Your Search Results
Use materials about this topic in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content - such as case studies and journal articles - for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Topic: Schottky Diodes
Results
Hydrogen-Sensing Characteristics of a Pd/GaN Schottky Diode With a Simple Surface Roughness Approach
2011 / IEEEBy: Po-Shun Chiu; Huey-Ing Chen; Chi-Shiang Hsu; Chien-Chang Huang; Po-Cheng Chou; Tai-You Chen; Wen-Chau Liu; Rong-Chau Liu;
2011 / IEEE
By: Yaming Zhang; Ruonan Han; O, K.K.; Brown, E.; Knap, W.; Videlier, H.; Coquillat, D.;
By: Yaming Zhang; Ruonan Han; O, K.K.; Brown, E.; Knap, W.; Videlier, H.; Coquillat, D.;
2012 / IEEE
By: Khalid, A.; Montes, M.; Stephen, A.; Dunn, G.; Li, C.; Kuball, M.; Hopper, R.H.; Oxley, C.H.; Cumming, D.;
By: Khalid, A.; Montes, M.; Stephen, A.; Dunn, G.; Li, C.; Kuball, M.; Hopper, R.H.; Oxley, C.H.; Cumming, D.;
2012 / IEEE
By: Huby, N.; Scarpa, G.; Tallarida, G.; Lugli, P.; Guziewicz, E.; Arcari, M.; Godlewski, M.; Krajewski, T.A.;
By: Huby, N.; Scarpa, G.; Tallarida, G.; Lugli, P.; Guziewicz, E.; Arcari, M.; Godlewski, M.; Krajewski, T.A.;
2012 / IEEE
By: Hehn, T.; Manoli, Y.; Frey, A.; Kuehne, I.; Marinkovic, D.; Maurath, D.; Hagedorn, F.;
By: Hehn, T.; Manoli, Y.; Frey, A.; Kuehne, I.; Marinkovic, D.; Maurath, D.; Hagedorn, F.;
2012 / IEEE
By: Chieh-Lin Wu; Chikuang Yu; O, K.K.; Shichijo, H.; Choong-Yul Cha; Yang-Hun Yun; Kshattry, S.;
By: Chieh-Lin Wu; Chikuang Yu; O, K.K.; Shichijo, H.; Choong-Yul Cha; Yang-Hun Yun; Kshattry, S.;
2012 / IEEE
By: Scholz, M.; Denis, M.; Linten, D.; Srivastava, P.; Griffoni, A.; Shih-Hung Chen; Groeseneken, G.; Decoutere, S.; Van Hove, M.; Pogany, D.; Bychikhin, S.; Thijs, S.; Hopper, P.; Vashchenko, V.A.; Concannon, A.; Lafonteese, D.; Gallerano, A.;
By: Scholz, M.; Denis, M.; Linten, D.; Srivastava, P.; Griffoni, A.; Shih-Hung Chen; Groeseneken, G.; Decoutere, S.; Van Hove, M.; Pogany, D.; Bychikhin, S.; Thijs, S.; Hopper, P.; Vashchenko, V.A.; Concannon, A.; Lafonteese, D.; Gallerano, A.;
2012 / IEEE
By: Hellings, G.; Scholz, M.; Linten, D.; Yueh-Chin Lin; Shih-Hung Chen; Groeseneken, G.; Chang, E.Y.;
By: Hellings, G.; Scholz, M.; Linten, D.; Yueh-Chin Lin; Shih-Hung Chen; Groeseneken, G.; Chang, E.Y.;
2012 / IEEE
By: Ward, J.S.; Pearson, J.; Siles, J.V.; Mehdi, I.; Maestrini, A.; Siegel, P.; Lin, R.; Schlecht, E.; Chattopadhyay, G.; Gill, J.; Lee, C.; Thomas, B.;
By: Ward, J.S.; Pearson, J.; Siles, J.V.; Mehdi, I.; Maestrini, A.; Siegel, P.; Lin, R.; Schlecht, E.; Chattopadhyay, G.; Gill, J.; Lee, C.; Thomas, B.;
2012 / IEEE
By: Wurfl, J.; Meliani, C.; Wentzel, A.; Zhytnytska, R.; Hilt, O.; Bahat-Treidel, E.; Trankle, G.;
By: Wurfl, J.; Meliani, C.; Wentzel, A.; Zhytnytska, R.; Hilt, O.; Bahat-Treidel, E.; Trankle, G.;
2012 / IEEE
By: Aik Yean Tang; Stake, J.; Mehdi, I.; Gill, J.; Schlecht, E.; Choonsup Lee; Chattopadhyay, G.; Lin, R.;
