Your Search Results
Use materials about this topic in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content - such as case studies and journal articles - for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Topic: Ultrafast Optics
Results
Optimization of Third Harmonic Conversion Efficiency in the Presence of a Spatially Localized Plasma
2012 / IEEEBy: Kupka, D.; Bartels, R.A.;
2012 / IEEE
By: Jianzhou Wang; Yi Xu; Yanyan Li; Yansui Huang; Xiaoming Lu; Zhizhan Xu; Ruxin Li; Yuxin Leng;
By: Jianzhou Wang; Yi Xu; Yanyan Li; Yansui Huang; Xiaoming Lu; Zhizhan Xu; Ruxin Li; Yuxin Leng;
2012 / IEEE
By: Su, P.-J.; Dong, C.-Y.; Hsueh, C.-M.; Hu, P.-S.; Chen, W.-L.; Tsai, T.-H.; Chen, S.-J.; Hovhannisyan, V. A.;
By: Su, P.-J.; Dong, C.-Y.; Hsueh, C.-M.; Hu, P.-S.; Chen, W.-L.; Tsai, T.-H.; Chen, S.-J.; Hovhannisyan, V. A.;
2012 / IEEE
By: Guoqing Hu; Zhangyuan Chen; Anshi Xu; Linzhen Xie; Anpeng Huang; Hequan Wu; Xiang Cheng; Chang, T.;
By: Guoqing Hu; Zhangyuan Chen; Anshi Xu; Linzhen Xie; Anpeng Huang; Hequan Wu; Xiang Cheng; Chang, T.;
Generation of High-Quality Tunable One-Dimensional Airy Beams Using the Aberrations of a Single Lens
2012 / IEEEBy: Blaya, S.; Carretero, L.; Acebal, P.; Murciano, A.;
2012 / IEEE
By: Davies, E.; Koutsides, C.; Zhang, L.; Webb, D.J.; Allsop, T.; Komodromos, M.; Kalli, K.;
By: Davies, E.; Koutsides, C.; Zhang, L.; Webb, D.J.; Allsop, T.; Komodromos, M.; Kalli, K.;
2012 / IEEE
By: Bogoni, A.; Anlin Yi; Xiaoxia Wu; Willner, A.E.; Lianshan Yan; Jiang, H.-Y.; Chen, Z.-Y.;
By: Bogoni, A.; Anlin Yi; Xiaoxia Wu; Willner, A.E.; Lianshan Yan; Jiang, H.-Y.; Chen, Z.-Y.;
2012 / IEEE
By: Bowers, J.E.; Ci-Ling Pan; Nan-Wei Chen; Kuo, F.; Huang, C.; Lin, J.W.; Jin-Wei Shi;
By: Bowers, J.E.; Ci-Ling Pan; Nan-Wei Chen; Kuo, F.; Huang, C.; Lin, J.W.; Jin-Wei Shi;
2012 / IEEE
By: Mangeney, J.; Monteagudo-Lerma, L.; Valdueza-Felip, S.; Naranjo, F.B.; Julien, F.H.; Gonzalez-Herraez, M.;
By: Mangeney, J.; Monteagudo-Lerma, L.; Valdueza-Felip, S.; Naranjo, F.B.; Julien, F.H.; Gonzalez-Herraez, M.;
2012 / IEEE
By: Pasternak, I.; Abramski, K. M.; Sotor, J.; Sobon, G.; Grodecki, K.; Jankiewicz, Z.; Strupinski, W.; Paletko, P.;
By: Pasternak, I.; Abramski, K. M.; Sotor, J.; Sobon, G.; Grodecki, K.; Jankiewicz, Z.; Strupinski, W.; Paletko, P.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1226-5
By: de Aldana, J.R.V.; Romero, C.; Climent, V.; Lancis, J.; Mendoza-Yero, O.; Camino, A.; Roso, L.; Andres, P.; Minguez-Vega, G.; Borrego-Varillas, R.; Hernandez-Toro, J.;
By: de Aldana, J.R.V.; Romero, C.; Climent, V.; Lancis, J.; Mendoza-Yero, O.; Camino, A.; Roso, L.; Andres, P.; Minguez-Vega, G.; Borrego-Varillas, R.; Hernandez-Toro, J.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1226-5
