Your Search Results
Use materials about this topic in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content - such as case studies and journal articles - for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Topic: Slow Wave Structures
Results
2011 / IEEE
By: Ciersiang Chua; Lei Wang; Zhongxiang Shen; Soon Wee Ho; Min Tang; Aditya, S.; Tsai, J.M.;
By: Ciersiang Chua; Lei Wang; Zhongxiang Shen; Soon Wee Ho; Min Tang; Aditya, S.; Tsai, J.M.;
2012 / IEEE
By: Franc, A.-L.; Xiao-Lan Tang; Fournier, J.; Ferrari, P.; Vincent, P.; Siligaris, A.; Pistono, E.;
By: Franc, A.-L.; Xiao-Lan Tang; Fournier, J.; Ferrari, P.; Vincent, P.; Siligaris, A.; Pistono, E.;
2012 / IEEE
By: Yanyu Wei; Fei Shen; Jinjun Feng; Wenxiang Wang; Shaomeng Wang; Xiong Xu; Yubin Gong; Hairong Yin;
By: Yanyu Wei; Fei Shen; Jinjun Feng; Wenxiang Wang; Shaomeng Wang; Xiong Xu; Yubin Gong; Hairong Yin;
Symmetric Double V-Shaped Microstrip Meander-Line Slow-Wave Structure for W-Band Traveling-Wave Tube
2012 / IEEEBy: Yubin Gong; Xiong Xu; Yanyu Wei; Fei Shen; Yang Liu; Zhaoyun Duan; Tao Tang; Minzhi Huang;
1992 / IEEE / 000-0-0000-0000-0
By: Abe, D.K.; Bromborsky, A.; Miller, S.M.; Levush, B.; Carmel, Y.; Antonsen, T.;
By: Abe, D.K.; Bromborsky, A.; Miller, S.M.; Levush, B.; Carmel, Y.; Antonsen, T.;
2004 / IEEE / 978-5-87911-088-3
By: Raymond, P.; Larour, J.; Cousin, R.; Gouard, P.; Durand, A.J.; Wey, J.;
By: Raymond, P.; Larour, J.; Cousin, R.; Gouard, P.; Durand, A.J.; Wey, J.;
2004 / IEEE / 978-5-87911-088-3
By: Ishibana, K.; Nakajima, R.; Yamamoto, K.; Kamada, K.; Ando, R.; Sergeeva, A.S.; Ginzburga, N.S.; Rozentala, R.M.; Zotovaa, I.V.;
By: Ishibana, K.; Nakajima, R.; Yamamoto, K.; Kamada, K.; Ando, R.; Sergeeva, A.S.; Ginzburga, N.S.; Rozentala, R.M.; Zotovaa, I.V.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-329-2
By: Srivastava, V.; Lamba, V.; Kumar, N.; Pal, U.N.; Verma, D.K.; Tyagi, M.S.; Meena, B.L.; Kumar, M.;
By: Srivastava, V.; Lamba, V.; Kumar, N.; Pal, U.N.; Verma, D.K.; Tyagi, M.S.; Meena, B.L.; Kumar, M.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-8340-2
By: Gardes, F.Y.; Reed, G.T.; Thomson, D.; Kelsall, R.W.; Ikonic, Z.; Lever, L.; Krauss, T.F.; O'Faolain, L.; Fedeli, J.-M.; Sanchis, P.; Brimont, A.; Vivien, L.; Marris-Morini, D.; Ziebell, M.; Rasigade, G.;
By: Gardes, F.Y.; Reed, G.T.; Thomson, D.; Kelsall, R.W.; Ikonic, Z.; Lever, L.; Krauss, T.F.; O'Faolain, L.; Fedeli, J.-M.; Sanchis, P.; Brimont, A.; Vivien, L.; Marris-Morini, D.; Ziebell, M.; Rasigade, G.;
2011 / IEEE / 978-966-335-357-9
By: Galdetskiy, A.V.; Rudiy, U.B.; Negirev, A.A.; Myakinkov, V.U.; Golenitskiy, I.I.;
By: Galdetskiy, A.V.; Rudiy, U.B.; Negirev, A.A.; Myakinkov, V.U.; Golenitskiy, I.I.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0509-0
By: Park, G.S.; Shin, Y.M.; Choi, D.H.; Baek, I.K.; Min, S.H.; Park, S.H.; So, J.K.; Sattorov, M.A.; Kwon, O.J.;
