Your Search Results
Use materials about this topic in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content - such as case studies and journal articles - for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Topic: Large Scale Integration
Results
Standard cell approach for generating custom CMOS/SOS devices using a fully automatic layout program
1981 / IEEEBy: Smith, Allan M.; Noto, Richard; Feller, Albert;
2011 / IEEE
By: Kudo, H.; Nara, Y.; Kitada, H.; Owada, T.; Sakai, H.; Haneda, M.; Ochimizu, H.; Sunayama, M.; Tabira, T.; Ohtsuka, N.;
By: Kudo, H.; Nara, Y.; Kitada, H.; Owada, T.; Sakai, H.; Haneda, M.; Ochimizu, H.; Sunayama, M.; Tabira, T.; Ohtsuka, N.;
2011 / IEEE
By: Fujimura, Y.; Mori, K.; Sasaki, H.; Ohshima, D.; Yamamichi, S.; Miki, R.; Kikuchi, K.; Enomoto, M.; Murakami, T.; Nishiyama, T.; Funaya, T.; Nakashima, Y.;
By: Fujimura, Y.; Mori, K.; Sasaki, H.; Ohshima, D.; Yamamichi, S.; Miki, R.; Kikuchi, K.; Enomoto, M.; Murakami, T.; Nishiyama, T.; Funaya, T.; Nakashima, Y.;
2011 / IEEE
By: Muto, T.; Yamashita, H.; Ono, G.; Nishimura, S.; Saito, T.; Umai, S.; Kambe, A.; Kono, M.; Toyoda, H.; Watanabe, K.; Yagyu, M.; Yuki, F.; Takemoto, T.; Suzuki, E.; Nemoto, R.; Masuda, N.; Fukuda, K.;
By: Muto, T.; Yamashita, H.; Ono, G.; Nishimura, S.; Saito, T.; Umai, S.; Kambe, A.; Kono, M.; Toyoda, H.; Watanabe, K.; Yagyu, M.; Yuki, F.; Takemoto, T.; Suzuki, E.; Nemoto, R.; Masuda, N.; Fukuda, K.;
2011 / IEEE
By: Chi-Sang Poon; Yakovlev, A.; Yicong Meng; Kai-Pui Lam; Kuan Zhou; Al-Dujaily, R.; Mak, T.;
By: Chi-Sang Poon; Yakovlev, A.; Yicong Meng; Kai-Pui Lam; Kuan Zhou; Al-Dujaily, R.; Mak, T.;
2012 / IEEE
By: Teramoto, A.; Watabe, S.; Ohmi, T.; Sugawa, S.; Miyamoto, N.; Fujisawa, T.; Abe, K.;
By: Teramoto, A.; Watabe, S.; Ohmi, T.; Sugawa, S.; Miyamoto, N.; Fujisawa, T.; Abe, K.;
2012 / IEEE
By: Bakker, A.; Soares, F.M.; Roncelli, D.; Canciamilla, A.; Morichetti, F.; Melati, D.; Melloni, A.;
By: Bakker, A.; Soares, F.M.; Roncelli, D.; Canciamilla, A.; Morichetti, F.; Melati, D.; Melloni, A.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0125-2
By: Charara, A.; Victorino, A.; da Cunha, F.H.R.; Ghandour, R.; Lechner, D.;
By: Charara, A.; Victorino, A.; da Cunha, F.H.R.; Ghandour, R.; Lechner, D.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-175-5
By: Arimoto, K.; Nii, K.; Kawai, H.; Nakano, H.; Yabuuchi, M.; Fujiwara, H.;
By: Arimoto, K.; Nii, K.; Kawai, H.; Nakano, H.; Yabuuchi, M.; Fujiwara, H.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0158-0
By: Midoh, Y.; Tonouchi, M.; Matsumoto, T.; Otani, C.; Miura, K.; Yamashita, M.; Nikawa, K.; Nakamae, K.;
