Your Search Results
Use materials about this topic in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content - such as case studies and journal articles - for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Topic: Optical Crosstalk
Results
2011 / IEEE
By: Takeda, T.; Hajimiri, A.; Ohashi, S.; Hino, Y.; Fukuda, S.; Yamagishi, H.; Kawasaki, K.; Akiyama, Y.; Uno, M.; Komori, K.; Shinke, S.;
By: Takeda, T.; Hajimiri, A.; Ohashi, S.; Hino, Y.; Fukuda, S.; Yamagishi, H.; Kawasaki, K.; Akiyama, Y.; Uno, M.; Komori, K.; Shinke, S.;
2012 / IEEE
By: Robertson, F.; Derderian, G.; Breen, M.; Nickerson, P.; Bhandari, H.B.; Kudrolli, H.; Prekas, G.; Sabet, H.; Nagarkar, V.V.; Cool, S.;
By: Robertson, F.; Derderian, G.; Breen, M.; Nickerson, P.; Bhandari, H.B.; Kudrolli, H.; Prekas, G.; Sabet, H.; Nagarkar, V.V.; Cool, S.;
2012 / IEEE
By: Yang, M.; Doany, F.E.; Jahnes, C.V.; Kash, J.A.; Vlasov, Y.A.; Van Campenhout, J.; Assefa, S.; Green, W.M.J.; Lee, B.G.; Schow, C.L.; Rylyakov, A.V.;
By: Yang, M.; Doany, F.E.; Jahnes, C.V.; Kash, J.A.; Vlasov, Y.A.; Van Campenhout, J.; Assefa, S.; Green, W.M.J.; Lee, B.G.; Schow, C.L.; Rylyakov, A.V.;
2012 / IEEE
By: Xu, Q.; Rastegarfar, H.; Rusch, L.A.; Leon-Garcia, A.; LaRochelle, S.; Ben M'Sallem, Y.;
By: Xu, Q.; Rastegarfar, H.; Rusch, L.A.; Leon-Garcia, A.; LaRochelle, S.; Ben M'Sallem, Y.;
2012 / IEEE
By: Xiang Liu; Benyuan Zhu; Yan, M.F.; Fini, J.M.; Chandrasekhar, S.; Dimarcello, F.V.; Monberg, E.M.; Fishteyn, M.; Taunay, T.F.;
By: Xiang Liu; Benyuan Zhu; Yan, M.F.; Fini, J.M.; Chandrasekhar, S.; Dimarcello, F.V.; Monberg, E.M.; Fishteyn, M.; Taunay, T.F.;
2012 / IEEE
By: Watanabe, M.; Kobayashi, T.; Taru, T.; Hayashi, T.; Sakaguchi, J.; Kanno, A.; Wada, N.; Awaji, Y.; Kawanishi, T.;
By: Watanabe, M.; Kobayashi, T.; Taru, T.; Hayashi, T.; Sakaguchi, J.; Kanno, A.; Wada, N.; Awaji, Y.; Kawanishi, T.;
2012 / IEEE
By: Kuchta, D.M.; Lee, B.G.; Neinyi Li; Wenlin Luo; Vaidya, D.S.; Oulundsen, G.; Yan, M.F.; Benyuan Zhu; Taunay, T.F.; Baks, C.; Pepeljugoski, P.; Schow, C.L.; Doany, F.E.;
By: Kuchta, D.M.; Lee, B.G.; Neinyi Li; Wenlin Luo; Vaidya, D.S.; Oulundsen, G.; Yan, M.F.; Benyuan Zhu; Taunay, T.F.; Baks, C.; Pepeljugoski, P.; Schow, C.L.; Doany, F.E.;
2012 / IEEE
By: Bergman, K.; Kuzucu, O.; Okawachi, Y.; Gaeta, A.L.; Lipson, M.; Foster, M.A.; Ophir, N.; Biberman, A.; Turner-Foster, A.C.; Salem, R.;
By: Bergman, K.; Kuzucu, O.; Okawachi, Y.; Gaeta, A.L.; Lipson, M.; Foster, M.A.; Ophir, N.; Biberman, A.; Turner-Foster, A.C.; Salem, R.;
2012 / IEEE
By: Detwiler, T.; Cheng Liu; Stark, A.; Yu-Ting Hsueh; Tibuleac, S.; Ralph, S.E.; Gee-Kung Chang; Filer, M.;
