Your Search Results
Use materials about this topic in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content - such as case studies and journal articles - for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Topic: Neutrons
Results
2011 / IEEE
By: Faust, M.; Hamel, S.; Hatarik, R.; Carman, L.; Schabes, B.; Zaitseva, N.; Payne, S.; Glenn, A.; Cherepy, N.;
By: Faust, M.; Hamel, S.; Hatarik, R.; Carman, L.; Schabes, B.; Zaitseva, N.; Payne, S.; Glenn, A.; Cherepy, N.;
2011 / IEEE
By: Detraz, S.; Troska, J.; Vasey, F.; Soos, C.; Sigaud, C.; Stejskal, P.; El Nasr-Storey, S.S.;
By: Detraz, S.; Troska, J.; Vasey, F.; Soos, C.; Sigaud, C.; Stejskal, P.; El Nasr-Storey, S.S.;
2011 / IEEE
By: Bezerra, F.; Pancher, F.; Mansour, W.; Peronnard, P.; Guerard, B.; Artola, L.; Duzellier, S.; Hubert, G.; Velazco, R.; Nuns, T.;
By: Bezerra, F.; Pancher, F.; Mansour, W.; Peronnard, P.; Guerard, B.; Artola, L.; Duzellier, S.; Hubert, G.; Velazco, R.; Nuns, T.;
2011 / IEEE
By: Gouker, P.M.; Schrimpf, R.; Tyrrell, B.; D'Onofrio, R.; Wyatt, P.; Soares, T.; Weilin Hu; Chenson Chen; Schwank, J.R.; Shaneyfelt, M.R.; Blackmore, E.W.; Delikat, K.; Nelson, M.; McMarr, P.; Hughes, H.; Ahlbin, J.R.; Weeden-Wright, S.;
By: Gouker, P.M.; Schrimpf, R.; Tyrrell, B.; D'Onofrio, R.; Wyatt, P.; Soares, T.; Weilin Hu; Chenson Chen; Schwank, J.R.; Shaneyfelt, M.R.; Blackmore, E.W.; Delikat, K.; Nelson, M.; McMarr, P.; Hughes, H.; Ahlbin, J.R.; Weeden-Wright, S.;
2011 / IEEE
By: Clemens, M.A.; Baumann, R.C.; Wender, S.A.; Schwank, J.R.; Shaneyfelt, M.R.; Dodd, P.E.; Reed, R.A.; Weller, R.A.; Dodds, N.A.; Mendenhall, M.H.; Warren, K.M.; Sierawski, B.D.;
By: Clemens, M.A.; Baumann, R.C.; Wender, S.A.; Schwank, J.R.; Shaneyfelt, M.R.; Dodd, P.E.; Reed, R.A.; Weller, R.A.; Dodds, N.A.; Mendenhall, M.H.; Warren, K.M.; Sierawski, B.D.;
2011 / IEEE
By: Rolland, G.; Petit, S.; Girard, S.; Saint-Pe, O.; Bardoux, A.; Goiffon, V.; Virmontois, C.; Magnan, P.;
By: Rolland, G.; Petit, S.; Girard, S.; Saint-Pe, O.; Bardoux, A.; Goiffon, V.; Virmontois, C.; Magnan, P.;
2011 / IEEE
By: Loveless, T.D.; Jagannathan, S.; Massengill, L.W.; Rennie, D.; Sachdev, M.; Wong, R.; Wen, S.; Bhuva, B.L.;
By: Loveless, T.D.; Jagannathan, S.; Massengill, L.W.; Rennie, D.; Sachdev, M.; Wong, R.; Wen, S.; Bhuva, B.L.;
2012 / IEEE
