Your Search Results
Use materials about this topic in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content - such as case studies and journal articles - for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Topic: Semiconductor Radiation Detectors
Results
2011 / IEEE
By: Zwerger, A.; Mix, M.; Fauler, A.; Campbell, M.; Blaj, G.; Fiederle, M.; Ballabriga, R.; Hamann, E.; Lubke, J.; Pichotka, M.; Procz, S.;
By: Zwerger, A.; Mix, M.; Fauler, A.; Campbell, M.; Blaj, G.; Fiederle, M.; Ballabriga, R.; Hamann, E.; Lubke, J.; Pichotka, M.; Procz, S.;
2012 / IEEE
By: Boguski, J.; Roecker, C.; Patil, A.; Jalilian, R.; Jovanovic, I.; Lopez, G.; Foxe, M.; Childres, I.; Chen, Y.P.;
By: Boguski, J.; Roecker, C.; Patil, A.; Jalilian, R.; Jovanovic, I.; Lopez, G.; Foxe, M.; Childres, I.; Chen, Y.P.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0586-1
By: Buhler, P.; Anastasiadis, A.; Daglis, I.A.; Sandberg, I.; Evans, H.; Nieminen, P.;
By: Buhler, P.; Anastasiadis, A.; Daglis, I.A.; Sandberg, I.; Evans, H.; Nieminen, P.;
2013 / IEEE
By: Puigdengoles, C.; Chmeissani, M.; Sarraj, M.; Macias-Montero, J.-G.; Martinez, R.; De Lorenzo, G.;
By: Puigdengoles, C.; Chmeissani, M.; Sarraj, M.; Macias-Montero, J.-G.; Martinez, R.; De Lorenzo, G.;
2013 / IEEE
By: Zhang, X.; Hausladen, P. A.; Puglisi, D.; Bertuccio, G.; Hayward, J. P.; Cates, J. W.;
By: Zhang, X.; Hausladen, P. A.; Puglisi, D.; Bertuccio, G.; Hayward, J. P.; Cates, J. W.;
2015 / IEEE
By: Baracchini, E.; Galli, L.; Walsh, J.; Venturini, M.; Tenchini, F.; Signorelli, G.; Bettarini, S.; Morsani, F; Minuti, M.; Dussoni, S.; Cavallaro, E.; Bosi, F.; Nicolo, D.;
By: Baracchini, E.; Galli, L.; Walsh, J.; Venturini, M.; Tenchini, F.; Signorelli, G.; Bettarini, S.; Morsani, F; Minuti, M.; Dussoni, S.; Cavallaro, E.; Bosi, F.; Nicolo, D.;
2015 / IEEE
By: Maj, P.; Lipton, R.; Kmon, P.; Grybos, P.; Siddons, D. P.; Carini, G.; Deptuch, G. W.; Yarema, R.; Szczygiel, R.; Collier, T.;
By: Maj, P.; Lipton, R.; Kmon, P.; Grybos, P.; Siddons, D. P.; Carini, G.; Deptuch, G. W.; Yarema, R.; Szczygiel, R.; Collier, T.;
2015 / IEEE
By: Crook, R.; Tartoni, N.; Astromskas, V.; Frizzi, T.; Krings, T.; Bombelli, L.; Ross, C.; Protic, D.; Alberti, R.;
By: Crook, R.; Tartoni, N.; Astromskas, V.; Frizzi, T.; Krings, T.; Bombelli, L.; Ross, C.; Protic, D.; Alberti, R.;
2014 / IEEE
By: Puglisi, D.; Bertuccio, G.; Mantovani, L.; Lamborizio, M.; Di Liberto, R.; Macera, D.;
By: Puglisi, D.; Bertuccio, G.; Mantovani, L.; Lamborizio, M.; Di Liberto, R.; Macera, D.;
2014 / IEEE
By: Daglis, I. A.; Sandberg, I.; Nieminen, P.; Evans, H.; Hands, A.; Truscott, P.; Heynderickx, D.;
By: Daglis, I. A.; Sandberg, I.; Nieminen, P.; Evans, H.; Hands, A.; Truscott, P.; Heynderickx, D.;
2014 / IEEE
