Your Search Results
Use materials about this topic in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content - such as case studies and journal articles - for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Topic: Transconductance
Results
2011 / IEEE
By: Wowchak, A.M.; Smith, D.J.; Dabiran, A.M.; Crespo, A.; Johnson, M.R.; Walker, D.E.; Tetlak, S.K.; Trejo, M.; Fitch, R.C.; Chabak, K.D.; Gillespie, J.K.; Kossler, M.;
By: Wowchak, A.M.; Smith, D.J.; Dabiran, A.M.; Crespo, A.; Johnson, M.R.; Walker, D.E.; Tetlak, S.K.; Trejo, M.; Fitch, R.C.; Chabak, K.D.; Gillespie, J.K.; Kossler, M.;
2011 / IEEE
By: Johansson, S.; Lind, E.; Wernersson, L.; Berg, M.; Borg, B.M.; Ghalamestani, S.G.; Egard, M.;
By: Johansson, S.; Lind, E.; Wernersson, L.; Berg, M.; Borg, B.M.; Ghalamestani, S.G.; Egard, M.;
2012 / IEEE
By: Cester, A.; Wrachien, N.; Meneghesso, G.; Donoval, D.; Kovac, J.; Jakabovic, J.; Bari, D.;
By: Cester, A.; Wrachien, N.; Meneghesso, G.; Donoval, D.; Kovac, J.; Jakabovic, J.; Bari, D.;
2012 / IEEE
By: O'uchi, S.; Liu, Y.; Matsukawa, T.; Masahara, M.; Sakamoto, K.; Mizubayashi, W.; Endo, K.; Morita, Y.; Migita, S.; Ota, H.; Ishikawa, Y.; Yamauchi, H.; Tsukada, J.;
By: O'uchi, S.; Liu, Y.; Matsukawa, T.; Masahara, M.; Sakamoto, K.; Mizubayashi, W.; Endo, K.; Morita, Y.; Migita, S.; Ota, H.; Ishikawa, Y.; Yamauchi, H.; Tsukada, J.;
2012 / IEEE
By: Gui, P.; Deptuch, G. W.; Arora, R.; Cressler, J. D.; Lourenco, N. E.; Hoff, J. R.; Yarema, R. J.; Wu, G.;
By: Gui, P.; Deptuch, G. W.; Arora, R.; Cressler, J. D.; Lourenco, N. E.; Hoff, J. R.; Yarema, R. J.; Wu, G.;
2012 / IEEE
By: Dey, A.W.; Wernersson, L.; Nilsson, P.; Borgstrom, M.; Thelander, C.; Borg, B.M.; Dick, K.A.; Lind, E.;
By: Dey, A.W.; Wernersson, L.; Nilsson, P.; Borgstrom, M.; Thelander, C.; Borg, B.M.; Dick, K.A.; Lind, E.;
2012 / IEEE
By: Chee Wee Liu; Kai-Li Wang; Yu-Chi Yang; Ming-Yi Chen; Wen-Shiang Liao; Kun-Ming Chen; Chia-Sung Chiu; Bo-Yuan Chen; Guo-Wei Huang; Chih-Hua Hsiao;
By: Chee Wee Liu; Kai-Li Wang; Yu-Chi Yang; Ming-Yi Chen; Wen-Shiang Liao; Kun-Ming Chen; Chia-Sung Chiu; Bo-Yuan Chen; Guo-Wei Huang; Chih-Hua Hsiao;
2012 / IEEE
By: Hussain, M.A.; Aldhaheri, R.W.; Ganguly, S.; Bhattacharya, I.; Saha, D.; Patil, T.; Kamath, A.; Adari, R.;
By: Hussain, M.A.; Aldhaheri, R.W.; Ganguly, S.; Bhattacharya, I.; Saha, D.; Patil, T.; Kamath, A.; Adari, R.;
2012 / IEEE
By: Anderson, T.J.; Tadjer, M.J.; Melngailis, J.; Pate, B.; Feygelson, T.I.; Hobart, K.D.; Kub, F.J.; Eddy, C.R.; Caldwell, J.D.; Butler, J.E.;
By: Anderson, T.J.; Tadjer, M.J.; Melngailis, J.; Pate, B.; Feygelson, T.I.; Hobart, K.D.; Kub, F.J.; Eddy, C.R.; Caldwell, J.D.; Butler, J.E.;
2012 / IEEE
By: Chen, K.J.; Zhiqun Cheng; Hua Qin; Zhihong Feng; Wenhua Shi; Baoshun Zhang; Jinyan Wang; Guodong Gu; Yong Cai; Shenghou Liu; Chunhong Zeng;
By: Chen, K.J.; Zhiqun Cheng; Hua Qin; Zhihong Feng; Wenhua Shi; Baoshun Zhang; Jinyan Wang; Guodong Gu; Yong Cai; Shenghou Liu; Chunhong Zeng;
2012 / IEEE