By: Rezac, K.; Paduch, M.; Klir, D.; Kubes, P.; Zielinska, E.; Tomaszewski, K.; Sadowski, M.J.; Karpinski, L.; Kravarik, J.; Ivanova-Stanik, I.; Bienkowska, B.; Chodukowski, T.; Scholz, M.; Pisarczyk, T.;
By: Rezac, K.; Paduch, M.; Klir, D.; Kubes, P.; Zielinska, E.; Tomaszewski, K.; Sadowski, M.J.; Karpinski, L.; Kravarik, J.; Ivanova-Stanik, I.; Bienkowska, B.; Chodukowski, T.; Scholz, M.; Pisarczyk, T.;
2012 / IEEE
By: Dilillo, L.; Rech, P.; Linten, D.; Simoen, E.; Wrobel, F.; van Duivenbode, J.; Griffoni, A.; Groeseneken, G.; Verbist, P.;
By: Dilillo, L.; Rech, P.; Linten, D.; Simoen, E.; Wrobel, F.; van Duivenbode, J.; Griffoni, A.; Groeseneken, G.; Verbist, P.;
2012 / IEEE
By: Thornton, A.; Spiezia, G.; Pignard, C.; Peronnard, P.; Kramer, D.; Brugger, M.; Roeed, K.;
By: Thornton, A.; Spiezia, G.; Pignard, C.; Peronnard, P.; Kramer, D.; Brugger, M.; Roeed, K.;
2012 / IEEE
By: Fukuda, K.; Totsuka, D.; Yanagida, T.; Kurosawa, S.; Kawaguchi, N.; Watanabe, K.; Kamada, K.; Fujimoto, Y.; Yoshikawa, A.; Yokota, Y.; Yamazaki, A.;
By: Fukuda, K.; Totsuka, D.; Yanagida, T.; Kurosawa, S.; Kawaguchi, N.; Watanabe, K.; Kamada, K.; Fujimoto, Y.; Yoshikawa, A.; Yokota, Y.; Yamazaki, A.;
2012 / IEEE
By: Conroy, S.; Belli, F.; Zimbal, A.; Tittelmeier, K.; Syme, B.; Schuhmacher, H.; Riva, M.; Marocco, D.; Lucke, A.; Kiptily, V.; Giacomelli, L.; Esposito, B.;
By: Conroy, S.; Belli, F.; Zimbal, A.; Tittelmeier, K.; Syme, B.; Schuhmacher, H.; Riva, M.; Marocco, D.; Lucke, A.; Kiptily, V.; Giacomelli, L.; Esposito, B.;
2012 / IEEE
By: Villone, J.; Feng, P.L.; Doty, F.P.; Allendorf, M.D.; Wong, B.M.; Mrowka, S.; Hattar, K.;
By: Villone, J.; Feng, P.L.; Doty, F.P.; Allendorf, M.D.; Wong, B.M.; Mrowka, S.; Hattar, K.;
2012 / IEEE
By: Saint-Pe, O.; Girard, S.; Goiffon, V.; Magnan, P.; Petit, S.; Virmontois, C.; Bardoux, A.; Rolland, G.;
By: Saint-Pe, O.; Girard, S.; Goiffon, V.; Magnan, P.; Petit, S.; Virmontois, C.; Bardoux, A.; Rolland, G.;
2012 / IEEE
By: Berthet, F.; Guhel, Y.; Boudart, B.; Gualous, H.; Trolet, J.L.; Piccione, M.; Gaquiere, C.;
By: Berthet, F.; Guhel, Y.; Boudart, B.; Gualous, H.; Trolet, J.L.; Piccione, M.; Gaquiere, C.;
2012 / IEEE
By: Chandrasekharan, K.; Narasimham, B.; Bhuva, B.L.; Kauppila, J.S.; Gaspard, N.J.; Djaja, G.; Wang, J.K.; Liu, Z.;
By: Chandrasekharan, K.; Narasimham, B.; Bhuva, B.L.; Kauppila, J.S.; Gaspard, N.J.; Djaja, G.; Wang, J.K.; Liu, Z.;
