Your Search Results
Use materials about this topic in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content - such as case studies and journal articles - for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Topic: Microscopy
Results
2011 / IEEE
By: Saltz, J.H.; Moreno, C.S.; Kurc, T.M.; Van Meir, E.G.; Pan, T.; Sharma, A.; Brat, D.J.; Jingjing Gao; Gutman, D.A.; Fusheng Wang; Cooper, L.A.D.; Jun Kong; Chisolm, C.;
By: Saltz, J.H.; Moreno, C.S.; Kurc, T.M.; Van Meir, E.G.; Pan, T.; Sharma, A.; Brat, D.J.; Jingjing Gao; Gutman, D.A.; Fusheng Wang; Cooper, L.A.D.; Jun Kong; Chisolm, C.;
2012 / IEEE
By: Mills, D.; Smith, J.; Nunnally, R.L.; Chu, A.C.; Judy, J.W.; Cohen, M.S.; Rivera, D.S.; Clark, W.G.;
By: Mills, D.; Smith, J.; Nunnally, R.L.; Chu, A.C.; Judy, J.W.; Cohen, M.S.; Rivera, D.S.; Clark, W.G.;
2012 / IEEE
By: Hovakimyan, M.; Sperlich, K.; Reiss, S.; Stachs, O.; Stolz, H.; Guthoff, R.F.; Martius, P.;
By: Hovakimyan, M.; Sperlich, K.; Reiss, S.; Stachs, O.; Stolz, H.; Guthoff, R.F.; Martius, P.;
2012 / IEEE
By: Chang, R.; Tokumasu, F.; Allen, D.W.; Lesoine, J.F.; Litorja, M.; Clarke, M.L.; Ji Youn Lee; Jeeseong Hwang;
By: Chang, R.; Tokumasu, F.; Allen, D.W.; Lesoine, J.F.; Litorja, M.; Clarke, M.L.; Ji Youn Lee; Jeeseong Hwang;
2012 / IEEE
By: Weber, G.H.; Morozov, D.; Ushizima, D.; Bethel, E.W.; Sethian, J.A.; Bianchi, A.G.C.;
By: Weber, G.H.; Morozov, D.; Ushizima, D.; Bethel, E.W.; Sethian, J.A.; Bianchi, A.G.C.;
2012 / IEEE
By: Su, P.-J.; Dong, C.-Y.; Hsueh, C.-M.; Hu, P.-S.; Chen, W.-L.; Tsai, T.-H.; Chen, S.-J.; Hovhannisyan, V. A.;
By: Su, P.-J.; Dong, C.-Y.; Hsueh, C.-M.; Hu, P.-S.; Chen, W.-L.; Tsai, T.-H.; Chen, S.-J.; Hovhannisyan, V. A.;
2012 / IEEE
By: Tahara, T.; Yonesaka, R.; Yamamoto, S.; Kakue, T.; Matoba, O.; Awatsuji, Y.; Nishio, K.; Ura, S.; Kubota, T.; Peng Xia;
By: Tahara, T.; Yonesaka, R.; Yamamoto, S.; Kakue, T.; Matoba, O.; Awatsuji, Y.; Nishio, K.; Ura, S.; Kubota, T.; Peng Xia;
2012 / IEEE
By: Culurciello, E.; Platisa, J.; Dickensheets, D.; Joon Hyuk Park; Osman, A.; Pieribone, V.A.;
By: Culurciello, E.; Platisa, J.; Dickensheets, D.; Joon Hyuk Park; Osman, A.; Pieribone, V.A.;
2012 / IEEE
By: Nanni, P.; Buscaglia, M.T.; Buscaglia, V.; Harnagea, C.; Azodi, M.; Pignolet, A.; Rosei, F.;
By: Nanni, P.; Buscaglia, M.T.; Buscaglia, V.; Harnagea, C.; Azodi, M.; Pignolet, A.; Rosei, F.;
2012 / IEEE
By: Cholleti, S.R.; Pan, T.C.; Widener, P.; Gutman, D.A.; Jun Kong; Fusheng Wang; Sharma, A.; Carter, A.B.; Cooper, L.A.D.; Saltz, J.H.; Farris, A.B.; Brat, D.J.; Kurc, T.M.;
By: Cholleti, S.R.; Pan, T.C.; Widener, P.; Gutman, D.A.; Jun Kong; Fusheng Wang; Sharma, A.; Carter, A.B.; Cooper, L.A.D.; Saltz, J.H.; Farris, A.B.; Brat, D.J.; Kurc, T.M.;
2012 / IEEE
By: Luengo-Oroz, M.A.; Santos, A.; Peyrieras, N.; Beaurepaire, E.; Bourgine, P.; Debarre, D.; Faure, E.; Ledesma-Carbayo, M.; Pastor, D.; Olivier, N.; Duloquin, L.; Savy, T.; Rubio-Guivernau, J.L.;
