Your Search Results
Use materials about this topic in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content - such as case studies and journal articles - for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Topic: Microwave Spectra
Results
2006 / IEEE / 978-3-9805741-8-1
By: Levi, F.; Jefferts, S.R.; Dai-Hyuk Yu; Heavner, T.P.; Shirley, J.H.;
By: Levi, F.; Jefferts, S.R.; Dai-Hyuk Yu; Heavner, T.P.; Shirley, J.H.;
2012 / IEEE / 978-1-4673-1470-1
By: Jarlemark, P.; Mercolino, M.; Elgered, G.; Martellucci, A.; Tortora, P.; Graziani, A.;
By: Jarlemark, P.; Mercolino, M.; Elgered, G.; Martellucci, A.; Tortora, P.; Graziani, A.;
2012 / IEEE / 978-1-4673-2185-3
By: Ying-ying Wu; Wang Wang; Xian-liang Wu; Zhi-xiang Huang; Min Ding;
By: Ying-ying Wu; Wang Wang; Xian-liang Wu; Zhi-xiang Huang; Min Ding;
2013 / American Institute of Physics
By: Alexey P. Slobozhanyuk; Irina V. Melchakova; Constantin R. Simovski; Pavel A. Belov;
By: Alexey P. Slobozhanyuk; Irina V. Melchakova; Constantin R. Simovski; Pavel A. Belov;
2007 / American Institute of Physics
By: S. M. Abbas; R. Chatterjee; A. K. Dixit; A. V. Kumar; T. C. Goel;
By: S. M. Abbas; R. Chatterjee; A. K. Dixit; A. V. Kumar; T. C. Goel;
1993 / IEEE / 0-7803-1209-0
By: Koistinen, O.; Lapkin, I.; Dryagin, Y.; Vdovin, V.; Raisanen, A.; Valmu, H.;
By: Koistinen, O.; Lapkin, I.; Dryagin, Y.; Vdovin, V.; Raisanen, A.; Valmu, H.;
1994 / IEEE / 0-7803-1984-2
By: Boussert, B.; Giordano, V.; Petit, P.; Dimarcq, N.; Theobald, G.; Audoin, C.; Cerez, P.;
By: Boussert, B.; Giordano, V.; Petit, P.; Dimarcq, N.; Theobald, G.; Audoin, C.; Cerez, P.;
Measurement of band structures of photonic bandgap materials by picosecond optoelectronic techniques
1993 / IEEE / 0-7803-1263-5By: Lin, S.Y.; Arjavalingam, G.; Robertson, W.M.;
1994 / IEEE / 0-7803-1497-2
By: Degenhardt, W.; Hartmann, G.K.; Cotton, M.G.; Hufford, G.A.; Liebe, H.J.; Zwick, R.;
By: Degenhardt, W.; Hartmann, G.K.; Cotton, M.G.; Hufford, G.A.; Liebe, H.J.; Zwick, R.;
Hysteretic microwave magnetoabsorption in granular cuprate superconductors-the role of random fields
1995 / IEEEBy: Ramachandran, J.S.; Bhagat, S.M.;
1995 / IEEE / 0-7803-2567-2
By: Encrenaz, T.; Lellouch, E.; Cernicharo, J.; Pardo, J.R.; Paubert, G.;
By: Encrenaz, T.; Lellouch, E.; Cernicharo, J.; Pardo, J.R.; Paubert, G.;
1996 / IEEE / 0-7803-3376-4
By: Liu, W.; Jungmann, K.; Janousch, M.; Hughes, V.W.; Mariam, F.; Egan, P.; Dhawan, S.; Boshier, M.G.; Fei, X.;
By: Liu, W.; Jungmann, K.; Janousch, M.; Hughes, V.W.; Mariam, F.; Egan, P.; Dhawan, S.; Boshier, M.G.; Fei, X.;