By: Minguez-Vega, G.; Andres, P.; Lancis, J.; Fernandez-Alonso, M.; Mendoza-Yero, O.;
By: Minguez-Vega, G.; Andres, P.; Lancis, J.; Fernandez-Alonso, M.; Mendoza-Yero, O.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1226-5
By: Torres, R.; Hernandez-Garcia, C.; Sola, I.J.; Roso, L.; Ruiz, C.; Perez-Hernandez, J.A.; Holgado, W.; Varela, O.; Plaja, L.; Ramos, J.; Chacon, A.; Roman, J.S.; Alonso, B.;
By: Torres, R.; Hernandez-Garcia, C.; Sola, I.J.; Roso, L.; Ruiz, C.; Perez-Hernandez, J.A.; Holgado, W.; Varela, O.; Plaja, L.; Ramos, J.; Chacon, A.; Roman, J.S.; Alonso, B.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1226-5
By: Alonso, B.; Minguez-Vega, G.; Climent, V.; Lancis, J.; Sola, I.J.; Mendoza-Yero, O.; Roso, L.; Varela, O.;
By: Alonso, B.; Minguez-Vega, G.; Climent, V.; Lancis, J.; Sola, I.J.; Mendoza-Yero, O.; Roso, L.; Varela, O.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1226-5
By: Loriot, V.; Banares, L.; Minguez-Vega, G.; Mendoza-Yero, O.; de Nalda, R.;
By: Loriot, V.; Banares, L.; Minguez-Vega, G.; Mendoza-Yero, O.; de Nalda, R.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1226-5
By: Minguez-Vega, G.; Mendoza-Yero, O.; Li-Fan Yang; Shang-Da Yang; Tajahuerce, E.;
By: Minguez-Vega, G.; Mendoza-Yero, O.; Li-Fan Yang; Shang-Da Yang; Tajahuerce, E.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1226-5
By: Cormier, E.; Petit, S.; Hazera, C.; Lhermite, J.; Mansuryan, T.; Barthelemy, A.; Louradour, F.; Kalashyan, M.; Martinez-Leon, L.;
By: Cormier, E.; Petit, S.; Hazera, C.; Lhermite, J.; Mansuryan, T.; Barthelemy, A.; Louradour, F.; Kalashyan, M.; Martinez-Leon, L.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-5731-1
By: Lugiato, L.; Magatti, D.; Jedrkiewicz, O.; Gatti, A.; Brambilla, E.; Ferri, F.; Di Trapani, P.; Caspani, L.; Blanchet, J.-L.;
By: Lugiato, L.; Magatti, D.; Jedrkiewicz, O.; Gatti, A.; Brambilla, E.; Ferri, F.; Di Trapani, P.; Caspani, L.; Blanchet, J.-L.;
2011 / IEEE / 978-986-02-8974-9
By: Hosako, I.; Kawanishi, T.; Sotobayashi, H.; Sakamoto, T.; Morohashi, I.;
By: Hosako, I.; Kawanishi, T.; Sotobayashi, H.; Sakamoto, T.; Morohashi, I.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-8340-2
By: Fedus, K.; Dierre, B.; Pavesi, L.; Yeremian, A.; Borga, E.; Bianco, F.; Bettotti, P.; Cazzanelli, M.; Pucker, G.; Ghulinyan, M.; Pierobon, R.; Pitanti, A.;
By: Fedus, K.; Dierre, B.; Pavesi, L.; Yeremian, A.; Borga, E.; Bianco, F.; Bettotti, P.; Cazzanelli, M.; Pucker, G.; Ghulinyan, M.; Pierobon, R.; Pitanti, A.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-6051-9
By: Huber, R.; Manzoni, C.; Brida, D.; Cerullo, G.; Leitenstorfer, A.;
