Your Search Results
Use materials about this topic in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content - such as case studies and journal articles - for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Topic: Microwave Power
Results
1992 / IEEE / 000-0-0000-0000-0
By: Abe, D.K.; Bromborsky, A.; Miller, S.M.; Levush, B.; Carmel, Y.; Antonsen, T.;
By: Abe, D.K.; Bromborsky, A.; Miller, S.M.; Levush, B.; Carmel, Y.; Antonsen, T.;
1992 / IEEE / 000-0-0000-0000-0
By: Konovalov, I.U.; Ivanov, U.U.; Selemir, U.D.; Pavlovskii, A.I.; Zhdanov, U.S.; Prikhod'ko, I.G.; Uatrunin, U.Y.; Kornilov, U.G.; Shibalko, K.U.; Suvorov, U.G.;
By: Konovalov, I.U.; Ivanov, U.U.; Selemir, U.D.; Pavlovskii, A.I.; Zhdanov, U.S.; Prikhod'ko, I.G.; Uatrunin, U.Y.; Kornilov, U.G.; Shibalko, K.U.; Suvorov, U.G.;
2011 / IEEE / 978-966-335-357-9
By: Kolosov, S.V.; Kizhlay, I.N.; Sinitsyn, A.K.; Rak, A.O.; Popkova, T.L.; Kurayev, A.A.;
By: Kolosov, S.V.; Kizhlay, I.N.; Sinitsyn, A.K.; Rak, A.O.; Popkova, T.L.; Kurayev, A.A.;
2011 / IEEE / 978-1-4673-0020-9
By: Tirawanichakul, S.; Tirawanichakul, Y.; Boonyakiat, P.; Saenaratana, N.;
By: Tirawanichakul, S.; Tirawanichakul, Y.; Boonyakiat, P.; Saenaratana, N.;
1991 / IEEE
By: Culbertson, J.C.; Wolf, S.A.; Horwitz, J.S.; Chrisey, D.B.; Pond, J.M.; Strom, U.; Newman, H.S.;
By: Culbertson, J.C.; Wolf, S.A.; Horwitz, J.S.; Chrisey, D.B.; Pond, J.M.; Strom, U.; Newman, H.S.;
1991 / IEEE / 0-7803-0135-8
By: Latham, P.E.; Main, W.; Tantawi, S.; Granatstein, V.L.; Striffler, C.D.; Lawson, W.; Matthews, H.;
By: Latham, P.E.; Main, W.; Tantawi, S.; Granatstein, V.L.; Striffler, C.D.; Lawson, W.; Matthews, H.;
1990 / IEEE
By: Calame, J.; Lawson, W.; Granatstein, V.L.; Striffler, C.D.; Latham, P.E.; Naiman, M.; Hogan, B.; Main, W.;
By: Calame, J.; Lawson, W.; Granatstein, V.L.; Striffler, C.D.; Latham, P.E.; Naiman, M.; Hogan, B.; Main, W.;
1995 / IEEE
By: Bekefi, G.; Bensal, M.; Trebich, V.; Golombek, H.; Agmon, E.; Jerby, E.; Sheinin, M.; Dikhtiar, V.; Grinberg, V.; Shahadi, A.;
By: Bekefi, G.; Bensal, M.; Trebich, V.; Golombek, H.; Agmon, E.; Jerby, E.; Sheinin, M.; Dikhtiar, V.; Grinberg, V.; Shahadi, A.;
1995 / IEEE
By: Huey, H.E.; Hess, C.; Feinstein, J.; Tak Sum Chu; Jory, H.R.; Neilson, J.M.; Schumacher, R.; Felch, K.; Mizuhara, Y.M.;
By: Huey, H.E.; Hess, C.; Feinstein, J.; Tak Sum Chu; Jory, H.R.; Neilson, J.M.; Schumacher, R.; Felch, K.; Mizuhara, Y.M.;
1995 / IEEE
By: Kunkel, G.; Klushin, A.M.; Copetti, C.A.; Vonderbeck, L.; Siegel, M.; Zander, W.; Schubert, J.; Sodtke, E.;
By: Kunkel, G.; Klushin, A.M.; Copetti, C.A.; Vonderbeck, L.; Siegel, M.; Zander, W.; Schubert, J.; Sodtke, E.;
1995 / IEEE / 0-7803-2934-1
By: Ko, K.; Pendleton, R.; Rimmer, R.; Schwarz, H.; Neubauer, M.; Ng, C.;
By: Ko, K.; Pendleton, R.; Rimmer, R.; Schwarz, H.; Neubauer, M.; Ng, C.;
1995 / IEEE / 0-7803-2773-X
By: Cheng, H.C.; Huang, Y.C.; Liu, L.M.; Wang, P.T.; Wang, C.K.; Lin, M.S.; Dai, B.T.;
By: Cheng, H.C.; Huang, Y.C.; Liu, L.M.; Wang, P.T.; Wang, C.K.; Lin, M.S.; Dai, B.T.;
Status of plasma source developments for ion beam and PIII applications at INRS-Energie et Materiaux
1995 / IEEE / 0-7803-2669-5By: Gregory, B.C.; Boucher, C.; Stansfield, B.L.; Sarkissian, A.H.; Martin, F.;
1995 / IEEE / 0-7803-2669-5
