Your Search Results
Use materials about this topic in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content - such as case studies and journal articles - for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Topic: Temperature Sensors
Results
2011 / IEEE
By: Cheng-Wei Lin; Wen-Chau Liu; Chi-Shiang Hsu; Chien-Chang Huang; Tai-You Chen; Huey-Ing Chen;
By: Cheng-Wei Lin; Wen-Chau Liu; Chi-Shiang Hsu; Chien-Chang Huang; Tai-You Chen; Huey-Ing Chen;
2011 / IEEE
By: Jimenez, V.; Bose, P.; Buyuktosunoglu, A.; Isci, C.; Chen-Yong Cher; Kursun, E.; Boneti, C.; Valero, M.; Gioiosa, R.; Cazorla, F.J.;
By: Jimenez, V.; Bose, P.; Buyuktosunoglu, A.; Isci, C.; Chen-Yong Cher; Kursun, E.; Boneti, C.; Valero, M.; Gioiosa, R.; Cazorla, F.J.;
2011 / IEEE
By: Holweg, G.; Pribyl, W.; Klamminger, M.; Hofer, G.; Reinisch, H.; Unterassinger, H.; Gruber, S.; Wiessflecker, M.;
By: Holweg, G.; Pribyl, W.; Klamminger, M.; Hofer, G.; Reinisch, H.; Unterassinger, H.; Gruber, S.; Wiessflecker, M.;
2011 / IEEE
By: Wei-Cheng Lien; Jr-Hau He; Pisano, A.P.; Maboudian, R.; Senesky, D.G.; Shu-Hsien Chiu; Dung-Sheng Tsai;
By: Wei-Cheng Lien; Jr-Hau He; Pisano, A.P.; Maboudian, R.; Senesky, D.G.; Shu-Hsien Chiu; Dung-Sheng Tsai;
2011 / IEEE
By: Xueguang Qiao; Jing Zhang; Zhongyao Feng; Manli Hu; Tuan Guo; Qiangzhou Rong; Yue Ma; Ruohui Wang; Yinyan Weng;
By: Xueguang Qiao; Jing Zhang; Zhongyao Feng; Manli Hu; Tuan Guo; Qiangzhou Rong; Yue Ma; Ruohui Wang; Yinyan Weng;
2011 / IEEE
By: Yao-Jen Hsieh; Fong-Shou Lin; Wei-Te Chang; Yi-Liang Shih; Guan-Fan Wu; Wen-Chung Kao;
By: Yao-Jen Hsieh; Fong-Shou Lin; Wei-Te Chang; Yi-Liang Shih; Guan-Fan Wu; Wen-Chung Kao;
2012 / IEEE
By: Kim, W.C.; Yang, H.L.; Bak, J.G.; Jeon, Y.M.; Lee, K.S.; Kim, H.K.; Oh, Y.S.; Kim, K.M.; Hong, S.H.; Bang, E.N.; Kim, H.T.; Chung, K.S.;
By: Kim, W.C.; Yang, H.L.; Bak, J.G.; Jeon, Y.M.; Lee, K.S.; Kim, H.K.; Oh, Y.S.; Kim, K.M.; Hong, S.H.; Bang, E.N.; Kim, H.T.; Chung, K.S.;
2012 / IEEE
By: Kedia, S.; Khristi, Y.; Varmora, P.; Sharma, A.N.; Prasad, U.; Doshi, K.; Pradhan, S.; Patel, D.;
By: Kedia, S.; Khristi, Y.; Varmora, P.; Sharma, A.N.; Prasad, U.; Doshi, K.; Pradhan, S.; Patel, D.;
2012 / IEEE
By: Keating, A.; Walter, D.; Zadeh, A.; Poivey, C.; Harboe-Sorensen, R.; Fleurinck, N.; Li, L.; Kaddour, M.; Lochon, F.; Guerre, F.-X.; Puimege, K.;
By: Keating, A.; Walter, D.; Zadeh, A.; Poivey, C.; Harboe-Sorensen, R.; Fleurinck, N.; Li, L.; Kaddour, M.; Lochon, F.; Guerre, F.-X.; Puimege, K.;
2012 / IEEE
By: Beebe, S.J.; Yu Jing; Kolb, J.F.; Jie Zhuang; Jiahui Song; Camp, J.T.; Schoenbach, K.H.; Shu Xiao; Joshi, R.P.;
By: Beebe, S.J.; Yu Jing; Kolb, J.F.; Jie Zhuang; Jiahui Song; Camp, J.T.; Schoenbach, K.H.; Shu Xiao; Joshi, R.P.;
2012 / IEEE