2012 / IEEE
By: Verma, R.; Rawat, R.S.; Lee, P.; Tan, A.T.L.; Shyam, A.; Goh Jia Ying; Springham, S.V.; Talebitaher, A.; Ilyas, U.; Shariff, H.;
By: Verma, R.; Rawat, R.S.; Lee, P.; Tan, A.T.L.; Shyam, A.; Goh Jia Ying; Springham, S.V.; Talebitaher, A.; Ilyas, U.; Shariff, H.;
2012 / IEEE
By: Peyssonneaux, O.; Bazzoli, S.; Sauvestre, J.-E.; Gazave, J.; Leray, J.-L.; Lubrano-Lavaderci, F.; Bourgade, J.-L.;
By: Peyssonneaux, O.; Bazzoli, S.; Sauvestre, J.-E.; Gazave, J.; Leray, J.-L.; Lubrano-Lavaderci, F.; Bourgade, J.-L.;
2012 / IEEE
By: Perot, B.; Woo, R.; Eleon, C.; Carasco, C.; Bourbotte, J.-M.; Boudergui, K.; Sannie, G.; Normand, S.; Corre, G.; Kondrasovs, V.;
By: Perot, B.; Woo, R.; Eleon, C.; Carasco, C.; Bourbotte, J.-M.; Boudergui, K.; Sannie, G.; Normand, S.; Corre, G.; Kondrasovs, V.;
2012 / IEEE
By: Pin, P.; Kondrasovs, V.; Normand, S.; Tondut, L.; Corre, G.; Woo, R.; Bourbotte, J.-M.; Blanc de Lanaute, N.; Boudergui, K.;
By: Pin, P.; Kondrasovs, V.; Normand, S.; Tondut, L.; Corre, G.; Woo, R.; Bourbotte, J.-M.; Blanc de Lanaute, N.; Boudergui, K.;
2012 / IEEE
By: Autran, J.L.; Serre, S.; Semikh, S.; Rozov, S.; Yakushev, E.; Sauze, S.; Munteanu, D.;
By: Autran, J.L.; Serre, S.; Semikh, S.; Rozov, S.; Yakushev, E.; Sauze, S.; Munteanu, D.;
2012 / IEEE
By: Traversi, G.; Cindro, V.; Ratti, L.; Zucca, S.; Bettarini, S.; Rashevskaya, I.; Bosisio, L.; Rizzo, G.; Morsani, F.;
By: Traversi, G.; Cindro, V.; Ratti, L.; Zucca, S.; Bettarini, S.; Rashevskaya, I.; Bosisio, L.; Rizzo, G.; Morsani, F.;
2012 / IEEE
By: Kay, M.J.; Gadlage, M.J.; Howard, A.; Cruz-Rodriguez, D.; Ingalls, J.D.; Savage, M.W.; Duncan, A.R.;
By: Kay, M.J.; Gadlage, M.J.; Howard, A.; Cruz-Rodriguez, D.; Ingalls, J.D.; Savage, M.W.; Duncan, A.R.;
2012 / IEEE
By: Feller, W.B.; Rhodes, N.J.; Schooneveld, E.M.; Kockelmann, W.; Tremsin, A.S.; Siegmund, O.H.W.; Vallerga, J.V.; McPhate, J.B.;
By: Feller, W.B.; Rhodes, N.J.; Schooneveld, E.M.; Kockelmann, W.; Tremsin, A.S.; Siegmund, O.H.W.; Vallerga, J.V.; McPhate, J.B.;
2012 / IEEE
By: Girard, P.; Dilillo, L.; Galliere, J.-M.; Rech, P.; Griffoni, A.; Saigne, F.; Wrobel, F.; Boch, J.;
By: Girard, P.; Dilillo, L.; Galliere, J.-M.; Rech, P.; Griffoni, A.; Saigne, F.; Wrobel, F.; Boch, J.;
2012 / IEEE