By: Hochman, J.M.; Gilgenbach, R.M.; Walter, M.T.; Spencer, T.A.; Lau, Y.Y.; Luginsland, J.; Rintamaki, J.I.;
By: Hochman, J.M.; Gilgenbach, R.M.; Walter, M.T.; Spencer, T.A.; Lau, Y.Y.; Luginsland, J.; Rintamaki, J.I.;
1996 / IEEE
By: Spencer, T.A.; Lau, Y.Y.; Jaynes, R.L.; Rintamaki, J.I.; Walter, M.T.; Hochman, J.M.; Luginsland, J.W.; Gilgenbach, R.M.;
By: Spencer, T.A.; Lau, Y.Y.; Jaynes, R.L.; Rintamaki, J.I.; Walter, M.T.; Hochman, J.M.; Luginsland, J.W.; Gilgenbach, R.M.;
1996 / IEEE / 0-7803-3376-4
By: Gutm, P.; Kohlmann, J.; Popel, R.; Muller, F.; Niemeyer, J.; Dunschede, F.; Grimm, L.; Weimann, T.; Meier, W.;
By: Gutm, P.; Kohlmann, J.; Popel, R.; Muller, F.; Niemeyer, J.; Dunschede, F.; Grimm, L.; Weimann, T.; Meier, W.;
1996 / IEEE / 0-7803-3322-5
By: Gon-Ho Kim; Hershkowitz, N.; Bon-Woong Koo; En-Yao Yang; Gross, S.; Meyer, J.;
By: Gon-Ho Kim; Hershkowitz, N.; Bon-Woong Koo; En-Yao Yang; Gross, S.; Meyer, J.;
1997 / IEEE
By: Niemeyer, J.; Kohlmann, J.; Popel, R.; Muller, F.; Meier, W.; Gutmann, P.; Dunschede, F.-W.; Grimm, L.; Weimann, T.;
By: Niemeyer, J.; Kohlmann, J.; Popel, R.; Muller, F.; Meier, W.; Gutmann, P.; Dunschede, F.-W.; Grimm, L.; Weimann, T.;
1997 / IEEE
By: Koyanagi, K.; Kuroda, K.; Takafuji, A.; Sugiyama, K.; Nishimura, M.; Takahashi, E.; Miura, I.;
By: Koyanagi, K.; Kuroda, K.; Takafuji, A.; Sugiyama, K.; Nishimura, M.; Takahashi, E.; Miura, I.;
1997 / IEEE / 0-7803-3990-8
By: Totmeninov, E.M.; Rostov, V.V.; Pegel, L.; Kurkan, I.K.; Korovin, S.D.;
By: Totmeninov, E.M.; Rostov, V.V.; Pegel, L.; Kurkan, I.K.; Korovin, S.D.;
1997 / IEEE
By: Ockenfuss, G.; Wordenweber, R.; Zaitsev, A.G.; Klein, N.; Zuccaro, C.; Konigs, T.; Kutzner, R.;
By: Ockenfuss, G.; Wordenweber, R.; Zaitsev, A.G.; Klein, N.; Zuccaro, C.; Konigs, T.; Kutzner, R.;
1998 / IEEE / 0-7803-4792-7
By: Rintamaki, J.I.; Gilgenbach, R.M.; Hochman, J.M.; Cohen, W.E.; Peters, C.W.; Jaynes, R.L.; Spencer, T.A.; Lau, Y.Y.; Vollers, D.E.;
By: Rintamaki, J.I.; Gilgenbach, R.M.; Hochman, J.M.; Cohen, W.E.; Peters, C.W.; Jaynes, R.L.; Spencer, T.A.; Lau, Y.Y.; Vollers, D.E.;
1998 / IEEE / 0-7803-4792-7
By: Vollers, D.E.; Peters, C.W.; Jaynes, R.L.; Rintamaki, J.I.; Lau, Y.Y.; Hochman, J.M.; Gilgenbach, R.M.; Cohenm, W.E.; Spencer, T.A.;
By: Vollers, D.E.; Peters, C.W.; Jaynes, R.L.; Rintamaki, J.I.; Lau, Y.Y.; Hochman, J.M.; Gilgenbach, R.M.; Cohenm, W.E.; Spencer, T.A.;
1997 / IEEE / 0-7803-4213-5
By: Korovin, S.D.; Klimov, A.I.; Gunin, A.V.; Totmeninov, E.M.; Stepchenko, A.S.; Kurkan, I.K.; Rostov, V.V.; Roitman, A.M.; Polevin, S.D.; Pegel, I.V.;
By: Korovin, S.D.; Klimov, A.I.; Gunin, A.V.; Totmeninov, E.M.; Stepchenko, A.S.; Kurkan, I.K.; Rostov, V.V.; Roitman, A.M.; Polevin, S.D.; Pegel, I.V.;
1998 / IEEE
By: Peters, C.W.; Rintamaki, J.I.; Cohen, W.E.; Jaynes, R.L.; Vollers, D.E.; Gilgenbach, R.M.; Hochman, J.M.; Spencer, T.A.; Lau, Y.Y.;
By: Peters, C.W.; Rintamaki, J.I.; Cohen, W.E.; Jaynes, R.L.; Vollers, D.E.; Gilgenbach, R.M.; Hochman, J.M.; Spencer, T.A.; Lau, Y.Y.;
1998 / IEEE
By: Stepchenko, A.S.; Rostov, V.V.; Roitman, A.M.; Polevin, S.D.; Pegel, I.V.; Totmeninov, E.M.; Korovin, S.D.; Klimov, A.I.; Gunin, A.V.; Kurkan, I.K.;
By: Stepchenko, A.S.; Rostov, V.V.; Roitman, A.M.; Polevin, S.D.; Pegel, I.V.; Totmeninov, E.M.; Korovin, S.D.; Klimov, A.I.; Gunin, A.V.; Kurkan, I.K.;