Your Search Results
Use materials about this topic in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content - such as case studies and journal articles - for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Topic: Radiation Therapy
Results
2012 / IEEE
By: Gill, J.; Rinaldi, C.C.; Gijsbers, G.; Gogin, N.; Razavi, R.; YingLiang Ma; King, A.P.; Rhode, K.S.;
By: Gill, J.; Rinaldi, C.C.; Gijsbers, G.; Gogin, N.; Razavi, R.; YingLiang Ma; King, A.P.; Rhode, K.S.;
2012 / IEEE
By: Riboldi, M.; Fattori, G.; Baroni, G.; Orecchia, R.; Pella, A.; Tagaste, B.; Desplanques, M.;
By: Riboldi, M.; Fattori, G.; Baroni, G.; Orecchia, R.; Pella, A.; Tagaste, B.; Desplanques, M.;
2012 / IEEE
By: Simanovskii, D.M.; Mackanos, M.A.; Jansen, E.D.; Kozub, J.A.; Contag, C.H.; Hutson, M.M.; Schriver, K.E.;
By: Simanovskii, D.M.; Mackanos, M.A.; Jansen, E.D.; Kozub, J.A.; Contag, C.H.; Hutson, M.M.; Schriver, K.E.;
2012 / IEEE
By: Mukhopadhyay, S.; Huanhuan Xu; Xin Li; Iyengar, S.S.; Iyengar, P.; Sawant, A.; Balakrishnan, N.;
By: Mukhopadhyay, S.; Huanhuan Xu; Xin Li; Iyengar, S.S.; Iyengar, P.; Sawant, A.; Balakrishnan, N.;
2012 / IEEE
By: Richard, M.-H.; Walenta, A.H.; Dauvergne, D.; De Rydt, M.; Dedes, G.; Freud, N.; Krimmer, J.; Letang, J.M.; Lojacono, X.; Maxim, V.; Montarou, G.; Ray, C.; Roellinghoff, F.; Testa, E.; Dahoumane, M.;
By: Richard, M.-H.; Walenta, A.H.; Dauvergne, D.; De Rydt, M.; Dedes, G.; Freud, N.; Krimmer, J.; Letang, J.M.; Lojacono, X.; Maxim, V.; Montarou, G.; Ray, C.; Roellinghoff, F.; Testa, E.; Dahoumane, M.;
2012 / IEEE
By: Yamaya, T.; Haneishi, H.; Suga, M.; Murayama, H.; Tashima, H.; Inadama, N.; Nishikido, F.; Kinouchi, S.; Yoshida, E.;
By: Yamaya, T.; Haneishi, H.; Suga, M.; Murayama, H.; Tashima, H.; Inadama, N.; Nishikido, F.; Kinouchi, S.; Yoshida, E.;
2012 / IEEE
By: Lunn, J.A.; Min Min; Xiaosong Li; Chen, W.R.; Adalsteinsson, O.; Ying Gu; Howard, E.; Wolf, R.F.; Nordquist, R.E.; Hode, T.; Nan Du;
By: Lunn, J.A.; Min Min; Xiaosong Li; Chen, W.R.; Adalsteinsson, O.; Ying Gu; Howard, E.; Wolf, R.F.; Nordquist, R.E.; Hode, T.; Nan Du;
2012 / IEEE
By: Fripp, J.; Salvado, O.; Greer, P.B.; Pluim, J.P.W.; Chandra, S.S.; Raniga, P.; Kai-Kai Shen; Dowling, J.A.;
By: Fripp, J.; Salvado, O.; Greer, P.B.; Pluim, J.P.W.; Chandra, S.S.; Raniga, P.; Kai-Kai Shen; Dowling, J.A.;
2012 / IEEE
By: Di Matteo, F.M.; Caponero, M.A.; Schena, E.; Saccomandi, P.; Silvestri, S.; Pandolfi, M.; Martino, M.;
By: Di Matteo, F.M.; Caponero, M.A.; Schena, E.; Saccomandi, P.; Silvestri, S.; Pandolfi, M.; Martino, M.;
2012 / IEEE
By: Ruijiang Li; Changzhan Gu; Changzhi Li; Jiang, S.B.; Torres, C.; Fung, A.Y.C.; Hualiang Zhang;
By: Ruijiang Li; Changzhan Gu; Changzhi Li; Jiang, S.B.; Torres, C.; Fung, A.Y.C.; Hualiang Zhang;
2012 / IEEE
By: Mcgoron, A.; Cabrerizo, M.; Guillen, M.R.; Goryawala, M.; Adjouadi, M.; Barreto, A.; Bhatt, R.N.; Suthar, R.R.; Barot, T.C.; Gulec, S.;
