Your Search Results
Use materials about this topic in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content - such as case studies and journal articles - for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Topic: Optical Noise
Results
2011 / IEEE
By: Ke Xu; Shu, C.; Xia Chen; Zhenzhou Cheng; Liang Wang; Yi Min Chen; Lei, G.K.P.; Hon Ki Tsang;
By: Ke Xu; Shu, C.; Xia Chen; Zhenzhou Cheng; Liang Wang; Yi Min Chen; Lei, G.K.P.; Hon Ki Tsang;
2011 / IEEE
By: Raybon, G.; Pupalaikis, P.J.; Delbue, R.; Doerr, C.R.; Buhl, L.L.; Adamiecki, A.A.; Dupuy, J.-Y.; Jorge, F.; Konczykowska, A.; Gnauck, A.H.; Winzer, P.J.;
By: Raybon, G.; Pupalaikis, P.J.; Delbue, R.; Doerr, C.R.; Buhl, L.L.; Adamiecki, A.A.; Dupuy, J.-Y.; Jorge, F.; Konczykowska, A.; Gnauck, A.H.; Winzer, P.J.;
2011 / IEEE
By: Kai Shi; Barry, L.P.; Smyth, F.; Anandarajah, P.M.; Browning, C.; Huynh, T.N.; Reid, D.; Watts, R.;
By: Kai Shi; Barry, L.P.; Smyth, F.; Anandarajah, P.M.; Browning, C.; Huynh, T.N.; Reid, D.; Watts, R.;
2012 / IEEE
By: Chunle Xiong; Monat, C.; Collins, M.J.; Tranchant, L.; Petiteau, D.; Clark, A.S.; Eggleton, B.J.; Marshall, G.D.; Steel, M.J.; Juntao Li; O'Faolain, L.; Krauss, T.F.; Grillet, C.;
By: Chunle Xiong; Monat, C.; Collins, M.J.; Tranchant, L.; Petiteau, D.; Clark, A.S.; Eggleton, B.J.; Marshall, G.D.; Steel, M.J.; Juntao Li; O'Faolain, L.; Krauss, T.F.; Grillet, C.;
2012 / IEEE
By: Gunapala, S.D.; Ting, D.Z.; Hoglund, L.; Keo, S.A.; Mumolo, J.M.; Rafol, S.B.; Liu, J.K.; Nguyen, J.; Khoshakhlagh, A.; Soibel, A.;
By: Gunapala, S.D.; Ting, D.Z.; Hoglund, L.; Keo, S.A.; Mumolo, J.M.; Rafol, S.B.; Liu, J.K.; Nguyen, J.; Khoshakhlagh, A.; Soibel, A.;
2012 / IEEE
By: Mardoyan, H.; Charlet, G.; Renaudier, J.; Bertran-Pardo, O.; Bigo, S.; Salsi, M.; Tran, P.;
By: Mardoyan, H.; Charlet, G.; Renaudier, J.; Bertran-Pardo, O.; Bigo, S.; Salsi, M.; Tran, P.;
2012 / IEEE
By: Chaves, D.A.R.; Pereira, H.A.; de Santana, J.L.; Martins-Filho, J.F.; Bastos-Filho, C.J.A.;
By: Chaves, D.A.R.; Pereira, H.A.; de Santana, J.L.; Martins-Filho, J.F.; Bastos-Filho, C.J.A.;
2012 / IEEE
By: Gerardi, L.; Secondini, M.; Sambo, N.; Paolucci, F.; Poti, L.; Cugini, F.; Meloni, G.; Castoldi, P.;
By: Gerardi, L.; Secondini, M.; Sambo, N.; Paolucci, F.; Poti, L.; Cugini, F.; Meloni, G.; Castoldi, P.;
2012 / IEEE
By: Cheng-Ling Ying; Chia-Yi Chen; Po-Yi Wu; Hai-Han Lu; Ching-Hung Chang; Heng-Sheng Su; Chung-Yi Li;
By: Cheng-Ling Ying; Chia-Yi Chen; Po-Yi Wu; Hai-Han Lu; Ching-Hung Chang; Heng-Sheng Su; Chung-Yi Li;
2012 / IEEE
By: Winzer, P.J.; Gnauck, A.H.; Peckham, D.W.; Zhu, B.; Charlet, G.; Riet, M.; Dupuy, J.; Jorge, F.; Konczykowska, A.;
By: Winzer, P.J.; Gnauck, A.H.; Peckham, D.W.; Zhu, B.; Charlet, G.; Riet, M.; Dupuy, J.; Jorge, F.; Konczykowska, A.;
2012 / IEEE
By: Yu-Ting Hsueh; Stark, A.J.; Ralph, S.E.; Gee-Kung Chang; Tibuleac, S.; Filer, M.M.; Cheng Liu; Detwiler, T.F.; Searcy, S.;
By: Yu-Ting Hsueh; Stark, A.J.; Ralph, S.E.; Gee-Kung Chang; Tibuleac, S.; Filer, M.M.; Cheng Liu; Detwiler, T.F.; Searcy, S.;
2012 / IEEE
By: Dutisseuil, E.; Tran, P.; Mardoyan, H.; Bertran-Pardo, O.; Salsi, M.; Charlet, G.; Serena, P.; Renaudier, J.; Bononi, A.; Bigo, S.;
By: Dutisseuil, E.; Tran, P.; Mardoyan, H.; Bertran-Pardo, O.; Salsi, M.; Charlet, G.; Serena, P.; Renaudier, J.; Bononi, A.; Bigo, S.;
2012 / IEEE
