Your Search Results
Use materials about this topic in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content - such as case studies and journal articles - for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Topic: Fusion Reactor Design
Results
2012 / IEEE
By: Myeun Kwon; Young-Seok Lee; Hyuck Jong Kim; Sowder, K.; Gyunyoung Heo; Siwan Noh; Jong Kyung Kim;
By: Myeun Kwon; Young-Seok Lee; Hyuck Jong Kim; Sowder, K.; Gyunyoung Heo; Siwan Noh; Jong Kyung Kim;
2012 / IEEE
By: Yong Cheng; Zhongwei Wang; Mitchell, N.; Devred, A.; Sahu, A.; Kun Lu; Jong, C.; Bauer, P.; Yonghua Chen; Dolgetta, N.; Ilin, Yu.; Chen-yu Gung; Kaizhong Ding; Guang Shen; TingZhi Zhou; Yangfan Bi; Xionyi Huang; Yuntao Song;
By: Yong Cheng; Zhongwei Wang; Mitchell, N.; Devred, A.; Sahu, A.; Kun Lu; Jong, C.; Bauer, P.; Yonghua Chen; Dolgetta, N.; Ilin, Yu.; Chen-yu Gung; Kaizhong Ding; Guang Shen; TingZhi Zhou; Yangfan Bi; Xionyi Huang; Yuntao Song;
1992 / IEEE / 000-0-0000-0000-0
By: Sviatoslavsky, I.N.; Sawan, M.E.; Rutledge, S.; Moses, G.A.; Mogahed, E.A.; MacFarlane, J.J.; Sviatoslavsky, G.; Lovell, E.G.; Kulcinski, G.L.; Engelstad, R.L.; Bruggink, D.; Peterson, R.R.; Wittenberg, L.J.;
By: Sviatoslavsky, I.N.; Sawan, M.E.; Rutledge, S.; Moses, G.A.; Mogahed, E.A.; MacFarlane, J.J.; Sviatoslavsky, G.; Lovell, E.G.; Kulcinski, G.L.; Engelstad, R.L.; Bruggink, D.; Peterson, R.R.; Wittenberg, L.J.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0668-4
By: Matsukawa, M.; Maistrello, A.; Gaio, E.; Yamauchi, K.; Novello, L.; Perna, M.; Gargano, T.; Coletti, A.;
By: Matsukawa, M.; Maistrello, A.; Gaio, E.; Yamauchi, K.; Novello, L.; Perna, M.; Gargano, T.; Coletti, A.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0668-4
By: Hou, B.L.; Pan, C.J.; Lee, P.Y.; Sun, Z.C.; Long, W.M.; Pei, Y.Y.; Han, S.L.;
By: Hou, B.L.; Pan, C.J.; Lee, P.Y.; Sun, Z.C.; Long, W.M.; Pei, Y.Y.; Han, S.L.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0668-4
By: Denkevitz, A.; Endstrasser, N.; Walsh, M.; Kim, J.; Counsell, G.; Ciattaglia, S.; Le Guern, F.; Xu, Z.; Rohde, V.; Reiter, B.; Redlinger, R.; Neu, R.; Kuznetsov, M.; Kammerloher, L.; Jordan, T.; Gauthier, E.; Eixenberger, H.;
By: Denkevitz, A.; Endstrasser, N.; Walsh, M.; Kim, J.; Counsell, G.; Ciattaglia, S.; Le Guern, F.; Xu, Z.; Rohde, V.; Reiter, B.; Redlinger, R.; Neu, R.; Kuznetsov, M.; Kammerloher, L.; Jordan, T.; Gauthier, E.; Eixenberger, H.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0668-4
By: Kim, K.M.; Bang, E.N.; Oh, Y.S.; Yang, H.L.; Kim, W.C.; Kim, H.T.; Bak, J.G.; Jeon, Y.M.; Hong, S.H.; Lee, K.S.; Kim, H.K.;
By: Kim, K.M.; Bang, E.N.; Oh, Y.S.; Yang, H.L.; Kim, W.C.; Kim, H.T.; Bak, J.G.; Jeon, Y.M.; Hong, S.H.; Lee, K.S.; Kim, H.K.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0668-4
By: Mirgorodsky, V.; Makhankov, A.; Lapin, A.; Gurieva, T.; Natochev, S.; Ignatov, A.; Mazaev, S.; Vlasov, I.; Nomokonova, O.;
By: Mirgorodsky, V.; Makhankov, A.; Lapin, A.; Gurieva, T.; Natochev, S.; Ignatov, A.; Mazaev, S.; Vlasov, I.; Nomokonova, O.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0668-4
By: Kisslinger, J.; Risse, K.; Klingner, M.; Koppen, M.; Freundt, S.;
By: Kisslinger, J.; Risse, K.; Klingner, M.; Koppen, M.; Freundt, S.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0668-4
By: Patel, J.; Rao, S.L.; Sathyanarayana, K.; Kushwah, M.; Babu, R.; Shukla, B.K.; Belousov, V.; Belov, Y.; Shmelev, M.; Ronak, S.; Anjali, S.; Priyanka, A.S.; Vishal, B.; Patel, S.D.; Vipal, R.; Belsare, S.; Patel, H.; Pragnesh, D.;
By: Patel, J.; Rao, S.L.; Sathyanarayana, K.; Kushwah, M.; Babu, R.; Shukla, B.K.; Belousov, V.; Belov, Y.; Shmelev, M.; Ronak, S.; Anjali, S.; Priyanka, A.S.; Vishal, B.; Patel, S.D.; Vipal, R.; Belsare, S.; Patel, H.; Pragnesh, D.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0668-4
