Your Search Results
Use materials about this topic in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content - such as case studies and journal articles - for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!
Not an educator but still interested in using this content? No problem! Visit our provider's page to contact the publisher and get permission directly.
Topic: Microwave Oscillators
Results
2011 / IEEE
By: Bourgeois, P.; Schafer, W.S.; Grop, S.G.; Giordano, V.; Rubiola, E.; Oxborrow, M.; Kersale, Y.K.;
By: Bourgeois, P.; Schafer, W.S.; Grop, S.G.; Giordano, V.; Rubiola, E.; Oxborrow, M.; Kersale, Y.K.;
2011 / IEEE
By: Takinami, K.; Hassibi, M.; Wong, T.; Le Grand de Mercey, G.; Liang, P.C.P.; Strandberg, R.;
By: Takinami, K.; Hassibi, M.; Wong, T.; Le Grand de Mercey, G.; Liang, P.C.P.; Strandberg, R.;
2011 / IEEE
By: Hegarty, S.P.; McInerney, J.G.; Huyet, G.; Sooudi, E.; Lelarge, F.; Ramdane, A.; Martinez, A.; Rosales, R.; Merghem, K.;
By: Hegarty, S.P.; McInerney, J.G.; Huyet, G.; Sooudi, E.; Lelarge, F.; Ramdane, A.; Martinez, A.; Rosales, R.; Merghem, K.;
2012 / IEEE
By: Gvozdev, A.K.; Semenov, V.E.; Zaitsev, N.I.; Zharova, N.A.; Sorokin, A.A.; Puech, J.; Rasch, J.; Lisak, M.;
By: Gvozdev, A.K.; Semenov, V.E.; Zaitsev, N.I.; Zharova, N.A.; Sorokin, A.A.; Puech, J.; Rasch, J.; Lisak, M.;
2012 / IEEE
By: Vyalykh, D.V.; Selemir, V.D.; Sadovoy, S.A.; L'vov, I.L.; Dubinov, A.E.; Zhdanov, V.S.;
By: Vyalykh, D.V.; Selemir, V.D.; Sadovoy, S.A.; L'vov, I.L.; Dubinov, A.E.; Zhdanov, V.S.;
2012 / IEEE
By: Yung-Chung Lo; Hyung-Joon Jeon; Helmy, A.A.; Entesari, K.; Larsson, A.J.; Silva-Martinez, J.; Jusung Kim; Kulkarni, R.;
By: Yung-Chung Lo; Hyung-Joon Jeon; Helmy, A.A.; Entesari, K.; Larsson, A.J.; Silva-Martinez, J.; Jusung Kim; Kulkarni, R.;
2012 / IEEE
By: Camblor, R.; Hotopan, G.R.; Vazquez, C.; Ver Hoeye, S.; Fernandez Garcia, M.; Las Heras, F.;
By: Camblor, R.; Hotopan, G.R.; Vazquez, C.; Ver Hoeye, S.; Fernandez Garcia, M.; Las Heras, F.;
2012 / IEEE
By: Donaldson, C.R.; Wenlong He; Liang Zhang; Cross, A.W.; Ronald, K.; Young, A.R.; Robertson, C.W.; Whyte, C.G.; Phelps, A.D.R.;
By: Donaldson, C.R.; Wenlong He; Liang Zhang; Cross, A.W.; Ronald, K.; Young, A.R.; Robertson, C.W.; Whyte, C.G.; Phelps, A.D.R.;
2012 / IEEE
By: de Ridder, R.M.; Bernhardi, E.H.; Burla, M.; Marpaung, D.A.I.; Worhoff, K.; Khan, M.R.H.; Roeloffzen, C.G.H.; Pollnau, M.;
By: de Ridder, R.M.; Bernhardi, E.H.; Burla, M.; Marpaung, D.A.I.; Worhoff, K.; Khan, M.R.H.; Roeloffzen, C.G.H.; Pollnau, M.;
2012 / IEEE
By: Bize, S.; Clairon, A.; Gibble, K.; Ruoxin Li; Tobar, M.E.; Rosenbusch, P.; Abgrall, M.; Santarelli, G.; Lours, M.; Chupin, B.; Laurent, P.; Rovera, D.; Guena, J.;
By: Bize, S.; Clairon, A.; Gibble, K.; Ruoxin Li; Tobar, M.E.; Rosenbusch, P.; Abgrall, M.; Santarelli, G.; Lours, M.; Chupin, B.; Laurent, P.; Rovera, D.; Guena, J.;
2012 / IEEE
