Your Search Results
Use materials about this topic in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content - such as case studies and journal articles - for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Topic: Radiation Monitoring
Results
2012 / IEEE
By: Cosentino, L.; Cali, C.; Finocchiaro, P.; Botta, E.; Vecchio, G.; Scire, S.; Scire, C.; Piscopo, M.; Pappalardo, A.; Litrico, P.; Guardo, G.; De Luca, G.;
By: Cosentino, L.; Cali, C.; Finocchiaro, P.; Botta, E.; Vecchio, G.; Scire, S.; Scire, C.; Piscopo, M.; Pappalardo, A.; Litrico, P.; Guardo, G.; De Luca, G.;
2012 / IEEE
By: Dan-Dan Liu; Guang-Wei Cao; Xian-Guo Zhang; Chun-Qin Wang; Wei Tang; Bing-Sen Xue; Tao Yu; Jia-Wei Li; Cong Huang;
By: Dan-Dan Liu; Guang-Wei Cao; Xian-Guo Zhang; Chun-Qin Wang; Wei Tang; Bing-Sen Xue; Tao Yu; Jia-Wei Li; Cong Huang;
2012 / IEEE
By: Trucchi, D.M.; Conte, G.; Allegrini, P.; Girolami, M.; Salvatori, S.; Ralchenko, V.G.;
By: Trucchi, D.M.; Conte, G.; Allegrini, P.; Girolami, M.; Salvatori, S.; Ralchenko, V.G.;
2009 / IEEE / 978-1-4577-0493-2
By: Evans, H.D.R.; Siegl, M.; Buhler, P.; Nieminen, P.; Santin, G.; Daly, E.J.;
By: Evans, H.D.R.; Siegl, M.; Buhler, P.; Nieminen, P.; Santin, G.; Daly, E.J.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1250-0
By: Jiwariyavej, V.; Ando, K.; Uyama, M.; Watanabe, K.; Imura, T.; Nagai, C.; Hori, Y.; Moriwaki, Y.; Koyanagi, T.;
By: Jiwariyavej, V.; Ando, K.; Uyama, M.; Watanabe, K.; Imura, T.; Nagai, C.; Hori, Y.; Moriwaki, Y.; Koyanagi, T.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-769-6
By: Tadokoro, S.; Higashi, K.; Takeuchi, E.; Okada, T.; Kawatsuma, S.; Ohno, K.;
By: Tadokoro, S.; Higashi, K.; Takeuchi, E.; Okada, T.; Kawatsuma, S.; Ohno, K.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0586-1
By: Buhler, P.; Anastasiadis, A.; Daglis, I.A.; Sandberg, I.; Evans, H.; Nieminen, P.;
By: Buhler, P.; Anastasiadis, A.; Daglis, I.A.; Sandberg, I.; Evans, H.; Nieminen, P.;
2011 / IEEE / 978-1-4673-0120-6
By: Tashereau, R.; Prout, D.L.; Silverman, R.W.; Dooraghi, A.A.; Chatziioannou, A.F.; Vu, N.T.;
By: Tashereau, R.; Prout, D.L.; Silverman, R.W.; Dooraghi, A.A.; Chatziioannou, A.F.; Vu, N.T.;
2011 / IEEE / 978-1-4673-0120-6
By: Raulo, A.; Fiederle, M.; Fauler, A.; James, R.B.; Sowinska, M.; Hennard, G.;
By: Raulo, A.; Fiederle, M.; Fauler, A.; James, R.B.; Sowinska, M.; Hennard, G.;
2011 / IEEE / 978-1-4673-0120-6
By: Cindro, V.; Mandic, I.; Nicolas, L.; Miyagawa, P.S.; Dawson, I.; Deliyergiyev, M.; Franz, S.; Hartert, J.; Mikuz, M.; Kramberger, G.; Gorisek, A.;
By: Cindro, V.; Mandic, I.; Nicolas, L.; Miyagawa, P.S.; Dawson, I.; Deliyergiyev, M.; Franz, S.; Hartert, J.; Mikuz, M.; Kramberger, G.; Gorisek, A.;
2011 / IEEE / 978-1-4673-0120-6
By: Vetter, K.; Chivers, D.H.; Bandstra, M.S.; Yee, B.; Supic, L.; Satterlee, N.; Plimley, B.; Negut, V.; Miller, J.; Looker, Q.; Iyengar, A.; Hogan, D.; Curtis, J.; Coffer, A.; Bates, C.; Aucott, T.;