By: Huber, R.; Manzoni, C.; Brida, D.; Cerullo, G.; Leitenstorfer, A.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-6051-9
By: Benedick, A.; Chao, D.; Ippen, E.; Kartner, F.; Sander, M.; Kolodziejski, L.; Petrich, G.; Chang, G.; Morse, J.;
By: Benedick, A.; Chao, D.; Ippen, E.; Kartner, F.; Sander, M.; Kolodziejski, L.; Petrich, G.; Chang, G.; Morse, J.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-6051-9
By: Bhuyan, M.K.; Dudley, J.M.; Furfaro, L.; Salut, R.; Froehly, L.; Lacourt, P.-A.; Jacquot, M.; Courvoisier, F.;
By: Bhuyan, M.K.; Dudley, J.M.; Furfaro, L.; Salut, R.; Froehly, L.; Lacourt, P.-A.; Jacquot, M.; Courvoisier, F.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-6051-9
By: Chan, S.; Tombet, S.A.B.; Otsuji, T.; Ryzhii, V.; Ryzhii, M.; Satou, A.; Watanabe, T.;
By: Chan, S.; Tombet, S.A.B.; Otsuji, T.; Ryzhii, V.; Ryzhii, M.; Satou, A.; Watanabe, T.;
2011 / IEEE / 978-1-55752-932-9
By: Kawanishi, T.; Kanno, A.; Sakamoto, T.; Yoo, S.J.B.; Scott, R.P.; Geisler, D.J.; Fontaine, N.K.;
By: Kawanishi, T.; Kanno, A.; Sakamoto, T.; Yoo, S.J.B.; Scott, R.P.; Geisler, D.J.; Fontaine, N.K.;
2011 / IEEE / 978-1-55752-932-9
By: Tomiyama, Y.; Harako, K.; Hirano, T.; Pengyu Guan; Nakazawa, M.; Hirooka, T.;
By: Tomiyama, Y.; Harako, K.; Hirano, T.; Pengyu Guan; Nakazawa, M.; Hirooka, T.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-6051-9
By: Bejot, P.; Wolf, J.-P.; Lavorel, B.; Hertz, E.; Faucher, O.; Kasparian, J.;
By: Bejot, P.; Wolf, J.-P.; Lavorel, B.; Hertz, E.; Faucher, O.; Kasparian, J.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-6051-9
By: Baumann, E.; Giorgetta, F.R.; Roos, P.A.; Barber, Z.W.; Newbury, N.R.; Swann, W.C.; Coddington, I.;
By: Baumann, E.; Giorgetta, F.R.; Roos, P.A.; Barber, Z.W.; Newbury, N.R.; Swann, W.C.; Coddington, I.;
2011 / IEEE / 978-1-55752-932-9
By: Kalashyan, M.; Zeytunyan, A.; Barthelemy, A.; Louradour, F.; Mouradian, L.; Yesayan, G.;
By: Kalashyan, M.; Zeytunyan, A.; Barthelemy, A.; Louradour, F.; Mouradian, L.; Yesayan, G.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-6051-9
By: Lours, M.; Haboucha, A.; Li, T.; Zhang, W.; Luiten, A.N.; Le Coq, Y.; Santarelli, G.; Holzwarth, R.;
By: Lours, M.; Haboucha, A.; Li, T.; Zhang, W.; Luiten, A.N.; Le Coq, Y.; Santarelli, G.; Holzwarth, R.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0509-0
By: Nazarov, M.M.; Tolbanov, O.P.; Shkurinov, A.P.; Sarkisov, S.Yu.;
By: Nazarov, M.M.; Tolbanov, O.P.; Shkurinov, A.P.; Sarkisov, S.Yu.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0509-0
By: Ravaro, M.; Barbieri, S.; Sirtori, C.; Santarelli, G.; Gellie, P.;
By: Ravaro, M.; Barbieri, S.; Sirtori, C.; Santarelli, G.; Gellie, P.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0509-0
