Your Search Results
Use materials about this topic in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content - such as case studies and journal articles - for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Topic: Lumped Parameter Networks
Results
2012 / IEEE
By: Murakami, H.; Sako, K.; Minato, T.; Hasegawa, M.; Matsukawa, M.; Terakado, T.; Shimada, K.; Yamauchi, K.; Yoshida, K.; Tsuchiya, K.; Kizu, K.;
By: Murakami, H.; Sako, K.; Minato, T.; Hasegawa, M.; Matsukawa, M.; Terakado, T.; Shimada, K.; Yamauchi, K.; Yoshida, K.; Tsuchiya, K.; Kizu, K.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-8327-3
By: Knudsen, M.B.; Pelosi, M.; Tatomirescu, A.; Pedersen, G.F.; Franek, O.;
By: Knudsen, M.B.; Pelosi, M.; Tatomirescu, A.; Pedersen, G.F.; Franek, O.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-2019-2
By: Doncov, N.; Russer, J.; Russer, P.; Milovanovic, B.; Stosic, B.; Mukhtar, F.;
By: Doncov, N.; Russer, J.; Russer, P.; Milovanovic, B.; Stosic, B.; Mukhtar, F.;
2011 / IEEE / 978-0-85825-974-4
By: Ichiguchi, S.; Nakajima, R.; Hasegawa, T.; Okada, T.; Koshino, M.; Wada, T.;
By: Ichiguchi, S.; Nakajima, R.; Hasegawa, T.; Okada, T.; Koshino, M.; Wada, T.;
2012 / IEEE / 978-1-4577-1318-7
By: Wipf, C.; Schulz, K.; Knoll, D.; Korndorfer, F.; Scholz, R.; Drews, J.; Zhang, W.; Wietstruck, M.; Kaynak, M.; Tillack, B.; Schumacher, H.; Ulusoy, A.C.; Purtova, T.; Liu, G.; Muhlhaus, V.; Ehrmann, O.; Wilke, M.; Zoschke, K.; Suchodoletz, M.V.; Kaletta, K.; Elkhouly, M.;
By: Wipf, C.; Schulz, K.; Knoll, D.; Korndorfer, F.; Scholz, R.; Drews, J.; Zhang, W.; Wietstruck, M.; Kaynak, M.; Tillack, B.; Schumacher, H.; Ulusoy, A.C.; Purtova, T.; Liu, G.; Muhlhaus, V.; Ehrmann, O.; Wilke, M.; Zoschke, K.; Suchodoletz, M.V.; Kaletta, K.; Elkhouly, M.;
2010 / American Institute of Physics
By: Jorge Carbonell; Charles Croënne; Frédéric Garet; Eric Lheurette; Jean Louis Coutaz; Didier Lippens;
By: Jorge Carbonell; Charles Croënne; Frédéric Garet; Eric Lheurette; Jean Louis Coutaz; Didier Lippens;
2014 / IEEE
By: Rodriguez, J.; Hussaini, A.S.; Elfergani, I.T.E.; McEwan, N.J.; Zhu, S.; Jan, N.; See, C.H.; Abd-Alhameed, R.A.;
By: Rodriguez, J.; Hussaini, A.S.; Elfergani, I.T.E.; McEwan, N.J.; Zhu, S.; Jan, N.; See, C.H.; Abd-Alhameed, R.A.;