Your Search Results
Use materials about this topic in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content - such as case studies and journal articles - for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!
Not an educator but still interested in using this content? No problem! Visit our provider's page to contact the publisher and get permission directly.
Topic: Region 8
Results
2012 / IEEE / 978-1-4673-1414-5
By: Daria, Ryabchuk; George, Gogoberidze; Boris, Arseniev; Mikhail, Spiridonov; Vladimir, Zhamoida;
By: Daria, Ryabchuk; George, Gogoberidze; Boris, Arseniev; Mikhail, Spiridonov; Vladimir, Zhamoida;
2014 / IEEE
By: Krzhizhanovskaya, Valeria V.; Boukhanovsky, Alexander V.; Bochenina, Klavdiya; Dukhanov, Alexey; Bilyatdinova, Anna; Sloot, Peter M. A.;
By: Krzhizhanovskaya, Valeria V.; Boukhanovsky, Alexander V.; Bochenina, Klavdiya; Dukhanov, Alexey; Bilyatdinova, Anna; Sloot, Peter M. A.;
2013 / IEEE
By: Mouromtsev, Dmitry; Knyazev, Vitaly; Galkin, Mikhail; Parkhimovich, Olga; Vlasov, Vitaly;
By: Mouromtsev, Dmitry; Knyazev, Vitaly; Galkin, Mikhail; Parkhimovich, Olga; Vlasov, Vitaly;
1992 / IEEE / 0-7803-0568-X
By: Krutjakov, A.J.; Spesivtsev, A.V.; Wegner, V.A.; Sidorov, V.A.; Seregin, V.V.;
By: Krutjakov, A.J.; Spesivtsev, A.V.; Wegner, V.A.; Sidorov, V.A.; Seregin, V.V.;
1995 / IEEE
By: Smakhtin, V.P.; Pyata, E.E.; Beschastnov, P.M.; Fedorenko, V.E.; Yudin, Yu.V.; Akhmetshin, R.R.; Grigoriev, D.N.; Vasiliev, Ya.V.; Shlegel, V.N.;
By: Smakhtin, V.P.; Pyata, E.E.; Beschastnov, P.M.; Fedorenko, V.E.; Yudin, Yu.V.; Akhmetshin, R.R.; Grigoriev, D.N.; Vasiliev, Ya.V.; Shlegel, V.N.;
1995 / IEEE
By: Alvsvaag, S.J.; Maeland, O.A.; Klovning, A.; Benvenuti, A.C.; Giordano, I.; Guerzoni, M.; Navarria, F.L.; Verardi, M.G.; Camporesi, T.; Vallazza, E.; Bozzo, M.; Cereseto, R.; Barreira, G.; Espirito Santo, M.C.; Maio, A.; Onofre, A.; Peralta, L.; Pimenta, M.; Tome, B.; Carling, H.; Falk, E.; Hedberg, V.; Jarlskog, G.; Kronkvist, I.; Bonesini, M.; Ferrari, P.; Chignoli, B.; Gumenyuk, S.; Leoni, R.; Mazza, R.; Negri, P.; Paganoni, L.; Petrovykh, F.; Dharmasiri, D.R.; Nossum, B.; Read, A.L.; Skaali, B.; Castellani, L.; Pegoraro, M.; Fenyuk, A.; Gouz, Yu.; Ivanyushenkov, Yu.; Karyukhin, A.; Obraztov, V.; Vlasov, E.; Zaitsev, A.; Bigi, M.; Cassio, V.; Gamba, D.; Migliore, E.; Romero, A.; Simonetti, L.; Torassa, E.; Trapani, P.P.; Bari, M.; Della Ricca, G.; Lanceri, L.; Poropat, P.; Prest, M.;