By: Dan Zhu; Shilong Pan; Zhenzhou Tang; Jianping Yao; Ronghui Guo; De Ben; Minghai Pan; Yongjiu Zhao;
By: Dan Zhu; Shilong Pan; Zhenzhou Tang; Jianping Yao; Ronghui Guo; De Ben; Minghai Pan; Yongjiu Zhao;
1992 / IEEE / 000-0-0000-0000-0
By: Levine, J.; Harteneck, B.; Cooksey, N.; Benford, J.; Price, D.; Willey, M.; Aiello, N.; Sprehn, D.; Smith, R.;
By: Levine, J.; Harteneck, B.; Cooksey, N.; Benford, J.; Price, D.; Willey, M.; Aiello, N.; Sprehn, D.; Smith, R.;
1992 / IEEE / 000-0-0000-0000-0
By: Kamada, K.; Kawasaki, S.; Masuzaki, M.; Ando, R.; Tamagawa, F.; Matsumura, N.; Sakamoto, M.; Kanazawa, T.;
By: Kamada, K.; Kawasaki, S.; Masuzaki, M.; Ando, R.; Tamagawa, F.; Matsumura, N.; Sakamoto, M.; Kanazawa, T.;
1992 / IEEE / 000-0-0000-0000-0
By: Abe, D.K.; Bromborsky, A.; Miller, S.M.; Levush, B.; Carmel, Y.; Antonsen, T.;
By: Abe, D.K.; Bromborsky, A.; Miller, S.M.; Levush, B.; Carmel, Y.; Antonsen, T.;
1992 / IEEE / 000-0-0000-0000-0
By: Fayne, W.R.; Hendricks, K.J.; Lemke, R.W.; Clark, M.C.; Bowers, L.A.; Platt, R.C.; Haworth, M.D.; Davis, C.E.;
By: Fayne, W.R.; Hendricks, K.J.; Lemke, R.W.; Clark, M.C.; Bowers, L.A.; Platt, R.C.; Haworth, M.D.; Davis, C.E.;
1992 / IEEE / 000-0-0000-0000-0
By: Baranov, S.V.; Alexandrovich, D.V.; Sulakshin, A.S.; Pozdeev, V.V.; Didenko, A.N.; Novikov, S.S.; Maidanovskii, A.S.; Fomenko, G.P.; Filipenko, N.M.;
By: Baranov, S.V.; Alexandrovich, D.V.; Sulakshin, A.S.; Pozdeev, V.V.; Didenko, A.N.; Novikov, S.S.; Maidanovskii, A.S.; Fomenko, G.P.; Filipenko, N.M.;
1992 / IEEE / 000-0-0000-0000-0
By: Khryapov, P.A.; Deichuli, M.P.; Slepkov, A.I.; Chernyavsky, I.A.; Bugaev, S.P.; Bastrikov, A.N.; Koshelev, V.I.; Pikunov, V.M.; Kanavets, V.I.; Zakharov, A.N.; Sukhushin, K.N.; Sochugov, N.S.; Lopatin, V.V.;
By: Khryapov, P.A.; Deichuli, M.P.; Slepkov, A.I.; Chernyavsky, I.A.; Bugaev, S.P.; Bastrikov, A.N.; Koshelev, V.I.; Pikunov, V.M.; Kanavets, V.I.; Zakharov, A.N.; Sukhushin, K.N.; Sochugov, N.S.; Lopatin, V.V.;
2004 / IEEE / 978-5-87911-088-3
By: Raymond, P.; Larour, J.; Cousin, R.; Gouard, P.; Durand, A.J.; Wey, J.;
By: Raymond, P.; Larour, J.; Cousin, R.; Gouard, P.; Durand, A.J.; Wey, J.;
Mechanism of self-excitation of an FEM oscillator based on coupling of propagating and trapped waves
2004 / IEEE / 978-5-87911-088-3By: Malkin, A.M.; Ginzburg, N.S.; Sergeev, A.S.; Peskov, N.Yu.;
2004 / IEEE / 978-5-87911-088-3
By: Ulyanov, D.K.; Tarakanov, V.P.; Shkvarunets, A.; Ponomarev, A.V.; Loza, O.T.; Kuzelev, M.V.; Krasilnikov, M.A.; Kartashov, I.N.; Ivanov, I.E.; Bogdankevich, I.L.; Rukhadze, A.A.; Strelkov, P.S.;
By: Ulyanov, D.K.; Tarakanov, V.P.; Shkvarunets, A.; Ponomarev, A.V.; Loza, O.T.; Kuzelev, M.V.; Krasilnikov, M.A.; Kartashov, I.N.; Ivanov, I.E.; Bogdankevich, I.L.; Rukhadze, A.A.; Strelkov, P.S.;
2004 / IEEE / 978-5-87911-088-3
By: Zavolsky, N.A.; Zaitsev, N.I.; Rozental, R.M.; Petelin, M.I.; Ilyakov, E.V.; Moiseev, M.A.; Kuzikov, S.V.; Kulagin, I.S.;