By: Ban, G.; Billebaud, A.; Uyttenhove, W.; Wagemans, J.; Vittiglio, G.; Thyebault, H.-E.; Steckmeyer, J.-C.; Mellier, F.; Marie, N.; Baeten, P.; Lecouey, J.; Lecolley, F.-R.; Kochetkov, A.; Kerveno, M.; Dessagne, P.; Chabod, S.;
By: Ban, G.; Billebaud, A.; Uyttenhove, W.; Wagemans, J.; Vittiglio, G.; Thyebault, H.-E.; Steckmeyer, J.-C.; Mellier, F.; Marie, N.; Baeten, P.; Lecouey, J.; Lecolley, F.-R.; Kochetkov, A.; Kerveno, M.; Dessagne, P.; Chabod, S.;
2012 / IEEE
By: Sano, N.; Abe, S.; Shibano, N.; Watanabe, Y.; Furuta, H.; Arakawa, T.; Uemura, T.; Tsutsui, M.;
By: Sano, N.; Abe, S.; Shibano, N.; Watanabe, Y.; Furuta, H.; Arakawa, T.; Uemura, T.; Tsutsui, M.;
2012 / IEEE
By: Shiba, K.; Iide, Y.; Nashiyama, I.; Sugimoto, K.; Asai, H.; Miyazaki, Y.; Matsuda, M.;
By: Shiba, K.; Iide, Y.; Nashiyama, I.; Sugimoto, K.; Asai, H.; Miyazaki, Y.; Matsuda, M.;
2012 / IEEE
By: Bagatin, M.; Coniglio, A.; D'Arienzo, M.; De Lorenzi, A.; Gerardin, S.; Pasqualotto, R.; Peruzzo, S.; Sandri, S.; Paccagnella, A.;
By: Bagatin, M.; Coniglio, A.; D'Arienzo, M.; De Lorenzi, A.; Gerardin, S.; Pasqualotto, R.; Peruzzo, S.; Sandri, S.; Paccagnella, A.;
2012 / IEEE
By: Semikh, S.; Serre, S.; Roche, P.; Gasiot, G.; Munteanu, D.; Autran, J. L.; Uznanski, S.;
By: Semikh, S.; Serre, S.; Roche, P.; Gasiot, G.; Munteanu, D.; Autran, J. L.; Uznanski, S.;
2012 / IEEE
By: Zielinska, E.; Kubes, P.; Sadowski, M.J.; Karpinski, L.; Ivanova-Stanik, I.; Bienkowska, B.; Kortanek, J.; Hitschfel, J.; Tomaszewski, K.; Kravarik, J.; Rezac, K.; Kalinowska, Z.; Chodukowski, T.; Scholz, M.; Pisarczyk, T.; Paduch, M.; Klir, D.;
By: Zielinska, E.; Kubes, P.; Sadowski, M.J.; Karpinski, L.; Ivanova-Stanik, I.; Bienkowska, B.; Kortanek, J.; Hitschfel, J.; Tomaszewski, K.; Kravarik, J.; Rezac, K.; Kalinowska, Z.; Chodukowski, T.; Scholz, M.; Pisarczyk, T.; Paduch, M.; Klir, D.;
2012 / IEEE
By: Sarukura, N.; Nakai, M.; Nakazato, T.; Sakai, K.; Kouno, M.; Shimizu, T.; Nagai, T.; Cadatal-Raduban, M.; Yamanoi, K.; Watanabe, K.; Arikawa, Y.; Murata, T.; Kan, H.; Sato, N.; Izumi, N.; Yoshida, H.; Fujino, S.; Yoshikawa, A.; Azechi, H.; Nishimura, H.; Norimatsu, T.;
By: Sarukura, N.; Nakai, M.; Nakazato, T.; Sakai, K.; Kouno, M.; Shimizu, T.; Nagai, T.; Cadatal-Raduban, M.; Yamanoi, K.; Watanabe, K.; Arikawa, Y.; Murata, T.; Kan, H.; Sato, N.; Izumi, N.; Yoshida, H.; Fujino, S.; Yoshikawa, A.; Azechi, H.; Nishimura, H.; Norimatsu, T.;
