Your Search Results
Use materials about this topic in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content - such as case studies and journal articles - for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Topic: Millimetre Wave Tubes
Results
2012 / IEEE
By: Naumenko, V.D.; Avtomonov, N.I.; Markov, V.A.; Suvorov, A.N.; Schunemann, K.; Vavriv, D.M.;
By: Naumenko, V.D.; Avtomonov, N.I.; Markov, V.A.; Suvorov, A.N.; Schunemann, K.; Vavriv, D.M.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0509-0
By: Aiba, J.; Tatematsu, Y.; Saito, T.; Ogawa, I.; Kanemaki, T.; Kato, H.; Yamaguchi, Y.; Kawase, T.; Ikeda, R.; Yamada, N.; Ozeki, T.; Idehara, T.;
By: Aiba, J.; Tatematsu, Y.; Saito, T.; Ogawa, I.; Kanemaki, T.; Kato, H.; Yamaguchi, Y.; Kawase, T.; Ikeda, R.; Yamada, N.; Ozeki, T.; Idehara, T.;
2011 / IEEE / 978-2-87487-022-4
By: Dobbs, R.; Hyttinen, M.; Horoyski, P.; Roitman, A.; Steer, B.; Berry, D.;
By: Dobbs, R.; Hyttinen, M.; Horoyski, P.; Roitman, A.; Steer, B.; Berry, D.;
2012 / IEEE / 978-1-4673-2185-3
By: Xi-cheng Lu; Chang-jiang Tong; Shuang Li; Xue-feng Wang; Guang-qiang Wang;
By: Xi-cheng Lu; Chang-jiang Tong; Shuang Li; Xue-feng Wang; Guang-qiang Wang;
2012 / IEEE / 978-1-4673-2185-3
By: Deng, G.S.; Lv, G.Q.; Yang, J.; Ruan, J.F.; Liu, Y.; Zhang, W.B.; He, Z.C.;
By: Deng, G.S.; Lv, G.Q.; Yang, J.; Ruan, J.F.; Liu, Y.; Zhang, W.B.; He, Z.C.;
2012 / IEEE / 978-1-4673-2185-3
By: Fei Shen; Xiong Xu; Jin Xu; Yanyu Wei; Jianqiang Lai; Yang Liu; Yubin Gong; Tao Tang; Minzhi Huang;
By: Fei Shen; Xiong Xu; Jin Xu; Yanyu Wei; Jianqiang Lai; Yang Liu; Yubin Gong; Tao Tang; Minzhi Huang;
1994 / IEEE / 0-7803-2111-1
By: Harvey, W.L.; Zachar, Z.A.; Weeder, C.E.; Force, D.A.; Curren, A.N.; Long, K.J.; Palmer, R.W.; Dayton, J.A., Jr.;
By: Harvey, W.L.; Zachar, Z.A.; Weeder, C.E.; Force, D.A.; Curren, A.N.; Long, K.J.; Palmer, R.W.; Dayton, J.A., Jr.;
1994 / IEEE / 0-7803-2111-1
By: Park, S.Y.; Choi, J.J.; Park, G.S.; Parker, R.K.; Armstrong, C.M.; Kyser, R.H.; Nguyen, K.T.; Ganguly, A.K.;
By: Park, S.Y.; Choi, J.J.; Park, G.S.; Parker, R.K.; Armstrong, C.M.; Kyser, R.H.; Nguyen, K.T.; Ganguly, A.K.;
1994 / IEEE / 0-7803-2111-1
By: Maebara, S.; Takahashi, K.; Tsuneoka, M.; Sakamoto, K.; Kasugai, A.; Imai, T.; Mitsunaka, Y.; Hirata, Y.; Hayashi, K.; Okazaki, Y.; Kariya, T.;
By: Maebara, S.; Takahashi, K.; Tsuneoka, M.; Sakamoto, K.; Kasugai, A.; Imai, T.; Mitsunaka, Y.; Hirata, Y.; Hayashi, K.; Okazaki, Y.; Kariya, T.;
1995 / IEEE / 0-7803-2143-X
