Your Search Results
Use materials about this topic in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content - such as case studies and journal articles - for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!
Not an educator but still interested in using this content? No problem! Visit our provider's page to contact the publisher and get permission directly.
Topic: Submillimetre Wave Tubes
Results
1999 / IEEE
By: Kalynov, Y.K.; Fedotov, A.E.; Bratman, V.L.; Savilov, A.V.; Samsonov, S.V.; Ofitserov, M.M.; Manuilov, V.N.;
By: Kalynov, Y.K.; Fedotov, A.E.; Bratman, V.L.; Savilov, A.V.; Samsonov, S.V.; Ofitserov, M.M.; Manuilov, V.N.;
2000 / IEEE / 0-7803-5987-9
By: Zakurdayev, A.; Zhary, E.; Golenitskij, I.; Zaitsev, S.; Korolyov, A.; Lopin, M.; Homich, V.; Poognin, V.; Pobedonostsev, A.; Negirev, A.; Meleshkevich, P.;
By: Zakurdayev, A.; Zhary, E.; Golenitskij, I.; Zaitsev, S.; Korolyov, A.; Lopin, M.; Homich, V.; Poognin, V.; Pobedonostsev, A.; Negirev, A.; Meleshkevich, P.;
2000 / IEEE / 0-7803-6513-5
By: Idehara, T.; Miyake, Y.; Yamada, K.; Ogawa, I.; Kasparek, W.; Sabchevski, S.;
By: Idehara, T.; Miyake, Y.; Yamada, K.; Ogawa, I.; Kasparek, W.; Sabchevski, S.;
2000 / IEEE / 0-7803-6513-5
By: Idehara, T.; Ogawa, I.; Kitai, K.; Matsuda, H.; Sabchevski, S.; Ui, M.; Aripin; Glyavin, M.; Mitsudo, S.;
By: Idehara, T.; Ogawa, I.; Kitai, K.; Matsuda, H.; Sabchevski, S.; Ui, M.; Aripin; Glyavin, M.; Mitsudo, S.;
2001 / IEEE / 0-7803-6473-2
By: Korneenkov, V.K.; Vyazmitinov, I.A.; Tishchenko, A.S.; Lopatin, I.V.; Fedin, A.M.; Antonov, V.A.;
By: Korneenkov, V.K.; Vyazmitinov, I.A.; Tishchenko, A.S.; Lopatin, I.V.; Fedin, A.M.; Antonov, V.A.;
2001 / IEEE / 0-7803-7141-0
By: Shapiro, M.A.; Machuzak, J.; Griffin, R.G.; Hornstein, M.K.; Kreischer, K.E.; Temkin, R.J.;
By: Shapiro, M.A.; Machuzak, J.; Griffin, R.G.; Hornstein, M.K.; Kreischer, K.E.; Temkin, R.J.;
2001 / IEEE
By: Pobedonostsev, A.S.; Zaitsev, S.A.; Korolev, A.N.; Kargin, A.N.; Homich, V.B.; Poognin, V.I.; Golenitskij, I.I.; Negirev, A.A.; Gelvich, E.A.; Meleshkevich, P.M.; Lopin, M.I.; Zakurdayev, A.D.; Zhary, Y.V.;
By: Pobedonostsev, A.S.; Zaitsev, S.A.; Korolev, A.N.; Kargin, A.N.; Homich, V.B.; Poognin, V.I.; Golenitskij, I.I.; Negirev, A.A.; Gelvich, E.A.; Meleshkevich, P.M.; Lopin, M.I.; Zakurdayev, A.D.; Zhary, Y.V.;
2002 / IEEE / 0-7803-7256-5
By: Converse, M.; Tucek, J.; Gallagher, D.; Booske, J.; Heinen, V.; Kreischer, K.;
By: Converse, M.; Tucek, J.; Gallagher, D.; Booske, J.; Heinen, V.; Kreischer, K.;
2002 / IEEE / 0-7803-7256-5
By: Heinen, V.O.; Kreischer, K.E.; Gallagher, D.A.; Converse, M.C.; Booske, J.H.; Chevalier, C.T.; Kory, C.L.;
