Your Search Results
Use materials about this topic in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content - such as case studies and journal articles - for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Topic: Infrared Sources
Results
2012 / IEEE
By: Hollingsworth, K.P.; Flynn, P.J.; Bowyer, K.W.; Woodard, D.L.; Miller, P.E.; Darnell, S.S.;
By: Hollingsworth, K.P.; Flynn, P.J.; Bowyer, K.W.; Woodard, D.L.; Miller, P.E.; Darnell, S.S.;
2012 / IEEE
By: Shelton, D.J.; Ginn, J.C.; Elsherbeni, A.Z.; Nayeri, P.; Fan Yang; Rahmat-Samii, Y.; Boreman, G.D.;
By: Shelton, D.J.; Ginn, J.C.; Elsherbeni, A.Z.; Nayeri, P.; Fan Yang; Rahmat-Samii, Y.; Boreman, G.D.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1516-7
By: Chih-Wei Yu; Shao-Yu Huang; Yi-Tsung Chang; Hung-Hsin Chen; Si-Chen Lee;
By: Chih-Wei Yu; Shao-Yu Huang; Yi-Tsung Chang; Hung-Hsin Chen; Si-Chen Lee;
2012 / IEEE / 978-1-4577-1772-7
By: Chun-Li Chang; Kuo-Cheng Huang; Chung-Hsing Chang; Han-Chao Chang;
By: Chun-Li Chang; Kuo-Cheng Huang; Chung-Hsing Chang; Han-Chao Chang;
2012 / IEEE / 978-1-4673-0158-9
By: Jen-Hui Chuang; Yi-Ting Chen; Hua-Tsung Chen; Horng-Horng Lin; Wen-Chih Teng;
By: Jen-Hui Chuang; Yi-Ting Chen; Hua-Tsung Chen; Horng-Horng Lin; Wen-Chih Teng;
2012 / IEEE
By: Sweeney, S.J.; Ng, J.S.; Richards, R.; Mohmad, A.R.; Bastiman, F.; Hunter, C.J.; David, J.P.R.;
By: Sweeney, S.J.; Ng, J.S.; Richards, R.; Mohmad, A.R.; Bastiman, F.; Hunter, C.J.; David, J.P.R.;
2012 / American Institute of Physics
By: YenTing Chiu; Yamac Dikmelik; Peter Q. Liu; Nyan L. Aung; Jacob B. Khurgin; Claire F. Gmachl;
By: YenTing Chiu; Yamac Dikmelik; Peter Q. Liu; Nyan L. Aung; Jacob B. Khurgin; Claire F. Gmachl;
2007 / American Institute of Physics
By: A. P. Ongstad; R. Kaspi; G. C. Dente; M. L. Tilton; J. Chavez;
By: A. P. Ongstad; R. Kaspi; G. C. Dente; M. L. Tilton; J. Chavez;
2009 / American Institute of Physics
By: J. Hader; J. V. Moloney; S. W. Koch; I. Vurgaftman; J. R. Meyer;
By: J. Hader; J. V. Moloney; S. W. Koch; I. Vurgaftman; J. R. Meyer;
2006 / American Institute of Physics
By: F. Quochi; R. Orrù; F. Cordella; A. Mura; G. Bongiovanni; F. Artizzu; P. Deplano; M. L. Mercuri; L. Pilia; A. Serpe;
By: F. Quochi; R. Orrù; F. Cordella; A. Mura; G. Bongiovanni; F. Artizzu; P. Deplano; M. L. Mercuri; L. Pilia; A. Serpe;
2008 / American Institute of Physics
By: R. Scannell; T. OGorman; P. G. Carolan; A. C. Darke; M. R. Dunstan; R. B. Huxford; G. McArdle; D. Morgan; G. Naylor; S. Shibaev; N. Barratt; K. J. Gibson; G. J. Tallents; H. R. Wilson; M. J. Walsh;
By: R. Scannell; T. OGorman; P. G. Carolan; A. C. Darke; M. R. Dunstan; R. B. Huxford; G. McArdle; D. Morgan; G. Naylor; S. Shibaev; N. Barratt; K. J. Gibson; G. J. Tallents; H. R. Wilson; M. J. Walsh;
1991 / IEEE / 0-7803-0135-8
By: Ivanchenkov, S.N.; Khlebnikov, A.S.; Joshi, C.J.; Davis, J.G.; Cline, D.B.; Barletta, W.A.; Luhmann, N.C., Jr.; Kolonko, J.; Hairapetian, G.; Smolin, J.A.; Rosenzweig, J.B.; Pellegrini, C.; Park, S.; Hartman, S.C.; Dodd, J.W.; Varfolomeev, A.A.; Lachin, Yu.Yu.;
