Your Search Results
Use materials about this topic in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content - such as case studies and journal articles - for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!
Not an educator but still interested in using this content? No problem! Visit our provider's page to contact the publisher and get permission directly.
Topic: Hawk
Results
1995 / IEEE / 0-7803-2669-5
By: Hinshelwood, D.D.; Goodrich, P.J.; Weber, B.V.; Riley, R.A.; Commisso, R.J.;
By: Hinshelwood, D.D.; Goodrich, P.J.; Weber, B.V.; Riley, R.A.; Commisso, R.J.;
1993 / IEEE / 0-7803-1360-7
By: Goodrich, P.J.; Weber, B.V.; Kellogg, J.C.; Commisso, R.J.; Hinshelwood, D.D.;
By: Goodrich, P.J.; Weber, B.V.; Kellogg, J.C.; Commisso, R.J.; Hinshelwood, D.D.;
1997 / IEEE / 0-7803-3990-8
By: Goyer, J.; Kortbawi, D.; Thompson, J.; Coleman, P.; Rix, W.; Weber, B.V.; Commisso, R.J.;
By: Goyer, J.; Kortbawi, D.; Thompson, J.; Coleman, P.; Rix, W.; Weber, B.V.; Commisso, R.J.;
1998 / IEEE / 0-7803-4792-7
By: Moschella, J.; Ottinger, P.F.; Schumer, J.W.; Swanekamp, S.B.; Commisso, R.J.; Weber, B.V.;
By: Moschella, J.; Ottinger, P.F.; Schumer, J.W.; Swanekamp, S.B.; Commisso, R.J.; Weber, B.V.;
1998 / IEEE / 0-7803-4792-7
By: Babinean, M.A.; Weidenheimer, D.; Pereira, N.R.; Maron, Y.; Weber, B.V.; Schumer, J.W.; Swanekamp, S.; Commisso, R.J.; Black, D.C.; Kortbawi; Qi, N.; Prasad, R.; Krishnan, M.; Gensler, S.W.; Yadlowsky, E.J.; Moschella, J.J.; Steen, P.G.; Robertson, K.L.; Rix, W.H.; Rauch, J.E.; Parks, D.E.; Goyer, J.R.; Goodrich, P.J.; Coleman, P.L.; Thompson, J.R.; Schneider, R.F.;
By: Babinean, M.A.; Weidenheimer, D.; Pereira, N.R.; Maron, Y.; Weber, B.V.; Schumer, J.W.; Swanekamp, S.; Commisso, R.J.; Black, D.C.; Kortbawi; Qi, N.; Prasad, R.; Krishnan, M.; Gensler, S.W.; Yadlowsky, E.J.; Moschella, J.J.; Steen, P.G.; Robertson, K.L.; Rix, W.H.; Rauch, J.E.; Parks, D.E.; Goyer, J.R.; Goodrich, P.J.; Coleman, P.L.; Thompson, J.R.; Schneider, R.F.;
2000 / IEEE / 0-7803-5982-8
By: Schein, J.; Qi, N.; Young, F.C.; Weber, B.V.; Stephankis, S.J.; Mosher, D.; Gensler, S.; Boller, J.R.; Moosman, B.; Krishnan, M.; Commisso, R.J.; Prasad, R.R.;
By: Schein, J.; Qi, N.; Young, F.C.; Weber, B.V.; Stephankis, S.J.; Mosher, D.; Gensler, S.; Boller, J.R.; Moosman, B.; Krishnan, M.; Commisso, R.J.; Prasad, R.R.;
2001 / IEEE / 0-7803-7141-0
By: Neri, J.M.; Boller, J.R.; Schumer, A.J.W.; Fisher, R.; Commisso, R.J.;
By: Neri, J.M.; Boller, J.R.; Schumer, A.J.W.; Fisher, R.; Commisso, R.J.;
2002 / IEEE
By: Commisso, R.J.; Weber, B.V.; Moosman, B.; Mosher, D.; Niansheng Qi; Schumer, J.W.; Krishnan, M.; Schein, J.;
By: Commisso, R.J.; Weber, B.V.; Moosman, B.; Mosher, D.; Niansheng Qi; Schumer, J.W.; Krishnan, M.; Schein, J.;
2002 / IEEE / 0-7803-7407-X
By: Stephanakis, S.J.; Hinshelwood, D.D.; Commisso, R.J.; Allen, R.J.; Weber, B.V.;
By: Stephanakis, S.J.; Hinshelwood, D.D.; Commisso, R.J.; Allen, R.J.; Weber, B.V.;
2005 / IEEE / 0-7803-9300-7
By: Commisso, R.J.; De La Cruz, C.; Chong, Y.K.; Davis, J.; Frese, M.H.; Mosher, D.; Murphy, D.P.; Phipps, D.G.; Thornhill, J.W.; Velikovich, A.L.; Weber, B.V.; Young, F.C.; Banister, J.W.; Failor, B.H.; Levine, J.S.; Qi, N.; Sze, H.; Bixler, A.; Coleman, P.; Krishnan, M.; Thompson, J.; Carlson, E.; Hazelton, R.C.; Yadlowsky, E.J.; Davies, F.; Apruzese, J.P.;
By: Commisso, R.J.; De La Cruz, C.; Chong, Y.K.; Davis, J.; Frese, M.H.; Mosher, D.; Murphy, D.P.; Phipps, D.G.; Thornhill, J.W.; Velikovich, A.L.; Weber, B.V.; Young, F.C.; Banister, J.W.; Failor, B.H.; Levine, J.S.; Qi, N.; Sze, H.; Bixler, A.; Coleman, P.; Krishnan, M.; Thompson, J.; Carlson, E.; Hazelton, R.C.; Yadlowsky, E.J.; Davies, F.; Apruzese, J.P.;
2005 / IEEE / 0-7803-9300-7
By: Young, F.C.; Stephanakis, S.J.; Mosher, D.; Phipps, D.G.; Ponce, D.M.; Weber, B.V.; Commisso, R.J.; Murphy, D.P.; Qi, N.;
By: Young, F.C.; Stephanakis, S.J.; Mosher, D.; Phipps, D.G.; Ponce, D.M.; Weber, B.V.; Commisso, R.J.; Murphy, D.P.; Qi, N.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0263-2
By: Spiegel, C.; Jung, P.; Bruck, G.H.; Waadt, A.; Hessamian-Alinejad, A.; Burnic, A.; Viessmann, A.;
By: Spiegel, C.; Jung, P.; Bruck, G.H.; Waadt, A.; Hessamian-Alinejad, A.; Burnic, A.; Viessmann, A.;
2009 / IEEE / 978-0-7695-3660-6
By: Wei Feng; Gang Yao; Liu, C.; Weigang Wu; Kun Xie; Jiannong Cao; Yang Zou; Xuan Liu; Ye Yan; Xin Xiao; Chisheng Zhang; Jigang Wen;
By: Wei Feng; Gang Yao; Liu, C.; Weigang Wu; Kun Xie; Jiannong Cao; Yang Zou; Xuan Liu; Ye Yan; Xin Xiao; Chisheng Zhang; Jigang Wen;
2009 / IEEE / 978-1-4244-3961-4
By: Prokopovich, D.A.; Reinhard, M.I.; Taylor, G.C.; Hands, A.; Rosenfeld, A.B.;
By: Prokopovich, D.A.; Reinhard, M.I.; Taylor, G.C.; Hands, A.; Rosenfeld, A.B.;
Follow Us
Copyright © 2014 SharedBook. All rights reserved. Customer Service ·
Privacy Policy
·
User Agreement ·
Accessibility ·
Sitemap