By: Vetter, K.; Chivers, D.H.; Bandstra, M.S.; Yee, B.; Supic, L.; Satterlee, N.; Plimley, B.; Negut, V.; Miller, J.; Looker, Q.; Iyengar, A.; Hogan, D.; Curtis, J.; Coffer, A.; Bates, C.; Aucott, T.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0927-2
By: Boukenter, A.; Delepine-Lesoille, S.; Ouerdane, Y.; Pheron, X.; Bertrand, J.;
By: Boukenter, A.; Delepine-Lesoille, S.; Ouerdane, Y.; Pheron, X.; Bertrand, J.;
2014 / IEEE
By: Daglis, I. A.; Sandberg, I.; Nieminen, P.; Evans, H.; Hands, A.; Truscott, P.; Heynderickx, D.;
By: Daglis, I. A.; Sandberg, I.; Nieminen, P.; Evans, H.; Hands, A.; Truscott, P.; Heynderickx, D.;
2014 / IEEE
2014 / IEEE
By: Cressler, John; Diestelhorst, Ryan; Kenyon, Eleazar; Phillips, Stanley; England, Troy; Finn, Steven; Lourenco, Nelson; Chatterjee, Chandim; Najafizadeh, Laleh;
By: Cressler, John; Diestelhorst, Ryan; Kenyon, Eleazar; Phillips, Stanley; England, Troy; Finn, Steven; Lourenco, Nelson; Chatterjee, Chandim; Najafizadeh, Laleh;
1989 / IEEE
By: Treadaway, W.A.; McAtee, J.L.; Baird, W.; Kuckertz, T.H.; Sprouse, L.L.; Unruh, W.P.; Staley, H.C.;
By: Treadaway, W.A.; McAtee, J.L.; Baird, W.; Kuckertz, T.H.; Sprouse, L.L.; Unruh, W.P.; Staley, H.C.;
1989 / IEEE
By: King, M.; Kent, J.; Wormser, G.; Nash, J.; Jung, C.K.; Von Zanthier, C.; Erickson, R.; Bambade, P.; Rouse, F.; Levi, M.; Watson, S.;
By: King, M.; Kent, J.; Wormser, G.; Nash, J.; Jung, C.K.; Von Zanthier, C.; Erickson, R.; Bambade, P.; Rouse, F.; Levi, M.; Watson, S.;
1990 / IEEE / 0-87942-553-9
By: Khanna, V.K.; Jasuja, K.L.; Thakur, D.K.; Reddy, A.R.; Bhatnagar, P.K.; Khokle, W.S.;
By: Khanna, V.K.; Jasuja, K.L.; Thakur, D.K.; Reddy, A.R.; Bhatnagar, P.K.; Khokle, W.S.;
1993 / IEEE
By: Funakoshi, H.; Toyoda, H.; Ohtsuchi, T.; Ohmori, K.; Tsutsui, H.; Baba, S.; Kawara, T.;
By: Funakoshi, H.; Toyoda, H.; Ohtsuchi, T.; Ohmori, K.; Tsutsui, H.; Baba, S.; Kawara, T.;
1993 / IEEE
By: Klosterbuer, S.F.; Halbig, J.K.; Miller, M.C.; Menlowe, H.O.; Bosler, G.E.; Augustson, R.H.;
By: Klosterbuer, S.F.; Halbig, J.K.; Miller, M.C.; Menlowe, H.O.; Bosler, G.E.; Augustson, R.H.;
1993 / IEEE
By: Allander, K.S.; MacArthur, D.W.; Rutherford, D.A.; Caress, R.W.; Catlett, M.M.; Bounds, J.A.;
By: Allander, K.S.; MacArthur, D.W.; Rutherford, D.A.; Caress, R.W.; Catlett, M.M.; Bounds, J.A.;
1991 / IEEE / 0-7803-0513-2
By: Bounds, J.A.; Allander, K.S.; MacArthur, D.W.; McAtee, J.L.; Catlett, M.M.;
By: Bounds, J.A.; Allander, K.S.; MacArthur, D.W.; McAtee, J.L.; Catlett, M.M.;
1991 / IEEE / 0-7803-0513-2
By: Entine, G.; Nagarkar, V.; Swinehart, P.; Cirignano, L.; Stoppel, P.;
By: Entine, G.; Nagarkar, V.; Swinehart, P.; Cirignano, L.; Stoppel, P.;
1991 / IEEE / 0-7803-0513-2
By: Chare, P.; Smith, B.G.R.; Outram, J.D.; Swinhoe, M.; Wagner, H.; Roesgen, E.; Goerten, J.;
By: Chare, P.; Smith, B.G.R.; Outram, J.D.; Swinhoe, M.; Wagner, H.; Roesgen, E.; Goerten, J.;