By: Mcgoron, A.; Cabrerizo, M.; Guillen, M.R.; Goryawala, M.; Adjouadi, M.; Barreto, A.; Bhatt, R.N.; Suthar, R.R.; Barot, T.C.; Gulec, S.;
Tumor-Cut: Segmentation of Brain Tumors on Contrast Enhanced MR Images for Radiosurgery Applications
2012 / IEEEBy: Karaman, K.; Kucuk, N.; Hamamci, A.; Unal, G.; Engin, K.;
2012 / IEEE
By: Tran-Huu-Hue, L.P.; Lou-Moeller, R.; Levassort, F.; Ketterling, J.A.; Filoux, E.; Lethiecq, M.; Wolny, W.W.; Silverman, R.H.;
By: Tran-Huu-Hue, L.P.; Lou-Moeller, R.; Levassort, F.; Ketterling, J.A.; Filoux, E.; Lethiecq, M.; Wolny, W.W.; Silverman, R.H.;
2012 / IEEE
By: Bassani, R.A.; Buiochi, F.; Hartman, E.; Miller, R.J.; Buiochi, E.B.; O'Brien, W.D.; Costa, E.T.;
By: Bassani, R.A.; Buiochi, F.; Hartman, E.; Miller, R.J.; Buiochi, E.B.; O'Brien, W.D.; Costa, E.T.;
2012 / IEEE
By: Wan, W.; Sun, C.; Hafalia, R.; Robin, D.; Yoon, M.; Felice, H.; Arbelaez, D.; Caspi, S.;
By: Wan, W.; Sun, C.; Hafalia, R.; Robin, D.; Yoon, M.; Felice, H.; Arbelaez, D.; Caspi, S.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-385-8
By: Joonho Seo; Koizumi, N.; Mitsuishi, M.; Matsumoto, Y.; Funamoto, T.; Deukhee Lee; Sugita, N.; Yoshinaka, K.; Nomiya, A.; Homma, Y.;
By: Joonho Seo; Koizumi, N.; Mitsuishi, M.; Matsumoto, Y.; Funamoto, T.; Deukhee Lee; Sugita, N.; Yoshinaka, K.; Nomiya, A.; Homma, Y.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-175-5
By: Maleki, T.; Wu-Hsin Chen; Wing-Fai Loke; Byunghoo Jung; Papiez, L.; Ziaie, B.; Abu Khater, M.;
By: Maleki, T.; Wu-Hsin Chen; Wing-Fai Loke; Byunghoo Jung; Papiez, L.; Ziaie, B.; Abu Khater, M.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-764-1
By: Padmapriya, B.; Rajeshwari, T.K.; Natarajan, P.; Subhashini, N.;
By: Padmapriya, B.; Rajeshwari, T.K.; Natarajan, P.; Subhashini, N.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-329-2
By: Hirai, H.; Ichikawa, M.; Takamatsu, T.; Okino, A.; Matsumoto, Y.; Miyahara, H.; Shibata, M.; Sasaki, R.;
By: Hirai, H.; Ichikawa, M.; Takamatsu, T.; Okino, A.; Matsumoto, Y.; Miyahara, H.; Shibata, M.; Sasaki, R.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-329-2
By: Winter, J.; Reuter, S.; Masur, K.; Hasse, S.; Schneider, R.; Schnabel, U.; Ehlbeck, J.; Weltmann, K.; Polak, M.;
By: Winter, J.; Reuter, S.; Masur, K.; Hasse, S.; Schneider, R.; Schnabel, U.; Ehlbeck, J.; Weltmann, K.; Polak, M.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-486-2
By: Huijuan Zhang; Qun Nan; Youjun Liu; Yu Chang; Aike Qiao; Yaqin Xia;
By: Huijuan Zhang; Qun Nan; Youjun Liu; Yu Chang; Aike Qiao; Yaqin Xia;
2011 / IEEE / 978-1-4244-9637-2
By: Shuang Luan; Plis, S.M.; Potluru, V.K.; Hayes, T.P.; Calhoun, V.D.;
By: Shuang Luan; Plis, S.M.; Potluru, V.K.; Hayes, T.P.; Calhoun, V.D.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-726-9
By: Han Dong; Fan Yu-Hui; Zhang Xiao-tian; Zheng Hua; Cui Sha-sha; Xu Yong; Li Ming-cheng;