By: Alvsvaag, S.J.; Maeland, O.A.; Klovning, A.; Benvenuti, A.C.; Giordano, I.; Guerzoni, M.; Navarria, F.L.; Verardi, M.G.; Camporesi, T.; Vallazza, E.; Bozzo, M.; Cereseto, R.; Barreira, G.; Espirito Santo, M.C.; Maio, A.; Onofre, A.; Peralta, L.; Pimenta, M.; Tome, B.; Carling, H.; Falk, E.; Hedberg, V.; Jarlskog, G.; Kronkvist, I.; Bonesini, M.; Ferrari, P.; Chignoli, B.; Gumenyuk, S.; Leoni, R.; Mazza, R.; Negri, P.; Paganoni, L.; Petrovykh, F.; Dharmasiri, D.R.; Nossum, B.; Read, A.L.; Skaali, B.; Castellani, L.; Pegoraro, M.; Fenyuk, A.; Gouz, Yu.; Ivanyushenkov, Yu.; Karyukhin, A.; Obraztov, V.; Vlasov, E.; Zaitsev, A.; Bigi, M.; Cassio, V.; Gamba, D.; Migliore, E.; Romero, A.; Simonetti, L.; Torassa, E.; Trapani, P.P.; Bari, M.; Della Ricca, G.; Lanceri, L.; Poropat, P.; Prest, M.;
1995 / IEEE
By: Alvsvaag, S.J.; Maeland, O.A.; Klovning, A.; Benvenuti, A.C.; Giordano, T.; Guerzoni, M.; Navarria, F.L.; Verardi, M.G.; Camporesi, T.; Vallazza, E.; Bozzo, M.; Cereseto, R.; Barreira, G.; Espirito Santo, M.C.; Maio, A.; Onofre, A.; Peralta, L.; Pimenta, L.; Tome, B.; Carling, H.; Falk, E.; Hedberg, V.; Jarlskog, G.; Kronkvist, I.; Bonesini, M.; Chignoli, F.; Gumenyuk, S.; Leoni, R.; Mazza, R.; Negri, P.; Paganoni, L.; Petrovykh, F.; Terranova, F.; Dharmasiri, D.R.; Nossum, B.; Read, A.L.; Skaali, B.; Castellani, L.; Pegoraro, M.; Fenyuk, A.; Gouz, I.; Ivanyushenkov, I.; Karyukhin, A.; Obraztov, V.; Vlasov, E.; Zaitsev, A.; Bigi, M.; Cassio, V.; Gamba, D.; Migliore, E.; Romero, A.; Simonetti, L.; Torassa, E.; Trapani, P.P.; Bari, M.; Della Ricca, G.; Lanceri, L.; Poropat, P.; Prest, M.;
By: Alvsvaag, S.J.; Maeland, O.A.; Klovning, A.; Benvenuti, A.C.; Giordano, T.; Guerzoni, M.; Navarria, F.L.; Verardi, M.G.; Camporesi, T.; Vallazza, E.; Bozzo, M.; Cereseto, R.; Barreira, G.; Espirito Santo, M.C.; Maio, A.; Onofre, A.; Peralta, L.; Pimenta, L.; Tome, B.; Carling, H.; Falk, E.; Hedberg, V.; Jarlskog, G.; Kronkvist, I.; Bonesini, M.; Chignoli, F.; Gumenyuk, S.; Leoni, R.; Mazza, R.; Negri, P.; Paganoni, L.; Petrovykh, F.; Terranova, F.; Dharmasiri, D.R.; Nossum, B.; Read, A.L.; Skaali, B.; Castellani, L.; Pegoraro, M.; Fenyuk, A.; Gouz, I.; Ivanyushenkov, I.; Karyukhin, A.; Obraztov, V.; Vlasov, E.; Zaitsev, A.; Bigi, M.; Cassio, V.; Gamba, D.; Migliore, E.; Romero, A.; Simonetti, L.; Torassa, E.; Trapani, P.P.; Bari, M.; Della Ricca, G.; Lanceri, L.; Poropat, P.; Prest, M.;
Modeling of diffuse current transfer in a near-electrode layer of the high-pressure molecular plasma
1995 / IEEEBy: Rogov, B.V.; Bochkarev, G.G.; Benilov, M.S.;
1994 / IEEE / 0-7803-2544-3
By: Shlegel, V.N.; Yudin, Yu.V.; Smakhtin, V.P.; Pyata, E.E.; Vasiliev, Y.V.; Beschastnov, P.M.; Akhmetshin, R.R.; Grigoriev, D.N.; Fedorenko, V.E.;
