Your Search Results
Use materials about this topic in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content - such as case studies and journal articles - for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Topic: L-band
Results
2012 / IEEE
By: Rautiainen, K.; Lemmetyinen, J.; Pulliainen, J.; Vehvilainen, J.; Drusch, M.; Kontu, A.; Kainulainen, J.; Seppanen, J.;
By: Rautiainen, K.; Lemmetyinen, J.; Pulliainen, J.; Vehvilainen, J.; Drusch, M.; Kontu, A.; Kainulainen, J.; Seppanen, J.;
2012 / IEEE
By: Richaume, P.; Merlin, O.; Kerr, Y.H.; Leroux, D.; Al Bitar, A.; Wood, E.F.; Sahoo, A.;
By: Richaume, P.; Merlin, O.; Kerr, Y.H.; Leroux, D.; Al Bitar, A.; Wood, E.F.; Sahoo, A.;
2012 / IEEE
By: Drusch, M.; Mecklenburg, S.; Crapolicchio, R.; Oliva, R.; Daganzo-Eusebio, E.; Reul, N.; Buenadicha, G.; Delwart, S.; Martin-Neira, M.; Font, J.; Kerr, Y.H.;
By: Drusch, M.; Mecklenburg, S.; Crapolicchio, R.; Oliva, R.; Daganzo-Eusebio, E.; Reul, N.; Buenadicha, G.; Delwart, S.; Martin-Neira, M.; Font, J.; Kerr, Y.H.;
2012 / IEEE
By: Xiang Liu; Benyuan Zhu; Yan, M.F.; Fini, J.M.; Chandrasekhar, S.; Dimarcello, F.V.; Monberg, E.M.; Fishteyn, M.; Taunay, T.F.;
By: Xiang Liu; Benyuan Zhu; Yan, M.F.; Fini, J.M.; Chandrasekhar, S.; Dimarcello, F.V.; Monberg, E.M.; Fishteyn, M.; Taunay, T.F.;
2012 / IEEE
By: Perez-Herrera, R.A.; Lopez-Amo, M.; Lopez-Higuera, J.M.; Loayssa, A.; Quintela, M.A.; Fernandez-Vallejo, M.; Leandro, D.; Ullan, A.;
By: Perez-Herrera, R.A.; Lopez-Amo, M.; Lopez-Higuera, J.M.; Loayssa, A.; Quintela, M.A.; Fernandez-Vallejo, M.; Leandro, D.; Ullan, A.;
2012 / IEEE
By: Wang Hong-jian; Liu Shihua; Cai Minghui; Huang Jianguo; Xu Yan; Fan Bin; Chen Xue; Liu Guang; Guan Fu-Ling; Yi Min;
By: Wang Hong-jian; Liu Shihua; Cai Minghui; Huang Jianguo; Xu Yan; Fan Bin; Chen Xue; Liu Guang; Guan Fu-Ling; Yi Min;
Classification Accuracy of Multi-Frequency and Multi-Polarization SAR Images for Various Land Covers
2012 / IEEEBy: Das, A.; Mohan, S.; Rao, Y.S.; Deo, R.; Turkar, V.;
2012 / IEEE
By: Le Toan, T.; Villard, L.; Rocca, F.; Tebaldini, S.; Hamadi, A.; Koleck, T.; Borderies, P.; Albinet, C.; Ho Tong Minh, D.;
By: Le Toan, T.; Villard, L.; Rocca, F.; Tebaldini, S.; Hamadi, A.; Koleck, T.; Borderies, P.; Albinet, C.; Ho Tong Minh, D.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-9563-4
By: Carter, D.; Rajagopalan, G.; Cortes-Medellin, G.; Webb, T.; Asthana, V.; Perillat, P.; Elmer, M.; Jeffs, B.D.; Warnick, K.F.; Vishwas, A.;
By: Carter, D.; Rajagopalan, G.; Cortes-Medellin, G.; Webb, T.; Asthana, V.; Perillat, P.; Elmer, M.; Jeffs, B.D.; Warnick, K.F.; Vishwas, A.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1005-6
