Your Search Results
Use materials about this topic in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content - such as case studies and journal articles - for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Topic: Optical Interconnections
Results
2011 / IEEE
By: Takeda, T.; Hajimiri, A.; Ohashi, S.; Hino, Y.; Fukuda, S.; Yamagishi, H.; Kawasaki, K.; Akiyama, Y.; Uno, M.; Komori, K.; Shinke, S.;
By: Takeda, T.; Hajimiri, A.; Ohashi, S.; Hino, Y.; Fukuda, S.; Yamagishi, H.; Kawasaki, K.; Akiyama, Y.; Uno, M.; Komori, K.; Shinke, S.;
2011 / IEEE
By: Masuda, H.; Shibata, T.; Takai, T.; Lee, Y.; Hamamura, S.; Chujo, N.; Adachi, K.; Kawamura, D.; Matsuoka, Y.; Sugawara, T.;
By: Masuda, H.; Shibata, T.; Takai, T.; Lee, Y.; Hamamura, S.; Chujo, N.; Adachi, K.; Kawamura, D.; Matsuoka, Y.; Sugawara, T.;
2011 / IEEE
By: Ohhata, K.; Ohno, T.; Kawamata, T.; Adachi, K.; Chujo, N.; Matsuoka, Y.; Sugawara, T.; Takai, T.; Kawamura, D.;
By: Ohhata, K.; Ohno, T.; Kawamata, T.; Adachi, K.; Chujo, N.; Matsuoka, Y.; Sugawara, T.; Takai, T.; Kawamura, D.;
2012 / IEEE
By: Viktorovitch, P.; Fedeli, J.M.; Letartre, X.; Orobtchouk, R.; Mandorlo, F.; Ferrier, L.; Olivier, N.; Romeo, P.R.;
By: Viktorovitch, P.; Fedeli, J.M.; Letartre, X.; Orobtchouk, R.; Mandorlo, F.; Ferrier, L.; Olivier, N.; Romeo, P.R.;
2012 / IEEE
By: Ahn, J.H.; Schreiber, R.; Muralimanohar, N.; McLaren, M.; Jouppi, N.; Davis, A.; Binkert, N.;
By: Ahn, J.H.; Schreiber, R.; Muralimanohar, N.; McLaren, M.; Jouppi, N.; Davis, A.; Binkert, N.;
2012 / IEEE
By: Ron Ho; Lexau, J.; Liu, F.Y.; Xuezhe Zheng; Krishnamoorthy, A.V.; Cunningham, J.E.; Patil, D.; Raj, K.; Jin Yao; Shubin, I.; Thacker, H.D.; Ying Luo; Guoliang Li;
By: Ron Ho; Lexau, J.; Liu, F.Y.; Xuezhe Zheng; Krishnamoorthy, A.V.; Cunningham, J.E.; Patil, D.; Raj, K.; Jin Yao; Shubin, I.; Thacker, H.D.; Ying Luo; Guoliang Li;
2012 / IEEE
By: Doany, F.E.; Kash, J.A.; Lee, B.G.; Budd, R.A.; Baks, C.W.; Tsang, C.K.; Knickerbocker, J.U.; Dangel, R.; Chan, B.; How Lin; Carver, C.; Jianzhuang Huang; Berry, J.; Bajkowski, D.; Libsch, F.; Schow, C.L.;
By: Doany, F.E.; Kash, J.A.; Lee, B.G.; Budd, R.A.; Baks, C.W.; Tsang, C.K.; Knickerbocker, J.U.; Dangel, R.; Chan, B.; How Lin; Carver, C.; Jianzhuang Huang; Berry, J.; Bajkowski, D.; Libsch, F.; Schow, C.L.;
2012 / IEEE
By: Kuchta, D.M.; Lee, B.G.; Neinyi Li; Wenlin Luo; Vaidya, D.S.; Oulundsen, G.; Yan, M.F.; Benyuan Zhu; Taunay, T.F.; Baks, C.; Pepeljugoski, P.; Schow, C.L.; Doany, F.E.;
By: Kuchta, D.M.; Lee, B.G.; Neinyi Li; Wenlin Luo; Vaidya, D.S.; Oulundsen, G.; Yan, M.F.; Benyuan Zhu; Taunay, T.F.; Baks, C.; Pepeljugoski, P.; Schow, C.L.; Doany, F.E.;
2012 / IEEE
