Your Search Results
Use materials about this topic in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content - such as case studies and journal articles - for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Topic: Optical Harmonic Generation
Results
Optimization of Third Harmonic Conversion Efficiency in the Presence of a Spatially Localized Plasma
2012 / IEEEBy: Kupka, D.; Bartels, R.A.;
2012 / IEEE
By: Jianzhou Wang; Yi Xu; Yanyan Li; Yansui Huang; Xiaoming Lu; Zhizhan Xu; Ruxin Li; Yuxin Leng;
By: Jianzhou Wang; Yi Xu; Yanyan Li; Yansui Huang; Xiaoming Lu; Zhizhan Xu; Ruxin Li; Yuxin Leng;
2012 / IEEE
By: Urban, B.E.; Neogi, P.; Senthilkumar, K.; Rajpurohit, S.K.; Jagadeeshwaran, P.; Seongcheol Kim; Fujita, Y.; Neogi, A.;
By: Urban, B.E.; Neogi, P.; Senthilkumar, K.; Rajpurohit, S.K.; Jagadeeshwaran, P.; Seongcheol Kim; Fujita, Y.; Neogi, A.;
2012 / IEEE
By: Shihuan Zou; Shilie Zheng; Xianmin Zhang; Hao Chi; Haoshuo Chen; Bo Yang; Koonen, T.; Xiaofeng Jin; Tangdiongga, E.;
By: Shihuan Zou; Shilie Zheng; Xianmin Zhang; Hao Chi; Haoshuo Chen; Bo Yang; Koonen, T.; Xiaofeng Jin; Tangdiongga, E.;
2012 / IEEE
By: Volk, T.R.; Shcherbina, V.V.; Shandarov, S.M.; Burimov, N.I.; Borodin, M.V.; Kokhanchik, L.S.;
By: Volk, T.R.; Shcherbina, V.V.; Shandarov, S.M.; Burimov, N.I.; Borodin, M.V.; Kokhanchik, L.S.;
2010 / IEEE / 978-1-4244-8701-1
By: Paschke, K.; Fiebig, C.; Sahm, A.; Uebernickel, M.; Erbert, G.; Feise, D.; Kaspari, C.; Blume, G.;
By: Paschke, K.; Fiebig, C.; Sahm, A.; Uebernickel, M.; Erbert, G.; Feise, D.; Kaspari, C.; Blume, G.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1226-5
By: de Aldana, J.R.V.; Romero, C.; Climent, V.; Lancis, J.; Mendoza-Yero, O.; Camino, A.; Roso, L.; Andres, P.; Minguez-Vega, G.; Borrego-Varillas, R.; Hernandez-Toro, J.;
By: de Aldana, J.R.V.; Romero, C.; Climent, V.; Lancis, J.; Mendoza-Yero, O.; Camino, A.; Roso, L.; Andres, P.; Minguez-Vega, G.; Borrego-Varillas, R.; Hernandez-Toro, J.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1226-5
By: Torres, R.; Hernandez-Garcia, C.; Sola, I.J.; Roso, L.; Ruiz, C.; Perez-Hernandez, J.A.; Holgado, W.; Varela, O.; Plaja, L.; Ramos, J.; Chacon, A.; Roman, J.S.; Alonso, B.;
By: Torres, R.; Hernandez-Garcia, C.; Sola, I.J.; Roso, L.; Ruiz, C.; Perez-Hernandez, J.A.; Holgado, W.; Varela, O.; Plaja, L.; Ramos, J.; Chacon, A.; Roman, J.S.; Alonso, B.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1226-5
By: Minguez-Vega, G.; Mendoza-Yero, O.; Li-Fan Yang; Shang-Da Yang; Tajahuerce, E.;
By: Minguez-Vega, G.; Mendoza-Yero, O.; Li-Fan Yang; Shang-Da Yang; Tajahuerce, E.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-5731-1
By: Lugiato, L.; Magatti, D.; Jedrkiewicz, O.; Gatti, A.; Brambilla, E.; Ferri, F.; Di Trapani, P.; Caspani, L.; Blanchet, J.-L.;
By: Lugiato, L.; Magatti, D.; Jedrkiewicz, O.; Gatti, A.; Brambilla, E.; Ferri, F.; Di Trapani, P.; Caspani, L.; Blanchet, J.-L.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-329-2
By: Hornstein, M.; Jones, T.G.; Helle, M.H.; Gordon, D.F.; Ting, A.;
By: Hornstein, M.; Jones, T.G.; Helle, M.H.; Gordon, D.F.; Ting, A.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-329-2