By: Seppanen, J.; Rautiainen, K.; Lemmetyinen, J.; Hallikainen, M.; Kainulainen, J.;
By: Seppanen, J.; Rautiainen, K.; Lemmetyinen, J.; Hallikainen, M.; Kainulainen, J.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1005-6
By: Park, H.; Alcayde, A.; Bosch-Lluis, X.; Ramos, I.; Valencia, E.; Marchan, J.F.; Camps, A.; Rodriguez, N.; Rius, A.; Angulo, M.; Chavero, S.; Martinez, P.; Galindo, J.; Mollfulleda, A.;
By: Park, H.; Alcayde, A.; Bosch-Lluis, X.; Ramos, I.; Valencia, E.; Marchan, J.F.; Camps, A.; Rodriguez, N.; Rius, A.; Angulo, M.; Chavero, S.; Martinez, P.; Galindo, J.; Mollfulleda, A.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1005-6
By: Rocca, F.; Ho Tong Minh Dinh; D'Alessandro, M.M.; Tebaldini, S.;
By: Rocca, F.; Ho Tong Minh Dinh; D'Alessandro, M.M.; Tebaldini, S.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1005-6
By: Egido, A.; Brogioni, M.; Giusto, R.; Guerriero, L.; Pierdicca, N.; Floury, N.;
By: Egido, A.; Brogioni, M.; Giusto, R.; Guerriero, L.; Pierdicca, N.; Floury, N.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1005-6
By: Bogena, H.; Montzka, C.; Vereecken, H.; Vanderborght, J.; Balling, J.E.; Kainulainen, J.; Bouzinac, C.; Dimitrov, M.; Jonard, F.; Weihermueller, L.;
By: Bogena, H.; Montzka, C.; Vereecken, H.; Vanderborght, J.; Balling, J.E.; Kainulainen, J.; Bouzinac, C.; Dimitrov, M.; Jonard, F.; Weihermueller, L.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1005-6
By: Osawa, Y.; Suzuki, S.; Kankaku, Y.; Hariu, K.; Okada, Y.; Tsuji, M.; Hamasaki, T.; Iwamoto, M.;
By: Osawa, Y.; Suzuki, S.; Kankaku, Y.; Hariu, K.; Okada, Y.; Tsuji, M.; Hamasaki, T.; Iwamoto, M.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1005-6
By: Soja, M.; Sandberg, G.; Eriksson, L.; Wallerman, J.; Holmgren, J.; Ulander, L.M.H.; Dupuis, X.; Dubois-Fernandez, P.; Gustavsson, A.; Fransson, J.E.S.;
By: Soja, M.; Sandberg, G.; Eriksson, L.; Wallerman, J.; Holmgren, J.; Ulander, L.M.H.; Dupuis, X.; Dubois-Fernandez, P.; Gustavsson, A.; Fransson, J.E.S.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1005-6
By: Drinkwater, M.; Pettinato, S.; Brogioni, M.; Macelloni, G.; Zasso, R.; Padovan, B.; Zaccaria, J.; Crepaz, A.;
By: Drinkwater, M.; Pettinato, S.; Brogioni, M.; Macelloni, G.; Zasso, R.; Padovan, B.; Zaccaria, J.; Crepaz, A.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1005-6
By: McDonald, K.; Colliander, A.; Njoku, E.; Kimball, J.; Schroeder, R.; Podest, E.; Zimmerman, R.;
By: McDonald, K.; Colliander, A.; Njoku, E.; Kimball, J.; Schroeder, R.; Podest, E.; Zimmerman, R.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1005-6
