Your Search Results
Use materials about this topic in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content - such as case studies and journal articles - for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Topic: Test Facilities
Results
2012 / IEEE
By: Devred, A.; Mitchell, N.; Yuming Tao; Kaizhong Ding; Tingzhi Zhou; Jingxin Zheng; Chen-yu Gung; Wanjiang Pan; Weibin Xi; Kun Lu; Yuntao Song; Xiongyi Huang; ErWu Niu; Bauer, P.;
By: Devred, A.; Mitchell, N.; Yuming Tao; Kaizhong Ding; Tingzhi Zhou; Jingxin Zheng; Chen-yu Gung; Wanjiang Pan; Weibin Xi; Kun Lu; Yuntao Song; Xiongyi Huang; ErWu Niu; Bauer, P.;
The Development and Performance Test of a 10 kV Resistive Type Superconducting Fault Current Limiter
2012 / IEEEBy: Zhang, J.; Sheng, J.; Hong, Z.; Jin, Z.; Li, Y.; Ying, L.; Lin, B.;
2012 / IEEE
By: Wagner, B.; Wang, B.; Taylor, C.; McMullin, J.; Juang, T.; Leung, E.; Xu, L.; Small, R.; Schneider, W.; Salpietro, E.; Elouadrhiri, L.; Kashy, D.; Burkert, V.; Quettier, L.; Zbasnik, J.; Wang, M.;
By: Wagner, B.; Wang, B.; Taylor, C.; McMullin, J.; Juang, T.; Leung, E.; Xu, L.; Small, R.; Schneider, W.; Salpietro, E.; Elouadrhiri, L.; Kashy, D.; Burkert, V.; Quettier, L.; Zbasnik, J.; Wang, M.;
2012 / IEEE
By: Negrazus, M.; Pedrozzi, M.; Ganter, R.; Kim, Y.J.; Gabard, A.; Vrankovic, V.; Sidorov, S.; Sanfilippo, S.;
By: Negrazus, M.; Pedrozzi, M.; Ganter, R.; Kim, Y.J.; Gabard, A.; Vrankovic, V.; Sidorov, S.; Sanfilippo, S.;
2012 / IEEE
By: Boutboul, T.; Vostner, A.; Bessette, D.; Devred, A.; Decool, P.; Corato, V.; Lelekhov, S.; Wesche, R.; Bruzzone, P.; Stepanov, B.; Turtu, S.; Wu Yu;
By: Boutboul, T.; Vostner, A.; Bessette, D.; Devred, A.; Decool, P.; Corato, V.; Lelekhov, S.; Wesche, R.; Bruzzone, P.; Stepanov, B.; Turtu, S.; Wu Yu;
2011 / IEEE / 978-1-4244-9965-6
By: Kiehn, S.; Althaus, J.; Bauerdick, C.; Muller, M.; Inoue, T.; Feng, V.; Jaewon Oh; Kuitche, J.; Brunger, A.; Struwe, R.; Therhaag, U.;
By: Kiehn, S.; Althaus, J.; Bauerdick, C.; Muller, M.; Inoue, T.; Feng, V.; Jaewon Oh; Kuitche, J.; Brunger, A.; Struwe, R.; Therhaag, U.;
2012 / IEEE / 978-1-4673-1111-3
By: Schmidt, R.; Gaynes, M.; Schultz, M.; Simons, R.; Chainer, T.; Iyengar, M.; David, M.P.; Parida, P.;
By: Schmidt, R.; Gaynes, M.; Schultz, M.; Simons, R.; Chainer, T.; Iyengar, M.; David, M.P.; Parida, P.;
2012 / IEEE / 978-1-4673-0487-0
By: Cotton, I.; Zachariades, C.; Queen, M.; Chambers, D.; Green, P.R.; Peesapati, V.; Rowland, S.M.;