By: Rojo-Romeo, P.; Mandorlo, F.; Spuesens, T.; Van Thourhout, D.; Fedeli, J.-M.; Olivier, N.; Regreny, P.;
By: Rojo-Romeo, P.; Mandorlo, F.; Spuesens, T.; Van Thourhout, D.; Fedeli, J.-M.; Olivier, N.; Regreny, P.;
2012 / IEEE
By: Dim-Lee Kwong; Guo-Qiang Lo; Mingbin Yu; Tsung-Yang Liow; Xianshu Luo; Poon, A.W.; Shaoqi Feng; Junfeng Song;
By: Dim-Lee Kwong; Guo-Qiang Lo; Mingbin Yu; Tsung-Yang Liow; Xianshu Luo; Poon, A.W.; Shaoqi Feng; Junfeng Song;
2012 / IEEE
By: Myung Yung Jeong; Gye Won Kim; Eun Joo Jung; Jong Bea An; Byung Sup Rho; Myoung Jin Kim; Sung Hwan Hwang; Woo-Jin Lee;
By: Myung Yung Jeong; Gye Won Kim; Eun Joo Jung; Jong Bea An; Byung Sup Rho; Myoung Jin Kim; Sung Hwan Hwang; Woo-Jin Lee;
2012 / IEEE
By: Kai Wang; Pitwon, R.C.A.; Selviah, D.R.; Milward, D.; Dangel, R.; Offrein, B.J.; Baghsiahi, H.; Papakonstantinou, I.; Graham-Jones, J.;
By: Kai Wang; Pitwon, R.C.A.; Selviah, D.R.; Milward, D.; Dangel, R.; Offrein, B.J.; Baghsiahi, H.; Papakonstantinou, I.; Graham-Jones, J.;
2012 / IEEE
By: Akella, V.; Nitta, C.; Xiaohui Ye; Runxiang Yu; Yawei Yin; Proietti, R.; Yoo, S.J.B.;
By: Akella, V.; Nitta, C.; Xiaohui Ye; Runxiang Yu; Yawei Yin; Proietti, R.; Yoo, S.J.B.;
2012 / IEEE
By: Cunningham, J.E.; Ho, R.; Jin Yao; Shubin, I.; Thacker, H.D.; Krishnamoorthy, A.V.; Guoliang Li; Liu, F.; Lexau, J.; Ying Luo; Xuezhe Zheng;
By: Cunningham, J.E.; Ho, R.; Jin Yao; Shubin, I.; Thacker, H.D.; Krishnamoorthy, A.V.; Guoliang Li; Liu, F.; Lexau, J.; Ying Luo; Xuezhe Zheng;
2012 / IEEE
By: Avramopoulos, H.; Apostolopoulos, D.; Giannoulis, G.; Dereux, A.; Pleros, N.; Vyrsokinos, K.; Papaioannou, S.; Kalavrouziotis, D.; Markey, L.;
By: Avramopoulos, H.; Apostolopoulos, D.; Giannoulis, G.; Dereux, A.; Pleros, N.; Vyrsokinos, K.; Papaioannou, S.; Kalavrouziotis, D.; Markey, L.;
2012 / IEEE
By: Myoung Jin Kim; Sung Hwan Hwang; Woo-Jin Lee; Byung Sup Rho; Eun Joo Jung; Myung Yung Jeong; Gye Won Kim; Jong Bea An;
By: Myoung Jin Kim; Sung Hwan Hwang; Woo-Jin Lee; Byung Sup Rho; Eun Joo Jung; Myung Yung Jeong; Gye Won Kim; Jong Bea An;
2011 / IEEE / 978-3-8007-3356-9
By: Adachi, K.; Tsuji, S.; Sugawara, T.; Matsuoka, Y.; Kitatani, T.; Shinoda, K.;
By: Adachi, K.; Tsuji, S.; Sugawara, T.; Matsuoka, Y.; Kitatani, T.; Shinoda, K.;
2011 / IEEE / 978-3-8007-3356-9
By: Takeda, K.; Matsuo, S.; Notomi, M.; Taniyama, H.; Kawaguchi, Y.; Chin-Hui Chen; Nozaki, K.; Shinya, A.; Sato, T.;
By: Takeda, K.; Matsuo, S.; Notomi, M.; Taniyama, H.; Kawaguchi, Y.; Chin-Hui Chen; Nozaki, K.; Shinya, A.; Sato, T.;
2011 / IEEE / 978-986-02-8974-9
By: Green, W.M.J.; Horst, F.; Vlasov, Y.A.; Offrein, B.J.; Shank, S.M.; Assefa, S.;
By: Green, W.M.J.; Horst, F.; Vlasov, Y.A.; Offrein, B.J.; Shank, S.M.; Assefa, S.;