By: Dion, M. P.; VanDevender, B. A.; Wright, M. E.; Wood, L. S.; Wilen, C. D.; Taubman, M. S.; Rodriguez, D. C.; Fast, J. E.;
By: Dion, M. P.; VanDevender, B. A.; Wright, M. E.; Wood, L. S.; Wilen, C. D.; Taubman, M. S.; Rodriguez, D. C.; Fast, J. E.;
2014 / IEEE
By: Aguilar, J. A.; Basili, A.; Boccone, V.; Rameez, M.; Montaruli, T.; della Volpe, D.; Christov, A.;
By: Aguilar, J. A.; Basili, A.; Boccone, V.; Rameez, M.; Montaruli, T.; della Volpe, D.; Christov, A.;
CdTe semiconductor X-ray imaging sensor and energy subtraction method using X-ray energy information
1993 / IEEEBy: Ohtsuchi, T.; Tsutsui, H.; Baba, S.; Ohmori, K.;
1992 / IEEE / 0-7803-0930-8
By: Hash, G.L.; Martin, R.L.; van Vonno, N.W.; Swonger, J.W.; Connors, M.P.; Hughes, K.L.; Shaneyfelt, M.R.; Schwank, J.R.;
By: Hash, G.L.; Martin, R.L.; van Vonno, N.W.; Swonger, J.W.; Connors, M.P.; Hughes, K.L.; Shaneyfelt, M.R.; Schwank, J.R.;
1994 / IEEE / 0-7803-2111-1
By: Bertuccio, G.; Fasoli, L.; Seitz, H.; Richter, R.H.; Struder, L.; Lutz, G.; Lechner, P.; Krisch, S.; Hauff, D.; Hartmann, R.; Sampietro, M.; Pinotti, E.; Longoni, A.; Gatti, E.; Fiorini, C.;
By: Bertuccio, G.; Fasoli, L.; Seitz, H.; Richter, R.H.; Struder, L.; Lutz, G.; Lechner, P.; Krisch, S.; Hauff, D.; Hartmann, R.; Sampietro, M.; Pinotti, E.; Longoni, A.; Gatti, E.; Fiorini, C.;
1997 / IEEE
By: van den Hoven, G.N.; Tiemeijer, L.F.; Verboven, A.J.M.; Walczyk, S.; Thijs, P.J.A.; Jansen, E.J.; Binsma, J.J.M.; van Dongen, T.;
By: van den Hoven, G.N.; Tiemeijer, L.F.; Verboven, A.J.M.; Walczyk, S.; Thijs, P.J.A.; Jansen, E.J.; Binsma, J.J.M.; van Dongen, T.;
1996 / IEEE
By: Khivrich, V.I.; Alexiev, D.; Carolan, M.; Rosenfeld, A.B.; Litovchenko, P.G.; Reinhard, M.I.; Zinets, O.S.; Anokhin, A.I.; Varentsov, M.D.;
By: Khivrich, V.I.; Alexiev, D.; Carolan, M.; Rosenfeld, A.B.; Litovchenko, P.G.; Reinhard, M.I.; Zinets, O.S.; Anokhin, A.I.; Varentsov, M.D.;
1996 / IEEE / 0-7803-3625-9
By: Sampietro, M.; Longoni, A.; Fiorini, C.; Fasoli, L.; Struder, L.; Lechner, P.;
By: Sampietro, M.; Longoni, A.; Fiorini, C.; Fasoli, L.; Struder, L.; Lechner, P.;
1996 / IEEE / 0-7803-3534-1
By: Roe, S.; Delagnes, E.; Dabrowski, W.; Anghinolfi, F.; Weilhammer, P.; Kaplon, J.; Posch, C.; Lugiez, F.; Jarron, P.; Koetz, U.;
By: Roe, S.; Delagnes, E.; Dabrowski, W.; Anghinolfi, F.; Weilhammer, P.; Kaplon, J.; Posch, C.; Lugiez, F.; Jarron, P.; Koetz, U.;
1997 / IEEE
By: Koetz, U.; Anghinolfi, F.; Kaplon, J.; Delagnes, E.; Dabrowski, W.; Jarron, P.; Weilhammer, P.; Roe, S.; Posch, C.; Lugiez, F.;
By: Koetz, U.; Anghinolfi, F.; Kaplon, J.; Delagnes, E.; Dabrowski, W.; Jarron, P.; Weilhammer, P.; Roe, S.; Posch, C.; Lugiez, F.;
1997 / IEEE / 0-7803-4258-5
By: Filimonov, A.E.; Zelenskaya, O.V.; Smirnov, N.N.; Lubimskii, W.R.; Danshin, E.A.; Ryzhikov, V.D.; Chernikov, V.V.;
