Your Search Results
Use materials about this topic in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content - such as case studies and journal articles - for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!
Not an educator but still interested in using this content? No problem! Visit our provider's page to contact the publisher and get permission directly.
Topic: Submillimetre Wave Measurement
Results
2012 / IEEE
By: Weber, M.J.; Willis, K.J.; Katz, S.L.; Yang, B.B.; Booske, J.H.; Hagness, S.C.; Knezevic, I.;
By: Weber, M.J.; Willis, K.J.; Katz, S.L.; Yang, B.B.; Booske, J.H.; Hagness, S.C.; Knezevic, I.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0509-0
By: Duan, Y.; Kai Hui; Durant, S.; Foley, B.; Crowe, T.W.; Hesler, J.L.;
By: Duan, Y.; Kai Hui; Durant, S.; Foley, B.; Crowe, T.W.; Hesler, J.L.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0509-0
By: Labaune, J.; Walker, G.C.; Menu, M.; Mourou, G.; Hadjiloucas, S.; Jackson, J.; Bowen, J.W.;
By: Labaune, J.; Walker, G.C.; Menu, M.; Mourou, G.; Hadjiloucas, S.; Jackson, J.; Bowen, J.W.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0509-0
By: Hirano, K.; Aoki, M.; Tripathi, S.R.; Takeda, M.; Hiromoto, N.; Hirosumi, T.; Ohtake, H.;
By: Hirano, K.; Aoki, M.; Tripathi, S.R.; Takeda, M.; Hiromoto, N.; Hirosumi, T.; Ohtake, H.;
2012 / IEEE / 978-1-4577-0920-3
By: Rolo, L.; Saenz, E.; Parshin, V.V.; Paquay, M.; van't Klooster, K.;
By: Rolo, L.; Saenz, E.; Parshin, V.V.; Paquay, M.; van't Klooster, K.;
2012 / IEEE / 978-1-4577-1438-2
By: Godziszewski, K.; Modelski, J.; Derzakowski, K.; Yashchyshyn, Y.;
By: Godziszewski, K.; Modelski, J.; Derzakowski, K.; Yashchyshyn, Y.;
2012 / IEEE / 978-1-4673-0442-9
By: Kuroda, H.; Shimada, Y.; Kinoshita, M.; Iida, H.; Izutani, Y.; Kitagishi, K.;
By: Kuroda, H.; Shimada, Y.; Kinoshita, M.; Iida, H.; Izutani, Y.; Kitagishi, K.;
1994 / IEEE / 0-7803-1497-2
By: Gasiewski, A.J.; Zacharias, D.S.; Racette, P.E.; Wang, J.R.; Jackson, D.M.;
By: Gasiewski, A.J.; Zacharias, D.S.; Racette, P.E.; Wang, J.R.; Jackson, D.M.;
1994 / IEEE / 0-7803-1497-2
By: Doctor, A.; Baliga, S.; Jarecke, P.; Carman, S.; Folkman, M.; Frink, M.; Avis, L.; Smith, L.; Lee, R.; Lawrence, W.; Kopia, L.; Cooper, J.; Barkstrom, B.;
By: Doctor, A.; Baliga, S.; Jarecke, P.; Carman, S.; Folkman, M.; Frink, M.; Avis, L.; Smith, L.; Lee, R.; Lawrence, W.; Kopia, L.; Cooper, J.; Barkstrom, B.;
1994 / IEEE / 0-7803-1497-2
By: Smith, L.; Lee, R.; Lawrence, W.; Kopia, L.; Cooper, J.; Folkman, M.; Avis, L.; Carman, S.; Hedman, T.; Jarecke, P.; Barkstrom, B.;
By: Smith, L.; Lee, R.; Lawrence, W.; Kopia, L.; Cooper, J.; Folkman, M.; Avis, L.; Carman, S.; Hedman, T.; Jarecke, P.; Barkstrom, B.;
