Your Search Results
Use materials about this topic in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content - such as case studies and journal articles - for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Topic: Parallel Machines
Results
2012 / IEEE
By: Satterfield, D.; Salapura, V.; Kumar, S.; Senger, R.M.; Sugawara, Y.; Steinmacher-Burow, B.; Heidelberger, P.; Eisley, N.A.; Dong Chen; Parker, J.;
By: Satterfield, D.; Salapura, V.; Kumar, S.; Senger, R.M.; Sugawara, Y.; Steinmacher-Burow, B.; Heidelberger, P.; Eisley, N.A.; Dong Chen; Parker, J.;
2012 / IEEE
By: Blanchard, S.P.; Manuzzato, A.; Modl, D.G.; DuBois, D.H.; Michalak, S.E.; Quinn, H.M.; Storlie, C.B.; DuBois, A.J.; Rust, W.N.;
By: Blanchard, S.P.; Manuzzato, A.; Modl, D.G.; DuBois, D.H.; Michalak, S.E.; Quinn, H.M.; Storlie, C.B.; DuBois, A.J.; Rust, W.N.;
2010 / IEEE / 978-1-61284-986-7
By: Gamst, A.; Snavely, A.; Laurenzano, M.; Tikir, M.; Carrington, L.;
By: Gamst, A.; Snavely, A.; Laurenzano, M.; Tikir, M.; Carrington, L.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0139-9
By: Morgado-Estevez, A.; Perez-Pena, F.; Montero-Gonzalez, R.; Jimenez, G.; Rodriguez, M.A.; Linares-Barranco, A.; Paz, R.;
By: Morgado-Estevez, A.; Perez-Pena, F.; Montero-Gonzalez, R.; Jimenez, G.; Rodriguez, M.A.; Linares-Barranco, A.; Paz, R.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-383-4
By: Nak Joon Choi; Hyunil Kim; Myungil Kim; Jaesung Kim; Sang Min Lee;
By: Nak Joon Choi; Hyunil Kim; Myungil Kim; Jaesung Kim; Sang Min Lee;
2011 / IEEE / 978-1-61284-372-8
By: Morari, A.; Valero, M.; Cazorla, F.J.; Wisniewski, R.W.; Gioiosa, R.;
By: Morari, A.; Valero, M.; Cazorla, F.J.; Wisniewski, R.W.; Gioiosa, R.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-456-5
By: Guglielmino, E.; Kazakidi, A.; Rongjie Kang; Caldwell, D.G.; Ekaterinaris, J.A.; Tsakiris, D.P.; Branson, D.T.;
By: Guglielmino, E.; Kazakidi, A.; Rongjie Kang; Caldwell, D.G.; Ekaterinaris, J.A.; Tsakiris, D.P.; Branson, D.T.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1048-3
By: Uchida, M.; Taniguchi, I.; Catthoor, F.; Raghavan, P.; Fukui, M.; Tomiyama, H.;
By: Uchida, M.; Taniguchi, I.; Catthoor, F.; Raghavan, P.; Fukui, M.; Tomiyama, H.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1337-8
By: Karbach, C.; Knobloch, C.; Frings, W.; Watson, G.R.; Rossi, A.L.;
By: Karbach, C.; Knobloch, C.; Frings, W.; Watson, G.R.; Rossi, A.L.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1425-2
By: Markov, S.; Gancheva, V.; Borovska, P.; Asenov, E.; Georgiev, I.;
By: Markov, S.; Gancheva, V.; Borovska, P.; Asenov, E.; Georgiev, I.;
2011 / IEEE / 978-1-4673-0155-8
By: Insley, J.A.; Hereld, M.; Wagner, R.; Norman, M.L.; Vishwanath, V.; Papka, M.E.; Olson, E.C.;
By: Insley, J.A.; Hereld, M.; Wagner, R.; Norman, M.L.; Vishwanath, V.; Papka, M.E.; Olson, E.C.;
2011 / IEEE / 978-1-4503-0771-0
By: LaPine, D.; Gainaru, A.; Kondo, D.; Heien, E.; Cappello, F.; Kramer, B.;
By: LaPine, D.; Gainaru, A.; Kondo, D.; Heien, E.; Cappello, F.; Kramer, B.;
2011 / IEEE / 978-1-4503-0771-0
By: Shoji, F.; Boku, T.; Minami, K.; Oshiyama, A.; Takahashi, D.; Tsuji, M.; Uno, A.; Hasegawa, Y.; Yokokawa, M.; Miyoshi, I.; Iwata, J.-L.; Inoue, H.; Kurokawa, M.;
By: Shoji, F.; Boku, T.; Minami, K.; Oshiyama, A.; Takahashi, D.; Tsuji, M.; Uno, A.; Hasegawa, Y.; Yokokawa, M.; Miyoshi, I.; Iwata, J.-L.; Inoue, H.; Kurokawa, M.;
2011 / IEEE / 978-1-4503-0771-0
By: Nukada, A.; Yamanaka, A.; Takaki, T.; Aoki, T.; Endo, T.; Matsuoka, S.; Shimokawabe, T.; Maruyama, N.;
By: Nukada, A.; Yamanaka, A.; Takaki, T.; Aoki, T.; Endo, T.; Matsuoka, S.; Shimokawabe, T.; Maruyama, N.;
2011 / IEEE / 978-1-4503-0771-0
By: Kale, L.V.; Bohm, E.J.; Gengbin Zheng; Yanhua Sun; Chao Mei; Harrison, C.; Phillips, J.C.;
By: Kale, L.V.; Bohm, E.J.; Gengbin Zheng; Yanhua Sun; Chao Mei; Harrison, C.; Phillips, J.C.;
2011 / IEEE / 978-1-4503-0771-0
By: Tufo, H.M.; Patterson, M.K.; Oberg, M.; Woitaszek, M.; Strong, R.; Gutowski, J.; Cobb, G.;
By: Tufo, H.M.; Patterson, M.K.; Oberg, M.; Woitaszek, M.; Strong, R.; Gutowski, J.; Cobb, G.;
2011 / IEEE / 978-1-4503-0771-0
By: Engel, T.; Del Vento, D.; Valent, R.; Si Liu; Kelly, R.; Hart, D.L.; Ghosh, S.S.;
By: Engel, T.; Del Vento, D.; Valent, R.; Si Liu; Kelly, R.; Hart, D.L.; Ghosh, S.S.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0711-7
By: Takebe, Y.; Yi Ge; Takahashi, H.; Hirose, Y.; Ito, M.; Mouri, M.; Toichi, M.;
By: Takebe, Y.; Yi Ge; Takahashi, H.; Hirose, Y.; Ito, M.; Mouri, M.; Toichi, M.;