Your Search Results
Use materials about this topic in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content - such as case studies and journal articles - for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Topic: Submillimetre Wave Detectors
Results
2011 / IEEE
By: Yaming Zhang; Ruonan Han; O, K.K.; Brown, E.; Knap, W.; Videlier, H.; Coquillat, D.;
By: Yaming Zhang; Ruonan Han; O, K.K.; Brown, E.; Knap, W.; Videlier, H.; Coquillat, D.;
2012 / IEEE
By: Ruijiang Li; Changzhan Gu; Changzhi Li; Jiang, S.B.; Torres, C.; Fung, A.Y.C.; Hualiang Zhang;
By: Ruijiang Li; Changzhan Gu; Changzhi Li; Jiang, S.B.; Torres, C.; Fung, A.Y.C.; Hualiang Zhang;
2012 / IEEE
By: Medvedev, I.R.; Neese, C.F.; De Lucia, F.C.; Ball, C.D.; Frank, A.J.; Plummer, G.M.;
By: Medvedev, I.R.; Neese, C.F.; De Lucia, F.C.; Ball, C.D.; Frank, A.J.; Plummer, G.M.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0509-0
By: Grossman, E.; van der Weide, D.; Leonov, I.I.; Belov, S.P.; Pripolsin, S.I.; Bevan, J.; McElmurry, B.A.; Panin, A.N.; Vaks, V.L.;
By: Grossman, E.; van der Weide, D.; Leonov, I.I.; Belov, S.P.; Pripolsin, S.I.; Bevan, J.; McElmurry, B.A.; Panin, A.N.; Vaks, V.L.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0509-0
By: Gwarek, W.; Kopyt, P.; Marczewski, J.; Yavorskiy, D.; Bialek, M.; Knap, W.; Grabiec, P.; Gorska, M.; Lusakowski, J.; Grodner, M.; Kucharski, K.;
By: Gwarek, W.; Kopyt, P.; Marczewski, J.; Yavorskiy, D.; Bialek, M.; Knap, W.; Grabiec, P.; Gorska, M.; Lusakowski, J.; Grodner, M.; Kucharski, K.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0509-0
By: Evangelisti, F.; Capellini, G.; Di Gaspare, L.; Carta, S.; Bagni, R.; Foglietti, V.; Ortolani, M.; Notargiacomo, A.; Giovine, E.; Di Gaspare, A.; Casini, R.;
By: Evangelisti, F.; Capellini, G.; Di Gaspare, L.; Carta, S.; Bagni, R.; Foglietti, V.; Ortolani, M.; Notargiacomo, A.; Giovine, E.; Di Gaspare, A.; Casini, R.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0509-0
By: Ercolani, D.; Viti, L.; Teppe, F.; Coquillat, D.; Sorba, L.; Pitanti, A.; Vitiello, M.S.; Tredicucci, A.; Knap, W.;
By: Ercolani, D.; Viti, L.; Teppe, F.; Coquillat, D.; Sorba, L.; Pitanti, A.; Vitiello, M.S.; Tredicucci, A.; Knap, W.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1516-7
By: Jegert, G.; Hochmeister, A.; Bareiss, M.; Lugli, P.; Zschieschang, U.; Koblmuller, G.; Scarpa, G.; Fabel, B.; Klauk, H.; Porod, W.;
By: Jegert, G.; Hochmeister, A.; Bareiss, M.; Lugli, P.; Zschieschang, U.; Koblmuller, G.; Scarpa, G.; Fabel, B.; Klauk, H.; Porod, W.;
2012 / IEEE / 978-1-4577-1438-2
By: Drakinskiy, V.; Dahlback, R.; Bryllert, T.; Stake, J.; Sobis, P.; Hanning, J.; Zhao, H.; Vukusic, J.; Tang, A.Y.; Malko, A.;
By: Drakinskiy, V.; Dahlback, R.; Bryllert, T.; Stake, J.; Sobis, P.; Hanning, J.; Zhao, H.; Vukusic, J.; Tang, A.Y.; Malko, A.;
2012 / IEEE / 978-1-4673-0442-9
By: Trinchera, B.; Pogliano, U.; Serazio, D.; Francone, F.; Roncaglione, L.;
By: Trinchera, B.; Pogliano, U.; Serazio, D.; Francone, F.; Roncaglione, L.;
2007 / American Institute of Physics
By: A. Takazato; M. Kamakura; T. Matsui; J. Kitagawa; Y. Kadoya;
By: A. Takazato; M. Kamakura; T. Matsui; J. Kitagawa; Y. Kadoya;
2006 / American Institute of Physics
By: P. Kleinschmidt; S. Giblin; A. Tzalenchuk; H. Hashiba; V. Antonov; S. Komiyama;
By: P. Kleinschmidt; S. Giblin; A. Tzalenchuk; H. Hashiba; V. Antonov; S. Komiyama;
1994 / IEEE / 0-7803-1497-2
By: Doctor, A.; Baliga, S.; Jarecke, P.; Carman, S.; Folkman, M.; Frink, M.; Avis, L.; Smith, L.; Lee, R.; Lawrence, W.; Kopia, L.; Cooper, J.; Barkstrom, B.;