By: Han Dong; Fan Yu-Hui; Zhang Xiao-tian; Zheng Hua; Cui Sha-sha; Xu Yong; Li Ming-cheng;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0522-9
By: Geraldes, M.J.O.; Cabrita, C.M.P.; Belino, N.J.R.; Farropas, S.M.S.;
By: Geraldes, M.J.O.; Cabrita, C.M.P.; Belino, N.J.R.; Farropas, S.M.S.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-726-9
By: Ming Li; Honggang Qian; Lijun Wang; Guolong Sun; Haiyu Zhang; Yuxing Shan;
By: Ming Li; Honggang Qian; Lijun Wang; Guolong Sun; Haiyu Zhang; Yuxing Shan;
2011 / IEEE / 978-1-4244-6051-9
By: Katayama, K.; Yamada, S.; Yagitani, S.; Nagano, I.; Nagae, H.; Ikehata, Y.; Tazawa, K.;
By: Katayama, K.; Yamada, S.; Yagitani, S.; Nagano, I.; Nagae, H.; Ikehata, Y.; Tazawa, K.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1589-1
By: Arce-Santana, E.R.; Mejia-Rodriguez, A.R.; Rizzo, G.; Cattaneo, G.M.; Scalco, E.; Bianchi, A.M.; Mendez, M.O.; Tresoldi, D.;
By: Arce-Santana, E.R.; Mejia-Rodriguez, A.R.; Rizzo, G.; Cattaneo, G.M.; Scalco, E.; Bianchi, A.M.; Mendez, M.O.; Tresoldi, D.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1589-1
By: Schulze, W.H.W.; Schilling, C.; Weber, F.M.; Krueger, M.W.; Dossel, O.; Seemann, G.;
By: Schulze, W.H.W.; Schilling, C.; Weber, F.M.; Krueger, M.W.; Dossel, O.; Seemann, G.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1589-1
By: Sharp, G.C.; Dy, J.G.; Erdogmus, D.; Bas, E.; Kurugol, S.; Brooks, D.H.;
By: Sharp, G.C.; Dy, J.G.; Erdogmus, D.; Bas, E.; Kurugol, S.; Brooks, D.H.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1589-1
By: Farmer, A.; Larsen, M.E.; Tarassenko, L.; Young, A.; Weaver, A.;
By: Farmer, A.; Larsen, M.E.; Tarassenko, L.; Young, A.; Weaver, A.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1589-1
By: Saccomandi, P.; Silvestri, S.; Rea, R.; Martino, M.; Pandolfi, M.; Di Matteo, F.M.; Schena, E.;
By: Saccomandi, P.; Silvestri, S.; Rea, R.; Martino, M.; Pandolfi, M.; Di Matteo, F.M.; Schena, E.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0554-0
By: Schnichels, S.; Heussner, N.; Stork, W.; Bartz-Schmidt, K.U.; Spitzer, M.;
By: Schnichels, S.; Heussner, N.; Stork, W.; Bartz-Schmidt, K.U.; Spitzer, M.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1589-1
By: Fujie, M.G.; Hashizume, M.; Ohdaira, T.; Miyashita, T.; Kobayashi, Y.; Yamazaki, N.; Watanabe, H.;
By: Fujie, M.G.; Hashizume, M.; Ohdaira, T.; Miyashita, T.; Kobayashi, Y.; Yamazaki, N.; Watanabe, H.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1589-1
By: Price, G.J.; Parkhurst, J.M.; Moore, C.J.; Marchant, T.E.; Sharrock, P.J.;
By: Price, G.J.; Parkhurst, J.M.; Moore, C.J.; Marchant, T.E.; Sharrock, P.J.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1589-1
By: Mattos, L.S.; Dagnino, G.; Caldwell, D.G.; Dellepiane, M.; Becattini, G.;
By: Mattos, L.S.; Dagnino, G.; Caldwell, D.G.; Dellepiane, M.; Becattini, G.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1589-1
By: Ataer-Cansizoglu, E.; Bas, E.; You, S.; Erdogmus, D.; Kalpathy-Cramer, J.;