By: Detwiler, T.; Cheng Liu; Stark, A.; Yu-Ting Hsueh; Tibuleac, S.; Ralph, S.E.; Gee-Kung Chang; Filer, M.;
2012 / IEEE
By: Bellanca, G.; Malaguti, S.; de Rossi, A.; Combrie, S.; Lehoucq, G.; Trillo, S.; Simon, J.C.; Bramerie, L.; Gay, M.; Lengle, K.;
By: Bellanca, G.; Malaguti, S.; de Rossi, A.; Combrie, S.; Lehoucq, G.; Trillo, S.; Simon, J.C.; Bramerie, L.; Gay, M.; Lengle, K.;
2012 / IEEE
By: Kasahara, M.; Matsuo, S.; Ning Guan; Sasaki, Y.; Takenaga, K.; Koshiba, M.; Saitoh, K.;
By: Kasahara, M.; Matsuo, S.; Ning Guan; Sasaki, Y.; Takenaga, K.; Koshiba, M.; Saitoh, K.;
2012 / IEEE
By: Amezcua-Correa, R.; Cen Xia; Guifang Li; Xiang Zhou; Mateo, E.; Antonio-Lopez, E.; Neng Bai; Li�s, J.; Richardson, M.; Schulzgen, A.; Arrioja, D.M.; Montero, C.;
By: Amezcua-Correa, R.; Cen Xia; Guifang Li; Xiang Zhou; Mateo, E.; Antonio-Lopez, E.; Neng Bai; Li�s, J.; Richardson, M.; Schulzgen, A.; Arrioja, D.M.; Montero, C.;
2011 / IEEE / 978-1-86135-373-3
By: Zanardi, A.; Gerstel, O.; Fedrizzi, R.; Saradhi, C.V.; Salvadori, E.; Martinelli, G.; Tanzi, A.; Galimberti, G.M.;
By: Zanardi, A.; Gerstel, O.; Fedrizzi, R.; Saradhi, C.V.; Salvadori, E.; Martinelli, G.; Tanzi, A.; Galimberti, G.M.;
2011 / IEEE / 978-1-86135-373-3
By: Galimberti, G.M.; Saradhi, C.V.; Salvadori, E.; Zanardi, A.; Tanzi, A.; Fauci, D.L.; Martinelli, G.; Vercelli, E.S.; Pastorelli, R.;
By: Galimberti, G.M.; Saradhi, C.V.; Salvadori, E.; Zanardi, A.; Tanzi, A.; Fauci, D.L.; Martinelli, G.; Vercelli, E.S.; Pastorelli, R.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-8456-0
By: Qing Xu; Rusch, L.A.; Leon-Garcia, A.; LaRochelle, S.; Ben M'Sallem, Y.; Rastegarfar, H.;
By: Qing Xu; Rusch, L.A.; Leon-Garcia, A.; LaRochelle, S.; Ben M'Sallem, Y.; Rastegarfar, H.;
2011 / IEEE / 978-986-02-8974-9
By: Hino, T.; Tajima, A.; Nakamura, S.; Takahashi, S.; Namiki, S.; Kurumida, J.; Sakauchi, M.;
By: Hino, T.; Tajima, A.; Nakamura, S.; Takahashi, S.; Namiki, S.; Kurumida, J.; Sakauchi, M.;
2011 / IEEE / 978-986-02-8974-9
By: Ishikawa, G.; Nakagawa, G.; Kai, Y.; Yoshida, S.; Sone, K.; Kinoshita, S.;
By: Ishikawa, G.; Nakagawa, G.; Kai, Y.; Yoshida, S.; Sone, K.; Kinoshita, S.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0708-7
By: Lombardo, S.; Corso, D.; Pagano, R.; Pappalardo, A.; Finocchiaro, P.; Libertino, S.; Fallica, P.G.; Russo, A.; Sanfilippo, D.; Valvo, G.;
By: Lombardo, S.; Corso, D.; Pagano, R.; Pappalardo, A.; Finocchiaro, P.; Libertino, S.; Fallica, P.G.; Russo, A.; Sanfilippo, D.; Valvo, G.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0336-2
By: Canonica, M.; Lanzoni, P.; Zamkotsian, F.; Stanley, R.P.; Noell, W.; Lutzelschwab, M.; Lockhart, R.; Tormen, M.; Timotijevic, B.;