By: Heinen, V.O.; Kreischer, K.E.; Gallagher, D.A.; Converse, M.C.; Booske, J.H.; Chevalier, C.T.; Kory, C.L.;
2001 / IEEE / 0-7803-7120-8
By: Fletcher, J.R.; Thorpe, J.R.; Chamberlain, J.M.; Miles, R.E.; Alderman, B.E.J.;
By: Fletcher, J.R.; Thorpe, J.R.; Chamberlain, J.M.; Miles, R.E.; Alderman, B.E.J.;
2002 / IEEE / 0-7803-7407-X
By: Mann, C.; Huq, E.; Oldfield, M.; Miles, R.E.; Fletcher, J.R.; Chamberlain, J.M.; Thorpe, J.;
By: Mann, C.; Huq, E.; Oldfield, M.; Miles, R.E.; Fletcher, J.R.; Chamberlain, J.M.; Thorpe, J.;
2002 / IEEE / 0-7803-7423-1
By: Shapiro, M.A.; Mastovsky, I.; Kreischer, K.E.; Griffin, R.G.; Bajaj, V.S.; Hornstein, M.K.; Temkin, R.J.;
By: Shapiro, M.A.; Mastovsky, I.; Kreischer, K.E.; Griffin, R.G.; Bajaj, V.S.; Hornstein, M.K.; Temkin, R.J.;
2002 / IEEE / 0-7803-7423-1
By: Wagner, D.; Mitsudo, S.; Pavlichenko, R.; Iwata, Y.; Idehara, T.; Ogawa, I.; Thumm, M.;
By: Wagner, D.; Mitsudo, S.; Pavlichenko, R.; Iwata, Y.; Idehara, T.; Ogawa, I.; Thumm, M.;
2004 / IEEE / 0-7803-8261-7
By: Hornstein, M.K.; Temkin, R.J.; Sirigiri, J.R.; Shapiro, M.A.; Bajaj, V.S.; Mastovsky, I.; Kreischer, K.E.; Griffin, R.G.;
By: Hornstein, M.K.; Temkin, R.J.; Sirigiri, J.R.; Shapiro, M.A.; Bajaj, V.S.; Mastovsky, I.; Kreischer, K.E.; Griffin, R.G.;
2004 / IEEE / 0-7803-8261-7
By: Kory, C.; Ives, L.; Robinson, T.; Wilcox, R.; Read, M.; Chubun, N.; Caplan, M.; Neilson, J.;
By: Kory, C.; Ives, L.; Robinson, T.; Wilcox, R.; Read, M.; Chubun, N.; Caplan, M.; Neilson, J.;
2004 / IEEE / 0-7803-8261-7
By: Limbach, S.; Bhattacharjee, S.; Jiang, H.; Booske, J.; Welter, J.; Read, M.; van der Weide, D.; Kory, C.; Ives, L.; Mashal, A.; Genack, M.; Scharer, J.; Zhang, N.;
By: Limbach, S.; Bhattacharjee, S.; Jiang, H.; Booske, J.; Welter, J.; Read, M.; van der Weide, D.; Kory, C.; Ives, L.; Mashal, A.; Genack, M.; Scharer, J.; Zhang, N.;
2004 / IEEE / 0-7803-8334-6
By: Watanabe, O.; Mitsudo, S.; Ogawa, I.; Idehara, T.; Kamada, M.; Tsuchiya, H.; Kanemaki, T.; Kimura, J.; Watanabe, S.;
By: Watanabe, O.; Mitsudo, S.; Ogawa, I.; Idehara, T.; Kamada, M.; Tsuchiya, H.; Kanemaki, T.; Kimura, J.; Watanabe, S.;
2004 / IEEE / 0-7803-8411-3
By: La Agusu; Kamada, M.; Watanabe, O.; Idehara, T.; Manuilov, V.N.; Wiehua Jiang; Yatsui, K.;
By: La Agusu; Kamada, M.; Watanabe, O.; Idehara, T.; Manuilov, V.N.; Wiehua Jiang; Yatsui, K.;
2004 / IEEE / 0-7803-8411-3
By: Thumm, M.; Wagner, D.; Hori, T.; Itakura, Y.; Idehara, T.; Ogawa, I.;
By: Thumm, M.; Wagner, D.; Hori, T.; Itakura, Y.; Idehara, T.; Ogawa, I.;
2004 / IEEE / 0-7803-8490-3
