Your Search Results
Use materials about this topic in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content - such as case studies and journal articles - for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Topic: Mesfet Integrated Circuits
Results
1988 / IEEE
By: Fox, K.; Lester, T.; Svilans, M.; SpringThorpe, A.J.; Postolek, H.; Maritan, C.; Mandeville, P.;
By: Fox, K.; Lester, T.; Svilans, M.; SpringThorpe, A.J.; Postolek, H.; Maritan, C.; Mandeville, P.;
1988 / IEEE
By: Nakayama, Y.; Onodera, H.; Kawai, M.; Naitou, H.; Yamaguchi, N.; Yamaguchi, K.; Ohtsuka, T.; Yamashita, H.;
By: Nakayama, Y.; Onodera, H.; Kawai, M.; Naitou, H.; Yamaguchi, N.; Yamaguchi, K.; Ohtsuka, T.; Yamashita, H.;
1989 / IEEE
By: Crow, J.D.; Widiger, D.; Bermon, S.; Callegari, A.; Ewen, J.F.; Feder, J.D.; Greiner, J.H.; Harris, E.P.; Hoh, P.D.; Hovel, H.J.; Magerlein, J.H.; McKoy, T.E.; Pomerene, A.T.S.; Rogers, D.L.; Scott, G.J.; Thomas, M.; Mulvey, G.W.; Ko, B.K.; Ohashi, T.; Scontras, M.; Anderson, C.J.;
By: Crow, J.D.; Widiger, D.; Bermon, S.; Callegari, A.; Ewen, J.F.; Feder, J.D.; Greiner, J.H.; Harris, E.P.; Hoh, P.D.; Hovel, H.J.; Magerlein, J.H.; McKoy, T.E.; Pomerene, A.T.S.; Rogers, D.L.; Scott, G.J.; Thomas, M.; Mulvey, G.W.; Ko, B.K.; Ohashi, T.; Scontras, M.; Anderson, C.J.;
1988 / IEEE
By: Shinagawa, M.; Sakamoto, K.; Akitake, I.; Shinkawa, K.; Mizukami, H.; Nagashima, T.; Hatashita, H.; Sakuta, K.;
By: Shinagawa, M.; Sakamoto, K.; Akitake, I.; Shinkawa, K.; Mizukami, H.; Nagashima, T.; Hatashita, H.; Sakuta, K.;
1989 / IEEE
By: Delaney, M.J.; Rosenbaum, S.E.; McCray, L.G.; Thompson, M.A.; Hooper, W.W.; Brown, A.S.; Deakin, D.S.; Jensen, J.F.; Larson, L.E.; Chou, C.S.;
By: Delaney, M.J.; Rosenbaum, S.E.; McCray, L.G.; Thompson, M.A.; Hooper, W.W.; Brown, A.S.; Deakin, D.S.; Jensen, J.F.; Larson, L.E.; Chou, C.S.;
1992 / IEEE
By: Pande, K.; Hegazi, G.; Pages, P.; Ghahremani, M.; Phelleps, F.; Rice, P.; Cornfeld, A.; Chang, E.;
By: Pande, K.; Hegazi, G.; Pages, P.; Ghahremani, M.; Phelleps, F.; Rice, P.; Cornfeld, A.; Chang, E.;
1991 / IEEE
By: Abdel-Kader, W.G.; Tran, L.; Weatherfold, T.R.; McNulty, P.J.; Stapor, W.J.; McMorrow, D.; Langworthy, J.B.; Petersen, E.L.;
By: Abdel-Kader, W.G.; Tran, L.; Weatherfold, T.R.; McNulty, P.J.; Stapor, W.J.; McMorrow, D.; Langworthy, J.B.; Petersen, E.L.;