By: Shlegel, V.N.; Yudin, Yu.V.; Smakhtin, V.P.; Pyata, E.E.; Vasiliev, Y.V.; Beschastnov, P.M.; Akhmetshin, R.R.; Grigoriev, D.N.; Fedorenko, V.E.;
1996 / IEEE
By: Tsuji, H.; Shimamoto, S.; Takahashi, Y.; Nishi, M.; Ando, T.; Kato, T.; Nakajima, H.; Koizumi, N.; Isono, T.; Terasawa, A.; Sugimoto, M.; Minato, T.; Hasegawa, M.; Sasaki, T.; Ichihara, T.; Okuno, K.;
By: Tsuji, H.; Shimamoto, S.; Takahashi, Y.; Nishi, M.; Ando, T.; Kato, T.; Nakajima, H.; Koizumi, N.; Isono, T.; Terasawa, A.; Sugimoto, M.; Minato, T.; Hasegawa, M.; Sasaki, T.; Ichihara, T.; Okuno, K.;
1994 / IEEE / 0-7803-2514-1
By: Bondarick, V.N.; Anosov, A.M.; Alimov, R.V.; Yamnikov, V.S.; Yurin, S.N.; Shipulya, O.N.; Zaitsev, A.N.;
By: Bondarick, V.N.; Anosov, A.M.; Alimov, R.V.; Yamnikov, V.S.; Yurin, S.N.; Shipulya, O.N.; Zaitsev, A.N.;
1995 / IEEE / 0-7803-2969-4
By: Shamardin, V.; Pokrovsky, A.; Kazakov, V.; Ivanov, V.; Sandakov, V.; Revyakin, Yu.; Melder, R.;
By: Shamardin, V.; Pokrovsky, A.; Kazakov, V.; Ivanov, V.; Sandakov, V.; Revyakin, Yu.; Melder, R.;
1995 / IEEE / 0-7803-2969-4
By: Kussel, E.; Krylov, A.; Inoue, T.; Heinemann, B.; Hanada, M.; Feist, H.D.; Hemsworth, R.S.; Watson, M.; Tanii, M.; Shibata, K.; Panasenkov, A.; Pamela, J.; Okumura, Y.; Ohara, Y.; Nagase, A.; Murdoch, D.; Miyamoto, N.; Miyamoto, K.; Lotte, P.;
By: Kussel, E.; Krylov, A.; Inoue, T.; Heinemann, B.; Hanada, M.; Feist, H.D.; Hemsworth, R.S.; Watson, M.; Tanii, M.; Shibata, K.; Panasenkov, A.; Pamela, J.; Okumura, Y.; Ohara, Y.; Nagase, A.; Murdoch, D.; Miyamoto, N.; Miyamoto, K.; Lotte, P.;
1995 / IEEE / 0-7803-2791-8
By: Younger, S.M.; Ekdahl, C.A.; Reinovsky, R.E.; Fowler, C.M.; Chernyshev, V.K.; Lindemuth, I.R.; Pavlovskii, A.I.; Mokhov, V.N.;
By: Younger, S.M.; Ekdahl, C.A.; Reinovsky, R.E.; Fowler, C.M.; Chernyshev, V.K.; Lindemuth, I.R.; Pavlovskii, A.I.; Mokhov, V.N.;
1997 / IEEE
By: Bruzzone, P.; Zhelamskij, M.; Smith, B.; Takahashi, Y.; Ciazynski, D.; Mitchell, N.;
By: Bruzzone, P.; Zhelamskij, M.; Smith, B.; Takahashi, Y.; Ciazynski, D.; Mitchell, N.;
1997 / IEEE / 0-7803-4226-7
By: Hender, T.C.; Wesley, J.C.; Doinikov, N.; Gribov, Y.; Scoville, J.T.; Humphreys, D.A.; Kellman, A.G.; La Haye, R.J.; Leuer, J.A.;
By: Hender, T.C.; Wesley, J.C.; Doinikov, N.; Gribov, Y.; Scoville, J.T.; Humphreys, D.A.; Kellman, A.G.; La Haye, R.J.; Leuer, J.A.;
1997 / IEEE / 0-7803-4226-7
By: Onozuka, M.; Vallone, C.; Nelson, B.; Neilson, H.; Kuzmin, E.; Koizumi, K.; Ioki, K.; Parker, R.; Iizuka, T.; Takahashi, K.; Utin, Y.; Sannazzaro, G.; Johnson, G.;