By: Torgashov, G.V.; Zakharchenko, Yu.F.; Il'in, E.M.; Zhbanov, A.I.; Nefedov, I.S.; Sinitsyn, N.I.; Gulyaev, Yu.V.;
By: Torgashov, G.V.; Zakharchenko, Yu.F.; Il'in, E.M.; Zhbanov, A.I.; Nefedov, I.S.; Sinitsyn, N.I.; Gulyaev, Yu.V.;
1995 / IEEE / 0-7803-2700-4
By: Taccetti, J.M.; Granatstein, V.L.; Blank, M.; Pershing, D.E.; Freund, H.P.; Jackson, R.H.;
By: Taccetti, J.M.; Granatstein, V.L.; Blank, M.; Pershing, D.E.; Freund, H.P.; Jackson, R.H.;
1995 / IEEE / 0-7803-2700-4
By: Read, M.E.; Temkin, R.J.; Kimura, T.; Hogge, J.P.; Danly, B.G.; Kreischer, K.E.;
By: Read, M.E.; Temkin, R.J.; Kimura, T.; Hogge, J.P.; Danly, B.G.; Kreischer, K.E.;
1995 / IEEE / 0-7803-2669-5
By: Kreischer, K.; Hogge, J.-P.; Dumbrajs, O.; Nusinovich, G.; Read, M.E.;
By: Kreischer, K.; Hogge, J.-P.; Dumbrajs, O.; Nusinovich, G.; Read, M.E.;
1995 / IEEE / 0-7803-2669-5
By: Scheitrum, G.P.; Good, G.R.; Bemis, T.M.; True, R.B.; Higgins, L.L.;
By: Scheitrum, G.P.; Good, G.R.; Bemis, T.M.; True, R.B.; Higgins, L.L.;
1995 / IEEE / 0-7803-2669-5
By: Wood, F.; Kyser, R.H.; Ganguly, A.K.; Nguyen, K.T.; Choi, J.J.; Park, G.S.; Parker, R.K.;
By: Wood, F.; Kyser, R.H.; Ganguly, A.K.; Nguyen, K.T.; Choi, J.J.; Park, G.S.; Parker, R.K.;
1996 / IEEE
By: Borchard, P.; Blank, M.; Felch, K.; Temkin, R.J.; Schumacher, R.; Neilson, J.M.; Tak Sum Chu; Mizuhara, Y.M.; Loring, C.M.; Lorbeck, J.A.; Jory, H.R.; Feinstein, J.;
By: Borchard, P.; Blank, M.; Felch, K.; Temkin, R.J.; Schumacher, R.; Neilson, J.M.; Tak Sum Chu; Mizuhara, Y.M.; Loring, C.M.; Lorbeck, J.A.; Jory, H.R.; Feinstein, J.;
1996 / IEEE
By: Brat, O.; Dammertz, G.; Thumm, M.; Piosczyk, B.; Mobius, A.; Kuntze, M.; Iatrou, C.T.;
By: Brat, O.; Dammertz, G.; Thumm, M.; Piosczyk, B.; Mobius, A.; Kuntze, M.; Iatrou, C.T.;
1996 / IEEE
By: Nusinovich, G.S.; Read, M.E.; Blank, M.; Kreischer, K.; Hogge, J.P.; Bird, G.; Dumbrajs, O.;
By: Nusinovich, G.S.; Read, M.E.; Blank, M.; Kreischer, K.; Hogge, J.P.; Bird, G.; Dumbrajs, O.;
1996 / IEEE
By: Vlasov, A.N.; Antonsen, T.M., Jr.; Levush, B.; Ludeking, L.; Abe, D.K.; Schlesiger, C.; Nusinovich, G.S.; Bromborsky, A.; Destler, W.W.; Granatstein, V.L.; Carmel, Y.; Miller, S.M.;
By: Vlasov, A.N.; Antonsen, T.M., Jr.; Levush, B.; Ludeking, L.; Abe, D.K.; Schlesiger, C.; Nusinovich, G.S.; Bromborsky, A.; Destler, W.W.; Granatstein, V.L.; Carmel, Y.; Miller, S.M.;
1996 / IEEE / 0-7803-3322-5
By: Taccetti, J.M.; Granatstein, V.L.; Blank, M.; Pershing, D.E.; Freund, H.P.; Jackson, R.H.;
By: Taccetti, J.M.; Granatstein, V.L.; Blank, M.; Pershing, D.E.; Freund, H.P.; Jackson, R.H.;
1996 / IEEE / 0-7803-3619-4
