Your Search Results
Use materials about this topic in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content - such as case studies and journal articles - for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Topic: Masers
Results
1987 / IEEE
By: Mattison, Edward M.; Vessot, Robert F. C.; Agosta, Charles C.; Godfried, Herman P.; Silvera, Isaac F.; Walsworth, Ronald L.;
By: Mattison, Edward M.; Vessot, Robert F. C.; Agosta, Charles C.; Godfried, Herman P.; Silvera, Isaac F.; Walsworth, Ronald L.;
2011 / IEEE
By: Kan Wu; Lee, K.E.K.; Huy Quoc Lam; Jia Haur Wong; Chunmei Ouyang; Aditya, S.; Shum, P.P.;
By: Kan Wu; Lee, K.E.K.; Huy Quoc Lam; Jia Haur Wong; Chunmei Ouyang; Aditya, S.; Shum, P.P.;
2012 / IEEE
By: Heifetz, A.; Elmer, T.W.; Koehl, E.R.; Gopalsami, N.; Shaolin Liao; Raptis, A.C.; Chien, H.;
By: Heifetz, A.; Elmer, T.W.; Koehl, E.R.; Gopalsami, N.; Shaolin Liao; Raptis, A.C.; Chien, H.;
2012 / IEEE
By: Ouyang, C.; Wu, K.; Lim, P.H.; Wong, V.; Shum, P.P.; Aditya, S.; Lam, H.Q.; Wong, J.H.; Lee, K.E.K.;
By: Ouyang, C.; Wu, K.; Lim, P.H.; Wong, V.; Shum, P.P.; Aditya, S.; Lam, H.Q.; Wong, J.H.; Lee, K.E.K.;
2012 / IEEE
By: Gaomeng Wang; Li Zhan; Qishun Shen; Pingping Xiao; Zhijing Wu; Jinmei Liu; Liang Zhang; Xuesong Liu;
By: Gaomeng Wang; Li Zhan; Qishun Shen; Pingping Xiao; Zhijing Wu; Jinmei Liu; Liang Zhang; Xuesong Liu;
2012 / IEEE
By: de Ridder, R.M.; Bernhardi, E.H.; Burla, M.; Marpaung, D.A.I.; Worhoff, K.; Khan, M.R.H.; Roeloffzen, C.G.H.; Pollnau, M.;
By: de Ridder, R.M.; Bernhardi, E.H.; Burla, M.; Marpaung, D.A.I.; Worhoff, K.; Khan, M.R.H.; Roeloffzen, C.G.H.; Pollnau, M.;
2012 / IEEE
By: Ning Hua Zhu; Hao Wu; Hai Qing Yuan; Wei Han; Ke Sun; Jia Sheng Wang; Jiang Wei Man; Xu Ming Wu; Xin Wang; Yu Liu; Liang Xie; Xiao Qiong Qi;
By: Ning Hua Zhu; Hao Wu; Hai Qing Yuan; Wei Han; Ke Sun; Jia Sheng Wang; Jiang Wei Man; Xu Ming Wu; Xin Wang; Yu Liu; Liang Xie; Xiao Qiong Qi;
2012 / IEEE
By: Jiang Wei Man; Liang Xie; Wei Wang; Ning Hua Zhu; Yu Liu; Bao Jun Wang; Ling Juan Zhao; Hai Qing Yuan; Xin Wang; Hong Liang Zhu;
By: Jiang Wei Man; Liang Xie; Wei Wang; Ning Hua Zhu; Yu Liu; Bao Jun Wang; Ling Juan Zhao; Hai Qing Yuan; Xin Wang; Hong Liang Zhu;
2012 / IEEE
By: Bize, S.; Clairon, A.; Gibble, K.; Ruoxin Li; Tobar, M.E.; Rosenbusch, P.; Abgrall, M.; Santarelli, G.; Lours, M.; Chupin, B.; Laurent, P.; Rovera, D.; Guena, J.;
By: Bize, S.; Clairon, A.; Gibble, K.; Ruoxin Li; Tobar, M.E.; Rosenbusch, P.; Abgrall, M.; Santarelli, G.; Lours, M.; Chupin, B.; Laurent, P.; Rovera, D.; Guena, J.;
1992 / IEEE / 000-0-0000-0000-0