1998 / IEEE / 0-7803-5018-9
By: Mariam, F.G.; Pillai, C.; Kawall, D.; Jungmann, K.; Janousch, M.; Liu, W.; Hughes, V.W.; Perdekamp, M.G.; Fei, X.; Egan, P.; van Dyck, O.; Dhawan, S.; Boshier, M.G.; Woodle, K.A.; Thompson, P.A.; Schwarz, W.; Reinhard, I.; Putlitz, G.zu.; Prigl, R.;
By: Mariam, F.G.; Pillai, C.; Kawall, D.; Jungmann, K.; Janousch, M.; Liu, W.; Hughes, V.W.; Perdekamp, M.G.; Fei, X.; Egan, P.; van Dyck, O.; Dhawan, S.; Boshier, M.G.; Woodle, K.A.; Thompson, P.A.; Schwarz, W.; Reinhard, I.; Putlitz, G.zu.; Prigl, R.;
1999 / IEEE / 0-7803-5400-1
By: Warrington, R.B.; Fisk, P.T.H.; Wouters, M.J.; Lawn, M.A.; Coles, C.;
By: Warrington, R.B.; Fisk, P.T.H.; Wouters, M.J.; Lawn, M.A.; Coles, C.;
1999 / IEEE / 0-7803-5400-1
By: Robinson, H.G.; Kitching, J.; Walls, F.L.; Hollberg, L.; Zibrov, A.S.; Vukicevic, N.;
By: Robinson, H.G.; Kitching, J.; Walls, F.L.; Hollberg, L.; Zibrov, A.S.; Vukicevic, N.;
1999 / IEEE / 0-7803-5722-1
By: Gulyaev, Yu.V.; Alekseev, S.G.; Mansfeld, G.D.; Kosakovskaya, Z.Ya.;
By: Gulyaev, Yu.V.; Alekseev, S.G.; Mansfeld, G.D.; Kosakovskaya, Z.Ya.;
2001 / IEEE / 0-7803-6473-2
By: Lavrinovich, A.A.; Kirichenko, A.Y.; Gubin, A.I.; Golubnichaya, G.V.; Litzkendorf, D.; Cherpak, N.T.; Gawalek, W.; Maximchuk, I.G.;
By: Lavrinovich, A.A.; Kirichenko, A.Y.; Gubin, A.I.; Golubnichaya, G.V.; Litzkendorf, D.; Cherpak, N.T.; Gawalek, W.; Maximchuk, I.G.;
2002 / IEEE / 0-7803-7423-1
By: Ohta, H.; Hiroi, Z.; Kunimoto, T.; Inagaki, Y.; Okubo, S.; Kawakami, K.;
By: Ohta, H.; Hiroi, Z.; Kunimoto, T.; Inagaki, Y.; Okubo, S.; Kawakami, K.;
2002 / IEEE / 0-7803-7500-9
By: Buttner, R.; Bosserhoff, A.; Kurz, H.; Bolivar, P.H.; Brucherseifer, M.; Richter, F.; Nagel, M.;
By: Buttner, R.; Bosserhoff, A.; Kurz, H.; Bolivar, P.H.; Brucherseifer, M.; Richter, F.; Nagel, M.;
2002 / IEEE / 0-7803-7540-8
By: Garate, E.; Loza, O.T.; Ivanov, I.E.; Bogdankevich, I.L.; Rukhadze, A.A.; Tarakanov, V.P.; Ulyanov, D.K.; Strelkov, P.S.;
By: Garate, E.; Loza, O.T.; Ivanov, I.E.; Bogdankevich, I.L.; Rukhadze, A.A.; Tarakanov, V.P.; Ulyanov, D.K.; Strelkov, P.S.;
2004 / IEEE / 0-7803-8491-1
By: Mohan, R.K.; Wagner, K.H.; Schlottau, F.; Colice, M.; Reibel, R.R.; Babbit, Wm.R.; Merkel, K.D.; Teijun Chang; Cole, Z.;
By: Mohan, R.K.; Wagner, K.H.; Schlottau, F.; Colice, M.; Reibel, R.R.; Babbit, Wm.R.; Merkel, K.D.; Teijun Chang; Cole, Z.;
2004 / IEEE / 0-7803-8401-6
By: Wang Shumian; Zhang Kaixi; Zhang Daguang; Liu Xujuan; Zhang Dagheng; Zhang Ying;