By: Burdiak, G.; Niasse, N.; Bocchi, M.; Harvey-Thompson, A.J.; Suzuki-Vidal, F.; Hall, G.N.; Khoory, E.; Lebedev, S.V.; Swadling, G.F.; Subtle, L.; Bland, S.N.; de Grouchi, P.; Pickworth, L.;
By: Burdiak, G.; Niasse, N.; Bocchi, M.; Harvey-Thompson, A.J.; Suzuki-Vidal, F.; Hall, G.N.; Khoory, E.; Lebedev, S.V.; Swadling, G.F.; Subtle, L.; Bland, S.N.; de Grouchi, P.; Pickworth, L.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-329-2
By: Graham, W.; Nedanovska, E.; Huwel, L.; Morgan, T.; Riley, D.; Nersisyan, G.;
By: Graham, W.; Nedanovska, E.; Huwel, L.; Morgan, T.; Riley, D.; Nersisyan, G.;
2011 / IEEE / 978-986-02-8974-9
By: Bhujwalla, Z.; Kakkad, S.; Yongping Chen; Jiefeng Xi; Glunde, K.; Murari, K.; Xingde Li; Yuying Zhang; Ming-Jun Li;
By: Bhujwalla, Z.; Kakkad, S.; Yongping Chen; Jiefeng Xi; Glunde, K.; Murari, K.; Xingde Li; Yuying Zhang; Ming-Jun Li;
2011 / IEEE / 978-1-4244-8340-2
By: Fedus, K.; Dierre, B.; Pavesi, L.; Yeremian, A.; Borga, E.; Bianco, F.; Bettotti, P.; Cazzanelli, M.; Pucker, G.; Ghulinyan, M.; Pierobon, R.; Pitanti, A.;
By: Fedus, K.; Dierre, B.; Pavesi, L.; Yeremian, A.; Borga, E.; Bianco, F.; Bettotti, P.; Cazzanelli, M.; Pucker, G.; Ghulinyan, M.; Pierobon, R.; Pitanti, A.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-8340-2
By: Welna, K.; Shakoor, A.; Portalupi, S.L.; O'Faolain, L.; Lo Savio, R.; Gerace, D.; Andreani, L.C.; Galli, M.; Priolo, F.; Franzo, G.; Irrera, A.; Krauss, T.F.;
By: Welna, K.; Shakoor, A.; Portalupi, S.L.; O'Faolain, L.; Lo Savio, R.; Gerace, D.; Andreani, L.C.; Galli, M.; Priolo, F.; Franzo, G.; Irrera, A.; Krauss, T.F.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-8340-2
By: Lange, J.; de Boor, J.; Naumann, F.; Bohley, C.; Schriever, C.; Schilling, J.;
By: Lange, J.; de Boor, J.; Naumann, F.; Bohley, C.; Schriever, C.; Schilling, J.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0509-0
By: Belyanin, A.; Woods, G.L.; Hauge, R.H.; Pint, C.L.; Morris, D.T.; Kono, J.;
By: Belyanin, A.; Woods, G.L.; Hauge, R.H.; Pint, C.L.; Morris, D.T.; Kono, J.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-8939-8
By: Xin Zhao; Yaxing Jiang; Zheng Zheng; Lei Liu; Xin Yang; Jinsong Zhu;
By: Xin Zhao; Yaxing Jiang; Zheng Zheng; Lei Liu; Xin Yang; Jinsong Zhu;
2011 / IEEE / 978-1-4244-8939-8
By: Fourmaux, S.; Popovici, C.A.; Ozaki, T.; Marjoribanks, R.; Lecherbourg, L.; Kieffer, J.; Vidal, F.; Gnedyuk, S.; Buffechoux, S.;
By: Fourmaux, S.; Popovici, C.A.; Ozaki, T.; Marjoribanks, R.; Lecherbourg, L.; Kieffer, J.; Vidal, F.; Gnedyuk, S.; Buffechoux, S.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-8939-8
By: Yang Wang; Qi Zhang; Xiaowei Wang; Kun Zhao; Chini, M.; Khan, S.; Yi Wu; Zenghu Chang; Baozhen Zhao; Yan Cheng;
By: Yang Wang; Qi Zhang; Xiaowei Wang; Kun Zhao; Chini, M.; Khan, S.; Yi Wu; Zenghu Chang; Baozhen Zhao; Yan Cheng;
2011 / IEEE / 978-4-8634-8182-4
By: Nakajima, H.; Kikuchi, K.; Kurimura, S.; Misu, N.; Suzuki, T.; Fukuda, T.; Kitagawa, T.; Maruyama, N.;
By: Nakajima, H.; Kikuchi, K.; Kurimura, S.; Misu, N.; Suzuki, T.; Fukuda, T.; Kitagawa, T.; Maruyama, N.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-8939-8
