Your Search Results
Use materials about this topic in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content - such as case studies and journal articles - for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Topic: Millimetre Wave Devices
Results
2012 / IEEE
By: Khalid, A.; Montes, M.; Stephen, A.; Dunn, G.; Li, C.; Kuball, M.; Hopper, R.H.; Oxley, C.H.; Cumming, D.;
By: Khalid, A.; Montes, M.; Stephen, A.; Dunn, G.; Li, C.; Kuball, M.; Hopper, R.H.; Oxley, C.H.; Cumming, D.;
2012 / IEEE
By: Yanyu Wei; Fei Shen; Jinjun Feng; Wenxiang Wang; Shaomeng Wang; Xiong Xu; Yubin Gong; Hairong Yin;
By: Yanyu Wei; Fei Shen; Jinjun Feng; Wenxiang Wang; Shaomeng Wang; Xiong Xu; Yubin Gong; Hairong Yin;
2012 / IEEE
By: Sahakian, A.V.; Cox, N.M.; Elmer, T.W.; Bakhtiari, S.; Gopalsami, N.; Mikhelson, I.; Liao, S.; Raptis, A.C.;
By: Sahakian, A.V.; Cox, N.M.; Elmer, T.W.; Bakhtiari, S.; Gopalsami, N.; Mikhelson, I.; Liao, S.; Raptis, A.C.;
2012 / IEEE
By: Kaiser, A.; Niknejad, A.; Cathelin, A.; Lu Ye; Frappe, A.; Stefanelli, B.; Muller, J.;
By: Kaiser, A.; Niknejad, A.; Cathelin, A.; Lu Ye; Frappe, A.; Stefanelli, B.; Muller, J.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-9563-4
By: Ozdemir, C.; Yigit, E.; Demirci, S.; Vertii, A.; Kizilhan, A.; Cetinkaya, H.;
By: Ozdemir, C.; Yigit, E.; Demirci, S.; Vertii, A.; Kizilhan, A.; Cetinkaya, H.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-329-2
By: Chernin, D.; Nguyen, K.; Jabotinski, V.; Levush, B.; Antonsen, T.M.;
By: Chernin, D.; Nguyen, K.; Jabotinski, V.; Levush, B.; Antonsen, T.M.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-697-2
By: Gee-Kung Chang; Fuentealba, D.; Kailas, A.; Jian Wei; Estevez, C.I.;
By: Gee-Kung Chang; Fuentealba, D.; Kailas, A.; Jian Wei; Estevez, C.I.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-965-2
By: Shu, R.; Subramanian, V.; Hamidian, A.; Boeck, G.; Malignaggi, A.;
By: Shu, R.; Subramanian, V.; Hamidian, A.; Boeck, G.; Malignaggi, A.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0430-7
By: Schindler, C.; Ziroff, A.; Poprawa, F.; Ellinger, F.; Zanati, A.;
By: Schindler, C.; Ziroff, A.; Poprawa, F.; Ellinger, F.; Zanati, A.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-965-2
By: Doumanis, E.; Fusco, V.; Cahill, R.; Gomez-Tornero, J.-L.; Goussetis, G.;
By: Doumanis, E.; Fusco, V.; Cahill, R.; Gomez-Tornero, J.-L.; Goussetis, G.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-965-2
By: Illescas, J.; Estevez, A.; Navarro-Cia, M.; Beruete, M.; Sorolla, M.; Falcone, F.;
By: Illescas, J.; Estevez, A.; Navarro-Cia, M.; Beruete, M.; Sorolla, M.; Falcone, F.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0509-0
By: Gallerano, G.P.; Doria, A.; Spassovsky, I.; Messina, G.; Giovenale, E.;
By: Gallerano, G.P.; Doria, A.; Spassovsky, I.; Messina, G.; Giovenale, E.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0509-0
By: Kobayashi, T.; Moriyama, S.; Sakamoto, K.; Oda, Y.; Takahashi, K.; Hoshino, K.; Isayama, A.; Wada, K.; Hiranai, S.; Suzuki, S.; Yokokura, K.; Hinata, J.;
By: Kobayashi, T.; Moriyama, S.; Sakamoto, K.; Oda, Y.; Takahashi, K.; Hoshino, K.; Isayama, A.; Wada, K.; Hiranai, S.; Suzuki, S.; Yokokura, K.; Hinata, J.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0509-0
By: Pavanello, F.; Lampin, J.-F.; Peytavit, E.; Vandenbrouck, S.; Akalin, T.; Turer, I.;
By: Pavanello, F.; Lampin, J.-F.; Peytavit, E.; Vandenbrouck, S.; Akalin, T.; Turer, I.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0509-0