2011 / IEEE / 978-986-02-8974-9
By: Ferrara, J.; Weijian Yang; Imamura, A.; Chang-Hasnain, C.J.; Koyama, F.; Xiaodong Gu; Hasidume, Y.;
By: Ferrara, J.; Weijian Yang; Imamura, A.; Chang-Hasnain, C.J.; Koyama, F.; Xiaodong Gu; Hasidume, Y.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-878-5
By: Mingaleev, S.; Richter, A.; Koltchanov, I.; Arellano, C.; Sokolov, E.;
By: Mingaleev, S.; Richter, A.; Koltchanov, I.; Arellano, C.; Sokolov, E.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0811-4
By: Egea, F.J.; Blasco, J.M.; Barrientos, D.; Sanchis, E.; Gonzalez, V.; Carrio, F.;
By: Egea, F.J.; Blasco, J.M.; Barrientos, D.; Sanchis, E.; Gonzalez, V.; Carrio, F.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0223-5
By: Xuezhe Zheng; Joohwa Kim; Buckwalter, J.F.; Krishnamoorthy, A.; Raj, K.; Guoliang Li;
By: Xuezhe Zheng; Joohwa Kim; Buckwalter, J.F.; Krishnamoorthy, A.; Raj, K.; Guoliang Li;
2011 / IEEE / 978-1-4244-6051-9
By: Assefa, S.; Vlasov, Y.A.; Horst, F.; Schow, C.; Rylyakov, A.; Green, W.M.J.;
By: Assefa, S.; Vlasov, Y.A.; Horst, F.; Schow, C.; Rylyakov, A.; Green, W.M.J.;
2011 / IEEE / 978-1-55752-932-9
By: Chujo, N.; Matsuoka, Y.; Adachi, K.; Sugawara, T.; Kogo, K.; Takai, T.; Kawamura, D.; Lee, Y.; Tsuji, S.; Yamashita, H.; Yuki, F.; Takemoto, T.; Ishigami, Y.; Yamazaki, K.; Hamamura, S.;
By: Chujo, N.; Matsuoka, Y.; Adachi, K.; Sugawara, T.; Kogo, K.; Takai, T.; Kawamura, D.; Lee, Y.; Tsuji, S.; Yamashita, H.; Yuki, F.; Takemoto, T.; Ishigami, Y.; Yamazaki, K.; Hamamura, S.;
2011 / IEEE / 978-1-55752-932-9
By: Calabretta, N.; Nazarathy, Y.; Di Lucente, S.; Dorren, H.J.S.; Raz, O.;
By: Calabretta, N.; Nazarathy, Y.; Di Lucente, S.; Dorren, H.J.S.; Raz, O.;
2011 / IEEE / 978-1-55752-932-9
By: Yoo, S.J.B.; Akella, V.; Xiaohui Ye; Yawei Yin; Shuang Yin; Runxiang Yu; Proietti, R.;
By: Yoo, S.J.B.; Akella, V.; Xiaohui Ye; Yawei Yin; Shuang Yin; Runxiang Yu; Proietti, R.;
2011 / IEEE / 978-1-55752-932-9
By: Fiol, G.; Wolf, P.; Hofmann, W.; Moser, P.; Bimberg, D.; Ledentsov, N.N.; Lott, J.A.;
By: Fiol, G.; Wolf, P.; Hofmann, W.; Moser, P.; Bimberg, D.; Ledentsov, N.N.; Lott, J.A.;
2011 / IEEE / 978-1-55752-932-9
By: Nejabati, R.; Shuping Peng; Simeonidou, D.; Escalona, E.; Azodolmolky, S.;
By: Nejabati, R.; Shuping Peng; Simeonidou, D.; Escalona, E.; Azodolmolky, S.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-8340-2
By: Ishizaka, M.; Okano, M.; Hatori, N.; Shimizu, T.; Urino, Y.; Nakamura, T.; Arakawa, Y.; Mori, M.; Yamamoto, T.;
By: Ishizaka, M.; Okano, M.; Hatori, N.; Shimizu, T.; Urino, Y.; Nakamura, T.; Arakawa, Y.; Mori, M.; Yamamoto, T.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-8340-2
