Your Search Results
Use materials about this topic in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content - such as case studies and journal articles - for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Topic: Optoelectronic Devices
Results
2012 / IEEE
By: Goetz, P.G.; Reese, S.; Mahon, R.; Murphy, J.L.; Ferraro, M.S.; Suite, M.R.; Smith, W.R.; Burris, H.R.; Moore, C.I.; Schultz, W.W.; Freeman, W.T.; Frawley, S.J.; Mathieu, B.M.; Hacker, K.; Rabinovich, W.S.;
By: Goetz, P.G.; Reese, S.; Mahon, R.; Murphy, J.L.; Ferraro, M.S.; Suite, M.R.; Smith, W.R.; Burris, H.R.; Moore, C.I.; Schultz, W.W.; Freeman, W.T.; Frawley, S.J.; Mathieu, B.M.; Hacker, K.; Rabinovich, W.S.;
2012 / IEEE
By: Li Xian Wang; Xiao Qiong Qi; Yu Liu; Liang Xie; Jian Guo Liu; Xu Ming Wu; Jiang Wei Man; Ning Hua Zhu;
By: Li Xian Wang; Xiao Qiong Qi; Yu Liu; Liang Xie; Jian Guo Liu; Xu Ming Wu; Jiang Wei Man; Ning Hua Zhu;
2012 / IEEE
By: Hayden, O.; Tedde, S.F.; Rajbhandari, S.; Arca, F.; Papakonstantinou, I.; Hoa Le Minh; Ghassemlooy, Z.; Haigh, P.A.;
By: Hayden, O.; Tedde, S.F.; Rajbhandari, S.; Arca, F.; Papakonstantinou, I.; Hoa Le Minh; Ghassemlooy, Z.; Haigh, P.A.;
2012 / IEEE
By: Kai Wang; Pitwon, R.C.A.; Selviah, D.R.; Milward, D.; Dangel, R.; Offrein, B.J.; Baghsiahi, H.; Papakonstantinou, I.; Graham-Jones, J.;
By: Kai Wang; Pitwon, R.C.A.; Selviah, D.R.; Milward, D.; Dangel, R.; Offrein, B.J.; Baghsiahi, H.; Papakonstantinou, I.; Graham-Jones, J.;
2006 / IEEE / 978-3-9805741-8-1
By: Emardson, R.; Jaldehag, K.; Berg, N.; Nilsson, M.; Ebenhag, S.C.; Hedekvist, P.O.; Rieck, C.; Johansson, J.; Pendrill, L.; Lothberg, P.; Nilsson, H.; Jarlemark, P.;
By: Emardson, R.; Jaldehag, K.; Berg, N.; Nilsson, M.; Ebenhag, S.C.; Hedekvist, P.O.; Rieck, C.; Johansson, J.; Pendrill, L.; Lothberg, P.; Nilsson, H.; Jarlemark, P.;
2011 / IEEE / 978-3-00-035081-8
By: Chavan, P.G.; Mulla, I.S.; Badadhe, S.S.; Joag, D.S.; More, M.A.;
By: Chavan, P.G.; Mulla, I.S.; Badadhe, S.S.; Joag, D.S.; More, M.A.;
2011 / IEEE / 978-3-8007-3356-9
By: Offer, M.; Gutsche, C.; Lysov, A.; Tegude, F.-J.; Prost, W.; Regolin, I.;
By: Offer, M.; Gutsche, C.; Lysov, A.; Tegude, F.-J.; Prost, W.; Regolin, I.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0378-2
By: Sangiorgi, E.; Vyurkov, V.; Zanuccoli, M.; Semenikhin, I.; Fiegna, C.;
By: Sangiorgi, E.; Vyurkov, V.; Zanuccoli, M.; Semenikhin, I.; Fiegna, C.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0378-2
By: Ming-Yang Hsieh; Woei-Tyng Lin; Wei-Chun Chen; Fang-I Lai; Shou-Yi Kuo;
By: Ming-Yang Hsieh; Woei-Tyng Lin; Wei-Chun Chen; Fang-I Lai; Shou-Yi Kuo;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0762-9
By: Figueiredo, J.M.L.; Romeira, B.; Javaloyes, J.; Seunarine, K.; Ironside, C.N.;
By: Figueiredo, J.M.L.; Romeira, B.; Javaloyes, J.; Seunarine, K.; Ironside, C.N.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1005-6
By: Bourqui, P.; Doucet, M.; Suess, M.; Harnisch, B.; Marchese, L.; Bergeron, A.; Legros, M.; Martel, A.; Savard, M.; Chateauneuf, F.; Mercier, L.; Guillot, L.; Desnoyers, N.;
By: Bourqui, P.; Doucet, M.; Suess, M.; Harnisch, B.; Marchese, L.; Bergeron, A.; Legros, M.; Martel, A.; Savard, M.; Chateauneuf, F.; Mercier, L.; Guillot, L.; Desnoyers, N.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-6051-9
