Your Search Results
Use materials about this topic in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content - such as case studies and journal articles - for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Topic: Magnetic Field Measurement
Results
2011 / IEEE
By: Nagata, M.; Sasaki, Y.; Yoshikawa, K.; Sasaki, Y.; Yamaguchi, M.; Endo, Y.; Kodate, W.; Muroga, S.;
By: Nagata, M.; Sasaki, Y.; Yoshikawa, K.; Sasaki, Y.; Yamaguchi, M.; Endo, Y.; Kodate, W.; Muroga, S.;
2011 / IEEE
By: Adachi, Y.; Oyama, D.; Uehara, G.; Hashimoto, I.; Yumoto, M.; Kasahara, T.; Hatsusaka, N.;
By: Adachi, Y.; Oyama, D.; Uehara, G.; Hashimoto, I.; Yumoto, M.; Kasahara, T.; Hatsusaka, N.;
2012 / IEEE
By: Joo-Hyung Kim; Seokjin Kwon; Jongwoo Jun; Myoungki Choi; Jinyi Lee; Minhhuy Le; Jungmin Kim;
By: Joo-Hyung Kim; Seokjin Kwon; Jongwoo Jun; Myoungki Choi; Jinyi Lee; Minhhuy Le; Jungmin Kim;
2012 / IEEE
By: Sandler, G.; Fernandez-de-Castro, J.; Curland, N.; Hurben, M.; Krivosik, P.; Le, G.;
By: Sandler, G.; Fernandez-de-Castro, J.; Curland, N.; Hurben, M.; Krivosik, P.; Le, G.;
2012 / IEEE
By: Kedia, S.; Khristi, Y.; Varmora, P.; Sharma, A.N.; Prasad, U.; Doshi, K.; Pradhan, S.; Patel, D.;
By: Kedia, S.; Khristi, Y.; Varmora, P.; Sharma, A.N.; Prasad, U.; Doshi, K.; Pradhan, S.; Patel, D.;
Surface-Charging Analysis of the Radiation Belt Storm Probe and Magnetospheric MultiScale Spacecraft
2012 / IEEEBy: Davis, V.A.; Herrmann, C.; Maurer, R.H.; Davis, G.T.; Brown-Hayes, M.; Baker, N.R.; Mandell, M.J.;
2012 / IEEE
By: Carpio, J.; Gonzalez-Fernandez, F.J.; San Andres, M.A.G.; Munoz-Condes, P.; Gomez-Parra, M.; Sancho, C.; Guirado, R.;
By: Carpio, J.; Gonzalez-Fernandez, F.J.; San Andres, M.A.G.; Munoz-Condes, P.; Gomez-Parra, M.; Sancho, C.; Guirado, R.;
2012 / IEEE
By: Leotta, G.; Aiello, S.; Grimaldi, A.; Leonora, E.; Lo Presti, D.; Sipala, V.; Sciliberto, D.; Randazzo, N.;
By: Leotta, G.; Aiello, S.; Grimaldi, A.; Leonora, E.; Lo Presti, D.; Sipala, V.; Sciliberto, D.; Randazzo, N.;
2012 / IEEE
By: Scheins, J.; Brenner, D.; Weirich, C.; Shah, N.J.; Herzog, H.; Tellmann, L.; Besancon, E.;
By: Scheins, J.; Brenner, D.; Weirich, C.; Shah, N.J.; Herzog, H.; Tellmann, L.; Besancon, E.;
2012 / IEEE
By: Bin-Fang Wang; Wei-Jiang Zhao; Er-Ping Li; Eakhwan Song; Hyun Ho Park; Hark Byeong Park; En-Xiao Liu;
By: Bin-Fang Wang; Wei-Jiang Zhao; Er-Ping Li; Eakhwan Song; Hyun Ho Park; Hark Byeong Park; En-Xiao Liu;
2012 / IEEE
By: Xiaopeng Dong; Xiaokang Sun; Kin Seng Chiang; Ming Deng; Tao Zhu; Lei Gao; Yusong Hou;
By: Xiaopeng Dong; Xiaokang Sun; Kin Seng Chiang; Ming Deng; Tao Zhu; Lei Gao; Yusong Hou;
2012 / IEEE
By: Yang, C.S.; Huang, H.M.; Chen, H.H.; Hwang, C.S.; Jan, J.C.; Coad, B.; Lin, F.Y.; Chang, C.H.; Kerr, N.; Chung, T.Y.; Chu, Y.L.; Kuo, C.Y.;
By: Yang, C.S.; Huang, H.M.; Chen, H.H.; Hwang, C.S.; Jan, J.C.; Coad, B.; Lin, F.Y.; Chang, C.H.; Kerr, N.; Chung, T.Y.; Chu, Y.L.; Kuo, C.Y.;
2012 / IEEE
By: Yamada, M.; Iwashita, Y.; Shimizu, H.M.; Masuzawa, M.; Tongu, H.; Nasu, Y.; Fuwa, Y.; Ushijima, S.;
By: Yamada, M.; Iwashita, Y.; Shimizu, H.M.; Masuzawa, M.; Tongu, H.; Nasu, Y.; Fuwa, Y.; Ushijima, S.;
