Your Search Results
Use materials about this topic in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content - such as case studies and journal articles - for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Topic: Microwave Integrated Circuits
Results
2011 / IEEE
By: Hernandez-Serrano, J.; Bartoli, A.; Barthel, D.; Kountouris, A.; Dohler, M.; Soriano, M.;
By: Hernandez-Serrano, J.; Bartoli, A.; Barthel, D.; Kountouris, A.; Dohler, M.; Soriano, M.;
Digital amplifier of 96 kHz PWM frequency with 91dB dynamic range and 0.13% THD+N at full modulation
2012 / IEEEBy: Hah, Z.; Kyoungsoo, P.; Sung, K.-M.;
2012 / IEEE
By: Raboso, D.; Martinez, B.G.; Jimenez, M.; Gil, J.; Anza, S.; Vicente, C.; Boria, V.E.; Quesada, F.; Alvarez, A.;
By: Raboso, D.; Martinez, B.G.; Jimenez, M.; Gil, J.; Anza, S.; Vicente, C.; Boria, V.E.; Quesada, F.; Alvarez, A.;
2012 / IEEE
By: Takahashi, H.; Agari, K.; Yahata, K.; Katoh, K.; Satoh, Y.; Saitoh, Y.; Saijyo, M.; Ogata, K.; Kawada, T.; Yamanoi, Y.; Watanabe, H.; Toyoda, A.; Tanaka, K.H.; Takasaki, M.; Suzuki, Y.; Shirakabe, Y.; Sawada, S.; Sato, Y.; Noumi, H.; Naruki, M.; Muto, R.; Minakawa, M.; Katoh, Y.; Iio, M.; Ieiri, M.; Hirose, E.;
By: Takahashi, H.; Agari, K.; Yahata, K.; Katoh, K.; Satoh, Y.; Saitoh, Y.; Saijyo, M.; Ogata, K.; Kawada, T.; Yamanoi, Y.; Watanabe, H.; Toyoda, A.; Tanaka, K.H.; Takasaki, M.; Suzuki, Y.; Shirakabe, Y.; Sawada, S.; Sato, Y.; Noumi, H.; Naruki, M.; Muto, R.; Minakawa, M.; Katoh, Y.; Iio, M.; Ieiri, M.; Hirose, E.;
2012 / IEEE
By: Zirath, H.; Chee-Way Oh; Chang, E.Y.; Wei-Cheng Wu; Chin-Te Wang; Li-Han Hsu; Yueh-Chin Lin; Wee-Chin Lim; Szu-Ping Tsai;
By: Zirath, H.; Chee-Way Oh; Chang, E.Y.; Wei-Cheng Wu; Chin-Te Wang; Li-Han Hsu; Yueh-Chin Lin; Wee-Chin Lim; Szu-Ping Tsai;
2012 / IEEE
By: Kohler, C.; Yuliang Zheng; Sazegar, M.; Jakoby, R.; Binder, J.R.; Nikfalazar, M.; Maune, H.;
By: Kohler, C.; Yuliang Zheng; Sazegar, M.; Jakoby, R.; Binder, J.R.; Nikfalazar, M.; Maune, H.;
2000 / IEEE
By: Gaponenko, A. M.; Karlik, K. V.; Sukhov, M. Yu.; Proskurovsky, D. I.; Polevin, S. D.; Kitsanov, S. A.; Klimov, A. I.; Konovalov, I. N.; Korovin, S. D.; Mesyats, G. A.; Pegel, I. V.;
By: Gaponenko, A. M.; Karlik, K. V.; Sukhov, M. Yu.; Proskurovsky, D. I.; Polevin, S. D.; Kitsanov, S. A.; Klimov, A. I.; Konovalov, I. N.; Korovin, S. D.; Mesyats, G. A.; Pegel, I. V.;
2000 / IEEE
By: Tsukuda, H.; Watanabe, T.; Kamada, K.; Ando, R.; Lee, C. Y.; Toyosugi, N.; Matsuoka, M.; Masuzaki, M.;
By: Tsukuda, H.; Watanabe, T.; Kamada, K.; Ando, R.; Lee, C. Y.; Toyosugi, N.; Matsuoka, M.; Masuzaki, M.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1226-5
By: Soker, S.; Ge Wang; Furth, M.; Rylander, C.; Rylander, M.N.; Yong Xu; Goldstein, A.S.; Whited, B.M.; Hofmann, M.C.; Freeman, J.W.;
By: Soker, S.; Ge Wang; Furth, M.; Rylander, C.; Rylander, M.N.; Yong Xu; Goldstein, A.S.; Whited, B.M.; Hofmann, M.C.; Freeman, J.W.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0265-5
By: Jais, U.S.; Aris, A.H.M.; Mahat, M.M.; Ramli, R.; Yahya, M.F.Z.R.;
By: Jais, U.S.; Aris, A.H.M.; Mahat, M.M.; Ramli, R.; Yahya, M.F.Z.R.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-978-2
By: Boria, V.E.; Belenguer, A.; Esteban, H.; Caballero, E.D.; Cascon, J.; Morro, J.V.;
By: Boria, V.E.; Belenguer, A.; Esteban, H.; Caballero, E.D.; Cascon, J.; Morro, J.V.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0223-5
By: Yaldiz, S.; Tierno, J.; Ferriss, M.A.; Natarajan, A.S.; Pileggi, L.; Li, X.; Calayir, V.;
By: Yaldiz, S.; Tierno, J.; Ferriss, M.A.; Natarajan, A.S.; Pileggi, L.; Li, X.; Calayir, V.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1005-6
By: Drinkwater, M.; Pettinato, S.; Brogioni, M.; Macelloni, G.; Zasso, R.; Padovan, B.; Zaccaria, J.; Crepaz, A.;
By: Drinkwater, M.; Pettinato, S.; Brogioni, M.; Macelloni, G.; Zasso, R.; Padovan, B.; Zaccaria, J.; Crepaz, A.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1005-6
By: Sievinen, P.; Hallikainen, M.T.; Lemmetyinen, J.; Rouhe, E.; von Lerber, A.; Vaaja, M.; Seppanen, J.;
By: Sievinen, P.; Hallikainen, M.T.; Lemmetyinen, J.; Rouhe, E.; von Lerber, A.; Vaaja, M.; Seppanen, J.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1005-6
By: Davidson, M.; Rott, H.; Nagler, T.; Wiesmann, A.; Vehvilainen, J.; Schuettemeyer, D.; Arslan, A.; Pulliainen, J.; Lemmetyinen, J.; Rautiainen, K.; Kern, M.;
By: Davidson, M.; Rott, H.; Nagler, T.; Wiesmann, A.; Vehvilainen, J.; Schuettemeyer, D.; Arslan, A.; Pulliainen, J.; Lemmetyinen, J.; Rautiainen, K.; Kern, M.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0035-4
By: Gunathilaka, W.M.D.R.; Narampanawe, K.M.M.W.N.; Dinesh, H.G.C.P.;
By: Gunathilaka, W.M.D.R.; Narampanawe, K.M.M.W.N.; Dinesh, H.G.C.P.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-6051-9
By: Shiji Pan; Guclu, C.; Capolino, F.; Heydari, P.; Gilreath, L.; Byung-Kwan Chun; Nazari, P.;
By: Shiji Pan; Guclu, C.; Capolino, F.; Heydari, P.; Gilreath, L.; Byung-Kwan Chun; Nazari, P.;