By: Buhl, L.L.; Chandrasekhar, S.; Jorge, F.; Konczykowska, A.; Dupuy, J.; Winzer, P.J.; Schmidt, C.; Randel, S.; Adamiecki, A.L.; Raybon, G.; Delbue, R.; Scholz, C.; Gnauck, A.H.; Xiang Liu;
By: Buhl, L.L.; Chandrasekhar, S.; Jorge, F.; Konczykowska, A.; Dupuy, J.; Winzer, P.J.; Schmidt, C.; Randel, S.; Adamiecki, A.L.; Raybon, G.; Delbue, R.; Scholz, C.; Gnauck, A.H.; Xiang Liu;
2012 / IEEE
By: Bosco, G.; Poggiolini, P.; Yanchao Jiang; Sasaki, T.; Nespola, A.; Cigliutti, R.; Forghieri, F.; Curri, V.; Carena, A.; Yamamoto, Y.;
By: Bosco, G.; Poggiolini, P.; Yanchao Jiang; Sasaki, T.; Nespola, A.; Cigliutti, R.; Forghieri, F.; Curri, V.; Carena, A.; Yamamoto, Y.;
2012 / IEEE
By: Joon Ki Lee; Sae-Kyoung Kang; Ji Wook Youn; Jongyoon Shin; Jyung Chan Lee; Sun Hyok Chang; Hwan Seok Chung; Kwangjoon Kim; Sun Moo Kang; Sung Kyu Hyun; JeSoo Ko; Won Hee Lee; Jong Hyun Lee; Joon Young Huh;
By: Joon Ki Lee; Sae-Kyoung Kang; Ji Wook Youn; Jongyoon Shin; Jyung Chan Lee; Sun Hyok Chang; Hwan Seok Chung; Kwangjoon Kim; Sun Moo Kang; Sung Kyu Hyun; JeSoo Ko; Won Hee Lee; Jong Hyun Lee; Joon Young Huh;
2012 / IEEE
By: Salsi, M.; Bigo, S.; Charlet, G.; Tran, P.; Mardoyan, H.; Bertran-Pardo, O.; Renaudier, J.;
By: Salsi, M.; Bigo, S.; Charlet, G.; Tran, P.; Mardoyan, H.; Bertran-Pardo, O.; Renaudier, J.;
2012 / IEEE
By: Detwiler, T.; Cheng Liu; Stark, A.; Yu-Ting Hsueh; Tibuleac, S.; Ralph, S.E.; Gee-Kung Chang; Filer, M.;
By: Detwiler, T.; Cheng Liu; Stark, A.; Yu-Ting Hsueh; Tibuleac, S.; Ralph, S.E.; Gee-Kung Chang; Filer, M.;
2012 / IEEE
By: Schmogrow, R.; Leuthold, J.; Freude, W.; Becker, J.; Koos, C.; Huebner, M.; Winter, M.; Dreschmann, M.; Meyer, J.; Koenig, S.; Hillerkuss, D.; Josten, A.; Nebendahl, B.;
By: Schmogrow, R.; Leuthold, J.; Freude, W.; Becker, J.; Koos, C.; Huebner, M.; Winter, M.; Dreschmann, M.; Meyer, J.; Koenig, S.; Hillerkuss, D.; Josten, A.; Nebendahl, B.;
2012 / IEEE
By: Flood, E.; Donegan, J.F.; Barry, L.P.; Bradley, A.L.; Lynch, M.; Smyth, J.F.; Wei-Hua Guo;
By: Flood, E.; Donegan, J.F.; Barry, L.P.; Bradley, A.L.; Lynch, M.; Smyth, J.F.; Wei-Hua Guo;
2012 / IEEE
By: Pfluger, D.; Stojanovic, N.; Changsong Xie; Yu Zhao; Juan Qi; Hauske, F.N.; Bauch, G.;
By: Pfluger, D.; Stojanovic, N.; Changsong Xie; Yu Zhao; Juan Qi; Hauske, F.N.; Bauch, G.;
2012 / IEEE
By: Egnell, L.; Tipsuwannakul, E.; Eriksson, T.A.; Jianqiang Li; Sjostrom, F.; Karlsson, M.; Andrekson, P.A.; Pejnefors, J.;
By: Egnell, L.; Tipsuwannakul, E.; Eriksson, T.A.; Jianqiang Li; Sjostrom, F.; Karlsson, M.; Andrekson, P.A.; Pejnefors, J.;
2012 / IEEE
By: Xian Xu; Morsy-Osman, M.; Mousa-Pasandi, M.E.; Qunbi Zhuge; Plant, D.V.; El-Sahn, Z.A.; Chagnon, M.;
By: Xian Xu; Morsy-Osman, M.; Mousa-Pasandi, M.E.; Qunbi Zhuge; Plant, D.V.; El-Sahn, Z.A.; Chagnon, M.;
2012 / IEEE
By: Plant, J.J.; Delfyett, P.J.; Bagnell, M.; Ozdur, I.T.; Davila-Rodriguez, J.; Juodawlkis, P.W.;
By: Plant, J.J.; Delfyett, P.J.; Bagnell, M.; Ozdur, I.T.; Davila-Rodriguez, J.; Juodawlkis, P.W.;
2012 / IEEE
By: Dan Zhu; Shilong Pan; Zhenzhou Tang; Jianping Yao; Ronghui Guo; De Ben; Minghai Pan; Yongjiu Zhao;
By: Dan Zhu; Shilong Pan; Zhenzhou Tang; Jianping Yao; Ronghui Guo; De Ben; Minghai Pan; Yongjiu Zhao;
2012 / IEEE
By: Anderson, W.T.; Foursa, D.G.; Bergano, N.S.; Pilipetskii, A.; Mohs, G.; Sinkin, O.; Hongbin Zhang;
By: Anderson, W.T.; Foursa, D.G.; Bergano, N.S.; Pilipetskii, A.; Mohs, G.; Sinkin, O.; Hongbin Zhang;