Your Search Results
Use materials about this topic in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content - such as case studies and journal articles - for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Topic: Lenses
Results
2011 / IEEE
By: Neto, A.; Iacono, A.; Hoevers, H.; Gerini, G.; Freni, A.; Baselmans, J.J.A.; Baryshev, A.;
By: Neto, A.; Iacono, A.; Hoevers, H.; Gerini, G.; Freni, A.; Baselmans, J.J.A.; Baryshev, A.;
2011 / IEEE
By: Cherednichenko, S.; Motlagh, B.M.; Gunnarsson, S.E.; Karandikar, Y.B.; Kallfass, I.; Yu Yan; Zirath, H.; Leuther, A.;
By: Cherednichenko, S.; Motlagh, B.M.; Gunnarsson, S.E.; Karandikar, Y.B.; Kallfass, I.; Yu Yan; Zirath, H.; Leuther, A.;
2011 / IEEE
By: Lorfevre, E.; Bezerra, F.; Samaras, A.; Lewis, D.; Darracq, F.; Ecoffet, R.; Larue, C.; Shao, K.; Pouget, V.; Faraud, E.;
By: Lorfevre, E.; Bezerra, F.; Samaras, A.; Lewis, D.; Darracq, F.; Ecoffet, R.; Larue, C.; Shao, K.; Pouget, V.; Faraud, E.;
2011 / IEEE
By: Chi-Yen Huang; Chie-Tong Kuo; I-Min Jiang; Ru-Hsien Chiang; Cheng-Hsiung Chen; Chi-Huang Lin;
By: Chi-Yen Huang; Chie-Tong Kuo; I-Min Jiang; Ru-Hsien Chiang; Cheng-Hsiung Chen; Chi-Huang Lin;
2011 / IEEE
By: Masuda, H.; Shibata, T.; Takai, T.; Lee, Y.; Hamamura, S.; Chujo, N.; Adachi, K.; Kawamura, D.; Matsuoka, Y.; Sugawara, T.;
By: Masuda, H.; Shibata, T.; Takai, T.; Lee, Y.; Hamamura, S.; Chujo, N.; Adachi, K.; Kawamura, D.; Matsuoka, Y.; Sugawara, T.;
2011 / IEEE
By: Bawamia, A.I.; Erbert, G.; Sumpf, B.; Thomas, M.; Spiesserger, S.; Ginolas, A.; Eppich, B.; Blume, G.;
By: Bawamia, A.I.; Erbert, G.; Sumpf, B.; Thomas, M.; Spiesserger, S.; Ginolas, A.; Eppich, B.; Blume, G.;
2012 / IEEE
By: Hovakimyan, M.; Sperlich, K.; Reiss, S.; Stachs, O.; Stolz, H.; Guthoff, R.F.; Martius, P.;
By: Hovakimyan, M.; Sperlich, K.; Reiss, S.; Stachs, O.; Stolz, H.; Guthoff, R.F.; Martius, P.;
2012 / IEEE
By: Koehl, E.R.; Elmer, T.W.; Gopalsami, N.; Shaolin Liao; Heifetz, A.; Raptis, A.C.; Dieckman, E.; Avers, K.;
By: Koehl, E.R.; Elmer, T.W.; Gopalsami, N.; Shaolin Liao; Heifetz, A.; Raptis, A.C.; Dieckman, E.; Avers, K.;
2012 / IEEE
By: Su, P.-J.; Dong, C.-Y.; Hsueh, C.-M.; Hu, P.-S.; Chen, W.-L.; Tsai, T.-H.; Chen, S.-J.; Hovhannisyan, V. A.;
By: Su, P.-J.; Dong, C.-Y.; Hsueh, C.-M.; Hu, P.-S.; Chen, W.-L.; Tsai, T.-H.; Chen, S.-J.; Hovhannisyan, V. A.;
2012 / IEEE
By: Culurciello, E.; Platisa, J.; Dickensheets, D.; Joon Hyuk Park; Osman, A.; Pieribone, V.A.;
By: Culurciello, E.; Platisa, J.; Dickensheets, D.; Joon Hyuk Park; Osman, A.; Pieribone, V.A.;
Generation of High-Quality Tunable One-Dimensional Airy Beams Using the Aberrations of a Single Lens
2012 / IEEEBy: Blaya, S.; Carretero, L.; Acebal, P.; Murciano, A.;
2012 / IEEE
By: Yamada, M.; Iwashita, Y.; Shimizu, H.M.; Masuzawa, M.; Tongu, H.; Nasu, Y.; Fuwa, Y.; Ushijima, S.;
By: Yamada, M.; Iwashita, Y.; Shimizu, H.M.; Masuzawa, M.; Tongu, H.; Nasu, Y.; Fuwa, Y.; Ushijima, S.;
2012 / IEEE
By: Takahiro, T.; Sei, T.; Iriuchijima, Y.; Fujiwara, T.; Sagawa, N.; Nakamura, K.; Khorram, H.R.; Hayashi, T.; Nakano, K.; Shiraishi, K.;
By: Takahiro, T.; Sei, T.; Iriuchijima, Y.; Fujiwara, T.; Sagawa, N.; Nakamura, K.; Khorram, H.R.; Hayashi, T.; Nakano, K.; Shiraishi, K.;
2012 / IEEE
By: Akhtar, R.; Xuegen Zhao; Watson, R.E.B.; Derby, B.; Nijenhuis, N.; Sherratt, M.J.; Ballestrem, C.; Murphy, L.; Wilkinson, S.J.;
By: Akhtar, R.; Xuegen Zhao; Watson, R.E.B.; Derby, B.; Nijenhuis, N.; Sherratt, M.J.; Ballestrem, C.; Murphy, L.; Wilkinson, S.J.;
2012 / IEEE
By: Klaus, W.; Watanabe, M.; Kobayashi, T.; Wada, N.; Awaji, Y.; Puttnam, B.J.; Sakaguchi, J.;
By: Klaus, W.; Watanabe, M.; Kobayashi, T.; Wada, N.; Awaji, Y.; Puttnam, B.J.; Sakaguchi, J.;
2012 / IEEE
By: Berkani, M.; Khatir, Z.; Moussodji, J.; Kociniewski, T.; Azzopardi, S.; Lefebvre, S.;
By: Berkani, M.; Khatir, Z.; Moussodji, J.; Kociniewski, T.; Azzopardi, S.; Lefebvre, S.;
2012 / IEEE
By: Albero, J.; Davis, J.A.; Moreno, I.; Cerrolaza, B.; Oton, E.; Bennis, N.; Garcia-Martinez, P.;
By: Albero, J.; Davis, J.A.; Moreno, I.; Cerrolaza, B.; Oton, E.; Bennis, N.; Garcia-Martinez, P.;