Your Search Results
Use materials about this topic in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content - such as case studies and journal articles - for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Topic: Ultraviolet Detectors
Results
2011 / IEEE
By: Chen, H.C.; Chen, J.S.C.; Jeng, E.S.; Kao, H.K.; Jian, S.J.; Liang, Y.L.; Chen, M.C.; Laksana, C.P.; Tzou, A.T.;
By: Chen, H.C.; Chen, J.S.C.; Jeng, E.S.; Kao, H.K.; Jian, S.J.; Liang, Y.L.; Chen, M.C.; Laksana, C.P.; Tzou, A.T.;
2012 / IEEE
By: Jr-Hau He; Miin-Jang Chen; Der-Hsien Lien; Chia-Yang Hsu; Ming-Wei Chen; Cheng-Ying Chen;
By: Jr-Hau He; Miin-Jang Chen; Der-Hsien Lien; Chia-Yang Hsu; Ming-Wei Chen; Cheng-Ying Chen;
2012 / IEEE
By: Baghban, H.; Shekari, H.; Miri, S.; Rasooli, H.; Rostami, A.; Dolatyari, M.; Amini, E.;
By: Baghban, H.; Shekari, H.; Miri, S.; Rasooli, H.; Rostami, A.; Dolatyari, M.; Amini, E.;
2012 / IEEE
By: Trucchi, D.M.; Conte, G.; Allegrini, P.; Girolami, M.; Salvatori, S.; Ralchenko, V.G.;
By: Trucchi, D.M.; Conte, G.; Allegrini, P.; Girolami, M.; Salvatori, S.; Ralchenko, V.G.;
2011 / IEEE / 978-3-00-035081-8
By: Kudo, Y.; Saito, I.; Okano, K.; Takahashi, I.; Yamada, T.; Onishi, M.; Kato, R.; Masuzawa, T.; Miyazaki, W.;
By: Kudo, Y.; Saito, I.; Okano, K.; Takahashi, I.; Yamada, T.; Onishi, M.; Kato, R.; Masuzawa, T.; Miyazaki, W.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0378-2
By: Liang-Wen Ji; Wei-Shun Shih; Prior, S.D.; Wen-Ray Chen; Sheng-Joue Young; Huei-Wen Shiu; Teen-Hang Meen; Chien-Hung Liu; Water, W.; Jenn-Kai Tsai;
By: Liang-Wen Ji; Wei-Shun Shih; Prior, S.D.; Wen-Ray Chen; Sheng-Joue Young; Huei-Wen Shiu; Teen-Hang Meen; Chien-Hung Liu; Water, W.; Jenn-Kai Tsai;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1997-4
By: Liu Bo; Xie Sheng; Zhang Shilin; Shao Huimin; Mao Luhong; Feng Zhihong; Yin Shunzheng; Li Xianjie; Guo WeiLian;
By: Liu Bo; Xie Sheng; Zhang Shilin; Shao Huimin; Mao Luhong; Feng Zhihong; Yin Shunzheng; Li Xianjie; Guo WeiLian;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1498-6
By: Slankamenac, M.P.; Stupar, D.Z.; Bajic, J.S.; Joza, A.V.; Zivanov, M.B.; Jelic, M.;
By: Slankamenac, M.P.; Stupar, D.Z.; Bajic, J.S.; Joza, A.V.; Zivanov, M.B.; Jelic, M.;
2011 / IEEE / 978-1-4673-0120-6
By: Deschamps, P.; Couture, M.; Berard, P.; Dautet, H.; Laforce, F.;
By: Deschamps, P.; Couture, M.; Berard, P.; Dautet, H.; Laforce, F.;
2011 / IEEE / 978-1-4673-0120-6
By: Christian, J.F.; Whitney, C.; Stapels, C.J.; Xiao Jie Chen; Johnson, E.B.;