1991 / IEEE / 0-87942-591-1
By: Aust, M.V.; Andrews, S.S.; Yang, D.C.; Lin, T.S.; Dow, G.S.; Yonaki, J.; Ton, T.N.;
By: Aust, M.V.; Andrews, S.S.; Yang, D.C.; Lin, T.S.; Dow, G.S.; Yonaki, J.; Ton, T.N.;
1992 / IEEE
By: Shimura, T.; Miyashita, M.; Yamamoto, K.; Maemura, K.; Nogami, M.; Mitsui, Y.; Kitayama, T.; Motoshima, K.;
By: Shimura, T.; Miyashita, M.; Yamamoto, K.; Maemura, K.; Nogami, M.; Mitsui, Y.; Kitayama, T.; Motoshima, K.;
1992 / IEEE / 0-7803-0677-5
By: Kitayama, T.; Maemura, K.; Miyashita, M.; Mitsui, Y.; Yamamoto, K.; Motoshima, K.; Nogami, M.; Shimura, T.;
By: Kitayama, T.; Maemura, K.; Miyashita, M.; Mitsui, Y.; Yamamoto, K.; Motoshima, K.; Nogami, M.; Shimura, T.;
1992 / IEEE / 0-7803-0611-2
By: Mitsui, Y.; Yamamoto, K.; Maemura, K.; Miyashita, M.; Shimura, T.; Kitayama, T.; Motoshima, K.; Nogami, M.;
By: Mitsui, Y.; Yamamoto, K.; Maemura, K.; Miyashita, M.; Shimura, T.; Kitayama, T.; Motoshima, K.; Nogami, M.;
1993 / IEEE
By: Johnson, N.P.; Beaumont, S.P.; Wilkinson, C.D.W.; Thayne, I.G.; Adams, J.A.; Stanley, C.R.; Kean, A.K.;
By: Johnson, N.P.; Beaumont, S.P.; Wilkinson, C.D.W.; Thayne, I.G.; Adams, J.A.; Stanley, C.R.; Kean, A.K.;
1992 / IEEE / 0-7803-0773-9
By: Christou, A.; Turner, J.; Stathaki, E.; Perantinos, G.; Papavassiliou, C.; Halkias, G.;
By: Christou, A.; Turner, J.; Stathaki, E.; Perantinos, G.; Papavassiliou, C.; Halkias, G.;
1993 / IEEE / 0-7803-1209-0
By: Ghahremani, M.; Adair, J.; Rice, P.; Singer, J.; Phelleps, F.; Pande, K.; Ho, T.;
By: Ghahremani, M.; Adair, J.; Rice, P.; Singer, J.; Phelleps, F.; Pande, K.; Ho, T.;
1994 / IEEE / 0-7803-1778-5
By: Nagaoka, M.; Yoshimura, M.; Uchitomi, N.; Kitaura, Y.; Ishida, K.; Inoue, T.; Tanabe, Y.; Takagi, E.; Kayano, H.; Obayashi, S.; Kawakyu, K.;
By: Nagaoka, M.; Yoshimura, M.; Uchitomi, N.; Kitaura, Y.; Ishida, K.; Inoue, T.; Tanabe, Y.; Takagi, E.; Kayano, H.; Obayashi, S.; Kawakyu, K.;
1994 / IEEE
By: Fujimoto, H.; Kunihisa, T.; Yokoyama, T.; Ishikawa, O.; Ikeda, H.; Ishida, K.; Takehara, H.;
By: Fujimoto, H.; Kunihisa, T.; Yokoyama, T.; Ishikawa, O.; Ikeda, H.; Ishida, K.; Takehara, H.;
1994 / IEEE
By: Suzuki, T.; Matsunaga, T.; Terada, T.; Ishida, K.; Kitaura, Y.; Ikeda, Y.; Seshita, T.; Wakimoto, H.; Uchitomi, N.;
By: Suzuki, T.; Matsunaga, T.; Terada, T.; Ishida, K.; Kitaura, Y.; Ikeda, Y.; Seshita, T.; Wakimoto, H.; Uchitomi, N.;