Your Search Results
Use materials about this topic in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content - such as case studies and journal articles - for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Topic: Magnetic Resonance
Results
2011 / IEEE
By: Naganuma, H.; Watanabe, D.; Zhang, X.; Kubota, T.; Oogane, M.; Mizukami, S.; Miyazaki, T.; Ando, Y.;
By: Naganuma, H.; Watanabe, D.; Zhang, X.; Kubota, T.; Oogane, M.; Mizukami, S.; Miyazaki, T.; Ando, Y.;
2011 / IEEE
By: Nagata, M.; Sasaki, Y.; Yoshikawa, K.; Sasaki, Y.; Yamaguchi, M.; Endo, Y.; Kodate, W.; Muroga, S.;
By: Nagata, M.; Sasaki, Y.; Yoshikawa, K.; Sasaki, Y.; Yamaguchi, M.; Endo, Y.; Kodate, W.; Muroga, S.;
2011 / IEEE
By: Yakata, S.; Kubota, H.; Nozaki, T.; Seki, T.; Ando, K.; Maehara, H.; Suzuki, Y.; Ishibashi, S.; Yuasa, S.; Fukushima, A.;
By: Yakata, S.; Kubota, H.; Nozaki, T.; Seki, T.; Ando, K.; Maehara, H.; Suzuki, Y.; Ishibashi, S.; Yuasa, S.; Fukushima, A.;
2011 / IEEE
By: Yao, C.; Yamaguchi, M.; Endo, Y.; Kitakami, O.; Shimada, Y.; Okamoto, S.; Pei, W.L.; Qin, G.W.;
By: Yao, C.; Yamaguchi, M.; Endo, Y.; Kitakami, O.; Shimada, Y.; Okamoto, S.; Pei, W.L.; Qin, G.W.;
2011 / IEEE
By: Munakata, M.; Sato, A.; Yabukami, S.; Shiokawa, T.; Takahashi, J.; Shimada, Y.; Yanagi, K.; Miyazawa, Y.; Ozawa, T.;
By: Munakata, M.; Sato, A.; Yabukami, S.; Shiokawa, T.; Takahashi, J.; Shimada, Y.; Yanagi, K.; Miyazawa, Y.; Ozawa, T.;
2011 / IEEE
By: Le Guen, E.; Chevalier, A.; Mattei, J.-L.; Thakur, A.; Tarot, A.-C.; Queffelec, P.; Souriou, D.; Grisart, B.;
By: Le Guen, E.; Chevalier, A.; Mattei, J.-L.; Thakur, A.; Tarot, A.-C.; Queffelec, P.; Souriou, D.; Grisart, B.;
2011 / IEEE
By: Lee, B.; Choi, J.-J.; Kim, J.-Y.; Wu, Q.; Lee, J.-C.; Zhang, F.; Meng, F.-Y.; Zhang, K.;
By: Lee, B.; Choi, J.-J.; Kim, J.-Y.; Wu, Q.; Lee, J.-C.; Zhang, F.; Meng, F.-Y.; Zhang, K.;
2011 / IEEE
By: Serrano-Guisan, S.; Liebing, N.; Schumacher, H.W.; Muller, A.; Caprile, A.; Pasquale, M.; Celegato, F.; Olivetti, E.S.;
By: Serrano-Guisan, S.; Liebing, N.; Schumacher, H.W.; Muller, A.; Caprile, A.; Pasquale, M.; Celegato, F.; Olivetti, E.S.;
2011 / IEEE
By: Panina, L.V.; Peng, H.X.; Qin, F.X.; Gonzalez, J.; Zhukov, A.; Zhukova, V.; Ipatov, M.;
By: Panina, L.V.; Peng, H.X.; Qin, F.X.; Gonzalez, J.; Zhukov, A.; Zhukova, V.; Ipatov, M.;
2012 / IEEE
By: Vansteenkiste, A.; Van de Wiele, B.; De Zutter, D.; Dupre, L.; Van Waeyenberge, B.; Kammerer, M.;
By: Vansteenkiste, A.; Van de Wiele, B.; De Zutter, D.; Dupre, L.; Van Waeyenberge, B.; Kammerer, M.;
2012 / IEEE
By: Gvozdev, A.K.; Semenov, V.E.; Zaitsev, N.I.; Zharova, N.A.; Sorokin, A.A.; Puech, J.; Rasch, J.; Lisak, M.;
By: Gvozdev, A.K.; Semenov, V.E.; Zaitsev, N.I.; Zharova, N.A.; Sorokin, A.A.; Puech, J.; Rasch, J.; Lisak, M.;
2012 / IEEE
By: Woytasik, M.; Moulin, J.; Ravaud, R.; Shahosseini, I.; Martinsic, E.; Lemarquand, G.; Lemarquand, V.; Lefeuvre, E.; Pillonnet, G.;
By: Woytasik, M.; Moulin, J.; Ravaud, R.; Shahosseini, I.; Martinsic, E.; Lemarquand, G.; Lemarquand, V.; Lefeuvre, E.; Pillonnet, G.;
2012 / IEEE
By: Mendenhall, M.H.; Chen, E.; Ong, A.; Mewes, T.; Schafer, S.; Chen, A.P.; Reed, R.A.; Shull, R.; Shu-Fan Cheng; McMarr, P.J.; Bussmann, K.; Hughes, H.;
By: Mendenhall, M.H.; Chen, E.; Ong, A.; Mewes, T.; Schafer, S.; Chen, A.P.; Reed, R.A.; Shull, R.; Shu-Fan Cheng; McMarr, P.J.; Bussmann, K.; Hughes, H.;
2012 / IEEE
By: Pasquale, M.; Olariu, M.A.; Olivetti, E.S.; Manu, O.M.; Scarlatache, V.A.; Kabos, P.; Fiorillo, F.; Coisson, M.; Caprile, A.;
By: Pasquale, M.; Olariu, M.A.; Olivetti, E.S.; Manu, O.M.; Scarlatache, V.A.; Kabos, P.; Fiorillo, F.; Coisson, M.; Caprile, A.;
2012 / IEEE
By: Perez-Landazabal, J.I.; Labrador, A.; Gomez-Polo, C.; Ederra, I.; Liberal, I.; Gonzalo, R.;
By: Perez-Landazabal, J.I.; Labrador, A.; Gomez-Polo, C.; Ederra, I.; Liberal, I.; Gonzalo, R.;