By: Belousov, Ye.V.; Pushkaryov, K.A.; Lisenko, A.N.; Korzh, V.G.; Vorobjov, G.S.;
By: Belousov, Ye.V.; Pushkaryov, K.A.; Lisenko, A.N.; Korzh, V.G.; Vorobjov, G.S.;
1997 / IEEE
By: Piosczyk, B.; Braz, O.; Dammertz, G.; Iatrou, C.T.; Kern, S.; Kuntze, M.; Zapevalov, V.E.; Thumm, M.; Flyagin, V.A.; Khishnyak, V.I.; Malygin, V.I.; Pavelyev, A.B.; Mobius, A.;
By: Piosczyk, B.; Braz, O.; Dammertz, G.; Iatrou, C.T.; Kern, S.; Kuntze, M.; Zapevalov, V.E.; Thumm, M.; Flyagin, V.A.; Khishnyak, V.I.; Malygin, V.I.; Pavelyev, A.B.; Mobius, A.;
Design and experimental operation of a 165-GHz, 1.5-MW, coaxial-cavity gyrotron with axial RF output
1997 / IEEEBy: Braz, O.; Iatrou, C.T.; Thumm, M.; Piosczyk, B.; Kuntze, M.; Kern, S.; Dammertz, G.;
1997 / IEEE / 0-7803-3990-8
By: Latham, P.E.; Danly, B.G.; Blank, M.; Levush, B.; Antonsen, T.M., Jr.;
By: Latham, P.E.; Danly, B.G.; Blank, M.; Levush, B.; Antonsen, T.M., Jr.;
1997 / IEEE / 0-7803-3990-8
By: Pershing, D.E.; Calame, J.P.; Latham, P.E.; Danly, B.G.; Levush, B.; Blank, M.; Lawson, W.;
By: Pershing, D.E.; Calame, J.P.; Latham, P.E.; Danly, B.G.; Levush, B.; Blank, M.; Lawson, W.;
1997 / IEEE / 0-7803-3990-8
By: Nguyen, K.; Borchard, P.; Felch, K.; True, R.; Blank, M.; Levush, B.; Danly, B.;
By: Nguyen, K.; Borchard, P.; Felch, K.; True, R.; Blank, M.; Levush, B.; Danly, B.;
1997 / IEEE / 0-7803-3990-8
By: Nguyen, K.; Pershing, D.; Levush, B.; Danly, B.; Calame, J.; Petillo, J.;
By: Nguyen, K.; Pershing, D.; Levush, B.; Danly, B.; Calame, J.; Petillo, J.;
1997 / IEEE / 0-7803-3990-8
By: Park, G.S.; Cooke, S.J.; Choi, J.J.; McCurdy, A.H.; Danly, B.G.; Kyser, R.H.;
By: Park, G.S.; Cooke, S.J.; Choi, J.J.; McCurdy, A.H.; Danly, B.G.; Kyser, R.H.;
1997 / IEEE / 0-7803-3990-8
By: Pershing, D.E.; Freund, H.P.; Jackson, R.H.; Taccetti, J.M.; Granatstein, V.L.;
By: Pershing, D.E.; Freund, H.P.; Jackson, R.H.; Taccetti, J.M.; Granatstein, V.L.;
1997 / IEEE / 0-7803-3990-8
By: Shimozuma, T.; Loring, C.M.; Felch, K.; Cahalan, P.; Borchard, P.; Chu, T.S.; Sato, M.;
By: Shimozuma, T.; Loring, C.M.; Felch, K.; Cahalan, P.; Borchard, P.; Chu, T.S.; Sato, M.;
1997 / IEEE / 0-7803-4165-1
By: Barroso, J.J.; Ogawa, I.; Idehara, T.; Correa, R.A.; Spassov, V.A.; Pimenta, A.A.; Castro, P.J.;
By: Barroso, J.J.; Ogawa, I.; Idehara, T.; Correa, R.A.; Spassov, V.A.; Pimenta, A.A.; Castro, P.J.;
1999 / IEEE
By: Kreischer, K.E.; Jory, H.R.; Danly, B.G.; Felch, K.L.; Temkin, R.J.; Levush, B.; Lawson, W.;
By: Kreischer, K.E.; Jory, H.R.; Danly, B.G.; Felch, K.L.; Temkin, R.J.; Levush, B.; Lawson, W.;