By: Ataer-Cansizoglu, E.; Bas, E.; You, S.; Erdogmus, D.; Kalpathy-Cramer, J.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-8939-8
By: Burnett, A.L.; Lagoda, G.A.; Tozburun, S.; Fried, N.M.; Farahi, F.;
By: Burnett, A.L.; Lagoda, G.A.; Tozburun, S.; Fried, N.M.; Farahi, F.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-9352-4
By: Rui Ting Liu; Jin Tian Tang; Hong Guo; Jie Qiong Tong; Yu Fang; Yue Yu; Zi Han Zhuo;
By: Rui Ting Liu; Jin Tian Tang; Hong Guo; Jie Qiong Tong; Yu Fang; Yue Yu; Zi Han Zhuo;
2011 / IEEE / 978-1-4673-0120-6
By: Voss, B.; Panse, R.; Mairani, A.; Jakel, O.; Brons, S.; Rinaldi, I.; Parodi, K.;
By: Voss, B.; Panse, R.; Mairani, A.; Jakel, O.; Brons, S.; Rinaldi, I.; Parodi, K.;
2011 / IEEE / 978-1-4673-0120-6
By: Del Guerra, A.; Straub, K.; Rosso, V.; Belcari, N.; Attanasi, F.; Aiello, M.;
By: Del Guerra, A.; Straub, K.; Rosso, V.; Belcari, N.; Attanasi, F.; Aiello, M.;
2011 / IEEE / 978-1-4673-0120-6
By: Romano, F.; Scaringella, M.; Pallotta, S.; Lo Presti, D.; Cuttone, G.; Randazzo, N.; Civinini, C.; Cirrone, G.A.P.; Bucciolini, M.; Brianzi, M.; Bruzzi, M.; Sipala, V.; Tesi, M.; Talamonti, C.; Stancampiano, C.;
By: Romano, F.; Scaringella, M.; Pallotta, S.; Lo Presti, D.; Cuttone, G.; Randazzo, N.; Civinini, C.; Cirrone, G.A.P.; Bucciolini, M.; Brianzi, M.; Bruzzi, M.; Sipala, V.; Tesi, M.; Talamonti, C.; Stancampiano, C.;
2011 / IEEE / 978-1-4673-0120-6
By: Herranz, E.; Udias, J.M.; Guerra, P.; Corzo, P.M.G.; Cal-Gonzalez, J.; Herraiz, J.L.;
By: Herranz, E.; Udias, J.M.; Guerra, P.; Corzo, P.M.G.; Cal-Gonzalez, J.; Herraiz, J.L.;
2011 / IEEE / 978-1-4673-0120-6
By: Boursier, Y.; El Bitar, Z.; Perez-Ponce, H.; Bert, J.; Vintache, D.; Visvikis, D.; Brasse, D.; Morel, C.; Bonissent, A.;
By: Boursier, Y.; El Bitar, Z.; Perez-Ponce, H.; Bert, J.; Vintache, D.; Visvikis, D.; Brasse, D.; Morel, C.; Bonissent, A.;
2011 / IEEE / 978-1-4673-0120-6
By: Stankova, V.; Solaz, C.; Raux, L.; Rafecas, M.; de La Taille, C.; Lacasta, C.; Torres-Espallardo, I.; Gillam, J.E.; Callier, S.; Cabello, J.; Barrio, J.; Llosa, G.;
By: Stankova, V.; Solaz, C.; Raux, L.; Rafecas, M.; de La Taille, C.; Lacasta, C.; Torres-Espallardo, I.; Gillam, J.E.; Callier, S.; Cabello, J.; Barrio, J.; Llosa, G.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0586-1
By: Di Capua, F.; Menichelli, M.; Alpat, B.; Pilicer, E.; Servoli, L.; Caraffini, D.; Italiani, M.; Tucceri, P.;
By: Di Capua, F.; Menichelli, M.; Alpat, B.; Pilicer, E.; Servoli, L.; Caraffini, D.; Italiani, M.; Tucceri, P.;
2011 / IEEE / 978-1-4673-0120-6
By: Anton, G.; Suft, G.; Schemm, S.; Michel, T.; Durst, J.; Ritter, I.;
By: Anton, G.; Suft, G.; Schemm, S.; Michel, T.; Durst, J.; Ritter, I.;
Feasibility study of using epitaxial silicon diodes for clinical electron and photon beams dosimetry
2011 / IEEE / 978-1-4673-0120-6By: Haddad, C.M.K.; Neves-Junior, W.F.P.; dos Santos, T.C.; Goncalves, J.A.C.; Bueno, C.C.;