Your Search Results
Use materials about this topic in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content - such as case studies and journal articles - for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Topic: Photodiodes
Results
2011 / IEEE
By: Beenakker, C.I.M.; Morrison, T.; Robertson, M.; Tajari Mofrad, M.R.; Ishihara, R.; Golshani, N.; Derakhshandeh, J.;
By: Beenakker, C.I.M.; Morrison, T.; Robertson, M.; Tajari Mofrad, M.R.; Ishihara, R.; Golshani, N.; Derakhshandeh, J.;
2011 / IEEE
By: Ja Hoon Koo; Juree Hong; Sangwook Lee; Taeyoon Lee; Seongil Im; Kwanghyun Lee; Seulah Lee;
By: Ja Hoon Koo; Juree Hong; Sangwook Lee; Taeyoon Lee; Seongil Im; Kwanghyun Lee; Seulah Lee;
2011 / IEEE
By: Papadopoulos, S.; Moreira, P.; Menouni, M.; Ping Gui; Detraz, S.; Sigaud, C.; Vasey, F.; Troska, J.; El Nasr-Storey, S.S.; Stejskal, P.; Soos, C.;
By: Papadopoulos, S.; Moreira, P.; Menouni, M.; Ping Gui; Detraz, S.; Sigaud, C.; Vasey, F.; Troska, J.; El Nasr-Storey, S.S.; Stejskal, P.; Soos, C.;
2011 / IEEE
By: Detraz, S.; Troska, J.; Vasey, F.; Soos, C.; Sigaud, C.; Stejskal, P.; El Nasr-Storey, S.S.;
By: Detraz, S.; Troska, J.; Vasey, F.; Soos, C.; Sigaud, C.; Stejskal, P.; El Nasr-Storey, S.S.;
2011 / IEEE
By: Virmontois, C.; Cervantes, P.; Goiffon, V.; Estribeau, M.; Magnan, P.; Corbiere, F.;
By: Virmontois, C.; Cervantes, P.; Goiffon, V.; Estribeau, M.; Magnan, P.; Corbiere, F.;
2011 / IEEE
By: Roelkens, G.; Tournie, E.; Rodriguez, J.-B.; Cerutti, L.; Gassenq, A.; Hattasan, N.;
By: Roelkens, G.; Tournie, E.; Rodriguez, J.-B.; Cerutti, L.; Gassenq, A.; Hattasan, N.;
2011 / IEEE
By: Masuda, H.; Shibata, T.; Takai, T.; Lee, Y.; Hamamura, S.; Chujo, N.; Adachi, K.; Kawamura, D.; Matsuoka, Y.; Sugawara, T.;
By: Masuda, H.; Shibata, T.; Takai, T.; Lee, Y.; Hamamura, S.; Chujo, N.; Adachi, K.; Kawamura, D.; Matsuoka, Y.; Sugawara, T.;
2012 / IEEE
By: Magnan, P.; Virmontois, C.; Goiffon, V.; Martin-Gonthier, P.; Estribeau, M.; Cervantes, P.; Paillet, P.; Girard, S.; Gaillardin, M.; Place, S.;
By: Magnan, P.; Virmontois, C.; Goiffon, V.; Martin-Gonthier, P.; Estribeau, M.; Cervantes, P.; Paillet, P.; Girard, S.; Gaillardin, M.; Place, S.;
2012 / IEEE
By: Aveline, D.; Allen, G.; Adell, P.; Kettunen, H.; El Mamouni, F.; Ferlet-Cavrois, V.; Larue, C.; Pouget, V.; Morand, S.; Miller, F.; McMorrow, D.; Warner, J.; Roche, N.; Buchner, S.;
By: Aveline, D.; Allen, G.; Adell, P.; Kettunen, H.; El Mamouni, F.; Ferlet-Cavrois, V.; Larue, C.; Pouget, V.; Morand, S.; Miller, F.; McMorrow, D.; Warner, J.; Roche, N.; Buchner, S.;
