Your Search Results
Use materials about this topic in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content - such as case studies and journal articles - for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Topic: Uhf Tubes
Results
2011 / IEEE / 978-1-61284-329-2
By: Read, M.; Ives, R.L.; Eisen, E.; Kimura, T.; Marsden, D.; Bui, T.; Jackson, R.H.; Collins, G.;
By: Read, M.; Ives, R.L.; Eisen, E.; Kimura, T.; Marsden, D.; Bui, T.; Jackson, R.H.; Collins, G.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-329-2
By: Cartwright, K.; Mardahl, P.; Fleming, T.; Lambrecht, M.; Tracy, M.; Keisling, J.;
By: Cartwright, K.; Mardahl, P.; Fleming, T.; Lambrecht, M.; Tracy, M.; Keisling, J.;
2011 / IEEE / 978-966-335-357-9
By: Churyumov, G.I.; Malyshko, V.V.; Ol'khovsky, V.A.; Ekezli, A.I.; Ivantsov, V.P.;
By: Churyumov, G.I.; Malyshko, V.V.; Ol'khovsky, V.A.; Ekezli, A.I.; Ivantsov, V.P.;
1998 / IEEE
By: Mobius, A.; Michel, G.; Kuntze, M.; Illy, S.; Iatrou, C.T.; Dammertz, G.; Thumm, M.; Piosczyk, B.; Zapevalov, V.E.; Pavelyev, A.B.; Braz, O.; Khishnyak, V.I.; Flyagin, V.A.;
By: Mobius, A.; Michel, G.; Kuntze, M.; Illy, S.; Iatrou, C.T.; Dammertz, G.; Thumm, M.; Piosczyk, B.; Zapevalov, V.E.; Pavelyev, A.B.; Braz, O.; Khishnyak, V.I.; Flyagin, V.A.;
1999 / IEEE / 5-7422-0083-8
By: Mishkin, A.S.; Pebedonostsev, A.S.; Lopin, M.I.; Zaitsev, S.A.; Korolyov, T.A.;
By: Mishkin, A.S.; Pebedonostsev, A.S.; Lopin, M.I.; Zaitsev, S.A.; Korolyov, T.A.;
1999 / IEEE / 5-7422-0083-8
By: Shapiro, A.; Mitin, L.; Kuznetsov, Y.; Gusev, S.; Perevodchikov, V.; Zavjalov, M.;
By: Shapiro, A.; Mitin, L.; Kuznetsov, Y.; Gusev, S.; Perevodchikov, V.; Zavjalov, M.;
1999 / IEEE / 0-7803-5224-6
By: Neuber, A.; Hemmert, D.; Kristiansen, M.; Hatfield, L.L.; Krompholz, H.; Dickens, J.;
By: Neuber, A.; Hemmert, D.; Kristiansen, M.; Hatfield, L.L.; Krompholz, H.; Dickens, J.;
2000 / IEEE / 0-7803-5987-9
By: Lynch, M.; Wilcox, R.; Mizuhara, M.; Stothers, K.; Rees, D.; Lien, E.; Friedlander, F.; Bohlen, H.;
By: Lynch, M.; Wilcox, R.; Mizuhara, M.; Stothers, K.; Rees, D.; Lien, E.; Friedlander, F.; Bohlen, H.;
2000 / IEEE / 0-7803-5687-X
By: Poognin, V.I.; Meleshkevich, P.M.; Korolyev, A.N.; Melnikov, L.Ya.; Koshevarov, G.A.; Vinogradnyi, A.V.; Baturov, B.B.;
By: Poognin, V.I.; Meleshkevich, P.M.; Korolyev, A.N.; Melnikov, L.Ya.; Koshevarov, G.A.; Vinogradnyi, A.V.; Baturov, B.B.;
2000 / IEEE / 0-7803-5687-X
By: Chernin, D.; Danly, B.G.; Antonsen, T.M., Jr.; Levush, B.; Ngo, M.T.; Abe, D.K.;
By: Chernin, D.; Danly, B.G.; Antonsen, T.M., Jr.; Levush, B.; Ngo, M.T.; Abe, D.K.;
2001 / IEEE / 0-7803-7141-0