By: Kuftin, A.N.; Lygin, V.K.; Khmara, D.V.; Ilyin, V.N.; Ilyin, V.I.; Gnedenkov, A.Ph.; Kostyna, A.N.; Bogdashov, A.A.; Denisov, G.G.; Nichiporenko, V.O.; Agapova, M.V.; Popov, L.G.; Usachev, S.V.; Myasnikov, V.E.; Litvak, A.G.; Tai, E.M.; Zapevalov, V.E.; Solujanova, E.A.; Malygin, V.I.; Moiseev, M.A.;
By: Kuftin, A.N.; Lygin, V.K.; Khmara, D.V.; Ilyin, V.N.; Ilyin, V.I.; Gnedenkov, A.Ph.; Kostyna, A.N.; Bogdashov, A.A.; Denisov, G.G.; Nichiporenko, V.O.; Agapova, M.V.; Popov, L.G.; Usachev, S.V.; Myasnikov, V.E.; Litvak, A.G.; Tai, E.M.; Zapevalov, V.E.; Solujanova, E.A.; Malygin, V.I.; Moiseev, M.A.;
2004 / IEEE / 0-7803-8490-3
By: Chu, T.S.; Jory, H.; Felch, K.; Cauffman, S.; Cahalan, C.; Borchard, P.; Blank, M.;
By: Chu, T.S.; Jory, H.; Felch, K.; Cauffman, S.; Cahalan, C.; Borchard, P.; Blank, M.;
2004 / IEEE / 0-7803-8490-3
By: Lygin, V.K.; Zapevalov, V.E.; Mitsudo, S.; Ogawa, I.; Moiseev, M.A.; Malygin, O.V.; Tai, E.M.; Khizhnjak, V.I.; Karpov, V.P.; Idehara, T.;
By: Lygin, V.K.; Zapevalov, V.E.; Mitsudo, S.; Ogawa, I.; Moiseev, M.A.; Malygin, O.V.; Tai, E.M.; Khizhnjak, V.I.; Karpov, V.P.; Idehara, T.;
2004 / IEEE / 0-7803-8490-3
By: Ogawa, I.; Kimura, A.; Agusu, L.; Watanabe, O.; Idehara, T.; Mitsudo, S.;
By: Ogawa, I.; Kimura, A.; Agusu, L.; Watanabe, O.; Idehara, T.; Mitsudo, S.;
First high-power tests of the 140 GHz, 10 MW CW transmission system for ECRH on the stellarator W7-X
2004 / IEEE / 0-7803-8490-3By: Weissgerber, M.; Kasparek, W.; Schultz, T.; Purps, F.; Plaum, B.; Noke, F.; Michel, G.; Schworer, K.; Laqua, H.P.; Jonitz, L.; Hollmann, F.; Grunert, M.; Gantenbein, G.; Erckmann, V.; Dammertz, G.;
2004 / IEEE / 0-7803-8490-3
By: Park, H.; Hori, T.; Myodo, M.; Itakura, Y.; Mazzucato, E.; Ogawa, I.; Idehara, T.; Munsat, T.;
By: Park, H.; Hori, T.; Myodo, M.; Itakura, Y.; Mazzucato, E.; Ogawa, I.; Idehara, T.; Munsat, T.;
2004 / IEEE / 0-7803-8490-3
By: Agusu, L.; Kamada, M.; Watanabe, O.; Idehara, T.; Yatsui, K.; Glyavin, M.Yu.; Manuilov, V.N.; Jiang, W.;
By: Agusu, L.; Kamada, M.; Watanabe, O.; Idehara, T.; Yatsui, K.; Glyavin, M.Yu.; Manuilov, V.N.; Jiang, W.;
2004 / IEEE / 0-7803-8490-3
By: Kuo-Hua Huang; Ming-Chieh Lin; Ju-Chun Teng; Pu-Shih Lu; Pei-Yi Lin;
By: Kuo-Hua Huang; Ming-Chieh Lin; Ju-Chun Teng; Pu-Shih Lu; Pei-Yi Lin;
2005 / IEEE / 0-7803-9348-1
By: Zohm, H.; Franke, T.; Ryter, F.; Munich, M.; Schutz, H.; Monaco, F.; Manini, A.; Leuterer, F.; Grunwald, G.; Wagner, D.; Zapevalov, V.; Litvak, A.; Denisov, G.G.; Gantenbein, G.; Kasparek, W.; Thumm, M.; Koppenburg, K.; Heidinger, R.;