2012 / IEEE
By: Yashima, H.; Nakamura, T.; Satoh, D.; Hagiwara, M.; Iwase, H.; Iwamoto, Y.; Nishiyama, J.; Harano, H.; Matsumoto, T.; Masuda, A.; Hatanaka, K.; Tamii, A.; Mares, V.; Pioch, C.; Jaegerhofer, L.; Feldbaumer, E.; Theis, C.; Sakamoto, Y.; Nakashima, H.; Nakane, Y.; Itoga, T.; Sato, T.;
By: Yashima, H.; Nakamura, T.; Satoh, D.; Hagiwara, M.; Iwase, H.; Iwamoto, Y.; Nishiyama, J.; Harano, H.; Matsumoto, T.; Masuda, A.; Hatanaka, K.; Tamii, A.; Mares, V.; Pioch, C.; Jaegerhofer, L.; Feldbaumer, E.; Theis, C.; Sakamoto, Y.; Nakashima, H.; Nakane, Y.; Itoga, T.; Sato, T.;
2012 / IEEE
By: Hansch, T.W.; Ekstrom, C.; Prokofiev, A.; Habs, D.; Assmann, W.; Thirolf, P.; Holzwarth, R.; Greiter, M.; Turler, A.; Stower, W.; Predehl, K.; Lezius, M.; Hoeschen, C.;
By: Hansch, T.W.; Ekstrom, C.; Prokofiev, A.; Habs, D.; Assmann, W.; Thirolf, P.; Holzwarth, R.; Greiter, M.; Turler, A.; Stower, W.; Predehl, K.; Lezius, M.; Hoeschen, C.;
Phenomenological Model for Predicting the Energy Resolution of Neutron-Damaged Coaxial HPGe Detectors
2012 / IEEEBy: Wharton, C.J.; Seabury, E.H.; Van Siclen, C.D.; Caffrey, A.J.;
2012 / IEEE
By: Yamada, M.; Iwashita, Y.; Shimizu, H.M.; Masuzawa, M.; Tongu, H.; Nasu, Y.; Fuwa, Y.; Ushijima, S.;
By: Yamada, M.; Iwashita, Y.; Shimizu, H.M.; Masuzawa, M.; Tongu, H.; Nasu, Y.; Fuwa, Y.; Ushijima, S.;
2012 / IEEE
By: Blanchard, S.P.; Manuzzato, A.; Modl, D.G.; DuBois, D.H.; Michalak, S.E.; Quinn, H.M.; Storlie, C.B.; DuBois, A.J.; Rust, W.N.;
By: Blanchard, S.P.; Manuzzato, A.; Modl, D.G.; DuBois, D.H.; Michalak, S.E.; Quinn, H.M.; Storlie, C.B.; DuBois, A.J.; Rust, W.N.;
2012 / IEEE
By: Visconti, A.; Paccagnella, A.; Ferrario, A.; Bagatin, M.; Beltrami, S.; Frost, C.D.; Gerardin, S.; Gorini, G.; Andreani, C.;
By: Visconti, A.; Paccagnella, A.; Ferrario, A.; Bagatin, M.; Beltrami, S.; Frost, C.D.; Gerardin, S.; Gorini, G.; Andreani, C.;
2012 / IEEE
By: della Corte, A.; Roccella, S.; Polli, G.M.; Villari, R.; Cucchiaro, A.; Crisanti, F.; Di Zenobio, A.;
By: della Corte, A.; Roccella, S.; Polli, G.M.; Villari, R.; Cucchiaro, A.; Crisanti, F.; Di Zenobio, A.;
2012 / IEEE
By: Takeuchi, T.; Nishimura, A.; Shikama, T.; Ochiai, K.; Watanabe, K.; Oguro, H.; Nishijima, G.;
By: Takeuchi, T.; Nishimura, A.; Shikama, T.; Ochiai, K.; Watanabe, K.; Oguro, H.; Nishijima, G.;