By: Kitsanov, S.A.; Korovin, S.D.; Tarakanov, V.P.; Rostov, V.V.; Klimov, A.I.; Polevin, S.D.; Pegel, I.V.; Kurkan, I.K.;
By: Kitsanov, S.A.; Korovin, S.D.; Tarakanov, V.P.; Rostov, V.V.; Klimov, A.I.; Polevin, S.D.; Pegel, I.V.; Kurkan, I.K.;
High-frequency electron beam modulation, transportation and its interaction with slow-wave structure
2001 / IEEE / 0-7803-7120-8By: Dunaevsky, A.; Krasik, Ya.E.; Chirko, K.; Felsteiner, J.;
2001 / IEEE / 0-7803-7120-8
By: Korovin, S.D.; Tarakanov, V.P.; Rostov, V.V.; Polevin, S.D.; Kitsanov, S.A.; Pegel, I.V.; Kurkan, I.K.; Klimov, A.I.;
By: Korovin, S.D.; Tarakanov, V.P.; Rostov, V.V.; Polevin, S.D.; Kitsanov, S.A.; Pegel, I.V.; Kurkan, I.K.; Klimov, A.I.;
2002 / IEEE / 5-7433-1065-3
By: Tsarev, V.A.; Semenov, V.K.; Semenov, A.S.; KAzakov, O.V.; Shatalin, I.A.; Perov, V.V.;
By: Tsarev, V.A.; Semenov, V.K.; Semenov, A.S.; KAzakov, O.V.; Shatalin, I.A.; Perov, V.V.;
2002 / IEEE / 0-7803-7423-1
By: Miram, G.; Ives, L.; Ivanov, V.; Krasnyhk, A.; Marsden, D.; Mizuhara, M.;
By: Miram, G.; Ives, L.; Ivanov, V.; Krasnyhk, A.; Marsden, D.; Mizuhara, M.;
2002 / IEEE / 966-7968-12-X
By: Sinitsyn, A.K.; Kurayev, A.A.; Koushchevskaya, T.P.; Golenitskiy, I.I.; Yeryomka VD; Shcherbakov, A.V.;
By: Sinitsyn, A.K.; Kurayev, A.A.; Koushchevskaya, T.P.; Golenitskiy, I.I.; Yeryomka VD; Shcherbakov, A.V.;
2002 / IEEE / 0-7803-7486-X
By: Sheng-gang Liu; Sinha, A.K.; Baofu Jia; Wenxiang Wang; Yanyu Wei; Gun-Sik Park;
By: Sheng-gang Liu; Sinha, A.K.; Baofu Jia; Wenxiang Wang; Yanyu Wei; Gun-Sik Park;
2004 / IEEE / 0-7803-8261-7
By: Wynn, A.P.; McDonald, R.B.; Jones, G.K.; Crouch, D.D.; Brown, K.W.; Campbell, P.S.; Blank, D.E.; Kato, K.G.; Tantawi, S.G.; Main, W.T.; Lentz, R.R.; Beutel, H.K.;
By: Wynn, A.P.; McDonald, R.B.; Jones, G.K.; Crouch, D.D.; Brown, K.W.; Campbell, P.S.; Blank, D.E.; Kato, K.G.; Tantawi, S.G.; Main, W.T.; Lentz, R.R.; Beutel, H.K.;
2004 / IEEE / 0-7803-8261-7
By: Smith, R.S., III; Lentz, R.; Wynn, T.; Gray, T.; Hobbs, D.; Ludeking, L.D.;
By: Smith, R.S., III; Lentz, R.; Wynn, T.; Gray, T.; Hobbs, D.; Ludeking, L.D.;
2004 / IEEE / 0-7803-8261-7
By: Mizuhara, A.; Read, M.E.; Ives, R.L.; Mizuhara, M.; Song, L.; Miram, G.;
By: Mizuhara, A.; Read, M.E.; Ives, R.L.; Mizuhara, M.; Song, L.; Miram, G.;
2004 / IEEE / 0-7803-8261-7
By: Wynn, A.P.; McDonald, R.B.; Jones, G.K.; Crouch, D.D.; Brown, K.W.; Blank, D.E.; Meredith, R.J.; Kato, K.G.; Lentz, R.R.; Campbell, P.S.;
By: Wynn, A.P.; McDonald, R.B.; Jones, G.K.; Crouch, D.D.; Brown, K.W.; Blank, D.E.; Meredith, R.J.; Kato, K.G.; Lentz, R.R.; Campbell, P.S.;
2004 / IEEE / 0-7803-8261-7
By: Zitelli, L.; Staprans, A.; Friedlander, F.; Forrest, S.; Eppley, K.; Balkcum, A.; Cox, L.; Cattelino, M.; Bohlen, H.; Wright, E.; Cusick, M.;