By: Urino, Y.; Akiyama, S.; Fujikata, J.; Arakawa, Y.; Nakamura, T.; Wada, K.; Saito, E.; Itabashi, S.; Yamada, K.; Watanabe, T.; Tsuchizawa, T.; Okayama, H.; Shimura, D.; Noguchi, M.; Miura, M.; Okamoto, D.; Usuki, T.; Akagawa, T.; Baba, T.; Yamamoto, T.; Ishizaka, M.; Okano, M.; Hatori, N.; Shimizu, T.;
By: Urino, Y.; Akiyama, S.; Fujikata, J.; Arakawa, Y.; Nakamura, T.; Wada, K.; Saito, E.; Itabashi, S.; Yamada, K.; Watanabe, T.; Tsuchizawa, T.; Okayama, H.; Shimura, D.; Noguchi, M.; Miura, M.; Okamoto, D.; Usuki, T.; Akagawa, T.; Baba, T.; Yamamoto, T.; Ishizaka, M.; Okano, M.; Hatori, N.; Shimizu, T.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-8340-2
By: Lee, B.S.; Byun, H.I.; Park, Y.D.; Chung, C.H.; Ha, K.H.; Hong, S.Y.; Choi, Y.; Shin, Y.H.; Suh, S.D.; Joe, I.S.; Kim, S.G.; Cho, K.S.; Na, K.W.; Ji, H.-C.; Lee, K.-H.; Shin, D.J.; Pyo, J.;
By: Lee, B.S.; Byun, H.I.; Park, Y.D.; Chung, C.H.; Ha, K.H.; Hong, S.Y.; Choi, Y.; Shin, Y.H.; Suh, S.D.; Joe, I.S.; Kim, S.G.; Cho, K.S.; Na, K.W.; Ji, H.-C.; Lee, K.-H.; Shin, D.J.; Pyo, J.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-8340-2
By: Lindenmann, N.; Koos, C.; Freude, W.; Leuthold, J.; Schuele, S.; Palmer, R.; Balthasar, G.;
By: Lindenmann, N.; Koos, C.; Freude, W.; Leuthold, J.; Schuele, S.; Palmer, R.; Balthasar, G.;
2011 / IEEE / 978-1-55752-932-9
By: Shimizu, T.; Okano, M.; Urino, Y.; Arakawa, Y.; Nakamura, T.; Saito, E.; Itabashi, S.; Yamada, K.; Watanabe, T.; Tsuchizawa, T.; Okayama, H.; Shimura, D.; Fujikata, J.; Noguchi, M.; Miura, M.; Okamoto, D.; Usuki, T.; Akiyama, S.; Akagawa, T.; Baba, T.; Yamamoto, T.; Ishizaka, M.; Hatori, N.;
By: Shimizu, T.; Okano, M.; Urino, Y.; Arakawa, Y.; Nakamura, T.; Saito, E.; Itabashi, S.; Yamada, K.; Watanabe, T.; Tsuchizawa, T.; Okayama, H.; Shimura, D.; Fujikata, J.; Noguchi, M.; Miura, M.; Okamoto, D.; Usuki, T.; Akiyama, S.; Akagawa, T.; Baba, T.; Yamamoto, T.; Ishizaka, M.; Hatori, N.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-166-3
By: Green, W.M.J.; Assefa, S.; Vlasov, Y.A.; Horst, F.; Schow, C.; Rylyakov, A.;
By: Green, W.M.J.; Assefa, S.; Vlasov, Y.A.; Horst, F.; Schow, C.; Rylyakov, A.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-7345-8
By: Mahnkopf, S.; Brady, D.; Clark, Z.; Jin, X.; Louderback, D.; Lanka, S.;
By: Mahnkopf, S.; Brady, D.; Clark, Z.; Jin, X.; Louderback, D.; Lanka, S.;
2011 / IEEE / 978-4-8634-8182-4
By: Wienhold, T.; Beck, T.; Hauser, M.; Klinkhammer, S.; Grossmann, T.; Christiansen, M.B.; Mappes, T.; Lemmer, U.; Vannahme, C.; Kalt, H.; Kristensen, A.;
By: Wienhold, T.; Beck, T.; Hauser, M.; Klinkhammer, S.; Grossmann, T.; Christiansen, M.B.; Mappes, T.; Lemmer, U.; Vannahme, C.; Kalt, H.; Kristensen, A.;