By: Zhang, Z.X.; Bidwell, S.W.; Freund, H.P.; Rodgers, J.; Levush, B.; Granatstein, V.L.; Destler, W.W.; Antonsen, T.M.;
By: Zhang, Z.X.; Bidwell, S.W.; Freund, H.P.; Rodgers, J.; Levush, B.; Granatstein, V.L.; Destler, W.W.; Antonsen, T.M.;
1992 / IEEE / 000-0-0000-0000-0
By: Chen, S.C.; Wurtele, J.S.; Trotz, S.; Temkin, R.J.; Lin, C.L.; Gonichon, J.; Danly, B.G.;
By: Chen, S.C.; Wurtele, J.S.; Trotz, S.; Temkin, R.J.; Lin, C.L.; Gonichon, J.; Danly, B.G.;
2004 / IEEE / 978-5-87911-088-3
By: Peskov, N.Y.; Kuznetsov, S.A.; Kuznetsov, A.S.; Kalinin, P.V.; Sinitsky, S.L.; Ivanenko, V.G.; Ginzburg, N.S.; Arzhannikov, A.V.; Stepanov, V.D.;
By: Peskov, N.Y.; Kuznetsov, S.A.; Kuznetsov, A.S.; Kalinin, P.V.; Sinitsky, S.L.; Ivanenko, V.G.; Ginzburg, N.S.; Arzhannikov, A.V.; Stepanov, V.D.;
2004 / IEEE / 978-5-87911-088-3
By: Wenlong He; Cross, A.W.; McGrane, P.; Ronald, K.; Konoplev, I.V.; Phelps, A.D.R.; Robertson, C.W.; Whyte, C.G.; Thumm, M.; Sergeev, A.S.; Peskov, N.Y.; Ginzburg, N.S.;
By: Wenlong He; Cross, A.W.; McGrane, P.; Ronald, K.; Konoplev, I.V.; Phelps, A.D.R.; Robertson, C.W.; Whyte, C.G.; Thumm, M.; Sergeev, A.S.; Peskov, N.Y.; Ginzburg, N.S.;
2004 / IEEE / 978-5-87911-088-3
By: Perelshtein, E.A.; Kaminsky, A.K.; Savilov, A.V.; Peskov, N.Y.; Sergeev, A.P.; Sedykh, S.N.;
By: Perelshtein, E.A.; Kaminsky, A.K.; Savilov, A.V.; Peskov, N.Y.; Sergeev, A.P.; Sedykh, S.N.;
2006 / IEEE / 978-3-9805741-8-1
By: Kopylov, L.N.; Novoselov, A.V.; Elkin, G.A.; Domnin, Y.S.; Pal'chikov, V.G.; Malychev, Y.M.; Baryshev, V.N.;
By: Kopylov, L.N.; Novoselov, A.V.; Elkin, G.A.; Domnin, Y.S.; Pal'chikov, V.G.; Malychev, Y.M.; Baryshev, V.N.;
2006 / IEEE / 978-3-9805741-8-1
By: Gerard, A.; Holleville, D.; Guerandel, S.; Tremine, S.; Dimarcq, N.; Esnault, F.X.; Perrin, S.; Clairon, A.;
By: Gerard, A.; Holleville, D.; Guerandel, S.; Tremine, S.; Dimarcq, N.; Esnault, F.X.; Perrin, S.; Clairon, A.;
2006 / IEEE / 978-3-9805741-8-1
By: Droz, F.; Waller, P.; Emma, F.; Pike, T.; Schmidt, U.; Barmaverain, G.; Mattioni, L.; Belloni, M.; Qinghua Wang; Rochat, P.; Mosset, P.;
By: Droz, F.; Waller, P.; Emma, F.; Pike, T.; Schmidt, U.; Barmaverain, G.; Mattioni, L.; Belloni, M.; Qinghua Wang; Rochat, P.; Mosset, P.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-112-0
By: Santarelli, G.; Davies, A.G.; Linfield, E.H.; Khanna, S.P.; Ravaro, M.; Sirtori, C.; Manquest, C.; Gellie, P.; Barbieri, S.;
By: Santarelli, G.; Davies, A.G.; Linfield, E.H.; Khanna, S.P.; Ravaro, M.; Sirtori, C.; Manquest, C.; Gellie, P.; Barbieri, S.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-329-2