By: Zavolsky, N.A.; Zaitsev, N.I.; Rozental, R.M.; Petelin, M.I.; Ilyakov, E.V.; Moiseev, M.A.; Kuzikov, S.V.; Kulagin, I.S.;
2004 / IEEE / 978-5-87911-088-3
By: Ronald, K.; Phelps, A.D.R.; Denisov, G.G.; Cross, A.W.; Burt, G.C.; Bratman, V.L.; Samsonov, S.V.;
By: Ronald, K.; Phelps, A.D.R.; Denisov, G.G.; Cross, A.W.; Burt, G.C.; Bratman, V.L.; Samsonov, S.V.;
2006 / IEEE / 978-3-9805741-8-1
By: Levi, F.; Jefferts, S.R.; Dai-Hyuk Yu; Heavner, T.P.; Shirley, J.H.;
By: Levi, F.; Jefferts, S.R.; Dai-Hyuk Yu; Heavner, T.P.; Shirley, J.H.;
2006 / IEEE / 978-3-9805741-8-1
By: Cibiel, G.; Sauvage, G.; Schaefer, W.; Cermak, J.; Barillet, R.; Lefebvre, F.; Salzenstein, P.; Gribaldo, S.; Hejc, G.; Sojdr, L.; Kuna, A.; Vacheret, X.; Franquet, N.; Meyer, F.; Llopis, O.; Franquet, O.;
By: Cibiel, G.; Sauvage, G.; Schaefer, W.; Cermak, J.; Barillet, R.; Lefebvre, F.; Salzenstein, P.; Gribaldo, S.; Hejc, G.; Sojdr, L.; Kuna, A.; Vacheret, X.; Franquet, N.; Meyer, F.; Llopis, O.; Franquet, O.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-329-2
By: Shpak, V.G.; Yalandin, M.I.; Sharypov, K.A.; Rukin, S.N.; Shunailov, S.A.; Klimov, A.I.; Rostov, V.V.; Ul'masculov, M.R.;
By: Shpak, V.G.; Yalandin, M.I.; Sharypov, K.A.; Rukin, S.N.; Shunailov, S.A.; Klimov, A.I.; Rostov, V.V.; Ul'masculov, M.R.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0223-5
By: Yaldiz, S.; Tierno, J.; Ferriss, M.A.; Natarajan, A.S.; Pileggi, L.; Li, X.; Calayir, V.;
By: Yaldiz, S.; Tierno, J.; Ferriss, M.A.; Natarajan, A.S.; Pileggi, L.; Li, X.; Calayir, V.;
2011 / IEEE / 978-966-335-357-9
By: Koronovskii, A.A.; Magda, I.I.; Kurkin, S.A.; Hramov, A.E.; Melezik, O.G.;
By: Koronovskii, A.A.; Magda, I.I.; Kurkin, S.A.; Hramov, A.E.; Melezik, O.G.;
2011 / IEEE / 978-966-335-357-9
By: Barkalin, V.V.; Abramov, I.I.; Chashynskiy, A.S.; Labunov, V.A.; Belogurov, E.A.;
By: Barkalin, V.V.; Abramov, I.I.; Chashynskiy, A.S.; Labunov, V.A.; Belogurov, E.A.;
2011 / IEEE / 978-966-335-357-9
By: Abramov, A.V.; Skripal, A.V.; Nikitov, S.A.; Usanov, D.A.; Bogolubov, A.S.; Ponomarev, D.V.; Frolov, A.P.; Feklistov, V.B.; Korotin, B.N.;
By: Abramov, A.V.; Skripal, A.V.; Nikitov, S.A.; Usanov, D.A.; Bogolubov, A.S.; Ponomarev, D.V.; Frolov, A.P.; Feklistov, V.B.; Korotin, B.N.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-6051-9
By: Hoang Van Nguyen; Sounas, D.; Kodera, T.; Caloz, C.; Razavipour, H.;
By: Hoang Van Nguyen; Sounas, D.; Kodera, T.; Caloz, C.; Razavipour, H.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-6051-9
By: Lours, M.; Haboucha, A.; Li, T.; Zhang, W.; Luiten, A.N.; Le Coq, Y.; Santarelli, G.; Holzwarth, R.;
By: Lours, M.; Haboucha, A.; Li, T.; Zhang, W.; Luiten, A.N.; Le Coq, Y.; Santarelli, G.; Holzwarth, R.;
Next Page
Follow Us
Copyright © 2014 SharedBook. All rights reserved. Customer Service ·
Privacy Policy
·
User Agreement ·
Accessibility ·
Sitemap