By: Filimonov, A.E.; Zelenskaya, O.V.; Smirnov, N.N.; Lubimskii, W.R.; Danshin, E.A.; Ryzhikov, V.D.; Chernikov, V.V.;
1998 / IEEE / 0-7803-5021-9
By: Siffert, P.; Caroli, E.; Chirco, P.; Zanarini, M.; Cavallini, A.; Morigi, M.P.; Hage-Ali, M.; Fraboni, B.; Dusi, W.;
By: Siffert, P.; Caroli, E.; Chirco, P.; Zanarini, M.; Cavallini, A.; Morigi, M.P.; Hage-Ali, M.; Fraboni, B.; Dusi, W.;
1998 / IEEE / 0-7803-5021-9
By: Lund, J.C.; Wessendorf, K.O.; Clements, J.W.; Laguna, G.R.; Brunett, B.A.;
By: Lund, J.C.; Wessendorf, K.O.; Clements, J.W.; Laguna, G.R.; Brunett, B.A.;
2000 / IEEE
By: Bethea, C.G.; Gmachl, C.; Capasso, F.; Paiella, R.; Sivco, D.L.; Liu, H.C.; Cho, A.Y.; Hutchinson, A.L.; Baillargeon, J.N.;
By: Bethea, C.G.; Gmachl, C.; Capasso, F.; Paiella, R.; Sivco, D.L.; Liu, H.C.; Cho, A.Y.; Hutchinson, A.L.; Baillargeon, J.N.;
2000 / IEEE
By: Silin, V.; Kvitnitskaya, V.; Danshin, E.; Galkin, S.; Gal'chinetski, L.; Ryzhikov, V.; Chernikov, V.;
By: Silin, V.; Kvitnitskaya, V.; Danshin, E.; Galkin, S.; Gal'chinetski, L.; Ryzhikov, V.; Chernikov, V.;
2000 / IEEE
By: Siffert, P.; Caroli, E.; Chirco, P.; Zanarini, M.; Cavailini, A.; Morigi, M.P.; Hage-Ali, M.; Fraboni, B.; Dusi, W.;
By: Siffert, P.; Caroli, E.; Chirco, P.; Zanarini, M.; Cavailini, A.; Morigi, M.P.; Hage-Ali, M.; Fraboni, B.; Dusi, W.;
2001 / IEEE
By: Ludewigt, B.; Krieger, B.; Parker, S.I.; Kenney, C.J.; Sadrozinski, H.; Dubbs, T.P.;
By: Ludewigt, B.; Krieger, B.; Parker, S.I.; Kenney, C.J.; Sadrozinski, H.; Dubbs, T.P.;
2001 / IEEE
By: Starzhinskiy, N.; Ryzhikov, V.; Danshin, E.; Kozin, D.; Gashin, P.; Gal'chinetskii, L.;
By: Starzhinskiy, N.; Ryzhikov, V.; Danshin, E.; Kozin, D.; Gashin, P.; Gal'chinetskii, L.;
2001 / IEEE / 0-7803-7324-3
By: Pospisil, S.; Mares, J.J.; Linhart, V.; Leroy, C.; Lebel, C.; Houdayer, A.; Sopko, B.;
By: Pospisil, S.; Mares, J.J.; Linhart, V.; Leroy, C.; Lebel, C.; Houdayer, A.; Sopko, B.;
2002 / IEEE
By: Yli-Koski, M.; Palmu, L.; Ovchinnikov, V.; Heikkila, P.; Nysten, J.; Palokangas, M.; Nummela, S.; Mehtala, P.; Lassila-Perini, K.; Tuovinen, E.; Tuominen, E.; Harkonen, J.; Virtanen, A.; Tiourine, G.; Riihimaki, I.; Pirojenko, A.; Laitinen, P.; Alanko, T.; Kallijarvi, S.;
By: Yli-Koski, M.; Palmu, L.; Ovchinnikov, V.; Heikkila, P.; Nysten, J.; Palokangas, M.; Nummela, S.; Mehtala, P.; Lassila-Perini, K.; Tuovinen, E.; Tuominen, E.; Harkonen, J.; Virtanen, A.; Tiourine, G.; Riihimaki, I.; Pirojenko, A.; Laitinen, P.; Alanko, T.; Kallijarvi, S.;
1971 / IEEE
By: Kurihara, S.; Kobayashi, T.; Sasaki, Y.; Iio, M.; Sugita, T.; Kashio, E.; Makino, S.; Takayanagi, S.;
By: Kurihara, S.; Kobayashi, T.; Sasaki, Y.; Iio, M.; Sugita, T.; Kashio, E.; Makino, S.; Takayanagi, S.;