By: Behmenburg, H.; Ketteniss, N.; Vescan, A.; Heuken, M.; Kalisch, H.; Hollander, B.; Noculak, A.; Hahn, H.;
By: Behmenburg, H.; Ketteniss, N.; Vescan, A.; Heuken, M.; Kalisch, H.; Hollander, B.; Noculak, A.; Hahn, H.;
An LC Quadrature VCO Using Capacitive Source Degeneration Coupling to Eliminate Bi-Modal Oscillation
2012 / IEEEBy: Yung-Chung Lo; Shanfeng Cheng; Haitao Tong; Silva-Martinez, J.; Karsilayan, A.I.;
2009 / IEEE / 978-1-4577-0493-2
By: Collaert, N.; Simoen, E.; Put, S.; Leroux, P.; Van Uffelen, M.; Claeys, C.; De Keersgieter, A.;
By: Collaert, N.; Simoen, E.; Put, S.; Leroux, P.; Van Uffelen, M.; Claeys, C.; De Keersgieter, A.;
2009 / IEEE / 978-1-4577-0493-2
By: Madan, A.; Koester, S.J.; Schrimpf, R.D.; Marshall, P.W.; Cressler, J.D.; Phillips, S.D.; Arora, R.; Jiong Jiong Mo;
By: Madan, A.; Koester, S.J.; Schrimpf, R.D.; Marshall, P.W.; Cressler, J.D.; Phillips, S.D.; Arora, R.; Jiong Jiong Mo;
2011 / IEEE / 978-1-61284-244-8
By: McLelland, H.; Fox, O.J.L.; Moran, D.A.J.; May, P.W.; Russell, S.;
By: McLelland, H.; Fox, O.J.L.; Moran, D.A.J.; May, P.W.; Russell, S.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-244-8
By: Kern, K.; Zschieschang, U.; Hahn, K.; Fenk, B.; Kalblein, D.; Klauk, H.;
By: Kern, K.; Zschieschang, U.; Hahn, K.; Fenk, B.; Kalblein, D.; Klauk, H.;
2011 / IEEE / 978-3-8007-3356-9
By: Desplanque, L.; Zaknoune, M.; Roelens, Y.; Wichmann, N.; Mo, J.J.; Bollaert, S.; Wallart, X.;
By: Desplanque, L.; Zaknoune, M.; Roelens, Y.; Wichmann, N.; Mo, J.J.; Bollaert, S.; Wallart, X.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0192-4
By: Sydoruk, V.A.; Vitusevich, S.A.; Offenhausser, A.; Bosman, G.; Ural, A.; Petrychuk, M.V.;
By: Sydoruk, V.A.; Vitusevich, S.A.; Offenhausser, A.; Bosman, G.; Ural, A.; Petrychuk, M.V.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0860-2
By: Yang Guanghua; Niu Pingjuan; Fu Xiansong; Jin Feiyue; Gao Tiecheng;
By: Yang Guanghua; Niu Pingjuan; Fu Xiansong; Jin Feiyue; Gao Tiecheng;
2011 / IEEE / 978-83-932075-2-7
By: Bastos, I.; Ortigueira, E.; Goes, J.; Oliveira, J.P.; Oliveira, L.B.;
By: Bastos, I.; Ortigueira, E.; Goes, J.; Oliveira, J.P.; Oliveira, L.B.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0618-9
By: Constantinou, L.; Triantis, I.; Bayford, R.; Langlois, P.; Demosthenous, A.;
By: Constantinou, L.; Triantis, I.; Bayford, R.; Langlois, P.; Demosthenous, A.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0618-9
By: Duque-Carrillo, J.F.; Dominguez, M.A.; Carrillo, J.M.; Torelli, G.;
By: Duque-Carrillo, J.F.; Dominguez, M.A.; Carrillo, J.M.; Torelli, G.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0704-9
By: Raiteri, D.; van Roermund, A.H.M.; Cantatore, E.; Torricelli, F.;
By: Raiteri, D.; van Roermund, A.H.M.; Cantatore, E.; Torricelli, F.;
2011 / IEEE / 978-80-7043-930-2
By: Vrba, K.; Ayten, U.E.; Sagbas, M.; Koton, J.; Lahiri, A.; Herencsar, N.;
By: Vrba, K.; Ayten, U.E.; Sagbas, M.; Koton, J.; Lahiri, A.; Herencsar, N.;