By: Tour, J.M.; Zhong Jin; Jun Yao; Zheng Yan; Zhengzong Sun; Kono, J.; Nanot, S.; Arikawa, T.; Haroz, E.H.; Booshehri, L.G.; Qi Zhang; Lei Ren;
By: Tour, J.M.; Zhong Jin; Jun Yao; Zheng Yan; Zhengzong Sun; Kono, J.; Nanot, S.; Arikawa, T.; Haroz, E.H.; Booshehri, L.G.; Qi Zhang; Lei Ren;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0509-0
By: Szustakowski, M.; Palka, N.; Szostak, M.; Baran, J.; Augustyn, L.; Plinski, E.F.; Walczakowski, M.; Nowak, K.; Jarzab, P.; Gusowska-Trzebiatowska, M.;
By: Szustakowski, M.; Palka, N.; Szostak, M.; Baran, J.; Augustyn, L.; Plinski, E.F.; Walczakowski, M.; Nowak, K.; Jarzab, P.; Gusowska-Trzebiatowska, M.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1878-6
By: Ahmadinia, A.; Al-Raweshidy, H.S.; Abdollahi, S.R.; Nilavalan, R.;
By: Ahmadinia, A.; Al-Raweshidy, H.S.; Abdollahi, S.R.; Nilavalan, R.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0509-0
By: Ahn, K.J.; Hyun-Tak Kim; Bong-Jun Kim; Park, H.R.; Kim, D.S.; Kim, H.S.; Seo, M.A.; Kyoung, J.S.; Choi, S.B.;
By: Ahn, K.J.; Hyun-Tak Kim; Bong-Jun Kim; Park, H.R.; Kim, D.S.; Kim, H.S.; Seo, M.A.; Kyoung, J.S.; Choi, S.B.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0509-0
By: Schulz, S.; Hoffmann, M.C.; Schmidt, B.; Wunderlich, S.; Wesch, S.;
By: Schulz, S.; Hoffmann, M.C.; Schmidt, B.; Wunderlich, S.; Wesch, S.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0509-0
By: Roskos, H.G.; Thomson, M.D.; Blank, V.; Nishitani, J.; Hangyo, M.; Huth, M.; Nagashima, T.; Solovyeva, V.;
By: Roskos, H.G.; Thomson, M.D.; Blank, V.; Nishitani, J.; Hangyo, M.; Huth, M.; Nagashima, T.; Solovyeva, V.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0509-0
By: Tanaka, K.; Kadoya, Y.; Tani, S.; Shirai, M.; Shinokita, K.; Hirori, H.;
By: Tanaka, K.; Kadoya, Y.; Tani, S.; Shirai, M.; Shinokita, K.; Hirori, H.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0509-0
By: Mori, Y.; Darmo, J.; Yoshimura, M.; Takahashi, Y.; Tonouchi, M.; Kawayama, I.; Murakami, H.; Serita, K.;
By: Mori, Y.; Darmo, J.; Yoshimura, M.; Takahashi, Y.; Tonouchi, M.; Kawayama, I.; Murakami, H.; Serita, K.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-8939-8
By: Hadrich, S.; Rothhardt, J.; Tunnermann, A.; Limpert, J.; Demmler, S.;
By: Hadrich, S.; Rothhardt, J.; Tunnermann, A.; Limpert, J.; Demmler, S.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-8939-8
By: Hoffmann, M.; Keller, U.; Wittwer, V.J.; Sudmeyer, T.; Sieber, O.D.; Golling, M.; Barbarin, Y.; Maas, D.J.H.C.; Rudin, B.;
By: Hoffmann, M.; Keller, U.; Wittwer, V.J.; Sudmeyer, T.; Sieber, O.D.; Golling, M.; Barbarin, Y.; Maas, D.J.H.C.; Rudin, B.;