Your Search Results
Use materials about this topic in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content - such as case studies and journal articles - for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Topic: Optical Coupling
Results
2012 / IEEE
By: Robertson, F.; Derderian, G.; Breen, M.; Nickerson, P.; Bhandari, H.B.; Kudrolli, H.; Prekas, G.; Sabet, H.; Nagarkar, V.V.; Cool, S.;
By: Robertson, F.; Derderian, G.; Breen, M.; Nickerson, P.; Bhandari, H.B.; Kudrolli, H.; Prekas, G.; Sabet, H.; Nagarkar, V.V.; Cool, S.;
2012 / IEEE
By: Viktorovitch, P.; Fedeli, J.M.; Letartre, X.; Orobtchouk, R.; Mandorlo, F.; Ferrier, L.; Olivier, N.; Romeo, P.R.;
By: Viktorovitch, P.; Fedeli, J.M.; Letartre, X.; Orobtchouk, R.; Mandorlo, F.; Ferrier, L.; Olivier, N.; Romeo, P.R.;
2012 / IEEE
By: Doany, F.E.; Kash, J.A.; Lee, B.G.; Budd, R.A.; Baks, C.W.; Tsang, C.K.; Knickerbocker, J.U.; Dangel, R.; Chan, B.; How Lin; Carver, C.; Jianzhuang Huang; Berry, J.; Bajkowski, D.; Libsch, F.; Schow, C.L.;
By: Doany, F.E.; Kash, J.A.; Lee, B.G.; Budd, R.A.; Baks, C.W.; Tsang, C.K.; Knickerbocker, J.U.; Dangel, R.; Chan, B.; How Lin; Carver, C.; Jianzhuang Huang; Berry, J.; Bajkowski, D.; Libsch, F.; Schow, C.L.;
2012 / IEEE
By: Stark, A.J.; Dabkowski, M.; Kirk, J.B.; Kim, J.; Kim, T.W.; Sultana, N.; Evans, G.A.; LaFave, T.P.; Liu, K.; Christensen, M.P.; MacFarlane, D.L.; Huntoon, N.; Ramakrishna, V.; Hunt, L.R.;
By: Stark, A.J.; Dabkowski, M.; Kirk, J.B.; Kim, J.; Kim, T.W.; Sultana, N.; Evans, G.A.; LaFave, T.P.; Liu, K.; Christensen, M.P.; MacFarlane, D.L.; Huntoon, N.; Ramakrishna, V.; Hunt, L.R.;
2012 / IEEE
By: Jae Hong Chang; Jeong Hwan Song; Guo Qiang Lo; Chao Li; Mi Kyoung Park; Huijuan Zhang; Jing Zhang;
By: Jae Hong Chang; Jeong Hwan Song; Guo Qiang Lo; Chao Li; Mi Kyoung Park; Huijuan Zhang; Jing Zhang;
2012 / IEEE
By: Myoung Jin Kim; Sung Hwan Hwang; Woo-Jin Lee; Byung Sup Rho; Eun Joo Jung; Myung Yung Jeong; Gye Won Kim; Jong Bea An;
By: Myoung Jin Kim; Sung Hwan Hwang; Woo-Jin Lee; Byung Sup Rho; Eun Joo Jung; Myung Yung Jeong; Gye Won Kim; Jong Bea An;
2012 / IEEE
By: Klaus, W.; Watanabe, M.; Kobayashi, T.; Wada, N.; Awaji, Y.; Puttnam, B.J.; Sakaguchi, J.;
By: Klaus, W.; Watanabe, M.; Kobayashi, T.; Wada, N.; Awaji, Y.; Puttnam, B.J.; Sakaguchi, J.;
1974 / IEEE
By: Yamauchi, Y.; Mito, S.; Inoguchi, T.; Nakata, Y.; Kishishita, H.; Kawaguchi, J.; Yoshida, M.; Kakihara, Y.; Takeda, M.;
By: Yamauchi, Y.; Mito, S.; Inoguchi, T.; Nakata, Y.; Kishishita, H.; Kawaguchi, J.; Yoshida, M.; Kakihara, Y.; Takeda, M.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-5731-1