By: Luengo-Oroz, M.A.; Santos, A.; Peyrieras, N.; Beaurepaire, E.; Bourgine, P.; Debarre, D.; Faure, E.; Ledesma-Carbayo, M.; Pastor, D.; Olivier, N.; Duloquin, L.; Savy, T.; Rubio-Guivernau, J.L.;
2002 / IEEE / 978-0-7354-0107-5
By: Chalise, Priya R.; Watanabe, Masato; Okino, Akitoshi; Ko, Kwang-cheol; Hotta, Eiki;
By: Chalise, Priya R.; Watanabe, Masato; Okino, Akitoshi; Ko, Kwang-cheol; Hotta, Eiki;
2004 / IEEE / 978-5-87911-088-3
By: Honzawa, T.; Yatsui, K.; Weihua Jiang; Yunogami, T.; Hirai, M.; Suematsu, H.; Suzuki, T.; Honda, N.;
By: Honzawa, T.; Yatsui, K.; Weihua Jiang; Yunogami, T.; Hirai, M.; Suematsu, H.; Suzuki, T.; Honda, N.;
2010 / IEEE / 978-1-4244-5261-3
By: Chan, K.K.F.; Cairney, J.M.; Ringer, S.P.; Petersen, T.; Hambe, M.;
By: Chan, K.K.F.; Cairney, J.M.; Ringer, S.P.; Petersen, T.; Hambe, M.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0088-0
By: Katz, J.; Sullivan, J.; Donaghay, P.; Hong, J.; Twardowski, M.; Talapatra, S.;
By: Katz, J.; Sullivan, J.; Donaghay, P.; Hong, J.; Twardowski, M.; Talapatra, S.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1226-5
By: Ferraro, P.; Doblas, A.; Martinez-Corral, M.; Sanchez-Ortiga, E.; Saavedra, G.;
By: Ferraro, P.; Doblas, A.; Martinez-Corral, M.; Sanchez-Ortiga, E.; Saavedra, G.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1226-5
By: Jourdain, P.; Boss, D.; Kuhn, J.; Marquet, P.; Depeursinge, C.; Magistretti, P.;
By: Jourdain, P.; Boss, D.; Kuhn, J.; Marquet, P.; Depeursinge, C.; Magistretti, P.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1226-5
By: Tahara, T.; Matoba, O.; Nishio, K.; Kubota, T.; Ura, S.; Awatsuji, Y.; Kakue, T.;
By: Tahara, T.; Matoba, O.; Nishio, K.; Kubota, T.; Ura, S.; Awatsuji, Y.; Kakue, T.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0279-2
By: Kempke, R.C.; Rigby, S.J.; Chao Zhang; Xiaoyi Shen; Mason, M.J.; Fellers, C.L.;
By: Kempke, R.C.; Rigby, S.J.; Chao Zhang; Xiaoyi Shen; Mason, M.J.; Fellers, C.L.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-8115-6
By: Tholia, A.; Naruka, G.S.; Singh, R.K.; Bhardwaj, S.; Sharma, H.D.;
By: Tholia, A.; Naruka, G.S.; Singh, R.K.; Bhardwaj, S.; Sharma, H.D.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0158-0
By: Midoh, Y.; Tonouchi, M.; Matsumoto, T.; Otani, C.; Miura, K.; Yamashita, M.; Nikawa, K.; Nakamae, K.;
By: Midoh, Y.; Tonouchi, M.; Matsumoto, T.; Otani, C.; Miura, K.; Yamashita, M.; Nikawa, K.; Nakamae, K.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0158-0
By: Liou, J.J.; Sirui Luo; Someya, T.; Sekitani, T.; Fukuda, K.; Kuribara, K.; Wen Liu;
By: Liou, J.J.; Sirui Luo; Someya, T.; Sekitani, T.; Fukuda, K.; Kuribara, K.; Wen Liu;
Application of Interactive System by Digital Camera and Computer on Geological Experimental Teaching
2011 / IEEE / 978-1-4577-0856-5By: Huang Zhaohui; Chen Zhenya;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1226-5
By: Saavedra, G.; Sanchez-Ortiga, E.; Calatayud, A.; Doblas, A.; Martinez-Corral, M.;
By: Saavedra, G.; Sanchez-Ortiga, E.; Calatayud, A.; Doblas, A.; Martinez-Corral, M.;