By: Christian, J.F.; Whitney, C.; Stapels, C.J.; Xiao Jie Chen; Johnson, E.B.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-2141-0
By: Bunjongpru, W.; Panprom, P.; Porntheeraphat, S.; Meananeatra, R.; Jeamsaksiri, W.; Nukeaw, J.; Chaisriratanakul, W.; Chaowicharat, E.; Pankiew, A.; Hruanun, C.; Poyai, A.; Srisuwan, A.;
By: Bunjongpru, W.; Panprom, P.; Porntheeraphat, S.; Meananeatra, R.; Jeamsaksiri, W.; Nukeaw, J.; Chaisriratanakul, W.; Chaowicharat, E.; Pankiew, A.; Hruanun, C.; Poyai, A.; Srisuwan, A.;
2011 / IEEE / 978-0-9775657-8-8
By: Yoshikawa, A.; Yanagida, T.; Yokota, Y.; Suyama, T.; Ishimaru, T.; Fukuda, K.; Kawaguchi, N.; Ono, S.; Ieda, M.;
By: Yoshikawa, A.; Yanagida, T.; Yokota, Y.; Suyama, T.; Ishimaru, T.; Fukuda, K.; Kawaguchi, N.; Ono, S.; Ieda, M.;
2012 / IEEE
By: Sin-Hui Wang; Wen-Yin Weng; Shoou-Jinn Chang; Tsung-Ying Tsai; Ting-Jen Hsueh; Cheng-Liang Hsu; Chiu-Jung Chiu;
By: Sin-Hui Wang; Wen-Yin Weng; Shoou-Jinn Chang; Tsung-Ying Tsai; Ting-Jen Hsueh; Cheng-Liang Hsu; Chiu-Jung Chiu;
2012 / IEEE
By: Kaibo Lv; Min Zhang; Hailong Li; Shengping Ruan; Haifeng Zhang; Weiyou Chen; Caihui Feng;
By: Kaibo Lv; Min Zhang; Hailong Li; Shengping Ruan; Haifeng Zhang; Weiyou Chen; Caihui Feng;
1988 / IEEE
By: Ohara, S.; Kuwano, Y.; Nakano, S.; Tsuda, S.; Nakamura, N.; Noguchi, S.; Watanabe, K.; Matsuyama, T.; Tarui, H.;
By: Ohara, S.; Kuwano, Y.; Nakano, S.; Tsuda, S.; Nakamura, N.; Noguchi, S.; Watanabe, K.; Matsuyama, T.; Tarui, H.;
1993 / IEEE
By: Edmond, J.A.; Liu, Y.S.; Saia, R.J.; Kretchmer, J.W.; Ghezzo, M.; Gati, G.; Brown, D.M.; Schneider, W.E.; Downey, E.T.; Pimbley, J.M.;
By: Edmond, J.A.; Liu, Y.S.; Saia, R.J.; Kretchmer, J.W.; Ghezzo, M.; Gati, G.; Brown, D.M.; Schneider, W.E.; Downey, E.T.; Pimbley, J.M.;
1994 / IEEE / 0-7803-1497-2
By: Doctor, A.; Baliga, S.; Jarecke, P.; Carman, S.; Folkman, M.; Frink, M.; Avis, L.; Smith, L.; Lee, R.; Lawrence, W.; Kopia, L.; Cooper, J.; Barkstrom, B.;
By: Doctor, A.; Baliga, S.; Jarecke, P.; Carman, S.; Folkman, M.; Frink, M.; Avis, L.; Smith, L.; Lee, R.; Lawrence, W.; Kopia, L.; Cooper, J.; Barkstrom, B.;
A large-area VUV photosensor with high gain by means of photoelectron acceleration and concentration
1995 / IEEEBy: Lopes, J.A.M.; Conde, C.A.N.;
1996 / IEEE / 0-7803-3136-2
By: Maloberti, F.; Sarro, P.; Baltes, H.; Haberli, A.; Malcovati, P.; Bolliger, D.;
By: Maloberti, F.; Sarro, P.; Baltes, H.; Haberli, A.; Malcovati, P.; Bolliger, D.;
Study on the manufacturing technology of GaP-SnO/sub 2/ structures for ultraviolet radiation sensors