2012 / IEEE
By: Saint-Pe, O.; Girard, S.; Goiffon, V.; Magnan, P.; Petit, S.; Virmontois, C.; Bardoux, A.; Rolland, G.;
By: Saint-Pe, O.; Girard, S.; Goiffon, V.; Magnan, P.; Petit, S.; Virmontois, C.; Bardoux, A.; Rolland, G.;
2012 / IEEE
By: Peloso, R.; Fiorini, C.; Beverina, L.; Giussani, M.; Sampietro, M.; Binda, M.; Natali, D.; Iacchetti, A.;
By: Peloso, R.; Fiorini, C.; Beverina, L.; Giussani, M.; Sampietro, M.; Binda, M.; Natali, D.; Iacchetti, A.;
2012 / IEEE
By: Bianco, S.; Benussi, L.; Grassini, S.; Parvis, M.; Corbellini, S.; Piccolo, D.; Colafranceschi, S.;
By: Bianco, S.; Benussi, L.; Grassini, S.; Parvis, M.; Corbellini, S.; Piccolo, D.; Colafranceschi, S.;
2012 / IEEE
By: Liu, F.Y.; Patil, D.; Lexau, J.; Amberg, P.; Dayringer, M.; Ho, R.; Moghadam, H.F.; Xuezhe Zheng; Cunningham, J.E.; Krishnamoorthy, A.V.; Alon, E.; Gainsley, J.;
By: Liu, F.Y.; Patil, D.; Lexau, J.; Amberg, P.; Dayringer, M.; Ho, R.; Moghadam, H.F.; Xuezhe Zheng; Cunningham, J.E.; Krishnamoorthy, A.V.; Alon, E.; Gainsley, J.;
2012 / IEEE
By: Goiffon, V.; Estribeau, M.; Marcelot, O.; Cervantes, P.; Magnan, P.; Gaillardin, M.; Marcandella, C.; Martin-Gonthier, P.; Molina, R.; Corbiere, F.; Girard, S.; Paillet, P.; Virmontois, C.;
By: Goiffon, V.; Estribeau, M.; Marcelot, O.; Cervantes, P.; Magnan, P.; Gaillardin, M.; Marcandella, C.; Martin-Gonthier, P.; Molina, R.; Corbiere, F.; Girard, S.; Paillet, P.; Virmontois, C.;
2012 / IEEE
By: Amorini, F.; Boiano, C.; Zetta, L.; Zambon, P.; Verde, G.; Russotto, P.; Rizzo, F.; Riccio, F.; Porto, F.; Politi, G.; Pirrone, S.; Pagano, A.; Lombardo, I.; La Guidara, E.; Guazzoni, P.; Guazzoni, C.; Cardella, G.; Castoldi, A.; De Filippo, E.; Geraci, E.; Grassi, L.;
By: Amorini, F.; Boiano, C.; Zetta, L.; Zambon, P.; Verde, G.; Russotto, P.; Rizzo, F.; Riccio, F.; Porto, F.; Politi, G.; Pirrone, S.; Pagano, A.; Lombardo, I.; La Guidara, E.; Guazzoni, P.; Guazzoni, C.; Cardella, G.; Castoldi, A.; De Filippo, E.; Geraci, E.; Grassi, L.;
2012 / IEEE
By: Maryasov, A.P.; Banyay, M.; Herbert, S.; Juschkin, L.; Vogt, H.; Paschen, U.; Hochschulz, F.;
By: Maryasov, A.P.; Banyay, M.; Herbert, S.; Juschkin, L.; Vogt, H.; Paschen, U.; Hochschulz, F.;
2012 / IEEE
By: Devgan, P.S.; Bucholtz, F.; McDermitt, C.S.; Urick, V.J.; Diehl, J.F.; Williams, K.J.;
By: Devgan, P.S.; Bucholtz, F.; McDermitt, C.S.; Urick, V.J.; Diehl, J.F.; Williams, K.J.;
2012 / IEEE