1995 / IEEE
By: van de Stadt, H.; de Lange, G.; Nett, H.; Crewell, S.; Mees, J.; Panhuyzen, R.A.; Kuipers, J.J.;
By: van de Stadt, H.; de Lange, G.; Nett, H.; Crewell, S.; Mees, J.; Panhuyzen, R.A.; Kuipers, J.J.;
Quasi-optical THz radar and spectroscopy instrumentation based on nonlinear transmission lines MMICs
1994 / IEEE / 0-7803-2409-9By: Riesz, F.; Somogyi, K.; Szentpali, B.; Simon, S.; Rizescu, R.; Varga, S.; Iordanescu, S.; Muller, A.; Dragoman, M.; Craciunoiu, F.;
1996 / IEEE
By: Tong, C.-Y.E.; LeDuc, H.G.; Stern, J.A.; Xiaolei Zhang; Blundell, R.; Kawamura, J.; Papa, D.C.; Paine, S.;
By: Tong, C.-Y.E.; LeDuc, H.G.; Stern, J.A.; Xiaolei Zhang; Blundell, R.; Kawamura, J.; Papa, D.C.; Paine, S.;
1996 / IEEE / 0-7803-3580-5
By: Goncharov, Yu.G.; Kozlov, G.V.; Volkov, A.A.; Maeva, E.Yu.; Levin, V.M.; Maev, R.G.; Gorshunov, B.P.;
By: Goncharov, Yu.G.; Kozlov, G.V.; Volkov, A.A.; Maeva, E.Yu.; Levin, V.M.; Maev, R.G.; Gorshunov, B.P.;
1996 / IEEE
By: Pfeifer, T.; Heiliger, H.-M.; Loffler, T.; Kurz, H.; Meyer, C.; Lupke, G.; Roskos, H.G.; Ohlhoff, C.;
By: Pfeifer, T.; Heiliger, H.-M.; Loffler, T.; Kurz, H.; Meyer, C.; Lupke, G.; Roskos, H.G.; Ohlhoff, C.;
1997 / IEEE / 0-7803-3836-7
By: Coppo, P.; Tarchi, D.; Ruisi, R.; Pampaloni, P.; Nesti, G.; Macelloni, G.; Lolli, S.;
By: Coppo, P.; Tarchi, D.; Ruisi, R.; Pampaloni, P.; Nesti, G.; Macelloni, G.; Lolli, S.;
1998 / IEEE / 0-7803-4903-2
By: Tani, M.; Tonouchi, M.; Kondo, T.; Yamashita, M.; Shikii, S.; Hangyo, M.; Sakai, K.;
By: Tani, M.; Tonouchi, M.; Kondo, T.; Yamashita, M.; Shikii, S.; Hangyo, M.; Sakai, K.;
1998 / IEEE / 0-7803-4903-2
By: Tuovinen, J.; Mallat, J.; Gross, M.; Caroopen, S.; Goy, P.; Mattiocco, F.;
By: Tuovinen, J.; Mallat, J.; Gross, M.; Caroopen, S.; Goy, P.; Mattiocco, F.;
1998 / IEEE / 0-7803-4903-2
By: Schwaab, G.; Hubers, H.-W.; Kollberg, E.; Schubert, J.; Gol'tsman, G.; Merkel, H.; Kroug, M.; Yagoubov, P.; Gershenzon, E.;
By: Schwaab, G.; Hubers, H.-W.; Kollberg, E.; Schubert, J.; Gol'tsman, G.; Merkel, H.; Kroug, M.; Yagoubov, P.; Gershenzon, E.;
1998 / IEEE / 0-7803-4903-2
By: Miles, R.E.; Collins, C.E.; Steenson, D.P.; Chamberlain, J.M.; Pollard, R.D.; Parkhurst, G.M.; Digby, J.W.;
By: Miles, R.E.; Collins, C.E.; Steenson, D.P.; Chamberlain, J.M.; Pollard, R.D.; Parkhurst, G.M.; Digby, J.W.;
1998 / IEEE / 0-7803-4903-2
By: Muller, P.O.; Hassan, M.; Alleston, S.B.; Vickers, A.J.; Erasme, D.;
By: Muller, P.O.; Hassan, M.; Alleston, S.B.; Vickers, A.J.; Erasme, D.;
1999 / IEEE
By: Konoplev, Y.N.; Leonov, I.I.; Golugyatnikov, G.Y.; Markov, V.N.; Krupnov, A.F.; Parshin, V.V.;