1995 / IEEE / 0-7803-2647-4By: Ivashchenco, A.; Dorogan, V.; Vieru, T.; Shchurova, O.; Snigur, A.;
1996 / IEEE / 0-7803-3223-7
By: Melnic, O.; Gumeniuc, N.; Kolomeyko, E.; Golban, G.; Tsiulyanu, D.; Marian, S.;
By: Melnic, O.; Gumeniuc, N.; Kolomeyko, E.; Golban, G.; Tsiulyanu, D.; Marian, S.;
1997 / IEEE / 0-7803-3911-8
By: Morkoc, H.; Tang, H.; Fan, Z.; Salvador, A.; Kim, W.; Bothckarev, A.; Smith, G.; Xu, G.; Krishnankutty, S.; Yang, W.; Goldenberg, B.; Estes, M.;
By: Morkoc, H.; Tang, H.; Fan, Z.; Salvador, A.; Kim, W.; Bothckarev, A.; Smith, G.; Xu, G.; Krishnankutty, S.; Yang, W.; Goldenberg, B.; Estes, M.;
1997 / IEEE
By: Verhoeve, P.; Rando, N.; Peacock, A.; van Dordrecht, A.; Poelaert, A.; Goldie, D.J.;
By: Verhoeve, P.; Rando, N.; Peacock, A.; van Dordrecht, A.; Poelaert, A.; Goldie, D.J.;
1997 / IEEE
By: Gyulamiryan, A.L.; Pinto, J.F.; Thrasher, J.B.; Daly, G.M.; Horwitz, J.S.; Fritz, G.G.; Vartanyan, V.H.; Blamire, M.G.; Van Vechten, D.; Koller, D.; Gulian, A.M.; Wood, K.S.; Akopyan, R.;
By: Gyulamiryan, A.L.; Pinto, J.F.; Thrasher, J.B.; Daly, G.M.; Horwitz, J.S.; Fritz, G.G.; Vartanyan, V.H.; Blamire, M.G.; Van Vechten, D.; Koller, D.; Gulian, A.M.; Wood, K.S.; Akopyan, R.;
1998 / IEEE / 0-7803-4995-4
By: Chen, C.-L.; Molnar, R.J.; McIntosh, K.A.; Verghese, S.; Aggarwal, R.L.; Melngailis, I.; Molvar, K.M.;
By: Chen, C.-L.; Molnar, R.J.; McIntosh, K.A.; Verghese, S.; Aggarwal, R.L.; Melngailis, I.; Molvar, K.M.;
1998 / IEEE
By: Gromov, D.V.; Telets, V.A.; Nikiforov, A.Y.; Maltsev, P.P.; Kvaskov, V.B.; Figurov, V.S.;
By: Gromov, D.V.; Telets, V.A.; Nikiforov, A.Y.; Maltsev, P.P.; Kvaskov, V.B.; Figurov, V.S.;
1998 / IEEE / 0-7803-4947-4
By: Carrano, J.C.; Campbell, J.C.; Dupuis, R.D.; Eiting, C.J.; Grudowski, P.A.; Brown, D.; Li, T.;
By: Carrano, J.C.; Campbell, J.C.; Dupuis, R.D.; Eiting, C.J.; Grudowski, P.A.; Brown, D.; Li, T.;
1999 / IEEE
By: Barfknecht, A.T.; Cramer, S.P.; Labov, S.E.; Frank, M.; Friedrich, S.; Kipp, J.; Hiller, L.J.; Le Grand, J.B.;
By: Barfknecht, A.T.; Cramer, S.P.; Labov, S.E.; Frank, M.; Friedrich, S.; Kipp, J.; Hiller, L.J.; Le Grand, J.B.;
1999 / IEEE
By: Lindgren, M.; Currie, M.; Il'in, K.S.; Sobolewski, R.; Gol'tsman, G.N.; Verevkin, A.A.; Milostnaya, I.I.;
By: Lindgren, M.; Currie, M.; Il'in, K.S.; Sobolewski, R.; Gol'tsman, G.N.; Verevkin, A.A.; Milostnaya, I.I.;
1998 / IEEE / 0-7803-4306-9
By: Shen, B.; Zang, L.; Zhou, Y.G.; Zheng, Y.D.; Yang, K.; Chen, Z.Z.; Zhang, R.; Chen, P.;
By: Shen, B.; Zang, L.; Zhou, Y.G.; Zheng, Y.D.; Yang, K.; Chen, Z.Z.; Zhang, R.; Chen, P.;