By: Park, G.S.; Shin, Y.M.; Choi, D.H.; Baek, I.K.; Min, S.H.; Park, S.H.; So, J.K.; Sattorov, M.A.; Kwon, O.J.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0509-0
By: Minzhi Huang; Hairong Yin; Yubin Gong; Yanyu Wei; Xiong Xu; Wenxiang Wang;
By: Minzhi Huang; Hairong Yin; Yubin Gong; Yanyu Wei; Xiong Xu; Wenxiang Wang;
2011 / IEEE / 978-0-85825-974-4
By: Jun Sun; Zhimin Song; Renzhen Xiao; Yan Teng; Hao Shao; Changhua Chen;
By: Jun Sun; Zhimin Song; Renzhen Xiao; Yan Teng; Hao Shao; Changhua Chen;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0631-8
By: Mesyats, G.A.; Yalandin, M.I.; Romanchenko, I.V.; Elchaninov, A.A.; Rostov, V.V.;
By: Mesyats, G.A.; Yalandin, M.I.; Romanchenko, I.V.; Elchaninov, A.A.; Rostov, V.V.;
2012 / IEEE / 978-1-4673-2185-3
By: Xi-cheng Lu; Chang-jiang Tong; Shuang Li; Xue-feng Wang; Guang-qiang Wang;
By: Xi-cheng Lu; Chang-jiang Tong; Shuang Li; Xue-feng Wang; Guang-qiang Wang;
2012 / IEEE / 978-1-4673-2185-3
By: Deng, G.S.; Lv, G.Q.; Yang, J.; Ruan, J.F.; Liu, Y.; Zhang, W.B.; He, Z.C.;
By: Deng, G.S.; Lv, G.Q.; Yang, J.; Ruan, J.F.; Liu, Y.; Zhang, W.B.; He, Z.C.;
2012 / IEEE / 978-1-4673-2185-3
By: Fei Shen; Xiong Xu; Jin Xu; Yanyu Wei; Jianqiang Lai; Yang Liu; Yubin Gong; Tao Tang; Minzhi Huang;
By: Fei Shen; Xiong Xu; Jin Xu; Yanyu Wei; Jianqiang Lai; Yang Liu; Yubin Gong; Tao Tang; Minzhi Huang;
2012 / IEEE / 978-1-4673-2185-3
By: Shaomeng Wang; Yubin Gong; Yanyu Wei; Tao Tang; Minzhi Huang; Fei Shen; Zhaoyun Duan;
By: Shaomeng Wang; Yubin Gong; Yanyu Wei; Tao Tang; Minzhi Huang; Fei Shen; Zhaoyun Duan;
1992 / IEEE / 000-0-0000-0000-0
By: Santoru, J.; Butler, J.M.; Hyman, J.; Schumacher, R.W.; Goebel, D.M.; Watkins, R.M.; Schneider, A.J.; Eisenhart, R.L.; Dolezal, F.A.; Harvey, R.J.;
By: Santoru, J.; Butler, J.M.; Hyman, J.; Schumacher, R.W.; Goebel, D.M.; Watkins, R.M.; Schneider, A.J.; Eisenhart, R.L.; Dolezal, F.A.; Harvey, R.J.;
1994 / IEEE
By: Roitman, A.M.; Rostov, V.V.; Lemke, W.; Korovin, S.D.; Hendricks, K.J.; Schamiloglu, E.; Moreland, L.D.; Spencer, T.A.;
By: Roitman, A.M.; Rostov, V.V.; Lemke, W.; Korovin, S.D.; Hendricks, K.J.; Schamiloglu, E.; Moreland, L.D.; Spencer, T.A.;
1994 / IEEE
By: Ogura, K.; Weaver, J.; Main, W.; Granatstein, V.L.; Destler, W.W.; Minami, K.; Amin, M.R.; Watanabe, S.; Carmel, Y.; Bromborsky, A.; Rodgers, J.; Tate, J.P.; Kobayashi, S.; Nusinovich, G.S.;
By: Ogura, K.; Weaver, J.; Main, W.; Granatstein, V.L.; Destler, W.W.; Minami, K.; Amin, M.R.; Watanabe, S.; Carmel, Y.; Bromborsky, A.; Rodgers, J.; Tate, J.P.; Kobayashi, S.; Nusinovich, G.S.;
1995 / IEEE
By: Weaver, J.; Main, W.; Carmel, Y.; Watanabe, T.; Minami, K.; Destler, W.W.; Ogura, K.; Amin, M.R.; Kitamura, H.; Granatstein, V.L.;
By: Weaver, J.; Main, W.; Carmel, Y.; Watanabe, T.; Minami, K.; Destler, W.W.; Ogura, K.; Amin, M.R.; Kitamura, H.; Granatstein, V.L.;