By: Zitelli, L.; Staprans, A.; Friedlander, F.; Forrest, S.; Eppley, K.; Balkcum, A.; Cox, L.; Cattelino, M.; Bohlen, H.; Wright, E.; Cusick, M.;
2004 / IEEE / 0-7803-8261-7
By: Wilsen, C.B.; True, R.B.; Hargreaves, T.A.; Turek, L.; Hansen, R.J.; Bartkowski, R.J.; Kirshner, M.F.;
By: Wilsen, C.B.; True, R.B.; Hargreaves, T.A.; Turek, L.; Hansen, R.J.; Bartkowski, R.J.; Kirshner, M.F.;
2004 / IEEE / 0-7803-8261-7
By: Vlasov, A.; Eisen, E.; Begum, R.; Levush, B.; Antonsen, T., Jr.; Stockwell, B.; Cooke, S.;
By: Vlasov, A.; Eisen, E.; Begum, R.; Levush, B.; Antonsen, T., Jr.; Stockwell, B.; Cooke, S.;
2006 / IEEE / 1-4244-0108-9
By: Wheeland, C.; Malcolm, C.; Cipolla, J.; Wilsen, C.; Kirshner, M.; Boyle, M.;
By: Wheeland, C.; Malcolm, C.; Cipolla, J.; Wilsen, C.; Kirshner, M.; Boyle, M.;
2005 / IEEE / 0-7803-9189-6
By: Robison, G.; Sik-Lam Wong; Palmer, D.; Eichenberger, C.; Shimer, D.; Miller, B.;
By: Robison, G.; Sik-Lam Wong; Palmer, D.; Eichenberger, C.; Shimer, D.; Miller, B.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-1715-5
By: Schult, H.; Boyle, M.; Wilsen, C.; True, R.; Kirshner, M.; Kowalczyk, R.; Cipolla, J.;
By: Schult, H.; Boyle, M.; Wilsen, C.; True, R.; Kirshner, M.; Kowalczyk, R.; Cipolla, J.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-3500-5
By: Read, M.; Ives, L.; Eisen, E.; Kimura, T.; Thuc Bui; Jackson, R.H.; Marsden, D.;
By: Read, M.; Ives, L.; Eisen, E.; Kimura, T.; Thuc Bui; Jackson, R.H.; Marsden, D.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-4344-4
By: Chang Le; Yang Jin-sheng; Lu Ying-hua; Zhang Jin-ling; Xiang wan-chun; Yang wen-han;
By: Chang Le; Yang Jin-sheng; Lu Ying-hua; Zhang Jin-ling; Xiang wan-chun; Yang wen-han;
7.2: Magnetic interaction between Traveling Wave Tubes and its effect on performance and reliability
2010 / IEEE / 978-1-4244-7099-0By: True, R.; Barsanti, M.; Boyle, M.; Wheeland, C.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-8661-8
By: True, R.B.; Wilsen, C.B.; Cipolla, J.C.; Schult, H.; Kowalczyk, R.D.; Walz, C.R.; Kirshner, M.F.; Boyle, M.A.;
By: True, R.B.; Wilsen, C.B.; Cipolla, J.C.; Schult, H.; Kowalczyk, R.D.; Walz, C.R.; Kirshner, M.F.; Boyle, M.A.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-8661-8
By: Jackson, R.H.; Marsden, D.; Read, M.; Ives, L.; Eisen, E.; Kimura, T.; Bui, T.;
By: Jackson, R.H.; Marsden, D.; Read, M.; Ives, L.; Eisen, E.; Kimura, T.; Bui, T.;
2011 / IEEE
By: Yong Han; Fang Zhu; Xiaojuan Yu; Baoli Shen; Zhaochuan Zhang; Feng Zhang; Yunping Huang;
By: Yong Han; Fang Zhu; Xiaojuan Yu; Baoli Shen; Zhaochuan Zhang; Feng Zhang; Yunping Huang;