By: Sato, Y.; Murata, K.; Aihara, K.; Kukutsu, N.; Yaita, M.; Togo, H.; Nagatsuma, T.; Takahashi, H.; Kosugi, T.; Hirata, A.; Takeuchi, J.; Kado, Y.;
By: Sato, Y.; Murata, K.; Aihara, K.; Kukutsu, N.; Yaita, M.; Togo, H.; Nagatsuma, T.; Takahashi, H.; Kosugi, T.; Hirata, A.; Takeuchi, J.; Kado, Y.;
2012 / IEEE
By: Birkelund, K.; Larsen, J.; Belhage, B.; Toft, M.H.; Duun, S.B.; Haahr, R.G.; Thomsen, E.V.;
By: Birkelund, K.; Larsen, J.; Belhage, B.; Toft, M.H.; Duun, S.B.; Haahr, R.G.; Thomsen, E.V.;
2012 / IEEE
By: van Veen, G.; Sakic, A.; Nanver, L.K.; Milosavljevic, S.; Vogelsang, P.; Kooijman, K.; Derakhshandeh, J.; de Boer, W.B.; Scholtes, T.L.M.; Wien, W.H.A.;
By: van Veen, G.; Sakic, A.; Nanver, L.K.; Milosavljevic, S.; Vogelsang, P.; Kooijman, K.; Derakhshandeh, J.; de Boer, W.B.; Scholtes, T.L.M.; Wien, W.H.A.;
2012 / IEEE
By: Doany, F.E.; Kash, J.A.; Lee, B.G.; Budd, R.A.; Baks, C.W.; Tsang, C.K.; Knickerbocker, J.U.; Dangel, R.; Chan, B.; How Lin; Carver, C.; Jianzhuang Huang; Berry, J.; Bajkowski, D.; Libsch, F.; Schow, C.L.;
By: Doany, F.E.; Kash, J.A.; Lee, B.G.; Budd, R.A.; Baks, C.W.; Tsang, C.K.; Knickerbocker, J.U.; Dangel, R.; Chan, B.; How Lin; Carver, C.; Jianzhuang Huang; Berry, J.; Bajkowski, D.; Libsch, F.; Schow, C.L.;
2012 / IEEE
By: Kuchta, D.M.; Lee, B.G.; Neinyi Li; Wenlin Luo; Vaidya, D.S.; Oulundsen, G.; Yan, M.F.; Benyuan Zhu; Taunay, T.F.; Baks, C.; Pepeljugoski, P.; Schow, C.L.; Doany, F.E.;
By: Kuchta, D.M.; Lee, B.G.; Neinyi Li; Wenlin Luo; Vaidya, D.S.; Oulundsen, G.; Yan, M.F.; Benyuan Zhu; Taunay, T.F.; Baks, C.; Pepeljugoski, P.; Schow, C.L.; Doany, F.E.;
2012 / IEEE
By: Chtioui, M.; Achouche, M.; van Dijk, F.; Marceaux, A.; Lelarge, F.; Carpentier, D.; Pommereau, F.; Enard, A.;
By: Chtioui, M.; Achouche, M.; van Dijk, F.; Marceaux, A.; Lelarge, F.; Carpentier, D.; Pommereau, F.; Enard, A.;
2012 / IEEE
By: Arikan, B.; Aslan, B.; Aydinli, A.; Salihoglu, O.; Kutluer, K.; Kilinc, M.C.; Turan, R.; Tansel, T.; Serincan, U.; Ergun, Y.;
By: Arikan, B.; Aslan, B.; Aydinli, A.; Salihoglu, O.; Kutluer, K.; Kilinc, M.C.; Turan, R.; Tansel, T.; Serincan, U.; Ergun, Y.;
2012 / IEEE
By: Ishikawa, M.; Mino, S.; Muramoto, Y.; Sakamaki, Y.; Itoh, T.; Fukuyama, H.; Yoshimatsu, T.; Tsunashima, S.; Kasahara, R.; Tanobe, H.; Ogawa, I.; Ohyama, T.; Kawakami, H.; Murata, K.;
By: Ishikawa, M.; Mino, S.; Muramoto, Y.; Sakamaki, Y.; Itoh, T.; Fukuyama, H.; Yoshimatsu, T.; Tsunashima, S.; Kasahara, R.; Tanobe, H.; Ogawa, I.; Ohyama, T.; Kawakami, H.; Murata, K.;