By: Lyoussi, A.; Merroun, O.; Brun, J.; Villard, J.; Malo, J.; Guimbal, P.; Gonnier, C.; Fourmentel, D.; Reynard-Carette, C.; Chauvin, J.; Bignan, G.; Andre, J.; Zerega, Y.; Janulyte, A.; Carette, M.;
By: Lyoussi, A.; Merroun, O.; Brun, J.; Villard, J.; Malo, J.; Guimbal, P.; Gonnier, C.; Fourmentel, D.; Reynard-Carette, C.; Chauvin, J.; Bignan, G.; Andre, J.; Zerega, Y.; Janulyte, A.; Carette, M.;
Temperature Dependence of Offset and Sensitivity in Orthogonal Fluxgate Operated in Fundamental Mode
2012 / IEEEBy: Janosek, M.; Sasada, I.; Butta, M.;
Influence of the Fiber Coating Type on the Strain Response of Proton-Irradiated Fiber Bragg Gratings
2012 / IEEEBy: Garcia-Lopez, J.; Curras, E.; Palomo, F. R.; Morilla, Y.; Jimenez, M. C.; Virto, A. L.; Frovel, M.; Carrion, J. G.; Vila, I.; Moya, D.;
2012 / IEEE
By: Kalli, K.; Saffari, P.; Faustov, A.; Zhang, L.; Koutsides, C.; Megret, P.; Wuilpart, M.; Gusarov, A.;
By: Kalli, K.; Saffari, P.; Faustov, A.; Zhang, L.; Koutsides, C.; Megret, P.; Wuilpart, M.; Gusarov, A.;
2012 / IEEE
By: Palmer, J.; Rempe, J. L.; Davis, K. L.; Condie, K. G.; Knudson, D. L.; Chase, B. M.; Unruh, T.; Daw, J. E.;
By: Palmer, J.; Rempe, J. L.; Davis, K. L.; Condie, K. G.; Knudson, D. L.; Chase, B. M.; Unruh, T.; Daw, J. E.;
2012 / IEEE
By: Cesari, J.; Font, J.; Picos, R.; Roca, M.; Isern, E.; Garcia-Moreno, E.; Pineda, A.;
By: Cesari, J.; Font, J.; Picos, R.; Roca, M.; Isern, E.; Garcia-Moreno, E.; Pineda, A.;
2012 / IEEE
By: Affolder, A.; Casse, G.; Wormald, M.; Tsurin, I.; Huse, T.; Greenall, A.; Forshaw, D.; Chmill, V.; Allport, P.P.;
By: Affolder, A.; Casse, G.; Wormald, M.; Tsurin, I.; Huse, T.; Greenall, A.; Forshaw, D.; Chmill, V.; Allport, P.P.;
2012 / IEEE
By: Bianco, S.; Benussi, L.; Grassini, S.; Parvis, M.; Corbellini, S.; Piccolo, D.; Colafranceschi, S.;
By: Bianco, S.; Benussi, L.; Grassini, S.; Parvis, M.; Corbellini, S.; Piccolo, D.; Colafranceschi, S.;
2012 / IEEE
By: Bates, R.; Vitek, M.; Berry, S.; Bitadze, A.; Bonneau, P.; Bousson, N.; Boyd, G.; Botelho-Direito, J.; DiGirolamo, B.; Doubek, M.; Egorov, K.; Godlewski, J.; Hallewell, G.; Katunin, S.; Mathieu, M.; McMahon, S.; Nagai, K.; Perez-Rodriguez, E.; Rozanov, A.; Vacek, V.; Battistin, M.;
By: Bates, R.; Vitek, M.; Berry, S.; Bitadze, A.; Bonneau, P.; Bousson, N.; Boyd, G.; Botelho-Direito, J.; DiGirolamo, B.; Doubek, M.; Egorov, K.; Godlewski, J.; Hallewell, G.; Katunin, S.; Mathieu, M.; McMahon, S.; Nagai, K.; Perez-Rodriguez, E.; Rozanov, A.; Vacek, V.; Battistin, M.;
2012 / IEEE
By: Chang Liu; Yue-Peng Yan; Madihian, M.; Yong-Zhong Xiong; Li-Jun Zhang; Wang-Ling Goh;
By: Chang Liu; Yue-Peng Yan; Madihian, M.; Yong-Zhong Xiong; Li-Jun Zhang; Wang-Ling Goh;
2012 / IEEE
By: Di Matteo, F.M.; Caponero, M.A.; Schena, E.; Saccomandi, P.; Silvestri, S.; Pandolfi, M.; Martino, M.;
By: Di Matteo, F.M.; Caponero, M.A.; Schena, E.; Saccomandi, P.; Silvestri, S.; Pandolfi, M.; Martino, M.;