By: Rivoire, K.; Papageorge, A.; Bajcsy, M.; Kim, E.; Buckley, S.; Vuckovic, J.; Englund, D.; Majumdar, A.; Faraon, A.;
By: Rivoire, K.; Papageorge, A.; Bajcsy, M.; Kim, E.; Buckley, S.; Vuckovic, J.; Englund, D.; Majumdar, A.; Faraon, A.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-878-5
By: Rochard, P.; Combrie, S.; Nguyen, T.N.; Lengle, K.; Akrout, A.; De Rossi, A.; Bramerie, L.; Trillo, S.; Bellanca, G.; Armaroli, A.; Malaguti, S.; Thual, M.; Gay, M.;
By: Rochard, P.; Combrie, S.; Nguyen, T.N.; Lengle, K.; Akrout, A.; De Rossi, A.; Bramerie, L.; Trillo, S.; Bellanca, G.; Armaroli, A.; Malaguti, S.; Thual, M.; Gay, M.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0336-2
By: Deleglise, S.; Kippenberg, T.J.; Schliesser, A.; Riviere, R.; Gavartin, E.; Verhagen, E.; Weis, S.;
By: Deleglise, S.; Kippenberg, T.J.; Schliesser, A.; Riviere, R.; Gavartin, E.; Verhagen, E.; Weis, S.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-6051-9
By: Smith, H.I.; Barwicz, T.; Holzwarth, C.W.; Khilo, A.; Kartner, F.X.; Popovic, M.A.; Dahlem, M.S.; Ippen, E.P.;
By: Smith, H.I.; Barwicz, T.; Holzwarth, C.W.; Khilo, A.; Kartner, F.X.; Popovic, M.A.; Dahlem, M.S.; Ippen, E.P.;
2011 / IEEE / 978-1-55752-932-9
By: Essiambre, R.-J.; Sureka, A.; Sierra, A.; Ryf, R.; Sasaki, T.; Taru, T.; Hayashi, T.; Gnauck, A.H.; Pupalaikis, P.; Delbue, R.; Winzer, P.J.; Mumtaz, S.; Esmaeelpour, M.; Randel, S.;
By: Essiambre, R.-J.; Sureka, A.; Sierra, A.; Ryf, R.; Sasaki, T.; Taru, T.; Hayashi, T.; Gnauck, A.H.; Pupalaikis, P.; Delbue, R.; Winzer, P.J.; Mumtaz, S.; Esmaeelpour, M.; Randel, S.;
2011 / IEEE / 978-1-55752-932-9
By: Tillack, B.; Tian, H.; Winzer, G.; Zimmermann, L.; Voigt, K.; Petermann, K.;
By: Tillack, B.; Tian, H.; Winzer, G.; Zimmermann, L.; Voigt, K.; Petermann, K.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-8340-2
By: Ishizaka, M.; Okano, M.; Hatori, N.; Shimizu, T.; Urino, Y.; Nakamura, T.; Arakawa, Y.; Mori, M.; Yamamoto, T.;
By: Ishizaka, M.; Okano, M.; Hatori, N.; Shimizu, T.; Urino, Y.; Nakamura, T.; Arakawa, Y.; Mori, M.; Yamamoto, T.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-8340-2
By: Quan, Q.; Bulu, I.; Frank, I.; Deotare, P.B.; Loncar, M.; Ilic, R.;
By: Quan, Q.; Bulu, I.; Frank, I.; Deotare, P.B.; Loncar, M.; Ilic, R.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-8340-2
By: Thacker, H.; Shubin, I.; Guoliang Li; Xuezhe Zheng; Ying Luo; Krishnamoorthy, A.V.; Jin Yao; Cunningham, J.E.; Raj, K.;
By: Thacker, H.; Shubin, I.; Guoliang Li; Xuezhe Zheng; Ying Luo; Krishnamoorthy, A.V.; Jin Yao; Cunningham, J.E.; Raj, K.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1589-1