2012 / IEEE
By: Li, F.; Cao, Z.; Koonen, A.M.J.; Chen, L.; van den Boom, H.P.A.; Okonkwo, C.M.; Tang, J.; Tang, Q.; Tangdiongga, E.; Yu, J.;
By: Li, F.; Cao, Z.; Koonen, A.M.J.; Chen, L.; van den Boom, H.P.A.; Okonkwo, C.M.; Tang, J.; Tang, Q.; Tangdiongga, E.; Yu, J.;
2012 / IEEE
By: Bowers, J.E.; Ci-Ling Pan; Nan-Wei Chen; Kuo, F.; Huang, C.; Lin, J.W.; Jin-Wei Shi;
By: Bowers, J.E.; Ci-Ling Pan; Nan-Wei Chen; Kuo, F.; Huang, C.; Lin, J.W.; Jin-Wei Shi;
2012 / IEEE
By: Chuang, H.-P.; Chun-Liang Lu; Jim-Wein Lin; Ci-Ling Pan; Chen-Bin Huang; Jin-Wei Shi; Kuo, F.-M.;
By: Chuang, H.-P.; Chun-Liang Lu; Jim-Wein Lin; Ci-Ling Pan; Chen-Bin Huang; Jin-Wei Shi; Kuo, F.-M.;
2012 / IEEE
By: Contreras, J.; Ferreira, I.; Martins, R.; Fortunato, E.; Filonovich, S.A.; Pereira, S.; Idzikowski, M.;
By: Contreras, J.; Ferreira, I.; Martins, R.; Fortunato, E.; Filonovich, S.A.; Pereira, S.; Idzikowski, M.;
2012 / IEEE
By: Paret, J.-F.; Bellini, S.; Lelarge, F.; Brenot, R.; Drisse, O.; Glastre, G.; Caillaud, C.; Achouche, M.; Carpentier, D.;
By: Paret, J.-F.; Bellini, S.; Lelarge, F.; Brenot, R.; Drisse, O.; Glastre, G.; Caillaud, C.; Achouche, M.; Carpentier, D.;
2012 / IEEE
By: Peters, F.H.; Corbett, B.; Pelucchi, E.; Thomas, K.; Wei Han; Hua Yang; Daunt, C.L.M.;
By: Peters, F.H.; Corbett, B.; Pelucchi, E.; Thomas, K.; Wei Han; Hua Yang; Daunt, C.L.M.;
1992 / IEEE / 000-0-0000-0000-0
By: Fleetwood, R.; Bushell, M.; Weidenheimer, D.; Smith, M.; Merkel, G.; Judy, D.;
By: Fleetwood, R.; Bushell, M.; Weidenheimer, D.; Smith, M.; Merkel, G.; Judy, D.;
2009 / IEEE / 978-1-4577-0493-2
By: Poivey, C.; Sorensen, R.H.; Beaumel, M.; Beutier, T.; Montay, G.; Binois, C.; Salvaterra, G.; Mangeret, R.; Weller, R.A.; Mendenhall, M.H.; Peyre, D.;
By: Poivey, C.; Sorensen, R.H.; Beaumel, M.; Beutier, T.; Montay, G.; Binois, C.; Salvaterra, G.; Mangeret, R.; Weller, R.A.; Mendenhall, M.H.; Peyre, D.;
2011 / IEEE / 978-3-8007-3356-9
By: Hoffmann, D.; Zhang, R.; Bach, H.-G.; Kunkel, R.; Halir, R.; Schmidt, D.; Molina-Fernandez, I.; Romero-Garcia, S.; Ortega-Monux, A.; Schell, M.;
By: Hoffmann, D.; Zhang, R.; Bach, H.-G.; Kunkel, R.; Halir, R.; Schmidt, D.; Molina-Fernandez, I.; Romero-Garcia, S.; Ortega-Monux, A.; Schell, M.;
2011 / IEEE / 978-3-8007-3356-9
By: Seeger, A.; Kunkel, R.; Bach, H.-G.; Janiak, K.; Schubert, S.; Umbach, A.; Zhang, R.-Y.; Matiss, A.; Schell, M.;
By: Seeger, A.; Kunkel, R.; Bach, H.-G.; Janiak, K.; Schubert, S.; Umbach, A.; Zhang, R.-Y.; Matiss, A.; Schell, M.;