Your Search Results
Use materials about this topic in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content - such as case studies and journal articles - for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Topic: Ir Detectors
Results
1993 / IEEE
By: Lester, L.F.; Williamson, S.L.; Whitaker, J.; Gupta, S.; Ho, P.; Sutliff, J.; Ballingall, J.M.; Mazurowski, J.; Hwang, K.C.;
By: Lester, L.F.; Williamson, S.L.; Whitaker, J.; Gupta, S.; Ho, P.; Sutliff, J.; Ballingall, J.M.; Mazurowski, J.; Hwang, K.C.;
1993 / IEEE
By: Silver, A.H.; Eaton, L.R.; Pham, T.; Leung, M.; Dalrymple, B.J.; Heflinger, L.O.; Wire, M.S.;
By: Silver, A.H.; Eaton, L.R.; Pham, T.; Leung, M.; Dalrymple, B.J.; Heflinger, L.O.; Wire, M.S.;
1995 / IEEE
By: Giboney, K.S.; Chi-Kuang Sun; I-Hsing Tan; Capik, R.J.; Miller, B.I.; Hu, E.L.; Bowers, J.E.;
By: Giboney, K.S.; Chi-Kuang Sun; I-Hsing Tan; Capik, R.J.; Miller, B.I.; Hu, E.L.; Bowers, J.E.;
1996 / IEEE / 0-7803-3283-0
By: Kordos, P.; Marso, M.; Schimpf, K.; Muttersbach, J.; Hollfelder, M.; Horstmann, M.; Luth, H.;
By: Kordos, P.; Marso, M.; Schimpf, K.; Muttersbach, J.; Hollfelder, M.; Horstmann, M.; Luth, H.;
1996 / IEEE / 0-7803-3283-0
By: Horstmann, M.; Kordos, P.; Marso, M.; Lehmann, R.; Schimpf, K.; Hollfelder, M.;
By: Horstmann, M.; Kordos, P.; Marso, M.; Lehmann, R.; Schimpf, K.; Hollfelder, M.;
1996 / IEEE / 0-7803-3283-0
By: Srnanek, R.; Jakabovic, J.; Waclawek, J.; Satka, A.; Uherek, F.; Kovac, J.; Rheinlander, B.; Barna, A.; Barna, P.; Wood, J.; Novak, J.; Hasenohrl, S.; Gottschalch, V.;
By: Srnanek, R.; Jakabovic, J.; Waclawek, J.; Satka, A.; Uherek, F.; Kovac, J.; Rheinlander, B.; Barna, A.; Barna, P.; Wood, J.; Novak, J.; Hasenohrl, S.; Gottschalch, V.;
1996 / IEEE / 0-7803-3283-0
By: Bottcher, E.H.; Lemm, C.; Bimberg, D.; Krautle, H.; Kollakowski, S.;
By: Bottcher, E.H.; Lemm, C.; Bimberg, D.; Krautle, H.; Kollakowski, S.;
1996 / IEEE / 0-7803-3223-7
By: Manea, S.A.; Grigorescu, C.E.A.; Munteanu, I.; Botila, T.; Necsoiu, T.; Logofatu, C.; Lazarescu, M.F.;
By: Manea, S.A.; Grigorescu, C.E.A.; Munteanu, I.; Botila, T.; Necsoiu, T.; Logofatu, C.; Lazarescu, M.F.;
2001 / IEEE / 0-7803-7049-X
By: Grozescu, I.; Budianu, E.; Purica, M.; Slobodchikov, S.V.; Rusu, E.;
By: Grozescu, I.; Budianu, E.; Purica, M.; Slobodchikov, S.V.; Rusu, E.;
2002 / IEEE / 1-55752-701-6
By: Ziegler, R.; Beling, A.; Mekonnen, G.G.; Bach, H.-G.; Schmidt, D.; Eisner, V.; Weiske, C.-J.; Gottwald, E.; Jacumeit, G.; Stollberg, M.;
By: Ziegler, R.; Beling, A.; Mekonnen, G.G.; Bach, H.-G.; Schmidt, D.; Eisner, V.; Weiske, C.-J.; Gottwald, E.; Jacumeit, G.; Stollberg, M.;
2002 / IEEE / 0-7803-7500-9
By: Madhukar, A.; Campbell, J.C.; Eui-Tae Kim; Zhengmao Ye; Zhonghui Chen;
By: Madhukar, A.; Campbell, J.C.; Eui-Tae Kim; Zhengmao Ye; Zhonghui Chen;
2002 / IEEE / 0-7803-7500-9
By: Calawa, S.D.; Donnelly, J.P.; Napoleone, A.; Oakley, D.C.; Mahoney, L.J.; McIntosh, K.A.; Shaver, D.C.; Duerr, E.K.; Molvar, K.M.;
