2011 / IEEE / 978-1-4673-0120-6
By: Young-Jin Lee; Hyo-Min Cho; Yu-Na Choi; Seung-Wan Lee; Hee-Joung Kim; Hyun-Ju Ryu;
By: Young-Jin Lee; Hyo-Min Cho; Yu-Na Choi; Seung-Wan Lee; Hee-Joung Kim; Hyun-Ju Ryu;
2011 / IEEE / 978-1-4673-0120-6
By: de las Heras Gala, H.; Jennings, R.J.; O'Bryan, E.; Freed, M.; Rongping Zeng; Rui Peng;
By: de las Heras Gala, H.; Jennings, R.J.; O'Bryan, E.; Freed, M.; Rongping Zeng; Rui Peng;
2011 / IEEE / 978-1-4673-0120-6
By: Panayiotakis, G.; Mytafidis, A.; Spyropoulou, V.; Seferis, I.; Liaparinos, P.; Kandarakis, I.; Valais, I.; Fountos, G.; Michail, C.; Kalyvas, N.;
By: Panayiotakis, G.; Mytafidis, A.; Spyropoulou, V.; Seferis, I.; Liaparinos, P.; Kandarakis, I.; Valais, I.; Fountos, G.; Michail, C.; Kalyvas, N.;
A statistical framework for material decomposition using multi-energy photon counting x-ray detector
2012 / IEEE / 978-1-4577-1858-8By: Jiyoung Choi; Jong Chul Ye; Younghun Sung; Sunghoon Kang; Dong-Goo Kang;
2011 / IEEE
By: Bohacek, P.; Dubecky, F.; Zat'ko, B.; Sekacova, M.; Huran, J.; Necas, V.; Mudron, J.;
By: Bohacek, P.; Dubecky, F.; Zat'ko, B.; Sekacova, M.; Huran, J.; Necas, V.; Mudron, J.;
${\hbox{SrI}}_{2}{:}{\hbox{Eu}}^{2+}$ -Scintillators for Spectroscopy and X-Ray Imaging Applications
2012 / IEEEBy: Alaribe, L.; dos Santos Rolo, T.; Fiederle, M.; Hamann, E.; Disch, C.; Cecilia, A.; Keller, E.; Engels, R.; Fauler, A.;
2007 / American Institute of Physics
By: F. A. Boroumand; M. Zhu; A. B. Dalton; J. L. Keddie; P. J. Sellin; J. J. Gutierrez;
By: F. A. Boroumand; M. Zhu; A. B. Dalton; J. L. Keddie; P. J. Sellin; J. J. Gutierrez;
2006 / American Institute of Physics
By: John A. Oertel; Robert Aragonez; Neal Pederson; Tom Archuleta; Cris Barnes; Larry Casper; Valerie Fatherley; Todd Heinrichs; Robert King; Doug Landers; Frank Lopez; Phillip Sanchez; George Sandoval; Lou Schrank; Peter Walsh; Perry Bell; Matt Brown; Robert Costa; Joe Holder; Sam Montelongo;
By: John A. Oertel; Robert Aragonez; Neal Pederson; Tom Archuleta; Cris Barnes; Larry Casper; Valerie Fatherley; Todd Heinrichs; Robert King; Doug Landers; Frank Lopez; Phillip Sanchez; George Sandoval; Lou Schrank; Peter Walsh; Perry Bell; Matt Brown; Robert Costa; Joe Holder; Sam Montelongo;
2006 / American Institute of Physics
By: J. Kohagura; T. Cho; T. Kariya; M. Hirata; T. Numakura; T. Fukai; Y. Tomii; S. Kiminami; N. Morimoto; T. Ikuno; S. Namiki; K. Shimizu; M. Ito; Y. Miyata; R. Minami; S. Miyoshi; K. Ogura; N. Saito; T. Saito;
By: J. Kohagura; T. Cho; T. Kariya; M. Hirata; T. Numakura; T. Fukai; Y. Tomii; S. Kiminami; N. Morimoto; T. Ikuno; S. Namiki; K. Shimizu; M. Ito; Y. Miyata; R. Minami; S. Miyoshi; K. Ogura; N. Saito; T. Saito;
2006 / American Institute of Physics
By: Togo Kudo; Sunao Takahashi; Nobuteru Nariyama; Toko Hirono; Hideo Kitamura; Takeshi Tachibana;
By: Togo Kudo; Sunao Takahashi; Nobuteru Nariyama; Toko Hirono; Hideo Kitamura; Takeshi Tachibana;
2007 / American Institute of Physics
By: Y. S. Kashyap; Tushar Roy; P. S. Sarkar; P. S. Yadav; Mayank Shukla; D. Sathiyamoorthy; Amar Sinha; K. Dasgupta;
By: Y. S. Kashyap; Tushar Roy; P. S. Sarkar; P. S. Yadav; Mayank Shukla; D. Sathiyamoorthy; Amar Sinha; K. Dasgupta;
2010 / American Institute of Physics
By: B. R. Maddox; H.-S. Park; J. Hawreliak; A. Elsholz; R. Van Maren; J. S. Wark; B. A. Remington; A. Comley;
By: B. R. Maddox; H.-S. Park; J. Hawreliak; A. Elsholz; R. Van Maren; J. S. Wark; B. A. Remington; A. Comley;
2013 / IEEE
By: Tchagaspanian, Michael; Sicard, Gilles; Rohr, Pierre; Dupont, Bertrand; Arques, Marc; Habib, Amr; Verger, Loick;
By: Tchagaspanian, Michael; Sicard, Gilles; Rohr, Pierre; Dupont, Bertrand; Arques, Marc; Habib, Amr; Verger, Loick;
1988 / IEEE
By: Schoelkopf, R.J.; Kelley, R.L.; Moseley, S.H.; Zhang, J.; McCammon, D.; Szymkowiak, A.E.;
By: Schoelkopf, R.J.; Kelley, R.L.; Moseley, S.H.; Zhang, J.; McCammon, D.; Szymkowiak, A.E.;