1995 / IEEE
By: Zheng, X.D.; Ogura, K.; Amin, M.R.; Aiba, Y.; Watanabe, T.; Minami, K.; Granatstein, V.L.; Destler, W.W.; Carmel, Y.;
By: Zheng, X.D.; Ogura, K.; Amin, M.R.; Aiba, Y.; Watanabe, T.; Minami, K.; Granatstein, V.L.; Destler, W.W.; Carmel, Y.;
1994 / IEEE / 0-7803-2111-1
By: Smithe, D.N.; Goplen, B.; Zaidman, E.G.; Vanderplaats, N.R.; Kodis, M.A.; Freund, H.P.;
By: Smithe, D.N.; Goplen, B.; Zaidman, E.G.; Vanderplaats, N.R.; Kodis, M.A.; Freund, H.P.;
1994 / IEEE / 0-7803-2111-1
By: Goebel, D.M.; Santoru, J.; Butler, J.M.; Garland-Ponti, E.S.; Eisenhart, R.L.;
By: Goebel, D.M.; Santoru, J.; Butler, J.M.; Garland-Ponti, E.S.; Eisenhart, R.L.;
Slow-wave phenomena and pulse distortions in optically excited Schottky-contacted coplanar waveguide
1995 / IEEE / 0-7803-2581-8By: Sun, S.L.; Wang, H.X.; Tripathi, V.K.; Goodnick, S.M.; Rong, A.S.; Dou, W.B.;
1995 / IEEE / 0-7803-2669-5
By: Weaver, J.; Kobayashi, S.; Granatstein, V.; Destler, W.; Ogura, K.; Carmel, Y.; Shkuvarnets, A.;
By: Weaver, J.; Kobayashi, S.; Granatstein, V.; Destler, W.; Ogura, K.; Carmel, Y.; Shkuvarnets, A.;
1995 / IEEE / 0-7803-2669-5
By: Rodgers, J.; Carmel, Y.; Shkuvarunets, A.; Kobayashi, S.; Weaver, J.; Granatstein, V.L.; Destler, W.W.;
By: Rodgers, J.; Carmel, Y.; Shkuvarunets, A.; Kobayashi, S.; Weaver, J.; Granatstein, V.L.; Destler, W.W.;
1995 / IEEE / 0-7803-2669-5
By: Smithe, D.N.; Zaidman, E.G.; Vanderplaats, N.R.; Kodis, M.A.; Jensen, K.; Goplen, B.; Freund, H.P.; Garven, M.;
By: Smithe, D.N.; Zaidman, E.G.; Vanderplaats, N.R.; Kodis, M.A.; Jensen, K.; Goplen, B.; Freund, H.P.; Garven, M.;
1995 / IEEE / 0-7803-2669-5
By: Rauth, L.; Basten, M.A.; Anderson, J.; Scharer, J.E.; Joe, J.; Booske, J.H.;
By: Rauth, L.; Basten, M.A.; Anderson, J.; Scharer, J.E.; Joe, J.; Booske, J.H.;
1996 / IEEE
By: Vlasov, A.N.; Antonsen, T.M., Jr.; Levush, B.; Ludeking, L.; Abe, D.K.; Schlesiger, C.; Nusinovich, G.S.; Bromborsky, A.; Destler, W.W.; Granatstein, V.L.; Carmel, Y.; Miller, S.M.;
By: Vlasov, A.N.; Antonsen, T.M., Jr.; Levush, B.; Ludeking, L.; Abe, D.K.; Schlesiger, C.; Nusinovich, G.S.; Bromborsky, A.; Destler, W.W.; Granatstein, V.L.; Carmel, Y.; Miller, S.M.;
1996 / IEEE
By: Rostov, V.V.; Korovin, S.D.; Roitman, A.M.; Lemke, R.W.; Schamiloglu, E.; Moreland, L.D.;
By: Rostov, V.V.; Korovin, S.D.; Roitman, A.M.; Lemke, R.W.; Schamiloglu, E.; Moreland, L.D.;
1996 / IEEE / 0-7803-3322-5
By: Sena, M.; Ralph, D.; Lemke, R.; Coleman, D.; Clark, C.; Englert, T.; Gallegoes, R.; Calico, S.; Hackett, K.; Arman, M.; Shiffler, D.; Spencer, T.; Haworth, M.; Hendricks, K.; Trujillio, D.; Scott, M.;
By: Sena, M.; Ralph, D.; Lemke, R.; Coleman, D.; Clark, C.; Englert, T.; Gallegoes, R.; Calico, S.; Hackett, K.; Arman, M.; Shiffler, D.; Spencer, T.; Haworth, M.; Hendricks, K.; Trujillio, D.; Scott, M.;