By: Canonica, M.; Lanzoni, P.; Zamkotsian, F.; Stanley, R.P.; Noell, W.; Lutzelschwab, M.; Lockhart, R.; Tormen, M.; Timotijevic, B.;
2011 / IEEE / 978-1-55752-932-9
By: Leijtens, X.J.M.; Bolk, J.; Albores-Mejia, A.; Rohit, A.; Williams, K.A.;
By: Leijtens, X.J.M.; Bolk, J.; Albores-Mejia, A.; Rohit, A.; Williams, K.A.;
2011 / IEEE / 978-1-55752-932-9
By: Sato, K.; Hasegawa, H.; Ishii, K.; Hirako, R.; Okuno, M.; Takahashi, H.;
By: Sato, K.; Hasegawa, H.; Ishii, K.; Hirako, R.; Okuno, M.; Takahashi, H.;
2011 / IEEE / 978-1-55752-932-9
By: Tomiyama, Y.; Harako, K.; Hirano, T.; Pengyu Guan; Nakazawa, M.; Hirooka, T.;
By: Tomiyama, Y.; Harako, K.; Hirano, T.; Pengyu Guan; Nakazawa, M.; Hirooka, T.;
2011 / IEEE / 978-1-55752-932-9
By: Qi Yang; Shieh, W.; Amin, A.A.; Xingwen Yi; Shaohua Yu; Zhu Yang; Zhixue He;
By: Qi Yang; Shieh, W.; Amin, A.A.; Xingwen Yi; Shaohua Yu; Zhu Yang; Zhixue He;
2011 / IEEE / 978-1-55752-932-9
By: Paul, S.; Kern, A.; Michalzik, R.; Schwarz, W.; Rosch, R.; Hein, A.; Wahl, D.;
By: Paul, S.; Kern, A.; Michalzik, R.; Schwarz, W.; Rosch, R.; Hein, A.; Wahl, D.;
2011 / IEEE / 978-1-55752-932-9
By: Dimarcello, F.V.; Monberg, E.M.; Fini, J.M.; Yan, M.F.; Liu, X.; Fishteyn, M.; Taunay, T.F.; Chandrasekhar, S.; Zhu, B.;
By: Dimarcello, F.V.; Monberg, E.M.; Fini, J.M.; Yan, M.F.; Liu, X.; Fishteyn, M.; Taunay, T.F.; Chandrasekhar, S.; Zhu, B.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-712-2
By: Godin, J.; Gnauck, A.; Blache, F.; Berdaguer, P.; Dupuy, J.-Y.; Konczykowska, A.; Moulu, J.; Riet, M.; Jorge, F.; Nodjiadjim, V.;
By: Godin, J.; Gnauck, A.; Blache, F.; Berdaguer, P.; Dupuy, J.-Y.; Konczykowska, A.; Moulu, J.; Riet, M.; Jorge, F.; Nodjiadjim, V.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-8340-2
By: Urino, Y.; Akiyama, S.; Fujikata, J.; Arakawa, Y.; Nakamura, T.; Wada, K.; Saito, E.; Itabashi, S.; Yamada, K.; Watanabe, T.; Tsuchizawa, T.; Okayama, H.; Shimura, D.; Noguchi, M.; Miura, M.; Okamoto, D.; Usuki, T.; Akagawa, T.; Baba, T.; Yamamoto, T.; Ishizaka, M.; Okano, M.; Hatori, N.; Shimizu, T.;
By: Urino, Y.; Akiyama, S.; Fujikata, J.; Arakawa, Y.; Nakamura, T.; Wada, K.; Saito, E.; Itabashi, S.; Yamada, K.; Watanabe, T.; Tsuchizawa, T.; Okayama, H.; Shimura, D.; Noguchi, M.; Miura, M.; Okamoto, D.; Usuki, T.; Akagawa, T.; Baba, T.; Yamamoto, T.; Ishizaka, M.; Okano, M.; Hatori, N.; Shimizu, T.;
2011 / IEEE / 978-1-55752-932-9
By: Randel, S.; Winzer, P.J.; Chandrasekhar, S.; Xiang Liu; Sierra, A.;
By: Randel, S.; Winzer, P.J.; Chandrasekhar, S.; Xiang Liu; Sierra, A.;
2011 / IEEE / 978-963-8111-77-7
By: Tverjanovich, A.; Kuang-Yu Hsu; Hoa Le Minh; Pei-Shih Tsai; Shien-Kuei Liaw;