By: Zohm, H.; Franke, T.; Ryter, F.; Munich, M.; Schutz, H.; Monaco, F.; Manini, A.; Leuterer, F.; Grunwald, G.; Wagner, D.; Zapevalov, V.; Litvak, A.; Denisov, G.G.; Gantenbein, G.; Kasparek, W.; Thumm, M.; Koppenburg, K.; Heidinger, R.;
2005 / IEEE / 0-7803-9348-1
By: Bronikowski, M.J.; Manohara, H.M.; Johnson, S.V.; Tisinger, L.H.; Dean, K.A.; Siegel, P.H.; Hunt, B.D.;
By: Bronikowski, M.J.; Manohara, H.M.; Johnson, S.V.; Tisinger, L.H.; Dean, K.A.; Siegel, P.H.; Hunt, B.D.;
2005 / IEEE / 0-7803-9348-1
By: Khizhnjak, V.I.; Malygin, O.V.; Idehara, T.; Mitsudo, S.; Matsuura, K.; Hoshizuki, H.; Zapevalov, V.E.; Nishi, H.; Ishibashi, J.; Kitano, A.; Furuiti, M.; Ueda, T.;
By: Khizhnjak, V.I.; Malygin, O.V.; Idehara, T.; Mitsudo, S.; Matsuura, K.; Hoshizuki, H.; Zapevalov, V.E.; Nishi, H.; Ishibashi, J.; Kitano, A.; Furuiti, M.; Ueda, T.;
2005 / IEEE / 0-7803-9348-1
By: Mazzucato, E.; Park, H.; Hori, T.; Kamada, M.; Myodo, M.; Idehara, T.; Ogawa, I.;
By: Mazzucato, E.; Park, H.; Hori, T.; Kamada, M.; Myodo, M.; Idehara, T.; Ogawa, I.;
2005 / IEEE / 0-7803-9348-1
By: Yuyama, T.; Naito, K.; Manuilov, V.N.; Idehara, T.; Ogawa, I.; Jiang, W.; Hayashi, T.; Kamada, M.; Agusu, L.; Yatsui, K.;
By: Yuyama, T.; Naito, K.; Manuilov, V.N.; Idehara, T.; Ogawa, I.; Jiang, W.; Hayashi, T.; Kamada, M.; Agusu, L.; Yatsui, K.;
2005 / IEEE / 0-7803-9348-1
By: Idehara, T.; Ogawa, I.; Hori, T.; Mitsudo, S.; Nagao, K.; Myodo, M.; Hoshizuki, H.;
By: Idehara, T.; Ogawa, I.; Hori, T.; Mitsudo, S.; Nagao, K.; Myodo, M.; Hoshizuki, H.;
2005 / IEEE / 0-7803-9348-1
By: Sokolov, E.V.; Lygin, V.K.; Gachev, I.G.; Antakov, I.I.; Denisov, G.G.; Zasypkin, E.V.;
By: Sokolov, E.V.; Lygin, V.K.; Gachev, I.G.; Antakov, I.I.; Denisov, G.G.; Zasypkin, E.V.;
2005 / IEEE / 0-7803-9348-1
By: Temkin, R.J.; Griffin, R.G.; Kreischer, K.E.; Bajaj, V.S.; Hornstein, M.K.;
By: Temkin, R.J.; Griffin, R.G.; Kreischer, K.E.; Bajaj, V.S.; Hornstein, M.K.;
2005 / IEEE / 0-7803-9348-1
By: Khizhnjak, V.I.; Moiseev, M.A.; Malygin, O.V.; Lygin, V.K.; Idehara, T.; Mitsudo, S.; Zapevalov, V.E.; Ogawa, I.;
By: Khizhnjak, V.I.; Moiseev, M.A.; Malygin, O.V.; Lygin, V.K.; Idehara, T.; Mitsudo, S.; Zapevalov, V.E.; Ogawa, I.;
2005 / IEEE / 0-7803-9348-1
By: Mitsudo, S.; Agusu, L.; Tsuchiya, H.; Watanabe, O.; Idehara, T.; Ogawa, I.;
By: Mitsudo, S.; Agusu, L.; Tsuchiya, H.; Watanabe, O.; Idehara, T.; Ogawa, I.;
2005 / IEEE / 0-7803-9348-1
By: Sasagawa, H.; Idehara, T.; Hori, T.; Mitsudo, S.; Ogawa, I.; Kimura, A.;
By: Sasagawa, H.; Idehara, T.; Hori, T.; Mitsudo, S.; Ogawa, I.; Kimura, A.;
2005 / IEEE / 0-7803-9348-1