By: Eui-sung Yoon; HyungDal Park; Il-Joo Cho; Hyun-Joon Shin; Suh, J.-K.F.; Jinseok Kim; Yong-Jun Kim; Euisik Yoon; Maesoon Im;
By: Eui-sung Yoon; HyungDal Park; Il-Joo Cho; Hyun-Joon Shin; Suh, J.-K.F.; Jinseok Kim; Yong-Jun Kim; Euisik Yoon; Maesoon Im;
2011 / IEEE / 978-1-61284-718-4
By: Akaishi, A.; Ando, T.; Haraguchi, E.; Sumiyoshi, H.; Takahashi, T.; Matsuzawa, H.; Akiyama, T.; Suzuki, R.; Fujino, Y.;
By: Akaishi, A.; Ando, T.; Haraguchi, E.; Sumiyoshi, H.; Takahashi, T.; Matsuzawa, H.; Akiyama, T.; Suzuki, R.; Fujino, Y.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-8939-8
By: Sang-Shin Lee; Sang-Mo Cha; Jun-Young Park; Hak-Soon Lee; Yung Sung Son; Gyo-Sun Hwang;
By: Sang-Shin Lee; Sang-Mo Cha; Jun-Young Park; Hak-Soon Lee; Yung Sung Son; Gyo-Sun Hwang;
2011 / IEEE / 978-1-4244-8939-8
By: Zhang, M.; Lipson, M.; McEuen, P.; Barnard, A.W.; Manipatruni, S.; Wiederhecker, G.S.;
By: Zhang, M.; Lipson, M.; McEuen, P.; Barnard, A.W.; Manipatruni, S.; Wiederhecker, G.S.;
2011 / IEEE / 978-4-8634-8182-4
By: Jizodo, M.; Hamamoto, K.; Matsuo, S.; Chaen, Y.; Hagio, T.; Tsuruda, K.; Haisong Jiang;
By: Jizodo, M.; Hamamoto, K.; Matsuo, S.; Chaen, Y.; Hagio, T.; Tsuruda, K.; Haisong Jiang;
2011 / IEEE / 978-2-87487-022-4
By: Boscolo, S.; De Angelis, C.; Modotto, D.; Locatelli, A.; Capobianco, A.-D.; Midrio, M.;
By: Boscolo, S.; De Angelis, C.; Modotto, D.; Locatelli, A.; Capobianco, A.-D.; Midrio, M.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-264-6
By: Hashim, A.; White, I.H.; Penty, R.V.; Hao, Y.; Beals, J.; Bamiedakis, N.;
By: Hashim, A.; White, I.H.; Penty, R.V.; Hao, Y.; Beals, J.; Bamiedakis, N.;
2011 / IEEE / 978-4-8634-8182-4
By: Chujo, N.; Mita, R.; Adachi, K.; Matsuoka, Y.; Kogo, K.; Lee, Y.; Takai, T.; Kawamura, D.; Tsuji, S.; Sugawara, T.; Yamashita, H.; Yuki, F.; Takemoto, T.; Kaneko, S.; Hamamura, S.;
By: Chujo, N.; Mita, R.; Adachi, K.; Matsuoka, Y.; Kogo, K.; Lee, Y.; Takai, T.; Kawamura, D.; Tsuji, S.; Sugawara, T.; Yamashita, H.; Yuki, F.; Takemoto, T.; Kaneko, S.; Hamamura, S.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1250-0
By: Seung-Youl Kang; Yong-Hae Kim; Taehyoung Zyung; Myung-Lae Lee; Sanghoon Cheon;
By: Seung-Youl Kang; Yong-Hae Kim; Taehyoung Zyung; Myung-Lae Lee; Sanghoon Cheon;
2011 / IEEE / 978-1-4673-0120-6
By: Leonora, E.; Russo, G.V.; Lo Presti, D.; Longhitano, F.; Sipala, V.; Randazzo, N.; Aiello, S.;
By: Leonora, E.; Russo, G.V.; Lo Presti, D.; Longhitano, F.; Sipala, V.; Randazzo, N.; Aiello, S.;
2011 / IEEE / 978-1-4673-0120-6
By: Sugiyama, M.; Yanagida, T.; Totsuka, D.; Yoshikawa, A.; Yokota, Y.; Fujimoto, Y.;