By: Calawa, S.D.; Donnelly, J.P.; Napoleone, A.; Oakley, D.C.; Mahoney, L.J.; McIntosh, K.A.; Shaver, D.C.; Duerr, E.K.; Molvar, K.M.;
2005 / IEEE
By: Liu, K.; Sproule, G.I.; Oogarah, T.; Byloos, M.D.; Liu, H.C.; Krishna, S.; Buchanan, M.; Stintz, A.; von Winckel, G.; Perera, A.G.U.; Esaev, D.G.; Rinzan, M.B.M.; Matsik, S.G.;
By: Liu, K.; Sproule, G.I.; Oogarah, T.; Byloos, M.D.; Liu, H.C.; Krishna, S.; Buchanan, M.; Stintz, A.; von Winckel, G.; Perera, A.G.U.; Esaev, D.G.; Rinzan, M.B.M.; Matsik, S.G.;
2004 / IEEE / 0-7803-8490-3
By: Milostnaya, I.; Chulkova, G.; Matvienko, V.; Korneev, A.; Rubtsova, I.; Goltsman, G.; Verevkin, A.; Sobolewski, R.; Slysz, W.; Pearlman, A.;
By: Milostnaya, I.; Chulkova, G.; Matvienko, V.; Korneev, A.; Rubtsova, I.; Goltsman, G.; Verevkin, A.; Sobolewski, R.; Slysz, W.; Pearlman, A.;
2005 / IEEE
By: McMurray, R.; Kim Ennico; Fodness, B.; Gee, G.; McKelvey, M.; Jordan, T.M.; Marshall, P.W.; Ladbury, R.; Reed, R.A.; Pickel, J.C.; Schrimpf, R.D.; Mendenhall, M.H.; Weller, R.A.; Johnson, S.D.; Polidan, E.J.; Waczynski, A.; McCreight, C.;
By: McMurray, R.; Kim Ennico; Fodness, B.; Gee, G.; McKelvey, M.; Jordan, T.M.; Marshall, P.W.; Ladbury, R.; Reed, R.A.; Pickel, J.C.; Schrimpf, R.D.; Mendenhall, M.H.; Weller, R.A.; Johnson, S.D.; Polidan, E.J.; Waczynski, A.; McCreight, C.;
2007 / IEEE / 1-4244-0346-4
By: Rjabkov, S.A.; Lelekov, M.A.; Nadreev, I.I.; Rozhnev, M.A.; Tyazhev, A.V.; Nam, I.F.;
By: Rjabkov, S.A.; Lelekov, M.A.; Nadreev, I.I.; Rozhnev, M.A.; Tyazhev, A.V.; Nam, I.F.;
2006 / IEEE / 978-1-4244-1331-7
By: Jianguo Zhu; Dingquan Xiao; Yanrong Li; Huidong Huang; Hong Liu; Jin-e Liang; Xiaogang Gong; Zhihong Wang;
By: Jianguo Zhu; Dingquan Xiao; Yanrong Li; Huidong Huang; Hong Liu; Jin-e Liang; Xiaogang Gong; Zhihong Wang;
2008 / IEEE
By: Nguyen, T.; Winchester, K.J.; Antoszewski, J.; Faraone, L.; Keating, A.J.; Dell, J.M.; Musca, C.A.; Silva, K.K.M.B.;
By: Nguyen, T.; Winchester, K.J.; Antoszewski, J.; Faraone, L.; Keating, A.J.; Dell, J.M.; Musca, C.A.; Silva, K.K.M.B.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-2104-6
By: Hongzhi Chen; Fung, C.K.M.; Ning Xi; King Wai Chiu Lai; Yilun Luo; Jiangbo Zhang;
By: Hongzhi Chen; Fung, C.K.M.; Ning Xi; King Wai Chiu Lai; Yilun Luo; Jiangbo Zhang;
2008 / IEEE / 978-1-4244-2119-0
By: Zabudsky, V.; Smirnov, A.; Kamenev, Yu.; Dobrovolsky, V.; Sizov, F.;
By: Zabudsky, V.; Smirnov, A.; Kamenev, Yu.; Dobrovolsky, V.; Sizov, F.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-2580-8
By: Udrea, F.; Haneef, I.; Ali, S.Z.; Guha, P.K.; Santra, S.; Gardner, J.W.;
By: Udrea, F.; Haneef, I.; Ali, S.Z.; Guha, P.K.; Santra, S.; Gardner, J.W.;
2010 / IEEE
By: Vingelis, M.; Lucun, A.; Kazlauskaite, V.; Sirmulis, E.; Asmontas, S.; Suziedelis, A.; Gradauskas, J.;
By: Vingelis, M.; Lucun, A.; Kazlauskaite, V.; Sirmulis, E.; Asmontas, S.; Suziedelis, A.; Gradauskas, J.;