By: Murib, M.S.; Yilmaz, H.; Nakata, J.; Taira, K.; Serpenguzel, A.;
By: Murib, M.S.; Yilmaz, H.; Nakata, J.; Taira, K.; Serpenguzel, A.;
2011 / IEEE / 978-1-55752-932-9
By: Rival, O.; Spadaro, S.; Morea, A.; Verchere, D.; Agraz, F.; Perello, J.;
By: Rival, O.; Spadaro, S.; Morea, A.; Verchere, D.; Agraz, F.; Perello, J.;
2011 / IEEE / 978-966-335-357-9
By: Olrshevsrkiy, O.L.; Petrenko, G.V.; Khoroshilov, V.S.; Mozgovoy, D.K.; Makarov, O.L.; Popelr, V.M.;
By: Olrshevsrkiy, O.L.; Petrenko, G.V.; Khoroshilov, V.S.; Mozgovoy, D.K.; Makarov, O.L.; Popelr, V.M.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1589-1
By: Laouenan, F.; Ruano-Lopez, J.M.; Flavin, D.; Kruger, J.; Rodriguez, S.; Agirregabiria, M.;
By: Laouenan, F.; Ruano-Lopez, J.M.; Flavin, D.; Kruger, J.; Rodriguez, S.; Agirregabiria, M.;
2010 / IEEE / 978-1-4577-1281-4
By: Cochran, D.J.; Boutte, A.J.; Xapsos, M.A.; Sanders, A.B.; Pellish, J.A.; Oldham, T.R.; O'Bryan, M.V.; Marshall, C.J.; Lauenstein, J.; Ladbury, R.L.; LaBel, K.A.; Chen, D.; Casey, M.C.; Carts, M.A.; Campola, M.J.;
By: Cochran, D.J.; Boutte, A.J.; Xapsos, M.A.; Sanders, A.B.; Pellish, J.A.; Oldham, T.R.; O'Bryan, M.V.; Marshall, C.J.; Lauenstein, J.; Ladbury, R.L.; LaBel, K.A.; Chen, D.; Casey, M.C.; Carts, M.A.; Campola, M.J.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-8340-2
By: Schaevitz, R.K.; Miller, D.A.B.; Harris, J.S.; Roth, J.E.; Tasyurek, E.; Ren, S.; Claussen, S.A.; Yiwen Rong; Audet, R.M.; Ly-Gagnon, D.S.; Edwards, E.H.;
By: Schaevitz, R.K.; Miller, D.A.B.; Harris, J.S.; Roth, J.E.; Tasyurek, E.; Ren, S.; Claussen, S.A.; Yiwen Rong; Audet, R.M.; Ly-Gagnon, D.S.; Edwards, E.H.;
Indoor gigabit full-duplex optical wireless communication system with SCM based multiple-user access
2011 / IEEE / 978-1-61284-718-4By: Skafidas, E.; Lim, C.; Nirmalathas, A.; Ke Wang;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1589-1
By: van Abeelen, F.A.; van Pieterson, L.; Oversluizen, G.; Zhou, G.; Hornix, E.; van Os, K.;
By: van Abeelen, F.A.; van Pieterson, L.; Oversluizen, G.; Zhou, G.; Hornix, E.; van Os, K.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-634-7
By: Tseng, D.; Mudanyali, O.; Ozcan, A.; Yaglidere, O.; Bishara, W.; Sencan, I.; Oztoprak, C.; Isikman, S.O.;
By: Tseng, D.; Mudanyali, O.; Ozcan, A.; Yaglidere, O.; Bishara, W.; Sencan, I.; Oztoprak, C.; Isikman, S.O.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1997-4
By: Yu Jinlong; Mao Luhong; Qi Lifang; Guo Weilian; Chen Yan; Xie Sheng; Zhang Shilin; Yu Xin; Chen Zhiming; Li Xianjie;
By: Yu Jinlong; Mao Luhong; Qi Lifang; Guo Weilian; Chen Yan; Xie Sheng; Zhang Shilin; Yu Xin; Chen Zhiming; Li Xianjie;
2011 / IEEE / 978-2-35500-015-7
By: Cano, J.-P.; Gue, A.; Ballet, J.; Conedera, V.; Mazenq, L.; Bossuyt, R.; Camon, H.;
By: Cano, J.-P.; Gue, A.; Ballet, J.; Conedera, V.; Mazenq, L.; Bossuyt, R.; Camon, H.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-8939-8
By: Mandridis, D.; Williams, C.; Delfyett, P.J.; Klee, A.; Davila-Rodriguez, J.;
By: Mandridis, D.; Williams, C.; Delfyett, P.J.; Klee, A.; Davila-Rodriguez, J.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-2141-0