By: Konoplev, Y.N.; Leonov, I.I.; Golugyatnikov, G.Y.; Markov, V.N.; Krupnov, A.F.; Parshin, V.V.;
1998 / IEEE / 0-7803-5553-9
By: Markov, V.N.; Tretvakov, M.Yu.; Krupnov, A.F.; Leonov, I.J.; Bychkov, V.V.; Karyakin, E.N.; Schitov, A.M.; Volokhov, S.A.; Parshin, V.V.; Golubyatnikov, G.Yu.;
By: Markov, V.N.; Tretvakov, M.Yu.; Krupnov, A.F.; Leonov, I.J.; Bychkov, V.V.; Karyakin, E.N.; Schitov, A.M.; Volokhov, S.A.; Parshin, V.V.; Golubyatnikov, G.Yu.;
1998 / IEEE / 0-7803-4308-5
By: Hirvonen, T.; Raisanen, A.V.; Lehto, A.; Ala-Laurinaho, J.; Sehm, T.;
By: Hirvonen, T.; Raisanen, A.V.; Lehto, A.; Ala-Laurinaho, J.; Sehm, T.;
Experimental study of the surface waves on a dielectric cylinder via terahertz impulse radar ranging
2000 / IEEEBy: McGowan, R.W.; Grischkowsky, D.R.; Cheville, R.A.;
1999 / IEEE / 1-55752-595-1
By: Cho, G.C.; Ming Li; Zhang, X.-C.; Lu, T.-M.; Kenndy, J.T.; Wang, S.-Q.;
By: Cho, G.C.; Ming Li; Zhang, X.-C.; Lu, T.-M.; Kenndy, J.T.; Wang, S.-Q.;
2000 / IEEE
By: McIntosh, C.E.; Digby, J.W.; Davies, S.R.; Cronin, N.J.; Karatzas, L.S.; Steenson, D.P.; Miles, R.E.; Pollard, R.D.; Chamberlain, J.M.; Bowen, J.W.; Hadjiloucas, S.; Towlson, B.M.; Parkhurst, G.M.;
By: McIntosh, C.E.; Digby, J.W.; Davies, S.R.; Cronin, N.J.; Karatzas, L.S.; Steenson, D.P.; Miles, R.E.; Pollard, R.D.; Chamberlain, J.M.; Bowen, J.W.; Hadjiloucas, S.; Towlson, B.M.; Parkhurst, G.M.;
2000 / IEEE / 0-7803-6513-5
By: Idehara, T.; Ogawa, I.; Kitai, K.; Matsuda, H.; Sabchevski, S.; Ui, M.; Aripin; Glyavin, M.; Mitsudo, S.;
By: Idehara, T.; Ogawa, I.; Kitai, K.; Matsuda, H.; Sabchevski, S.; Ui, M.; Aripin; Glyavin, M.; Mitsudo, S.;
2000 / IEEE / 1-55752-608-7
By: Tsukamoto, T.; Ono, S.; Sarukura, N.; Zhenlin Liu; Sakai, M.; Ohtake, H.;
By: Tsukamoto, T.; Ono, S.; Sarukura, N.; Zhenlin Liu; Sakai, M.; Ohtake, H.;
2000 / IEEE / 83-906662-3-5
By: Tsutskov, V.V.; Bragin, S.I.; Yakovlev, E.A.; Sgibnev, V.P.; Bragin, I.V.; Mikhailov, V.F.;
By: Tsutskov, V.V.; Bragin, S.I.; Yakovlev, E.A.; Sgibnev, V.P.; Bragin, I.V.; Mikhailov, V.F.;
2001 / IEEE
By: van der Vorst, M.J.M.; Herben, M.H.A.J.; Luinge, W.; Heeres, R.M.; Reynolds, A.L.; Neto, A.; de Maagt, P.J.I.;
By: van der Vorst, M.J.M.; Herben, M.H.A.J.; Luinge, W.; Heeres, R.M.; Reynolds, A.L.; Neto, A.; de Maagt, P.J.I.;
A fast code using nonmagnetic measurements for RFX current and magnetic field profile reconstruction
2002 / IEEEBy: Chitarin, G.; Bagatin, M.; Zabeo, L.; Desideri, D.; Piovan, R.;
Next Page
Follow Us
Copyright © 2014 SharedBook. All rights reserved. Customer Service ·
Privacy Policy
·
User Agreement ·
Accessibility ·
Sitemap