By: Tamousiunas, V.; Shrenk, W.; Andrews, M.; Benz, A.; Roch, T.; Strasser, G.; Fashing, G.; Darmo, J.; Kroll, J.; Unterrainer, K.;
By: Tamousiunas, V.; Shrenk, W.; Andrews, M.; Benz, A.; Roch, T.; Strasser, G.; Fashing, G.; Darmo, J.; Kroll, J.; Unterrainer, K.;
2006 / IEEE / 1-4244-0108-9
By: Jiang, H.; Sengele, S.; Larsen, P.; He, M.; van der Weide, D.W.; Booske, J.H.; Yang, B.; Marshal, A.; Limbach, S.; Marconnet, A.;
By: Jiang, H.; Sengele, S.; Larsen, P.; He, M.; van der Weide, D.W.; Booske, J.H.; Yang, B.; Marshal, A.; Limbach, S.; Marconnet, A.;
2006 / IEEE / 1-4244-0108-9
By: Kory, C.; Caplan, M.; Ives, L.; Witherspoon, R.; Read, M.; Schwartzkopf, S.; Neilson, J.; Wilcox, R.; Robinson, T.;
By: Kory, C.; Caplan, M.; Ives, L.; Witherspoon, R.; Read, M.; Schwartzkopf, S.; Neilson, J.; Wilcox, R.; Robinson, T.;
2006 / IEEE / 1-4244-0108-9
By: Woskov, P.P.; Temkin, R.J.; Sirigiri, J.R.; Shapiro, M.A.; Mastovsky, L.; Joye, C.D.; Han, S.T.;
By: Woskov, P.P.; Temkin, R.J.; Sirigiri, J.R.; Shapiro, M.A.; Mastovsky, L.; Joye, C.D.; Han, S.T.;
2006 / IEEE / 1-4244-0399-5
By: Saito, T.; Tai, E.M.; Karpov, V.P.; Khizhnjak, V.I.; Malygin, O.V.; Mitsudo, S.; Idehara, T.; Sakai, K.; Murase, H.; Hoshizuki, H.; Ogawa, I.; Zapevalov, V.E.;
By: Saito, T.; Tai, E.M.; Karpov, V.P.; Khizhnjak, V.I.; Malygin, O.V.; Mitsudo, S.; Idehara, T.; Sakai, K.; Murase, H.; Hoshizuki, H.; Ogawa, I.; Zapevalov, V.E.;
2006 / IEEE / 1-4244-0399-5
By: Saito, T.; Myodo, M.; Idehara, T.; Ogawa, I.; Mazzucato, E.; Park, H.; Hori, T.;
By: Saito, T.; Myodo, M.; Idehara, T.; Ogawa, I.; Mazzucato, E.; Park, H.; Hori, T.;
2006 / IEEE / 1-4244-0399-5
By: Murase, H.; La Agusu; Fujiwara, T.; Takahashi, D.; Mitsudo, S.; Saito, T.; Idehara, T.;
By: Murase, H.; La Agusu; Fujiwara, T.; Takahashi, D.; Mitsudo, S.; Saito, T.; Idehara, T.;
2006 / IEEE / 1-4244-0399-5
By: So, J.K.; Chang, S.S.; Kim, J.H.; Park, G.S.; Shin, Y.M.; Srivastava, A.; Won, J.H.; Jang, K.H.;
By: So, J.K.; Chang, S.S.; Kim, J.H.; Park, G.S.; Shin, Y.M.; Srivastava, A.; Won, J.H.; Jang, K.H.;
2006 / IEEE / 1-4244-0399-5
By: Idehara, T.; Mitsudo, S.; Ogawa, I.; Saito, T.; La Agusu; Watanabe, O.; Murase, H.; Mori, H.; Tsuchiya, H.;
By: Idehara, T.; Mitsudo, S.; Ogawa, I.; Saito, T.; La Agusu; Watanabe, O.; Murase, H.; Mori, H.; Tsuchiya, H.;
2006 / IEEE / 1-4244-0399-5
By: Teranaka, M.; Doi, A.; Tatsukawa, T.; Namba, T.; Kanemaki, T.; Mitsudo, S.; Idehara, T.;
By: Teranaka, M.; Doi, A.; Tatsukawa, T.; Namba, T.; Kanemaki, T.; Mitsudo, S.; Idehara, T.;
Next Page
Follow Us
Copyright © 2014 SharedBook. All rights reserved. Customer Service ·
Privacy Policy
·
User Agreement ·
Accessibility ·
Sitemap