By: Cotton, I.; Zachariades, C.; Queen, M.; Chambers, D.; Green, P.R.; Peesapati, V.; Rowland, S.M.;
2014 / IEEE
By: Przygoda, K.; Cichalewski, W.; Piotrowski, A.; Schlarb, H.; Grecki, M.; Branlard, J.; Napieralski, A.;
By: Przygoda, K.; Cichalewski, W.; Piotrowski, A.; Schlarb, H.; Grecki, M.; Branlard, J.; Napieralski, A.;
2015 / IEEE
By: Schnizer, P.; Mierau, A.; Fischer, E.; Mueller, H.; Szwangruber, P.; Sugita, K.; Meier, J.P.; Raach, H.; Freisleben, W.; Stafiniak, A.; Bleile, A.; Marousov, V.;
By: Schnizer, P.; Mierau, A.; Fischer, E.; Mueller, H.; Szwangruber, P.; Sugita, K.; Meier, J.P.; Raach, H.; Freisleben, W.; Stafiniak, A.; Bleile, A.; Marousov, V.;
2015 / IEEE
By: DeMello, A.; Caspi, S.; Carcagno, R.; Rabehl, R.; Kokoska, L.; Sylvester, C.; Pan, H.; Orris, D.; Tartaglia, M.;
By: DeMello, A.; Caspi, S.; Carcagno, R.; Rabehl, R.; Kokoska, L.; Sylvester, C.; Pan, H.; Orris, D.; Tartaglia, M.;
2013 / IEEE
By: Ogawa, Hiroyuki; Russell, Dennis; Sharps, Paul; Boca, Andreea; Blumenfeld, Philip; Toyota, Hiroyuki;
By: Ogawa, Hiroyuki; Russell, Dennis; Sharps, Paul; Boca, Andreea; Blumenfeld, Philip; Toyota, Hiroyuki;
1988 / IEEE
By: Strait, J.; Brown, B.C.; Schermer, R.; Tompkins, J.; Taylor, C.; Scanlan, R.; Royer, R.; Rechen, J.; Peters, C.; Meuser, R.; Gilbert, W.; Caspi, S.; Willen, E.; Wanderer, P.; Thompson, P.; Shutt, R.; Schneider, W.; Sampson, W.; Prodell, A.; Morgan, G.; Kelly, E.; Kahn, S.; Herrera, J.; Greene, A.; Goodzeit, C.; Ghosh, A.; Garber, M.; Hanft, R.; Koepke, K.; Kuchnir, M.; Lundy, R.; Mantsch, P.; Mazur, P.O.; McInturff, A.; Orr, J.R.; Cottingham, J.; Dahl, P.;
By: Strait, J.; Brown, B.C.; Schermer, R.; Tompkins, J.; Taylor, C.; Scanlan, R.; Royer, R.; Rechen, J.; Peters, C.; Meuser, R.; Gilbert, W.; Caspi, S.; Willen, E.; Wanderer, P.; Thompson, P.; Shutt, R.; Schneider, W.; Sampson, W.; Prodell, A.; Morgan, G.; Kelly, E.; Kahn, S.; Herrera, J.; Greene, A.; Goodzeit, C.; Ghosh, A.; Garber, M.; Hanft, R.; Koepke, K.; Kuchnir, M.; Lundy, R.; Mantsch, P.; Mazur, P.O.; McInturff, A.; Orr, J.R.; Cottingham, J.; Dahl, P.;
1988 / IEEE
By: Lubell, M.S.; Clinard, J.A.; Jakob, B.; Zichy, J.A.; Hiyama, T.; Tsuji, H.; Takahashi, Y.; Iida, F.; Kato, T.; Okuno, K.; Wuechner, F.; Friesinger, G.M.; Ulbricht, A.; Wood, R.J.; Wintenberg, R.E.; Wilson, C.T.; Stamps, R.E.; Shen, S.S.; Schwenterly, S.W.; McManamy, T.J.; Luton, J.N.; Lue, J.W.; Haubenreich, P.N.; Fletcher, W.M.; Fietz, W.A.; Dresner, L.;