By: Tverjanovich, A.; Kuang-Yu Hsu; Hoa Le Minh; Pei-Shih Tsai; Shien-Kuei Liaw;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0509-0
By: Schlak, M.; Roehle, H.; Dietz, R.J.B.; Stanze, D.; Gobel, T.; Schell, M.; Sartorius, B.;
By: Schlak, M.; Roehle, H.; Dietz, R.J.B.; Stanze, D.; Gobel, T.; Schell, M.; Sartorius, B.;
Dense heterogeneous uncoupled multi-core fiber using 9 types of cores with double cladding structure
2011 / IEEE / 978-4-8634-8182-4By: Watanabe, T.; Kokubun, Y.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-8939-8
By: Tibuleac, S.; Detwiler, T.; Filer, M.; Stark, A.; Yu-Ting Hsueh; Ralph, S.E.; Gee-Kung Chang;
By: Tibuleac, S.; Detwiler, T.; Filer, M.; Stark, A.; Yu-Ting Hsueh; Ralph, S.E.; Gee-Kung Chang;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1997-4
By: Zhou, Y.J.; Li, Z.Q.; Fu, Y.; Gao, S.; Li, Z.M.S.; Uehara, K.; Xiao, Y.G.; Lestrade, M.;
By: Zhou, Y.J.; Li, Z.Q.; Fu, Y.; Gao, S.; Li, Z.M.S.; Uehara, K.; Xiao, Y.G.; Lestrade, M.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-8939-8
By: Xu, Q.; Ghazisaeidi, A.; Ben M'Sallem, Y.; Leon-Garcia, A.; LaRochelle, S.; Rusch, L.A.; Rastegarfar, H.;
By: Xu, Q.; Ghazisaeidi, A.; Ben M'Sallem, Y.; Leon-Garcia, A.; LaRochelle, S.; Rusch, L.A.; Rastegarfar, H.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-8939-8
By: Offenbeck, B.; Zerna, C.; Gaudino, R.; Abrate, S.; Nocivelli, A.; Lambkin, J.; Vinogradov, J.;
By: Offenbeck, B.; Zerna, C.; Gaudino, R.; Abrate, S.; Nocivelli, A.; Lambkin, J.; Vinogradov, J.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-8939-8
By: Hernandez-Figueroa, H.E.; Rubio-Mercedes, C.E.; Rodriguez-Esquerre, V.F.; Lima, I.T.;
By: Hernandez-Figueroa, H.E.; Rubio-Mercedes, C.E.; Rodriguez-Esquerre, V.F.; Lima, I.T.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-8939-8
By: Dorren, H.J.S.; Calabretta, N.; Stabile, R.; Williams, K.A.; Smit, M.K.;
By: Dorren, H.J.S.; Calabretta, N.; Stabile, R.; Williams, K.A.; Smit, M.K.;
2011 / IEEE / 978-0-7695-4551-6
By: Channoufi, M.; Garcia, S.; Delacressonniere, B.; Attia, R.; Lecoy, P.;
By: Channoufi, M.; Garcia, S.; Delacressonniere, B.; Attia, R.; Lecoy, P.;
2011 / IEEE / 978-1-4673-0209-8
By: Jun-Young Kim; Bongsoo Kim; Changhee Lee; Hee-Yeal Rhy; Abbas, S.A.;
By: Jun-Young Kim; Bongsoo Kim; Changhee Lee; Hee-Yeal Rhy; Abbas, S.A.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-9289-3
By: Baptista, J.M.; Frazao, O.; Lopez-Amo, M.; Bravo, M.; Santos, J.L.;
By: Baptista, J.M.; Frazao, O.; Lopez-Amo, M.; Bravo, M.; Santos, J.L.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-9268-8
By: Bianco, A.; Cuda, D.; Garrich, M.; Martina, V.; Neri, F.; Castillo, G.G.;
By: Bianco, A.; Cuda, D.; Garrich, M.; Martina, V.; Neri, F.; Castillo, G.G.;