By: MacInnes, P.; Cross, A.W.; He, W.; Young, A.R.; Phelps, A.D.R.; Robertson, C.W.; Whyte, C.G.; Ronald, K.;
By: MacInnes, P.; Cross, A.W.; He, W.; Young, A.R.; Phelps, A.D.R.; Robertson, C.W.; Whyte, C.G.; Ronald, K.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-6051-9
By: Messina, F.; Gaudiomonte, F.; Bolli, P.; Ambrosini, R.; Roma, M.;
By: Messina, F.; Gaudiomonte, F.; Bolli, P.; Ambrosini, R.; Roma, M.;
2011 / IEEE / 978-1-55752-932-9
By: Barry, L.P.; Phelan, R.; O'Carroll, J.; Latkowski, S.; Rui Zhou; Anandarajah, P.;
By: Barry, L.P.; Phelan, R.; O'Carroll, J.; Latkowski, S.; Rui Zhou; Anandarajah, P.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-6051-9
By: Lours, M.; Haboucha, A.; Li, T.; Zhang, W.; Luiten, A.N.; Le Coq, Y.; Santarelli, G.; Holzwarth, R.;
By: Lours, M.; Haboucha, A.; Li, T.; Zhang, W.; Luiten, A.N.; Le Coq, Y.; Santarelli, G.; Holzwarth, R.;
2011 / IEEE / 978-966-335-357-9
By: Berezhnoi, A.A.; Volvach, A.E.; Volvach, L.N.; Volvach, E.A.; Strepka, I.D.;
By: Berezhnoi, A.A.; Volvach, A.E.; Volvach, L.N.; Volvach, E.A.; Strepka, I.D.;
2011 / IEEE / 978-1-55752-932-9
By: Leroy, O.; Leprince, P.; Jamier, R.; Boisse-Laporte, C.; Blondy, J.-M.; Gerome, F.; Debord, B.; Benabid, F.;
By: Leroy, O.; Leprince, P.; Jamier, R.; Boisse-Laporte, C.; Blondy, J.-M.; Gerome, F.; Debord, B.; Benabid, F.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-718-4
By: LaRochelle, S.; Malacarne, A.; Ming Li; Azana, J.; Jianping Yao;
By: LaRochelle, S.; Malacarne, A.; Ming Li; Azana, J.; Jianping Yao;
2011 / IEEE / 978-1-61284-718-4
By: Ruoming Li; Shum, P.P.; Quoc Huy Lam; Lee, K.E.K.; Peng Huei Lim; Jia Haur Wong; Aditya, S.; Meng Jiang; Songnian Fu; Junqiang Zhou;
By: Ruoming Li; Shum, P.P.; Quoc Huy Lam; Lee, K.E.K.; Peng Huei Lim; Jia Haur Wong; Aditya, S.; Meng Jiang; Songnian Fu; Junqiang Zhou;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0509-0
By: Ginzburg, N.S.; Thumm, M.; Astrelin, V.T.; Arzhannikov, A.V.; Zaslavsky, V.Y.; Kalinin, P.V.; Stepanov, V.D.; Sinitsky, S.L.; Sergeev, A.S.; Peskov, N.Y.; Kuznetsov, S.A.;
By: Ginzburg, N.S.; Thumm, M.; Astrelin, V.T.; Arzhannikov, A.V.; Zaslavsky, V.Y.; Kalinin, P.V.; Stepanov, V.D.; Sinitsky, S.L.; Sergeev, A.S.; Peskov, N.Y.; Kuznetsov, S.A.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0509-0
By: Kalinin, P.V.; Arzhannikov, A.V.; Sergeev, A.S.; Peskov, N.Y.; Ginzburg, N.S.; Thumm, M.; Sinitsky, S.L.;
By: Kalinin, P.V.; Arzhannikov, A.V.; Sergeev, A.S.; Peskov, N.Y.; Ginzburg, N.S.; Thumm, M.; Sinitsky, S.L.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0509-0