By: Nadai, A.; Uratsuka, S.; Kobayashi, T.; Satake, M.; Matsuoka, T.; Umehara, T.;
By: Nadai, A.; Uratsuka, S.; Kobayashi, T.; Satake, M.; Matsuoka, T.; Umehara, T.;
2011 / IEEE / 978-1-55752-932-9
By: Dimarcello, F.V.; Monberg, E.M.; Fini, J.M.; Yan, M.F.; Liu, X.; Fishteyn, M.; Taunay, T.F.; Chandrasekhar, S.; Zhu, B.;
By: Dimarcello, F.V.; Monberg, E.M.; Fini, J.M.; Yan, M.F.; Liu, X.; Fishteyn, M.; Taunay, T.F.; Chandrasekhar, S.; Zhu, B.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-6051-9
By: Choudhury, B.J.; OrNeill, P.E.; van der Velde, R.; Joseph, A.T.; Gish, T.; Lang, R.H.; Kim, E.;
By: Choudhury, B.J.; OrNeill, P.E.; van der Velde, R.; Joseph, A.T.; Gish, T.; Lang, R.H.; Kim, E.;
2011 / IEEE / 978-89-93246-17-9
By: Watanabe, M.; Ogawa, T.; Kitamura, A.; Yonezawa, C.; Haruyama, Y.;
By: Watanabe, M.; Ogawa, T.; Kitamura, A.; Yonezawa, C.; Haruyama, Y.;
2011 / IEEE / 978-89-93246-17-9
By: Hacker, J.; Walker, J.; Panciera, R.; Yardley, H.; McGrath, A.; Gray, D.; Stacy, N.; Ruiting Yang; Bates, B.;
By: Hacker, J.; Walker, J.; Panciera, R.; Yardley, H.; McGrath, A.; Gray, D.; Stacy, N.; Ruiting Yang; Bates, B.;
Polarimetric interferometric studies of the harvard forest using l-band UAVSAR data repeat pass data
2011 / IEEE / 978-89-93246-17-9By: Michel, T.; Chapman, B.; Lavalle, M.; Neumann, M.; Oveisgharan, S.; Hensley, S.; Ahmed, R.; Siqueira, P.; Muellerschoen, R.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-264-6
By: Al-Mansoori, M.H.; Almusafer, W.K.H.; Hasoon, F.N.; Kazem, H.A.; Abdullah, F.; Jamaludin, M.Z.;
By: Al-Mansoori, M.H.; Almusafer, W.K.H.; Hasoon, F.N.; Kazem, H.A.; Abdullah, F.; Jamaludin, M.Z.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-264-6
By: Abdullah, F.; Al-Mansoori, M.H.; Jamaludin, M.Z.; Idris, S.M.; Haleem Al-Taha, M.R.;
By: Abdullah, F.; Al-Mansoori, M.H.; Jamaludin, M.Z.; Idris, S.M.; Haleem Al-Taha, M.R.;
2012 / IEEE / 978-1-4673-1470-1
By: Abraham, S.; Le Vine, D.M.; Dinnat, E.P.; Utku, C.; de Matthaeis, P.;
By: Abraham, S.; Le Vine, D.M.; Dinnat, E.P.; Utku, C.; de Matthaeis, P.;
2012 / IEEE / 978-1-4673-1470-1
By: Kostov, K.G.; Dimitrov, M.; Vereecken, H.; Vanderborght, J.; Jonard, F.; Hermes, N.; Weihermuller, L.; Schwank, M.; Jadoon, K.Z.;
By: Kostov, K.G.; Dimitrov, M.; Vereecken, H.; Vanderborght, J.; Jonard, F.; Hermes, N.; Weihermuller, L.; Schwank, M.; Jadoon, K.Z.;
2011 / IEEE / 978-0-8194-8961-6
By: Bhadra, Shyamal K; Sen, Ranjan; Das, Shyamal; Paul, Mukul C; Pal, Mrinmay;
By: Bhadra, Shyamal K; Sen, Ranjan; Das, Shyamal; Paul, Mukul C; Pal, Mrinmay;