By: Midoh, Y.; Tonouchi, M.; Matsumoto, T.; Otani, C.; Miura, K.; Yamashita, M.; Nikawa, K.; Nakamae, K.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-175-5
By: Suto, H.; Shigematsu, S.; Ohteru, S.; Kawamura, T.; Urano, M.; Shibata, T.; Nakanishi, M.; Kawai, K.; Tanaka, N.; Yasuda, S.; Hatano, T.; Miyazaki, A.; Kato, J.; Miura, N.; Kusaba, R.;
By: Suto, H.; Shigematsu, S.; Ohteru, S.; Kawamura, T.; Urano, M.; Shibata, T.; Nakanishi, M.; Kawai, K.; Tanaka, N.; Yasuda, S.; Hatano, T.; Miyazaki, A.; Kato, J.; Miura, N.; Kusaba, R.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0681-3
By: Tsolis, D.; Oikonomou, K.; Karydis, I.; Panaretos, A.; Sioutas, S.;
By: Tsolis, D.; Oikonomou, K.; Karydis, I.; Panaretos, A.; Sioutas, S.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-9949-6
By: Bea, J.; Tanaka, T.; Koyanagi, M.; Fukushima, T.; Lee, K.; Murugesan, M.;
By: Bea, J.; Tanaka, T.; Koyanagi, M.; Fukushima, T.; Lee, K.; Murugesan, M.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0863-3
By: Shams, F.; Jamshidi, P.; Haghighi, H.; Rostampour, A.; Azizkandi, A.N.; Kazemi, A.;
By: Shams, F.; Jamshidi, P.; Haghighi, H.; Rostampour, A.; Azizkandi, A.N.; Kazemi, A.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0754-4
By: Shams, F.; Haghighi, H.; Jamshidi, P.; Zamiri, A.; Rostampour, A.; Kazemi, A.;
By: Shams, F.; Haghighi, H.; Jamshidi, P.; Zamiri, A.; Rostampour, A.; Kazemi, A.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1174-9
By: Wu-Hsiao Hsu; Shwu-Huey Yen; Deng, L.Y.; Yung-Hui Chen; Yu-Che Haieh; Kao, B.C.;
By: Wu-Hsiao Hsu; Shwu-Huey Yen; Deng, L.Y.; Yung-Hui Chen; Yu-Che Haieh; Kao, B.C.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-8418-8
By: Ozdemir, O.; Zani, A.; Grassi, A.; Migliavacca, G.; de Joode, J.; Veum, K.C.;
By: Ozdemir, O.; Zani, A.; Grassi, A.; Migliavacca, G.; de Joode, J.; Veum, K.C.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0223-5
By: Tsuchiya, R.; Takemura, R.; Itoh, K.; Kotabe, A.; Horiguchi, M.;
By: Tsuchiya, R.; Takemura, R.; Itoh, K.; Kotabe, A.; Horiguchi, M.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-712-2
By: Yuki, F.; Yagyu, M.; Suzuki, E.; Nemoto, R.; Takemoto, T.; Masuda, N.; Yamashita, H.; Muto, T.; Watanabe, K.; Ono, G.; Fukuda, K.; Nishimura, S.; Saito, T.; Umai, S.; Kambe, A.; Kono, M.; Toyoda, H.;
By: Yuki, F.; Yagyu, M.; Suzuki, E.; Nemoto, R.; Takemoto, T.; Masuda, N.; Yamashita, H.; Muto, T.; Watanabe, K.; Ono, G.; Fukuda, K.; Nishimura, S.; Saito, T.; Umai, S.; Kambe, A.; Kono, M.; Toyoda, H.;
2011 / IEEE / 978-89-88678-50-3
By: Min Peng; Bin Ni; Yuling Xiao; Ming Yang; Ye Tian; Quanchen Lin;
By: Min Peng; Bin Ni; Yuling Xiao; Ming Yang; Ye Tian; Quanchen Lin;