By: Wang Shumian; Zhang Kaixi; Zhang Daguang; Liu Xujuan; Zhang Dagheng; Zhang Ying;
2004 / IEEE / 0-7803-8490-3
By: Chernyaeva, M.B.; Vaks, V.L.; Chuprov, L.A.; Sennikov, P.G.; Domracheva, E.G.; Klyueva, N.V.;
By: Chernyaeva, M.B.; Vaks, V.L.; Chuprov, L.A.; Sennikov, P.G.; Domracheva, E.G.; Klyueva, N.V.;
2005 / IEEE / 0-7803-9130-6
By: Gerasimov, V.G.; Efremov, V.A.; Dyubko, S.F.; MacAdam, K.B.; Efimenko, M.N.;
By: Gerasimov, V.G.; Efremov, V.A.; Dyubko, S.F.; MacAdam, K.B.; Efimenko, M.N.;
2006 / IEEE / 1-4244-0277-8
By: Pingshan Wang; Byungje Lee; Azimuudin, S.; Chunrong Song; Harackiewicz, F.; Hoffman, A.; Ralu, D.; Max Yen;
By: Pingshan Wang; Byungje Lee; Azimuudin, S.; Chunrong Song; Harackiewicz, F.; Hoffman, A.; Ralu, D.; Max Yen;
2006 / IEEE / 1-4244-0074-0
By: Bourgeois, R.-Y.; Benmessai, K.; Giordano, V.; Kersale, Y.; Bazin, N.; Oxborrow, M.;
By: Bourgeois, R.-Y.; Benmessai, K.; Giordano, V.; Kersale, Y.; Bazin, N.; Oxborrow, M.;
2005 / IEEE / 0-7803-9300-7
By: Pengvanich, P.; Kowalczyk, R.D.; White, W.M.; Jones, M.C.; Gilgenbach, R.M.; Lau, Y.Y.; Neculaes, V.B.;
By: Pengvanich, P.; Kowalczyk, R.D.; White, W.M.; Jones, M.C.; Gilgenbach, R.M.; Lau, Y.Y.; Neculaes, V.B.;
2007 / IEEE
By: Joye, C.D.; Seong-Tae Han; Chan-Gyu Joo; Kan-Nian Hu; Sirigiri, J.R.; Griffin, R.G.; Woskov, P.P.; Torrezan, A.C.; Temkin, R.J.;
By: Joye, C.D.; Seong-Tae Han; Chan-Gyu Joo; Kan-Nian Hu; Sirigiri, J.R.; Griffin, R.G.; Woskov, P.P.; Torrezan, A.C.; Temkin, R.J.;
2006 / IEEE / 1-4244-1479-2
By: Deac, A.M.; Dieny, B.; Wang, P.; Li, M.; Petit, S.; Liu, Y.; Redon, O.;
By: Deac, A.M.; Dieny, B.; Wang, P.; Li, M.; Petit, S.; Liu, Y.; Redon, O.;
2007 / IEEE / 1-4244-0687-0
By: Vallett, A.; Highstrete, C.; Lee, M.; Mayer, T.S.; Redwing, J.M.; Dilts, S.M.;
By: Vallett, A.; Highstrete, C.; Lee, M.; Mayer, T.S.; Redwing, J.M.; Dilts, S.M.;
2007 / IEEE / 1-4244-1237-4
By: Ilyushin, V.V.; Alekseev, E.A.; Yung-Ching Chou; Hougen, J.T.; Lovas, F.J.; Picraux, L.B.;
By: Ilyushin, V.V.; Alekseev, E.A.; Yung-Ching Chou; Hougen, J.T.; Lovas, F.J.; Picraux, L.B.;
2007 / IEEE / 1-4244-1237-4
By: Perepechay, M.P.; Efimenko, M.N.; Gerasimov, V.G.; Efremov, V.A.; Dyubko, S.F.;
By: Perepechay, M.P.; Efimenko, M.N.; Gerasimov, V.G.; Efremov, V.A.; Dyubko, S.F.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-1929-6
By: Scherer, T.; Meier, A.; Heidinger, R.; Vikharev, A.L.; Parshin, V.V.; Dutta, J.M.; Garin, B.M.;
By: Scherer, T.; Meier, A.; Heidinger, R.; Vikharev, A.L.; Parshin, V.V.; Dutta, J.M.; Garin, B.M.;