2012 / IEEE
By: Raskin, J.-P.; Kirby, P.B.; Fragkiadakis, C.; Kilchytska, V.; Gkotsis, P.; Francis, L.A.;
By: Raskin, J.-P.; Kirby, P.B.; Fragkiadakis, C.; Kilchytska, V.; Gkotsis, P.; Francis, L.A.;
1992 / IEEE / 000-0-0000-0000-0
By: Sviatoslavsky, I.N.; Sawan, M.E.; Rutledge, S.; Moses, G.A.; Mogahed, E.A.; MacFarlane, J.J.; Sviatoslavsky, G.; Lovell, E.G.; Kulcinski, G.L.; Engelstad, R.L.; Bruggink, D.; Peterson, R.R.; Wittenberg, L.J.;
By: Sviatoslavsky, I.N.; Sawan, M.E.; Rutledge, S.; Moses, G.A.; Mogahed, E.A.; MacFarlane, J.J.; Sviatoslavsky, G.; Lovell, E.G.; Kulcinski, G.L.; Engelstad, R.L.; Bruggink, D.; Peterson, R.R.; Wittenberg, L.J.;
2000 / IEEE
By: Takao, K.; Masugata, K.; Takahashi, T.; Kitamura, I.; Shiotani, M.; Hirata, S.; Doi, Y.;
By: Takao, K.; Masugata, K.; Takahashi, T.; Kitamura, I.; Shiotani, M.; Hirata, S.; Doi, Y.;
2002 / IEEE / 978-0-7354-0107-5
By: Dolgachev, Georgy I.; Dan'ko, Seregej A.; Maslennikov, Dmitry D.; Kalinin, Yury G.;
By: Dolgachev, Georgy I.; Dan'ko, Seregej A.; Maslennikov, Dmitry D.; Kalinin, Yury G.;
2002 / IEEE / 978-0-7354-0107-5
By: Freeman, Bruce L.; Boydston, John C.; Ziegler, Lee; Hagen, E. Chris; Tutt, Teresa E.; Rock, James C.; Luginbill, Alvin D.; Ferguson, Jim M.; Lindeburg, Brent;
By: Freeman, Bruce L.; Boydston, John C.; Ziegler, Lee; Hagen, E. Chris; Tutt, Teresa E.; Rock, James C.; Luginbill, Alvin D.; Ferguson, Jim M.; Lindeburg, Brent;
2004 / IEEE / 978-5-87911-088-3
By: Korolev, V.D.; Ivanov, M.I.; Cai Hongchun; Chemenko, A.S.; Bakshaev, Y.L.; Blinov, P.I.; Korelsky, A.V.; Kubes, P.; Kravarik, J.; Klir, D.; Ustroev, G.I.; Shashkov, A.Y.; Kravchenko, E.V.;
By: Korolev, V.D.; Ivanov, M.I.; Cai Hongchun; Chemenko, A.S.; Bakshaev, Y.L.; Blinov, P.I.; Korelsky, A.V.; Kubes, P.; Kravarik, J.; Klir, D.; Ustroev, G.I.; Shashkov, A.Y.; Kravchenko, E.V.;
2009 / IEEE / 978-1-4577-0493-2
By: Vana, N.; Rollet, S.; Latocha, M.; Reitz, G.; Zechner, A.; Hajek, M.; Berger, T.; Beck, P.;
By: Vana, N.; Rollet, S.; Latocha, M.; Reitz, G.; Zechner, A.; Hajek, M.; Berger, T.; Beck, P.;
2009 / IEEE / 978-1-4577-0493-2
By: Clerc, S.; Torras-Flaquer, J.; Daveau, J.; Uznanski, S.; Gasiot, G.; Roche, P.; Harboe-Sorensen, R.;
By: Clerc, S.; Torras-Flaquer, J.; Daveau, J.; Uznanski, S.; Gasiot, G.; Roche, P.; Harboe-Sorensen, R.;