By: Kong, Y.-Y.; Chai, B.; Zhang, H.-B.; Zhang, S.-C.; Xin, Q.; Lai, Y.-X.;
By: Kong, Y.-Y.; Chai, B.; Zhang, H.-B.; Zhang, S.-C.; Xin, Q.; Lai, Y.-X.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0509-0
By: Robertson, C.W.; Cross, A.W.; MacLachlan, A.J.; Phipps, A.R.; Konoplev, I.V.; Phelps, A.D.R.; Young, A.R.;
By: Robertson, C.W.; Cross, A.W.; MacLachlan, A.J.; Phipps, A.R.; Konoplev, I.V.; Phelps, A.D.R.; Young, A.R.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-8939-8
By: Ironside, C.N.; Seunarine, K.; Tandoi, G.; Bryce, A.C.; Marsh, J.H.;
By: Ironside, C.N.; Seunarine, K.; Tandoi, G.; Bryce, A.C.; Marsh, J.H.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-8939-8
By: Karim, A.M.; Callahan, P.T.; Adles, E.J.; Clark, T.R.; Dennis, M.L.;
By: Karim, A.M.; Callahan, P.T.; Adles, E.J.; Clark, T.R.; Dennis, M.L.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1694-2
By: Sirbu, A.; Caliman, A.; Mereuta, A.; Suruceanu, G.; Kapon, E.; Iakovlev, V.; Loparev, A.V.; Belkin, L.M.; Belkin, M.E.;
By: Sirbu, A.; Caliman, A.; Mereuta, A.; Suruceanu, G.; Kapon, E.; Iakovlev, V.; Loparev, A.V.; Belkin, L.M.; Belkin, M.E.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-264-6
By: Zamzuri, A.K.; Sulaiman, A.H.; Mahdi, M.A.; Abas, A.F.; Hitam, S.; Yusoff, N.M.;
By: Zamzuri, A.K.; Sulaiman, A.H.; Mahdi, M.A.; Abas, A.F.; Hitam, S.; Yusoff, N.M.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-8939-8
By: Merghem, K.; Huyet, G.; Hegarty, S.P.; McInerney, J.G.; Sooudi, E.; Ramdane, A.; Martinez, A.;
By: Merghem, K.; Huyet, G.; Hegarty, S.P.; McInerney, J.G.; Sooudi, E.; Ramdane, A.; Martinez, A.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0031-6
By: Lee, K.E.K.; Lam, H.Q.; Shum, P.P.; Peng Huei Lim; Aditya, S.; Jia Haur Wong; Wong, V.;
By: Lee, K.E.K.; Lam, H.Q.; Shum, P.P.; Peng Huei Lim; Aditya, S.; Jia Haur Wong; Wong, V.;
2011 / IEEE / 978-0-9775657-8-8
By: Eggleton, B.J.; Luther-Davies, B.; Madden, S.J.; Enbang Li; Duk-Yong Choi; Poulton, C.; Pant, R.;
By: Eggleton, B.J.; Luther-Davies, B.; Madden, S.J.; Enbang Li; Duk-Yong Choi; Poulton, C.; Pant, R.;
2012 / IEEE / 978-1-55752-935-1
By: Ming Li; Azana, J.; Jianping Yao; LaRochelle, S.; Belhadj, N.; Malacarne, A.;
By: Ming Li; Azana, J.; Jianping Yao; LaRochelle, S.; Belhadj, N.; Malacarne, A.;
2012 / IEEE / 978-1-4577-1820-5
By: Lijun Wang; Bo Wang; Kai Miao; Shiguang Wang; Zhengbo Wang; Jianwei Zhang;
By: Lijun Wang; Bo Wang; Kai Miao; Shiguang Wang; Zhengbo Wang; Jianwei Zhang;