By: Onozuka, M.; Vallone, C.; Nelson, B.; Neilson, H.; Kuzmin, E.; Koizumi, K.; Ioki, K.; Parker, R.; Iizuka, T.; Takahashi, K.; Utin, Y.; Sannazzaro, G.; Johnson, G.;
Maximal RF energy storage in a probe of clinical MR tomograph using the system of flexible solenoids
1998 / IEEE / 0-7803-4242-9By: Khripov, A.A.;
1999 / IEEE / 0-7803-5573-3
By: Tiunov, M.; Kuznetsov, G.; Prelec, K.; Pikin, A.; Lockey, R.; Beebe, E.; Kponou, A.; Hershcovitch, A.; Bellavia, S.; Alessi, J.;
By: Tiunov, M.; Kuznetsov, G.; Prelec, K.; Pikin, A.; Lockey, R.; Beebe, E.; Kponou, A.; Hershcovitch, A.; Bellavia, S.; Alessi, J.;
1999 / IEEE / 0-7803-5573-3
By: Volkov, O.Y.; Hanke, K.; Geitz, M.; Tonutti, M.; Menzel, J.; Schmuser, P.; Shirotov, V.V.; Pavlovskii, V.V.; Poppe, U.; Divin, Y.Y.;
By: Volkov, O.Y.; Hanke, K.; Geitz, M.; Tonutti, M.; Menzel, J.; Schmuser, P.; Shirotov, V.V.; Pavlovskii, V.V.; Poppe, U.; Divin, Y.Y.;
1999 / IEEE / 966-572-003-1
By: Zastela, M.Yu.; Grigoriev, A.V.; Galiullin, T.A.; Sedelnikov, Yu.E.;
By: Zastela, M.Yu.; Grigoriev, A.V.; Galiullin, T.A.; Sedelnikov, Yu.E.;
1998 / IEEE / 0-7803-4287-9
By: Cross, A.W.; Bratman, V.L.; Savilov, A.V.; Samsonov, S.V.; Phelps, A.D.R.; Kalynov, Yu.K.;
By: Cross, A.W.; Bratman, V.L.; Savilov, A.V.; Samsonov, S.V.; Phelps, A.D.R.; Kalynov, Yu.K.;
2000 / IEEE
By: Kalbreier, W.; Kouba, G.; Schirm, K.M.; Sukhina, B.; Sukhanov, A.; Giesch, M.; Steshov, A.; Mikhailov, S.; Mejidzade, V.; Golubenko, O.; Churkin, I.; Chumakov, S.; Chertok, I.; Weisse, E.;
By: Kalbreier, W.; Kouba, G.; Schirm, K.M.; Sukhina, B.; Sukhanov, A.; Giesch, M.; Steshov, A.; Mikhailov, S.; Mejidzade, V.; Golubenko, O.; Churkin, I.; Chumakov, S.; Chertok, I.; Weisse, E.;
2000 / IEEE / 0-7803-5744-2
By: Tang, Y.H.; Vrabcek, P.; Witt, T.J.; Reymann, D.; Hamilton, C.A.; Jeanneret, B.; Power, O.; Mendeleyev, D.I.; Katkov, A.;
By: Tang, Y.H.; Vrabcek, P.; Witt, T.J.; Reymann, D.; Hamilton, C.A.; Jeanneret, B.; Power, O.; Mendeleyev, D.I.; Katkov, A.;
2000 / IEEE / 0-7803-6401-5
By: McManama, K.; Klausmeyer, U.; Dill, W.G.; Kelly, P.; Pogorelsky, A.; Brenon, M.; Agius, C.; Zalogine, A.S.;
By: McManama, K.; Klausmeyer, U.; Dill, W.G.; Kelly, P.; Pogorelsky, A.; Brenon, M.; Agius, C.; Zalogine, A.S.;
2001 / IEEE
By: Ando, T.; Nunoya, Y.; Isono, T.; Martovetsky, N.N.; Michael, P.C.; Gung, C.Y.; Okuno, K.;
By: Ando, T.; Nunoya, Y.; Isono, T.; Martovetsky, N.N.; Michael, P.C.; Gung, C.Y.; Okuno, K.;
Next Page
Follow Us
Copyright © 2014 SharedBook. All rights reserved. Customer Service ·
Privacy Policy
·
User Agreement ·
Accessibility ·
Sitemap