By: Konoplev, I.V.; Young, A.R.; Phelps, A.D.R.; Thumm, M.; Cross, A.W.; Robertson, C.W.; Phipps, A.R.; MacLachlan, A.J.;
By: Konoplev, I.V.; Young, A.R.; Phelps, A.D.R.; Thumm, M.; Cross, A.W.; Robertson, C.W.; Phipps, A.R.; MacLachlan, A.J.;
2011 / IEEE / 978-2-87487-023-1
By: Tsubouchi, K.; Takagi, T.; Kameda, S.; Suematsu, N.; Tanifuji, S.;
By: Tsubouchi, K.; Takagi, T.; Kameda, S.; Suematsu, N.; Tanifuji, S.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-9289-3
By: Traille, A.; Aubert, H.; Pons, P.; Bouaziz, S.; Tentzeris, M.M.;
By: Traille, A.; Aubert, H.; Pons, P.; Bouaziz, S.; Tentzeris, M.M.;
2012 / IEEE / 978-1-4673-1036-9
By: Deukhyoun Heo; Pande, P.; Teuscher, C.; Xinmin Yu; Belzer, B.; Chang, K.; Deb, S.; Ganguly, A.;
By: Deukhyoun Heo; Pande, P.; Teuscher, C.; Xinmin Yu; Belzer, B.; Chang, K.; Deb, S.; Ganguly, A.;
2009 / American Institute of Physics
By: N. Gopalsami; A. Heifetz; E. R. Koehl; H. T. Chien; A. C. Raptis;
By: N. Gopalsami; A. Heifetz; E. R. Koehl; H. T. Chien; A. C. Raptis;
1995 / IEEE
By: Iwasa, A.; Sakamoto, Y.; Murayama, Y.; Endo, T.; Klein, U.; Yoshida, H.; Nakanishi, M.;
By: Iwasa, A.; Sakamoto, Y.; Murayama, Y.; Endo, T.; Klein, U.; Yoshida, H.; Nakanishi, M.;
1993 / IEEE / 0-7803-0950-2
By: Kumagai, T.; Maruyama, H.; Senba, S.; Ohgushi, Y.; Kikuchi, T.; Otsu, Y.; Yamamoto, T.;
By: Kumagai, T.; Maruyama, H.; Senba, S.; Ohgushi, Y.; Kikuchi, T.; Otsu, Y.; Yamamoto, T.;
1995 / IEEE
By: Bowers, J.E.; Coldren, L.A.; Jiang, W.; Wang, G.; Thibeault, B.J.; Mahon, C.J.; Barron, C.C.;
By: Bowers, J.E.; Coldren, L.A.; Jiang, W.; Wang, G.; Thibeault, B.J.; Mahon, C.J.; Barron, C.C.;
1995 / IEEE
By: Kunkel, G.; Klushin, A.M.; Copetti, C.A.; Vonderbeck, L.; Siegel, M.; Zander, W.; Schubert, J.; Sodtke, E.;
By: Kunkel, G.; Klushin, A.M.; Copetti, C.A.; Vonderbeck, L.; Siegel, M.; Zander, W.; Schubert, J.; Sodtke, E.;
1995 / IEEE
By: Fukui, Y.; Kawabata, K.; Ogawa, H.; Suzuki, M.; Yokoyama, N.; Imamura, T.; Suzuki, H.;
By: Fukui, Y.; Kawabata, K.; Ogawa, H.; Suzuki, M.; Yokoyama, N.; Imamura, T.; Suzuki, H.;
1995 / IEEE / 0-7803-2581-8
By: Schwering, F.K.; Mink, J.W.; Naishadham, K.; Steer, R.B.; Monahan, G.P.; Nuteson, T.W.;
By: Schwering, F.K.; Mink, J.W.; Naishadham, K.; Steer, R.B.; Monahan, G.P.; Nuteson, T.W.;
1995 / IEEE / 0-7803-2581-8
By: Stones, D.I.; Siddiqui, M.; Faris, A.; Goel, J.; Sholley, M.; Marosi, L.; Tan, K.;
By: Stones, D.I.; Siddiqui, M.; Faris, A.; Goel, J.; Sholley, M.; Marosi, L.; Tan, K.;
1995 / IEEE / 0-7803-2516-8
By: Schoenberg, J.; Popovic, Z.; Dixon, J.; Markovic, M.; Hollung, S.; Shiroma, W.; Mader, T.;
By: Schoenberg, J.; Popovic, Z.; Dixon, J.; Markovic, M.; Hollung, S.; Shiroma, W.; Mader, T.;
1996 / IEEE / 0-7803-3246-6
By: Tan, K.; Sharma, A.; Yamauchi, D.; Stones, D.I.; Onak, G.; Goel, J.; Mancini, J.;
By: Tan, K.; Sharma, A.; Yamauchi, D.; Stones, D.I.; Onak, G.; Goel, J.; Mancini, J.;
1996 / IEEE / 0-7803-3246-6
By: Fujii, T.; Mizuno, K.; Sakaki, H.; Noda, T.; Narihiro, M.; Bae, J.; Takei, F.; Mazaki, H.;
By: Fujii, T.; Mizuno, K.; Sakaki, H.; Noda, T.; Narihiro, M.; Bae, J.; Takei, F.; Mazaki, H.;
1996 / IEEE / 0-7803-3068-4
By: Rautiainen, K.; Kemppinen, M.; Hallikainen, M.; Auer, T.; Pihlflyckt, J.; Mononen, I.; Tirri, T.; Lahtinen, J.;
By: Rautiainen, K.; Kemppinen, M.; Hallikainen, M.; Auer, T.; Pihlflyckt, J.; Mononen, I.; Tirri, T.; Lahtinen, J.;