2012 / IEEE
By: Floch, E.; Xiang, Y.; Leibrock, H.; Yuan, P.; Yao, Q.G.; Ma, L.Z.; Wu, W.; Ni, D.S.; Zhang, X.Y.; Han, S.F.;
By: Floch, E.; Xiang, Y.; Leibrock, H.; Yuan, P.; Yao, Q.G.; Ma, L.Z.; Wu, W.; Ni, D.S.; Zhang, X.Y.; Han, S.F.;
2012 / IEEE
By: Ogitsu, T.; Nakamura, T.; Kurusu, T.; Obana, T.; Noda, K.; Orikasa, T.; Mizuta, S.; Amemiya, N.;
By: Ogitsu, T.; Nakamura, T.; Kurusu, T.; Obana, T.; Noda, K.; Orikasa, T.; Mizuta, S.; Amemiya, N.;
2012 / IEEE
By: Petrov, A.; Krause, B.; Konstantinov, A.Y.; Kitaev, B.A.; Serebrova, N.M.; Doinikov, N.I.; Decking, W.; Ananiev, S.M.; Bondarchuk, E.N.;
By: Petrov, A.; Krause, B.; Konstantinov, A.Y.; Kitaev, B.A.; Serebrova, N.M.; Doinikov, N.I.; Decking, W.; Ananiev, S.M.; Bondarchuk, E.N.;
2012 / IEEE
By: Martinez, L.M.; Martinez, T.; Guirao, A.; Garcia-Tabares, L.; Gutierrez, J.L.; de la Gama, J.; Cela, J.M.; Calero, J.; Abramian, P.; Sanz, S.; Vazquez, C.; Toral, F.; Pardillo, A.; Moya, I.; Molina, E.;
By: Martinez, L.M.; Martinez, T.; Guirao, A.; Garcia-Tabares, L.; Gutierrez, J.L.; de la Gama, J.; Cela, J.M.; Calero, J.; Abramian, P.; Sanz, S.; Vazquez, C.; Toral, F.; Pardillo, A.; Moya, I.; Molina, E.;
2012 / IEEE
By: Yao, Q.G.; Sun, G.P.; Zhang, X.Q.; Zhang, B.; Ma, L.Z.; Yuan, P.; Zhang, S.L.; Yang, T.J.; Ni, D.S.; Zhang, X.Y.; Wu, W.; Han, S.F.; He, Y.; Xu, D.Y.; Xie, C.A.; Wang, F.; Wang, W.J.;
By: Yao, Q.G.; Sun, G.P.; Zhang, X.Q.; Zhang, B.; Ma, L.Z.; Yuan, P.; Zhang, S.L.; Yang, T.J.; Ni, D.S.; Zhang, X.Y.; Wu, W.; Han, S.F.; He, Y.; Xu, D.Y.; Xie, C.A.; Wang, F.; Wang, W.J.;
2012 / IEEE
By: Yuejin Tang; Fengshun Jiao; Tao Jin; Shiping Zhou; Quqin Sun; Jing Shi; Jingdong Li; Li Ren; Jianzhong Dou;
By: Yuejin Tang; Fengshun Jiao; Tao Jin; Shiping Zhou; Quqin Sun; Jing Shi; Jingdong Li; Li Ren; Jianzhong Dou;
2012 / IEEE
By: Yabuno, R.; Fukui, S.; Kawasaki, N.; Oka, T.; Ogawa, J.; Itoh, Y.; Terasawa, T.; Sato, T.;
By: Yabuno, R.; Fukui, S.; Kawasaki, N.; Oka, T.; Ogawa, J.; Itoh, Y.; Terasawa, T.; Sato, T.;
2012 / IEEE
By: Seyeon Lee; Yungil Kim; Sang Ho Park; Ji-Kwang Lee; Song-Yop Hahn; Kyeongdal Choi; Woo-Seok Kim;
By: Seyeon Lee; Yungil Kim; Sang Ho Park; Ji-Kwang Lee; Song-Yop Hahn; Kyeongdal Choi; Woo-Seok Kim;
2012 / IEEE
By: Zen, H.; Masuda, K.; Shimahashi, K.; Komai, T.; Ishida, K.; Yoshida, K.; Sonobe, T.; Omer, M.; Choi, Y.W.; Bakr, M.A.; Shibata, M.; Kimura, N.; Kinjo, R.; Kii, T.; Ohgaki, H.;
By: Zen, H.; Masuda, K.; Shimahashi, K.; Komai, T.; Ishida, K.; Yoshida, K.; Sonobe, T.; Omer, M.; Choi, Y.W.; Bakr, M.A.; Shibata, M.; Kimura, N.; Kinjo, R.; Kii, T.; Ohgaki, H.;
Description of an Electromagnetic/Permanent Magnet Helical Undulator for Fast Polarization Switching
2012 / IEEEBy: Filhol, J.M.; Elajjouri, T.; Daguerre, J.P.; Bouvet, F.; Couprie, M.E.; Chapuis, L.; Lebasque, P.; Berteaud, P.; Marteau, F.; Tavakoli, K.; Mary, A.; Marlats, J.L.;
2012 / IEEE
By: Debray, F.; Lamy, T.; Trophime, C.; Thuillier, T.; Sala, P.; Marie-Jeanne, M.; Latrasse, L.;
By: Debray, F.; Lamy, T.; Trophime, C.; Thuillier, T.; Sala, P.; Marie-Jeanne, M.; Latrasse, L.;