Your Search Results
Use materials about this topic in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content - such as case studies and journal articles - for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Topic: Microwave Tubes
Results
2011 / IEEE
By: Bourgeois, P.; Schafer, W.S.; Grop, S.G.; Giordano, V.; Rubiola, E.; Oxborrow, M.; Kersale, Y.K.;
By: Bourgeois, P.; Schafer, W.S.; Grop, S.G.; Giordano, V.; Rubiola, E.; Oxborrow, M.; Kersale, Y.K.;
2012 / IEEE
By: Vyalykh, D.V.; Selemir, V.D.; Sadovoy, S.A.; L'vov, I.L.; Dubinov, A.E.; Zhdanov, V.S.;
By: Vyalykh, D.V.; Selemir, V.D.; Sadovoy, S.A.; L'vov, I.L.; Dubinov, A.E.; Zhdanov, V.S.;
2012 / IEEE
By: Cross, A.W.; Rowlands, D.H.; Robertson, C.W.; He, W.; Young, A.R.; Ronald, K.; Whyte, C.G.;
By: Cross, A.W.; Rowlands, D.H.; Robertson, C.W.; He, W.; Young, A.R.; Ronald, K.; Whyte, C.G.;
2004 / IEEE / 978-5-87911-088-3
By: Raymond, P.; Larour, J.; Cousin, R.; Gouard, P.; Durand, A.J.; Wey, J.;
By: Raymond, P.; Larour, J.; Cousin, R.; Gouard, P.; Durand, A.J.; Wey, J.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-329-2
By: Vlasov, A.N.; Chernin, D.; Chernyavskiy, I.A.; Legarra, J.; Antonsen, T.M.; Levush, B.;
By: Vlasov, A.N.; Chernin, D.; Chernyavskiy, I.A.; Legarra, J.; Antonsen, T.M.; Levush, B.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0631-8
By: Mesyats, G.A.; Yalandin, M.I.; Romanchenko, I.V.; Elchaninov, A.A.; Rostov, V.V.;
By: Mesyats, G.A.; Yalandin, M.I.; Romanchenko, I.V.; Elchaninov, A.A.; Rostov, V.V.;
2012 / IEEE / 978-1-4673-2185-3
By: Deng, G.S.; Lv, G.Q.; Yang, J.; Ruan, J.F.; Liu, Y.; Zhang, W.B.; He, Z.C.;
By: Deng, G.S.; Lv, G.Q.; Yang, J.; Ruan, J.F.; Liu, Y.; Zhang, W.B.; He, Z.C.;
1988 / IEEE
By: Hoeberling, R.F.; Chojnacki, E.; Destler, W.W.; Striffler, C.D.; Singh, A.; Lawson, W.;
By: Hoeberling, R.F.; Chojnacki, E.; Destler, W.W.; Striffler, C.D.; Singh, A.; Lawson, W.;
1988 / IEEE
By: Fliflet, A.W.; Gold, S.H.; Sucy, M.; Kinkead, A.K.; Manheimer, W.M.; Hardesty, D.L.; Granatstein, V.L.; Lee, R.C.; McCowan, R.B.;
By: Fliflet, A.W.; Gold, S.H.; Sucy, M.; Kinkead, A.K.; Manheimer, W.M.; Hardesty, D.L.; Granatstein, V.L.; Lee, R.C.; McCowan, R.B.;
1989 / IEEE
By: McMillan, R.W.; Cotton, J.M., Jr.; Dropkin, H.; Wortman, D.E.; Hay, R.G.; Guillory, D.M.;
By: McMillan, R.W.; Cotton, J.M., Jr.; Dropkin, H.; Wortman, D.E.; Hay, R.G.; Guillory, D.M.;
1989 / IEEE
By: Popovic, Z.B.; Lam, W.W.; Kim, M.; Luhmann, N.C., Jr.; Jou, C.F.; Hwu, R.J.; Rutledge, D.B.;
By: Popovic, Z.B.; Lam, W.W.; Kim, M.; Luhmann, N.C., Jr.; Jou, C.F.; Hwu, R.J.; Rutledge, D.B.;
1989 / IEEE
By: Gray, H.F.; Elliott, S.M.; Bizek, H.M.; McIntyre, P.M.; Nassiri, A.; Swenson, C.A.; Raparia, D.; Popovic, M.B.;
By: Gray, H.F.; Elliott, S.M.; Bizek, H.M.; McIntyre, P.M.; Nassiri, A.; Swenson, C.A.; Raparia, D.; Popovic, M.B.;
1989 / IEEE
By: Hoeberling, R.F.; Fazio, M.V.; Destler, W.W.; Stringfield, R.; Van Haaften, F.; Kinross-Wright, J.;
By: Hoeberling, R.F.; Fazio, M.V.; Destler, W.W.; Stringfield, R.; Van Haaften, F.; Kinross-Wright, J.;
1991 / IEEE
By: Thode, L.; Sidler, J.D., III; Platt, R.; Doss, K.; Haworth, M.; Cremer, D.; Christofferson, J.; Anderson, B.;
By: Thode, L.; Sidler, J.D., III; Platt, R.; Doss, K.; Haworth, M.; Cremer, D.; Christofferson, J.; Anderson, B.;