By: Aik Yean Tang; Stake, J.; Mehdi, I.; Gill, J.; Schlecht, E.; Choonsup Lee; Chattopadhyay, G.; Lin, R.;
2012 / IEEE
By: Meng Tong Tan; Yuan Gao; Darmayuda, I.M.; Chun-Huat Heng; Minkyu Je; Yuanjin Zheng; San-Jeow Cheng;
By: Meng Tong Tan; Yuan Gao; Darmayuda, I.M.; Chun-Huat Heng; Minkyu Je; Yuanjin Zheng; San-Jeow Cheng;
2011 / IEEE / 978-1-4244-9312-8
By: Adamowicz, M.; Krzeminski, Z.; Rutkowski, M.; Pietryka, J.; Giziewski, S.;
By: Adamowicz, M.; Krzeminski, Z.; Rutkowski, M.; Pietryka, J.; Giziewski, S.;
2011 / IEEE / 978-3-00-035081-8
By: Yilmazoglu, O.; Litovchenko, V.; Semenenko, M.; Evtukh, A.; Pavlidis, D.; Considine, L.; Joshi, R.; Mimura, H.; Hartnagel, H.L.; Schneider, J.J.;
By: Yilmazoglu, O.; Litovchenko, V.; Semenenko, M.; Evtukh, A.; Pavlidis, D.; Considine, L.; Joshi, R.; Mimura, H.; Hartnagel, H.L.; Schneider, J.J.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-660-6
By: Proynov, P.P.; Szarka, G.D.; McNeill, N.; Burrow, S.G.; Stark, B.H.;
By: Proynov, P.P.; Szarka, G.D.; McNeill, N.; Burrow, S.G.; Stark, B.H.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0192-4
By: Varani, L.; Mahi, F.Z.; Gruzhinskis, V.; Starikov, E.; Shiktorov, P.;
By: Varani, L.; Mahi, F.Z.; Gruzhinskis, V.; Starikov, E.; Shiktorov, P.;
2011 / IEEE / 978-90-75815-14-6
By: Ibanez, P.; Apinaniz, S.; Pujana, A.; Gabiola, I.; Sierra, M.T.;
By: Ibanez, P.; Apinaniz, S.; Pujana, A.; Gabiola, I.; Sierra, M.T.;
2011 / IEEE / 978-90-75815-14-6
By: Lazar, M.; Morel, H.; Raynaud, C.; Buttay, C.; Bergogne, D.; Civrac, G.;
By: Lazar, M.; Morel, H.; Raynaud, C.; Buttay, C.; Bergogne, D.; Civrac, G.;
2011 / IEEE / 978-83-932075-2-7
By: Starzak, L.; Zubert, M.; Napieralski, A.; Janicki, M.; Napieralska, M.; Jablonski, G.;
By: Starzak, L.; Zubert, M.; Napieralski, A.; Janicki, M.; Napieralska, M.; Jablonski, G.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1005-6
By: Leuther, A.; Tessmann, A.; Hulsmann, A.; Kallfass, I.; Weissbrodt, E.; Ambacher, O.; Massler, H.;
By: Leuther, A.; Tessmann, A.; Hulsmann, A.; Kallfass, I.; Weissbrodt, E.; Ambacher, O.; Massler, H.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0708-7
By: Ozawa, K.; Sugii, N.; Shigemori, N.; Koyama, M.; Iwai, H.; Yamada, K.; Tachi, K.; Nishiyama, A.; Tsutsui, K.; Ohmori, K.; Nakatsuka, O.; Kakushima, K.;
By: Ozawa, K.; Sugii, N.; Shigemori, N.; Koyama, M.; Iwai, H.; Yamada, K.; Tachi, K.; Nishiyama, A.; Tsutsui, K.; Ohmori, K.; Nakatsuka, O.; Kakushima, K.;
2011 / IEEE / 978-1-58537-193-8
By: Thijs, S.; Scholz, M.; Linten, D.; Srivastava, P.; Griffoni, A.; Chen, S.-H.; Groeseneken, G.; Decoutere, S.; Van Hove, M.; Pogany, D.; Bychikhin, S.; Hopper, P.; Vashchenko, V.A.; Concannon, A.; Lafonteese, D.; Gallerano, A.; Marcon, D.;
By: Thijs, S.; Scholz, M.; Linten, D.; Srivastava, P.; Griffoni, A.; Chen, S.-H.; Groeseneken, G.; Decoutere, S.; Van Hove, M.; Pogany, D.; Bychikhin, S.; Hopper, P.; Vashchenko, V.A.; Concannon, A.; Lafonteese, D.; Gallerano, A.; Marcon, D.;