By: Chung-en Zah; Butler, D.; Piech, G.; Brown, G.; Heberle, A.; Jin Li; Visovsky, N.; Yabo Li; Liu, W.; Pikula, D.;
By: Chung-en Zah; Butler, D.; Piech, G.; Brown, G.; Heberle, A.; Jin Li; Visovsky, N.; Yabo Li; Liu, W.; Pikula, D.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0796-4
By: Zhao Wanli; Han Weiwei; Du Yuping; Guan Shanghong; Yan Xiusheng; Chen Yanan;
By: Zhao Wanli; Han Weiwei; Du Yuping; Guan Shanghong; Yan Xiusheng; Chen Yanan;
2011 / IEEE / 978-0-9775657-8-8
By: Furst, J.U.; Schunk, G.; Fortsch, M.; Leuchs, G.; Strekalov, D.V.; Marquardt, C.; Andersen, U.L.; Aiello, A.;
By: Furst, J.U.; Schunk, G.; Fortsch, M.; Leuchs, G.; Strekalov, D.V.; Marquardt, C.; Andersen, U.L.; Aiello, A.;
2011 / IEEE / 978-0-9775657-8-8
By: Midorikawa, K.; Takahashi, E.J.; Ishikawa, K.L.; Eilanlou, A.A.; Furukawa, Y.; Nabekawa, Y.;
By: Midorikawa, K.; Takahashi, E.J.; Ishikawa, K.L.; Eilanlou, A.A.; Furukawa, Y.; Nabekawa, Y.;
2011 / IEEE / 978-0-9775657-8-8
By: Wen-Feng Hsieh; Hsiao-Hua Wu; Jo-Yi Cheng; Kuei-Huei Lin; Chih-Hsuan Wu; Hou-Ren Chen;
By: Wen-Feng Hsieh; Hsiao-Hua Wu; Jo-Yi Cheng; Kuei-Huei Lin; Chih-Hsuan Wu; Hou-Ren Chen;
2011 / IEEE / 978-0-9775657-8-8
By: Furukawa, Y.; Midorikawa, K.; Yamanouchi, K.; Okino, T.; Takahashi, E.J.; Nabekawa, Y.;
By: Furukawa, Y.; Midorikawa, K.; Yamanouchi, K.; Okino, T.; Takahashi, E.J.; Nabekawa, Y.;
2011 / IEEE / 978-0-9775657-8-8
By: Takahashi, E.J.; Togashi, T.; Ishikawa, T.; Midorikawa, K.; Yabashi, M.; Watanabe, T.; Tomizawa, H.; Tanaka, T.; Tanaka, H.; Otake, Y.; Ohshima, T.; Matsubara, S.; Hara, T.; Yamanouchi, K.; Owada, S.; Iwasaki, A.; Sato, T.; Yamakawa, K.; Aoyama, M.;
By: Takahashi, E.J.; Togashi, T.; Ishikawa, T.; Midorikawa, K.; Yabashi, M.; Watanabe, T.; Tomizawa, H.; Tanaka, T.; Tanaka, H.; Otake, Y.; Ohshima, T.; Matsubara, S.; Hara, T.; Yamanouchi, K.; Owada, S.; Iwasaki, A.; Sato, T.; Yamakawa, K.; Aoyama, M.;
2011 / IEEE / 978-0-9775657-8-8
By: Papadopoulos, I.; Xin Yang; Grange, R.; Chia-Lung Hsieh; Ye Pu; Psaltis, D.;
By: Papadopoulos, I.; Xin Yang; Grange, R.; Chia-Lung Hsieh; Ye Pu; Psaltis, D.;
2011 / IEEE / 978-0-9775657-8-8
By: Kivshar, Y.S.; Sohler, W.; Yoohong Min; Ricken, R.; Solntsev, A.S.; Pertsch, T.; Schiek, R.; Neshev, D.N.; Sukhorukov, A.A.; Setzpfandt, F.;
By: Kivshar, Y.S.; Sohler, W.; Yoohong Min; Ricken, R.; Solntsev, A.S.; Pertsch, T.; Schiek, R.; Neshev, D.N.; Sukhorukov, A.A.; Setzpfandt, F.;
2012 / IEEE / 978-1-4577-1858-8
By: Garcia-Canadilla, P.; Amat-Roldan, I.; Gratacos, E.; Gonzalez-Tendero, A.; Calvo, M.; Torre, I.;
By: Garcia-Canadilla, P.; Amat-Roldan, I.; Gratacos, E.; Gonzalez-Tendero, A.; Calvo, M.; Torre, I.;
2012 / IEEE / 978-1-4577-1438-2
By: Ludwig, F.; Hoffmann, M.; Czuba, K.; Zukocinski, M.; Piekarski, J.; Schiarb, H.;
By: Ludwig, F.; Hoffmann, M.; Czuba, K.; Zukocinski, M.; Piekarski, J.; Schiarb, H.;
2012 / IEEE / 978-1-4673-2229-4
By: Korcala, A.; Bartkiewicz, K.; Lukasiak, Z.; Strzelecki, J.; Plociennik, P.; Zawadzka, A.; Sahraoui, B.;
By: Korcala, A.; Bartkiewicz, K.; Lukasiak, Z.; Strzelecki, J.; Plociennik, P.; Zawadzka, A.; Sahraoui, B.;