By: Baughman, W.; Kim, S.M.; Wilbert, D.S.; Dawahre, N.; Gang Shen; Harris, N.; Balci, S.; Kung, P.; Nikles, D.; Bryant, T.; Waters, J.; Rivera, E.;
By: Baughman, W.; Kim, S.M.; Wilbert, D.S.; Dawahre, N.; Gang Shen; Harris, N.; Balci, S.; Kung, P.; Nikles, D.; Bryant, T.; Waters, J.; Rivera, E.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-9289-3
By: Barrajon, N.; Sanchez-Rojas, J.L.; Vazquez, J.; Jimenez, F.; Ubeda, J.;
By: Barrajon, N.; Sanchez-Rojas, J.L.; Vazquez, J.; Jimenez, F.; Ubeda, J.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-9289-3
By: Fung, C.K.M.; Hongzhi Chen; Ning Xi; Lai, K.W.C.; Liangliang Chen;
By: Fung, C.K.M.; Hongzhi Chen; Ning Xi; Lai, K.W.C.; Liangliang Chen;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1756-7
By: Sangcheol Kim; Coppinger, M.; Kolodzey, J.; Yung Kee Yeo; Chaoying Ni; Gupta, J.; Bhargava, N.;
By: Sangcheol Kim; Coppinger, M.; Kolodzey, J.; Yung Kee Yeo; Chaoying Ni; Gupta, J.; Bhargava, N.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1756-7
By: Soloviev, S.; Dandin, M.; Vert, A.; Akturk, A.; Sandvik, P.; Cheung, K.P.; Abshire, P.; Goldsman, N.; Potbhare, S.;
By: Soloviev, S.; Dandin, M.; Vert, A.; Akturk, A.; Sandvik, P.; Cheung, K.P.; Abshire, P.; Goldsman, N.; Potbhare, S.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0167-2
By: Kalathimekkad, S.; Van Steenberge, G.; Missinne, J.; Van Hoe, B.; Bosman, E.; Van Daele, P.;
By: Kalathimekkad, S.; Van Steenberge, G.; Missinne, J.; Van Hoe, B.; Bosman, E.; Van Daele, P.;
2012 / IEEE / 978-1-55752-935-1
By: Hui Yu; Absil, P.; Moelants, M.; Wouters, J.; Verheyen, P.; Van Campenhout, J.; Leuthold, J.; Freude, W.; Koos, C.; Hillerkuss, D.; Alloatti, L.; Korn, D.; Baets, R.; Komorowska, K.; Bogaerts, W.;
By: Hui Yu; Absil, P.; Moelants, M.; Wouters, J.; Verheyen, P.; Van Campenhout, J.; Leuthold, J.; Freude, W.; Koos, C.; Hillerkuss, D.; Alloatti, L.; Korn, D.; Baets, R.; Komorowska, K.; Bogaerts, W.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1444-3
By: Rybalko, S.; Martinenghi, R.; Jacquot, M.; Larger, L.; Chembo, Y.;
By: Rybalko, S.; Martinenghi, R.; Jacquot, M.; Larger, L.; Chembo, Y.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1664-5
By: Kejalakshmy, N.; Leung, D.M.H.; Rahman, B.M.A.; Grattan, K.T.V.;
By: Kejalakshmy, N.; Leung, D.M.H.; Rahman, B.M.A.; Grattan, K.T.V.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-9965-6
By: Javey, A.; Meza, J.H.; Takei, K.; Kwanyong Seo; Yaping Dan; Crozier, K.B.;
By: Javey, A.; Meza, J.H.; Takei, K.; Kwanyong Seo; Yaping Dan; Crozier, K.B.;
2012 / IEEE / 978-617-607-138-9
By: Kachan, S.; Bilylovets, O.; Savitskaya, I.M.; Sukhin, I.; Kozhuhar, O.; Furmanov, Y.; Hryntsiv, S.;
By: Kachan, S.; Bilylovets, O.; Savitskaya, I.M.; Sukhin, I.; Kozhuhar, O.; Furmanov, Y.; Hryntsiv, S.;
2012 / IEEE / 978-1-4577-2145-8
By: Pecheux, F.; Leveque, A.; Clavier, L.; Massouri, A.; Louerat, M.; Scotti, S.; Cenni, F.; Aboushady, H.;
By: Pecheux, F.; Leveque, A.; Clavier, L.; Massouri, A.; Louerat, M.; Scotti, S.; Cenni, F.; Aboushady, H.;
2012 / IEEE / 978-1-4673-1124-3
By: Shih-Mo Yang; Puttaswamy, S.V.; Cheng-Hsien Liu; Long Hsu; Kuo-Wei Chang; Sivashankar, S.;
By: Shih-Mo Yang; Puttaswamy, S.V.; Cheng-Hsien Liu; Long Hsu; Kuo-Wei Chang; Sivashankar, S.;