1998 / IEEE / 0-7803-4513-4
By: Mishra, U.K.; DenBaars, S.P.; Fleischer, S.B.; Fini, P.T.; Marchand, H.; Tarsa, E.J.; Kozodoy, P.; Keller, S.; Parish, G.; Ibbetson, J.P.;
By: Mishra, U.K.; DenBaars, S.P.; Fleischer, S.B.; Fini, P.T.; Marchand, H.; Tarsa, E.J.; Kozodoy, P.; Keller, S.; Parish, G.; Ibbetson, J.P.;
1999 / IEEE / 0-7803-5634-9
By: Ferguson, I.A.; Beck, A.L.; Li, T.; Collins, C.J.; Dupuis, R.D.; Schurman, M.J.; Carrano, J.C.; Campbell, J.C.;
By: Ferguson, I.A.; Beck, A.L.; Li, T.; Collins, C.J.; Dupuis, R.D.; Schurman, M.J.; Carrano, J.C.; Campbell, J.C.;
1999 / IEEE / 0-7803-5634-9
By: Gibart, P.; Beaumont, B.; Omnes, F.; Calleja, E.; Calle, F.; Monroy, E.; Munoz, E.;
By: Gibart, P.; Beaumont, B.; Omnes, F.; Calleja, E.; Calle, F.; Monroy, E.; Munoz, E.;
1999 / IEEE / 0-7803-5410-9
By: Li, T.; Carrarro, J.C.; Ferguson, I.A.; Schurman, M.J.; Beck, A.L.; Campbell, J.C.; Dupuis, R.D.; Collins, C.;
By: Li, T.; Carrarro, J.C.; Ferguson, I.A.; Schurman, M.J.; Beck, A.L.; Campbell, J.C.; Dupuis, R.D.; Collins, C.;
1999 / IEEE / 1-55752-595-1
By: Grudowski, P.A.; Li, T.; Eiting, C.J.; Carrano, J.C.; Lambert, D.J.H.; Tober, R.T.; Campbell, J.C.; Dupuis, R.R.; Kwon, H.K.;
By: Grudowski, P.A.; Li, T.; Eiting, C.J.; Carrano, J.C.; Lambert, D.J.H.; Tober, R.T.; Campbell, J.C.; Dupuis, R.R.; Kwon, H.K.;
2000 / IEEE / 0-7803-5235-1
By: Dankovic, T.; Djuric, Z.; Jaksic, Z.; Randjelovic, D.; Petrovic, R.; Ehrfeld, W.; Schmidt, A.; Hecker, K.;
By: Dankovic, T.; Djuric, Z.; Jaksic, Z.; Randjelovic, D.; Petrovic, R.; Ehrfeld, W.; Schmidt, A.; Hecker, K.;
2000 / IEEE / 0-7803-6472-4
By: McIntosh, K.A.; Melngailis, I.L.; Aggarwal, R.L.; Connors, M.K.; Verghese, S.; Mahoney, L.J.; Molnar, R.J.; Molvar, K.M.;
By: McIntosh, K.A.; Melngailis, I.L.; Aggarwal, R.L.; Connors, M.K.; Verghese, S.; Mahoney, L.J.; Molnar, R.J.; Molvar, K.M.;
2000 / IEEE / 0-7803-5939-9
By: Tlaczala, M.; Jankowski, B.; Paszkiewicz, B.; Paszkiewicz, R.; Boratynski, B.;
By: Tlaczala, M.; Jankowski, B.; Paszkiewicz, B.; Paszkiewicz, R.; Boratynski, B.;
2000 / IEEE
By: Campbell, J.C.; Dupuis, R.D.; Collins, C.J.; Wang, S.; Schurman, M.J.; Li, T.; Heng, K.; Yang, B.; Ferguson, I.T.;
By: Campbell, J.C.; Dupuis, R.D.; Collins, C.J.; Wang, S.; Schurman, M.J.; Li, T.; Heng, K.; Yang, B.; Ferguson, I.T.;
2000 / IEEE
By: Yang, B.; Reifsnider, J.M.; Li, T.; Wang, S.; Campbell, J.C.; Holmes, A.L., Jr.; Collins, C.;
By: Yang, B.; Reifsnider, J.M.; Li, T.; Wang, S.; Campbell, J.C.; Holmes, A.L., Jr.; Collins, C.;