Your Search Results
Use materials about this topic in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content - such as case studies and journal articles - for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Topic: Reconfigurable Architectures
Results
2011 / IEEE
By: Usami, K.; Nakamura, H.; Amano, H.; Kimura, M.; Ikebuchi, D.; Namiki, M.; Yasuda, Y.; Ozaki, N.; Saito, Y.; Kondo, M.;
By: Usami, K.; Nakamura, H.; Amano, H.; Kimura, M.; Ikebuchi, D.; Namiki, M.; Yasuda, Y.; Ozaki, N.; Saito, Y.; Kondo, M.;
2012 / IEEE
By: Cabal-Yepez, E.; Pena-Anaya, M.; Romero-Troncoso, R.J.; Osornio-Rios, R.A.; Garcia-Perez, A.;
By: Cabal-Yepez, E.; Pena-Anaya, M.; Romero-Troncoso, R.J.; Osornio-Rios, R.A.; Garcia-Perez, A.;
2012 / IEEE
By: Manousakis, K.; Kokkinos, P.; Spadaro, S.; Careglio, D.; Perello, J.; Tomkos, I.; Azodolmolky, S.; Angelou, M.; Yabin Ye; Gagnaire, M.; Saradhi, C.V.; Colle, D.; Staessens, D.; Varvarigos, E.;
By: Manousakis, K.; Kokkinos, P.; Spadaro, S.; Careglio, D.; Perello, J.; Tomkos, I.; Azodolmolky, S.; Angelou, M.; Yabin Ye; Gagnaire, M.; Saradhi, C.V.; Colle, D.; Staessens, D.; Varvarigos, E.;
2012 / IEEE
By: Burgos-Garcia, M.; Mbaye, A.; Huyart, B.; Mabrouk, K.; de la Morena-Alvarez-Palencia, C.;
By: Burgos-Garcia, M.; Mbaye, A.; Huyart, B.; Mabrouk, K.; de la Morena-Alvarez-Palencia, C.;
2012 / IEEE
By: Housden, J.; Ricci, S.; Ramalli, A.; Guidi, F.; Tortoli, P.; Bassi, L.; Boni, E.; Dallai, A.;
By: Housden, J.; Ricci, S.; Ramalli, A.; Guidi, F.; Tortoli, P.; Bassi, L.; Boni, E.; Dallai, A.;
2012 / IEEE
By: Li, F.; Cao, Z.; Koonen, A.M.J.; Chen, L.; van den Boom, H.P.A.; Okonkwo, C.M.; Tang, J.; Tang, Q.; Tangdiongga, E.; Yu, J.;
By: Li, F.; Cao, Z.; Koonen, A.M.J.; Chen, L.; van den Boom, H.P.A.; Okonkwo, C.M.; Tang, J.; Tang, Q.; Tangdiongga, E.; Yu, J.;
2010 / IEEE / 978-0-9552047-4-6
By: Frescura, F.; Baruffa, G.; Micanti, P.; Verducci, L.; Fiorucci, F.;
By: Frescura, F.; Baruffa, G.; Micanti, P.; Verducci, L.; Fiorucci, F.;
2011 / IEEE / 978-1-4503-0636-2
By: Datta, S.; Chun-Yao Wang; Eachempati, S.; Yung-Chih Chen; Narayanan, V.; Yuan Xie;
By: Datta, S.; Chun-Yao Wang; Eachempati, S.; Yung-Chih Chen; Narayanan, V.; Yuan Xie;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0642-4
By: Ben Atitallah, R.; Afonso, G.; Rubio, M.; Belanger, N.; Dekeyser, J.-L.; Loyer, A.;
By: Ben Atitallah, R.; Afonso, G.; Rubio, M.; Belanger, N.; Dekeyser, J.-L.; Loyer, A.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0642-4
By: Khiar, A.; Gantel, L.; Kessal, L.; Lemonnier, F.; Benkhelifa, A.; Miramond, B.;
By: Khiar, A.; Gantel, L.; Kessal, L.; Lemonnier, F.; Benkhelifa, A.; Miramond, B.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0642-4
By: Portal, J.V.; Itturriet, F.P.; Rutzig, M.B.; Junqueira, A.A.; Carro, L.;
By: Portal, J.V.; Itturriet, F.P.; Rutzig, M.B.; Junqueira, A.A.; Carro, L.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0642-4
By: Farisi, B.A.; Vancayseele, R.; Stroobandt, D.; Bruneel, K.; Heirman, W.;
By: Farisi, B.A.; Vancayseele, R.; Stroobandt, D.; Bruneel, K.; Heirman, W.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0642-4
By: Castro, F.; Corbetta, S.; Zaccaria, V.; Palermo, G.; Agosta, G.; Reghizzi, S.C.; Fornaciari, W.; Silvano, C.; Bellasi, P.; Vanthournout, B.; Mahonen, P.; Ansari, J.; Ascheid, G.; Kempf, T.; Soudris, D.; Bartzas, A.; Anagnostopoulos, I.; Ykman-Couvreur, C.; Raghavan, P.; Palkovic, M.; Brandenburg, J.; Stabernack, B.; Hubert, H.; Zins, J.M.; Melpignano, D.; Speziale, E.;
By: Castro, F.; Corbetta, S.; Zaccaria, V.; Palermo, G.; Agosta, G.; Reghizzi, S.C.; Fornaciari, W.; Silvano, C.; Bellasi, P.; Vanthournout, B.; Mahonen, P.; Ansari, J.; Ascheid, G.; Kempf, T.; Soudris, D.; Bartzas, A.; Anagnostopoulos, I.; Ykman-Couvreur, C.; Raghavan, P.; Palkovic, M.; Brandenburg, J.; Stabernack, B.; Hubert, H.; Zins, J.M.; Melpignano, D.; Speziale, E.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0642-4
By: Rosenstiel, W.; Kuhn, T.; Schweizer, T.; Kuster, A.; Eisenhardt, S.;
By: Rosenstiel, W.; Kuhn, T.; Schweizer, T.; Kuster, A.; Eisenhardt, S.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-425-1
By: Soudris, D.; Girardey, R.; Figuli, P.; Hubner, M.; Becker, J.; Siozios, K.;
By: Soudris, D.; Girardey, R.; Figuli, P.; Hubner, M.; Becker, J.; Siozios, K.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-425-1
By: Iwakami, T.; Devisetti, N.; Nakashima, Y.; Jun Yao; Nakada, T.; Yoshimura, K.;
By: Iwakami, T.; Devisetti, N.; Nakashima, Y.; Jun Yao; Nakada, T.; Yoshimura, K.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-425-1
By: Hemani, A.; Jafri, S.M.A.H.; Tenhunen, H.; Plosila, J.; Paul, K.;
By: Hemani, A.; Jafri, S.M.A.H.; Tenhunen, H.; Plosila, J.; Paul, K.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-425-1
By: Campos, J.M.; Cumplido, R.; Torres-Huitzil, C.; Perez-Andrade, R.;
By: Campos, J.M.; Cumplido, R.; Torres-Huitzil, C.; Perez-Andrade, R.;