By: Ivanchenkov, S.N.; Khlebnikov, A.S.; Joshi, C.J.; Davis, J.G.; Cline, D.B.; Barletta, W.A.; Luhmann, N.C., Jr.; Kolonko, J.; Hairapetian, G.; Smolin, J.A.; Rosenzweig, J.B.; Pellegrini, C.; Park, S.; Hartman, S.C.; Dodd, J.W.; Varfolomeev, A.A.; Lachin, Yu.Yu.;
1991 / IEEE / 0-7803-0243-5
By: Gaitan, M.; Chung, R.; Parameswaran, M.; Syrzycki, M.; Johnson, R.B.;
By: Gaitan, M.; Chung, R.; Parameswaran, M.; Syrzycki, M.; Johnson, R.B.;
1995 / IEEE
By: Jansen, E.J.; Binsma, J.J.M.; van Dongen, T.; Thijs, P.J.A.; Tiemeijer, L.F.; van Helleputte, H.R.J.R.;
By: Jansen, E.J.; Binsma, J.J.M.; van Dongen, T.; Thijs, P.J.A.; Tiemeijer, L.F.; van Helleputte, H.R.J.R.;
1993 / IEEE / 0-7803-1263-5
By: Derickson, D.J.; Braun, D.M.; Ludowise, M.J.; Sorin, W.V.; Trott, G.R.; Fouquet, J.E.;
By: Derickson, D.J.; Braun, D.M.; Ludowise, M.J.; Sorin, W.V.; Trott, G.R.; Fouquet, J.E.;
1993 / IEEE / 0-7803-1263-5
By: Knights, M.G.; Chicklis, E.P.; Pollack, T.M.; Schunemann, P.G.; Budni, P.A.;
By: Knights, M.G.; Chicklis, E.P.; Pollack, T.M.; Schunemann, P.G.; Budni, P.A.;
1995 / IEEE
By: Hanna, D.C.; Carman, R.J.; Pask, H.M.; Dawes, J.M.; Barber, P.R.; Mackechnie, C.J.; Tropper, A.C.;
By: Hanna, D.C.; Carman, R.J.; Pask, H.M.; Dawes, J.M.; Barber, P.R.; Mackechnie, C.J.; Tropper, A.C.;
1995 / IEEE
By: Mars, D.E.; Hu, E.L.; Margalit, N.M.; Bowers, J.E.; Long Yang; Mirin, R.P.; Streubel, K.; Babic, D.I.; Carey, K.;
By: Mars, D.E.; Hu, E.L.; Margalit, N.M.; Bowers, J.E.; Long Yang; Mirin, R.P.; Streubel, K.; Babic, D.I.; Carey, K.;
1995 / IEEE / 0-7803-2450-1
By: Narayan, S.Y.; Lee, H.; Garbuzov, D.Z.; York, P.K.; Menna, R.J.; Martinelli, R.U.; Connolly, J.C.;
By: Narayan, S.Y.; Lee, H.; Garbuzov, D.Z.; York, P.K.; Menna, R.J.; Martinelli, R.U.; Connolly, J.C.;
1995 / IEEE / 0-7803-2450-1
By: Myers, L.E.; Welch, D.F.; Nam, D.W.; Mehuys, D.G.; Bortz, M.L.; Lang, R.J.; Sanders, S.; Byer, R.L.; Fejer, M.M.;
By: Myers, L.E.; Welch, D.F.; Nam, D.W.; Mehuys, D.G.; Bortz, M.L.; Lang, R.J.; Sanders, S.; Byer, R.L.; Fejer, M.M.;
1995 / IEEE / 0-7803-2450-1
By: Stanton, A.C.; Bomse, D.S.; Oh, D.B.; Hovde, D.C.; Kane, D.J.; Paige, M.E.; Silver, J.A.;
By: Stanton, A.C.; Bomse, D.S.; Oh, D.B.; Hovde, D.C.; Kane, D.J.; Paige, M.E.; Silver, J.A.;
Long wavelength VCSELs using wafer-fused GaAs/AlAs Bragg mirror and strain-compensated quantum wells
1995 / IEEE / 0-7803-2450-1By: Lo, Y.H.; Zhu, Z.H.; Chua, C.L.; Bhat, R.; Hong, M.;
1996 / IEEE / 0-7803-3283-0
By: Itaya, Y.; Oohashi, H.; Itoh, M.; Kishi, K.; Kondo, Y.; Yamamoto, M.;
By: Itaya, Y.; Oohashi, H.; Itoh, M.; Kishi, K.; Kondo, Y.; Yamamoto, M.;
1996 / IEEE
By: de Araujo, M.T.; Medeiros Neto, A.; Sombra, A.S.B.; Gouveia-Neto, A.S.; Vermelho, M.V.D.;
By: de Araujo, M.T.; Medeiros Neto, A.; Sombra, A.S.B.; Gouveia-Neto, A.S.; Vermelho, M.V.D.;
1996 / IEEE
By: Dutta, N.K.; Hobson, W.S.; Vakhshoori, D.; Han, H.; Freeman, P.N.; de Jong, J.F.; Lopata, J.;
By: Dutta, N.K.; Hobson, W.S.; Vakhshoori, D.; Han, H.; Freeman, P.N.; de Jong, J.F.; Lopata, J.;
1996 / IEEE
By: Castellano, P.; Dawson, J.; Joshi, C.; Pellegrini, C.; Serafini, L.; Clayton, C.E.; Katsouleas, T.C.;
By: Castellano, P.; Dawson, J.; Joshi, C.; Pellegrini, C.; Serafini, L.; Clayton, C.E.; Katsouleas, T.C.;