By: Lubell, M.S.; Clinard, J.A.; Jakob, B.; Zichy, J.A.; Hiyama, T.; Tsuji, H.; Takahashi, Y.; Iida, F.; Kato, T.; Okuno, K.; Wuechner, F.; Friesinger, G.M.; Ulbricht, A.; Wood, R.J.; Wintenberg, R.E.; Wilson, C.T.; Stamps, R.E.; Shen, S.S.; Schwenterly, S.W.; McManamy, T.J.; Luton, J.N.; Lue, J.W.; Haubenreich, P.N.; Fletcher, W.M.; Fietz, W.A.; Dresner, L.;
1988 / IEEE
By: Gauss, S.; Friesinger, G.; Zahn, G.; Wuchner, F.; Ulbricht, A.; Komarek, P.; Siewerdt, L.; Shen, S.S.; Maurer, W.; McManamy, T.J.; Lubell, M.S.;
By: Gauss, S.; Friesinger, G.; Zahn, G.; Wuchner, F.; Ulbricht, A.; Komarek, P.; Siewerdt, L.; Shen, S.S.; Maurer, W.; McManamy, T.J.; Lubell, M.S.;
1988 / IEEE
By: Luton, J.N.; Fehling, D.T.; Lue, J.W.; Lubell, M.S.; McManamy, T.J.; Dresner, L.; Wilson, C.T.; Shen, S.S.;
By: Luton, J.N.; Fehling, D.T.; Lue, J.W.; Lubell, M.S.; McManamy, T.J.; Dresner, L.; Wilson, C.T.; Shen, S.S.;
1988 / IEEE
By: Weiss, W.C.; Deis, G.A.; Kulke, B.; Burns, M.J.; Frye, R.W.; Van Maren, R.D.; Tyler, G.C.; Ollis, C.W.; Kallman, J.S.;
By: Weiss, W.C.; Deis, G.A.; Kulke, B.; Burns, M.J.; Frye, R.W.; Van Maren, R.D.; Tyler, G.C.; Ollis, C.W.; Kallman, J.S.;
1988 / IEEE
By: van de Klundert, L.J.M.; ten Haken, B.; ten Kate, H.H.J.; Uijttewaal, W.; Roovers, A.J.M.;
By: van de Klundert, L.J.M.; ten Haken, B.; ten Kate, H.H.J.; Uijttewaal, W.; Roovers, A.J.M.;
1988 / IEEE
By: Steeves, M.M.; Hale, J.R.; Takayasu, M.; Randall, R.; Ichihara, T.; Minervini, J.V.; Hoenig, M.O.; Ballinger, R.G.; Martin, J.L.; Morra, M.M.; Gibson, C.R.; Autler, S.;
By: Steeves, M.M.; Hale, J.R.; Takayasu, M.; Randall, R.; Ichihara, T.; Minervini, J.V.; Hoenig, M.O.; Ballinger, R.G.; Martin, J.L.; Morra, M.M.; Gibson, C.R.; Autler, S.;
1989 / IEEE
By: Virshup, G.F.; Conway, R.W.; Towsley, R.H.; Elliott, N.P.; Hobbs, R.M.; Severns, J.G.;
By: Virshup, G.F.; Conway, R.W.; Towsley, R.H.; Elliott, N.P.; Hobbs, R.M.; Severns, J.G.;
1989 / IEEE
By: Kurnit, N.; McDonald, K.T.; Gallardo, J.; Fischer, J.; Kirk, H.G.; Fernow, R.C.; Chou, T.S.; Biglio, I.; Ben-Zvi, I.; Batchelor, K.; Woodle, M.; van Steenbergen, A.; Ulc, S.; Srinivasan-Rao, T.; Sheehan, J.; Pellegrini, C.; Parsa, Z.; Palmer, R.B.;
By: Kurnit, N.; McDonald, K.T.; Gallardo, J.; Fischer, J.; Kirk, H.G.; Fernow, R.C.; Chou, T.S.; Biglio, I.; Ben-Zvi, I.; Batchelor, K.; Woodle, M.; van Steenbergen, A.; Ulc, S.; Srinivasan-Rao, T.; Sheehan, J.; Pellegrini, C.; Parsa, Z.; Palmer, R.B.;