By: Doctor, A.; Baliga, S.; Jarecke, P.; Carman, S.; Folkman, M.; Frink, M.; Avis, L.; Smith, L.; Lee, R.; Lawrence, W.; Kopia, L.; Cooper, J.; Barkstrom, B.;
1995 / IEEE
By: Belitsky, V.Yu.; Kollberg, E.L.; Koshelets, V.P.; Holmstedt, C.; Filippenko, L.V.; Jacobsson, S.W.;
By: Belitsky, V.Yu.; Kollberg, E.L.; Koshelets, V.P.; Holmstedt, C.; Filippenko, L.V.; Jacobsson, S.W.;
1998 / IEEE / 0-7803-4903-2
By: Steier, W.; Chang, Y.; Ali, M.; Erlig, H.; Dalton, L.; Udupa, A.; Fetterman, H.; Bhattachaya, D.; Tsap, B.;
By: Steier, W.; Chang, Y.; Ali, M.; Erlig, H.; Dalton, L.; Udupa, A.; Fetterman, H.; Bhattachaya, D.; Tsap, B.;
1999 / IEEE / 0-7803-5135-5
By: Suenram, R.; Kaul, R.; Woolard, D.; gSamuels, A.; Globus, T.; Walker, A.H.;
By: Suenram, R.; Kaul, R.; Woolard, D.; gSamuels, A.; Globus, T.; Walker, A.H.;
1999 / IEEE
By: Hubers, H.-W.; Schubert, J.; Merkel, H.; Kollberg, E.; Schwaab, G.; Kroug, M.; Yagoubov, P.; Gershenzon, E.; Gol'tsman, G.;
By: Hubers, H.-W.; Schubert, J.; Merkel, H.; Kollberg, E.; Schwaab, G.; Kroug, M.; Yagoubov, P.; Gershenzon, E.; Gol'tsman, G.;
1999 / IEEE
By: Stepantsov, E.; Tarasov, M.; Beuven, S.; Kohlstedt, H.; Golubev, D.; Darula, M.; Harnack, O.; Claeson, T.; Ivanov, Z.;
By: Stepantsov, E.; Tarasov, M.; Beuven, S.; Kohlstedt, H.; Golubev, D.; Darula, M.; Harnack, O.; Claeson, T.; Ivanov, Z.;
1999 / IEEE
By: Kiewiet, F.B.; de Korte, P.A.J.; Mels, W.A.; Bento, A.C.; Hoevers, H.F.C.; Bruijn, M.P.;
By: Kiewiet, F.B.; de Korte, P.A.J.; Mels, W.A.; Bento, A.C.; Hoevers, H.F.C.; Bruijn, M.P.;
2000 / IEEE / 0-7803-5947-X
By: Brener, I.; Mitrofanov, O.; Federici, J.; Lee, M.; Wynn, J.D.; Harel, R.;
By: Brener, I.; Mitrofanov, O.; Federici, J.; Lee, M.; Wynn, J.D.; Harel, R.;
2000 / IEEE / 1-55752-634-6
By: Bolfvar, P.H.; Brucherseifer, M.; Nagel, M.; Pellemans, H.P.M.; Schindler, G.; Kurz, H.;
By: Bolfvar, P.H.; Brucherseifer, M.; Nagel, M.; Pellemans, H.P.M.; Schindler, G.; Kurz, H.;
2000 / IEEE / 1-55752-634-6
By: Mitrofanov, O.; Federici, J.; Bruce, A.J.; Wynn, J.D.; Ruel, R.R.; Wanke, M.C.; Brener, I.;
By: Mitrofanov, O.; Federici, J.; Bruce, A.J.; Wynn, J.D.; Ruel, R.R.; Wanke, M.C.; Brener, I.;
2001 / IEEE / 0-7803-6473-2
By: Zhukov, A.E.; Ustinov, V.M.; Koschurinov, Yu.I.; Paveliev, D.G.; Kop'ev, P.S.;
By: Zhukov, A.E.; Ustinov, V.M.; Koschurinov, Yu.I.; Paveliev, D.G.; Kop'ev, P.S.;
2001 / IEEE / 0-7803-6473-2
By: Torres-J, A.; Grimalsky, V.; Solovyev, D.; Tecpoyotl-T, M.; Kishenko, Ya.; De La Hidalga-W, J.;
By: Torres-J, A.; Grimalsky, V.; Solovyev, D.; Tecpoyotl-T, M.; Kishenko, Ya.; De La Hidalga-W, J.;
2001 / IEEE / 0-7803-6538-0
By: Crawford, T.; Maestrini, A.; Bruston, J.; Martin, S.; Maiwald, F.; Siegel, P.H.;
By: Crawford, T.; Maestrini, A.; Bruston, J.; Martin, S.; Maiwald, F.; Siegel, P.H.;
2002 / IEEE / 83-906662-5-1
By: Moroz, I.; Koshevaya, S.; Grimalsky, V.; Tecpoyotl-T, M.; Kishenko, Ya.;
By: Moroz, I.; Koshevaya, S.; Grimalsky, V.; Tecpoyotl-T, M.; Kishenko, Ya.;
2002 / IEEE / 0-7803-7423-1
By: Schomburg, E.; Renk, K.F.; Klappenberger, F.; Prettl, W.; Ganichev, S.; Summer, R.;
By: Schomburg, E.; Renk, K.F.; Klappenberger, F.; Prettl, W.; Ganichev, S.; Summer, R.;
2002 / IEEE / 0-7803-7478-9
By: Lusakowski, J.; Rurayantsev, S.; Knap, W.; Deng, Y.; Shur, M.S.; Gaska, R.; Piotrowska, A.; Kaminska, E.; Ryzhii, V.; Khan, A.;
By: Lusakowski, J.; Rurayantsev, S.; Knap, W.; Deng, Y.; Shur, M.S.; Gaska, R.; Piotrowska, A.; Kaminska, E.; Ryzhii, V.; Khan, A.;