By: Sugiyama, M.; Yanagida, T.; Totsuka, D.; Yoshikawa, A.; Yokota, Y.; Fujimoto, Y.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-813-6
By: Fraile-Pelaez, F.J.; Chamorro-Posada, P.; Gago-Munoz, E.; Diaz-Otero, F.J.;
By: Fraile-Pelaez, F.J.; Chamorro-Posada, P.; Gago-Munoz, E.; Diaz-Otero, F.J.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-813-6
By: Marmalyuk, A.A.; Lobintsov, A.A.; Lapin, P.I.; Ladugin, M.A.; Kostin, Yu.O.; Ilcheiiko, S.N.; Yakubovich, S.D.;
By: Marmalyuk, A.A.; Lobintsov, A.A.; Lapin, P.I.; Ladugin, M.A.; Kostin, Yu.O.; Ilcheiiko, S.N.; Yakubovich, S.D.;
2011 / IEEE / 978-0-8194-8961-6
By: Guo, Bingli; Ju, Weiguo; Li, Xin; Huang, Shanguo; Wang, Dajiang; Gu, Wanyi; Zhang, Jie; He, Yongqi;
By: Guo, Bingli; Ju, Weiguo; Li, Xin; Huang, Shanguo; Wang, Dajiang; Gu, Wanyi; Zhang, Jie; He, Yongqi;
2012 / IEEE / 978-1-4673-0325-5
By: Cai, H.; Kwong, D.L.; Lo, G.Q.; Tsai, J.M.; Ding, L.; Tao, J.F.; Xu, K.J.;
By: Cai, H.; Kwong, D.L.; Lo, G.Q.; Tsai, J.M.; Ding, L.; Tao, J.F.; Xu, K.J.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-9965-6
By: Hao-Chung Kuo; Peichen Yu; Chien-Chung Lin; Hsun-Wen Wang; Hsin-Chu Chen; Hao-Wei Han; Yu-Lin Tsai; Ping-Chen Tseng; Min-An Tsai; Liang-Hao Jin;
By: Hao-Chung Kuo; Peichen Yu; Chien-Chung Lin; Hsun-Wen Wang; Hsin-Chu Chen; Hao-Wei Han; Yu-Lin Tsai; Ping-Chen Tseng; Min-An Tsai; Liang-Hao Jin;
2011 / IEEE / 978-0-8194-8961-6
By: Wu, Rui; Wang, Tingyun; Pang, Fufei; Chen, Na; Zou, Jian; Liu, Yunqi;
By: Wu, Rui; Wang, Tingyun; Pang, Fufei; Chen, Na; Zou, Jian; Liu, Yunqi;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0631-8
By: Welleman, A.; Bill, P.; Leutwyler, R.; Gekenidis, S.; Ramezani, E.;
By: Welleman, A.; Bill, P.; Leutwyler, R.; Gekenidis, S.; Ramezani, E.;
2011 / IEEE / 978-0-9775657-8-8
By: Su, C.; Ouach, J.; Hollenberg, L.C.L.; Greentree, A.D.; Martin, A.M.;
By: Su, C.; Ouach, J.; Hollenberg, L.C.L.; Greentree, A.D.; Martin, A.M.;
2012 / IEEE / 978-1-4577-1619-5
By: De Dobbelaere, P.; Narasimha, A.; Liang, Y.; Pinguet, T.; Yu, S.; Sahni, S.; Jackson, S.; Hovey, S.; Gloeckner, S.; Abdalla, S.; LeBlanc, R.; Sharp, M.; Mack, M.; Peterson, M.; Harrison, M.; Yokoyama, K.; Redman, J.; White, J.; Schramm, J.; Masini, G.; Guckenberger, D.; Foltz, D.; Mekis, A.; Welch, B.; Bradbury, C.; Sohn, C.; Song, D.;
By: De Dobbelaere, P.; Narasimha, A.; Liang, Y.; Pinguet, T.; Yu, S.; Sahni, S.; Jackson, S.; Hovey, S.; Gloeckner, S.; Abdalla, S.; LeBlanc, R.; Sharp, M.; Mack, M.; Peterson, M.; Harrison, M.; Yokoyama, K.; Redman, J.; White, J.; Schramm, J.; Masini, G.; Guckenberger, D.; Foltz, D.; Mekis, A.; Welch, B.; Bradbury, C.; Sohn, C.; Song, D.;