By: Dhorajia, P.; Patel, H.; Srinivasan, R.; Chattopadhyay, P.K.; Shukla, B.K.; Patel, J.; Babu, R.; Goswami, R.;
By: Dhorajia, P.; Patel, H.; Srinivasan, R.; Chattopadhyay, P.K.; Shukla, B.K.; Patel, J.; Babu, R.; Goswami, R.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0668-4
By: Lescure, C.; De La Calle, R.; Gulati, H.K.; Gascon, J.; Hourtoule, J.; Nair, S.A.; Singh, M.;
By: Lescure, C.; De La Calle, R.; Gulati, H.K.; Gascon, J.; Hourtoule, J.; Nair, S.A.; Singh, M.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0668-4
By: Walsh, M.; Andrew, P.; Zvonkov, A.; Watts, C.; Walker, C.; Schunke, B.; Veshchev, E.; Vayakis, G.; Vasu, P.; Utin, Y.; Udintsev, V.S.; Taylor, N.; Simrock, S.; Prakash, A.; Pitcher, C.S.; Patel, K.; Reichle, R.; Okayama, K.; Maquet, P.; Martin, A.; Levesy, B.; Lee, H.G.; Kusama, Y.; Kim, J.; Barnsley, R.; Bertalot, L.; Boivin, R.; Bora, D.; Bouhamou, R.; Ciattaglia, S.; Costley, A.E.; Counsell, G.; Direz, M.F.; Drevon, J.M.; Encheva, A.; Fang, T.; von Hellermann, M.; Johnson, D.;
By: Walsh, M.; Andrew, P.; Zvonkov, A.; Watts, C.; Walker, C.; Schunke, B.; Veshchev, E.; Vayakis, G.; Vasu, P.; Utin, Y.; Udintsev, V.S.; Taylor, N.; Simrock, S.; Prakash, A.; Pitcher, C.S.; Patel, K.; Reichle, R.; Okayama, K.; Maquet, P.; Martin, A.; Levesy, B.; Lee, H.G.; Kusama, Y.; Kim, J.; Barnsley, R.; Bertalot, L.; Boivin, R.; Bora, D.; Bouhamou, R.; Ciattaglia, S.; Costley, A.E.; Counsell, G.; Direz, M.F.; Drevon, J.M.; Encheva, A.; Fang, T.; von Hellermann, M.; Johnson, D.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0668-4
By: Toth, V.; Spatafora, L.; Basuki, W.; Antusch, S.; Norajitra, P.;
By: Toth, V.; Spatafora, L.; Basuki, W.; Antusch, S.; Norajitra, P.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0668-4
By: Putvinski, S.; Maruyama, S.; Edwards, P.; Macdonald, B.; Marrs, R.; Kiss, G.; Sugihara, M.;
By: Putvinski, S.; Maruyama, S.; Edwards, P.; Macdonald, B.; Marrs, R.; Kiss, G.; Sugihara, M.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0668-4
By: Brun, M.; Dentan, M.; Cordier, J.J.; Blackler, K.; Kondoh, M.; Chiocchio, S.;
By: Brun, M.; Dentan, M.; Cordier, J.J.; Blackler, K.; Kondoh, M.; Chiocchio, S.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0668-4
By: Brown, T.; Zarnstorff, M.; Waganer, L.; Scott, S.; Prager, S.; Menard, J.E.; Costley, A.E.; Malang, S.; Neilson, G.H.; Kessel, C.; El-Guebaly, L.; Goldston, R.J.; Bromberg, L.;
By: Brown, T.; Zarnstorff, M.; Waganer, L.; Scott, S.; Prager, S.; Menard, J.E.; Costley, A.E.; Malang, S.; Neilson, G.H.; Kessel, C.; El-Guebaly, L.; Goldston, R.J.; Bromberg, L.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0668-4
By: Myeun Kwon; Young-seok Lee; Hyuck Jong Kim; Sowder, K.; Siwan Noh; Jong Kyung Kim; Gyunyoung Heo;
By: Myeun Kwon; Young-seok Lee; Hyuck Jong Kim; Sowder, K.; Siwan Noh; Jong Kyung Kim; Gyunyoung Heo;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0668-4
By: Rasmussen, D.A.; McCarthy, K.J.; Harris, J.H.; Fehling, D.T.; Caughman, J.B.O.; Baylor, L.R.; McGill, J.M.; Foust, C.R.; Combs, S.K.; Unamuno, R.; Olivares, J.; Mirones, E.; Meitner, S.J.; Medrano, M.; Hidalgo, C.; Garcia, R.; Chamorro, M.;
By: Rasmussen, D.A.; McCarthy, K.J.; Harris, J.H.; Fehling, D.T.; Caughman, J.B.O.; Baylor, L.R.; McGill, J.M.; Foust, C.R.; Combs, S.K.; Unamuno, R.; Olivares, J.; Mirones, E.; Meitner, S.J.; Medrano, M.; Hidalgo, C.; Garcia, R.; Chamorro, M.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0668-4
By: Yi-Hyun Park; Duck young Ku; Won-Doo Choi; Seungjin Oh; Seungyon Cho; In-Keun Yu; Mu-Young Ahn;
By: Yi-Hyun Park; Duck young Ku; Won-Doo Choi; Seungjin Oh; Seungyon Cho; In-Keun Yu; Mu-Young Ahn;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0668-4
By: Li, B.; Jiang, T.; Yang, Y.; Maruyama, S.; Pan, Y.; Wang, M.; Li, W.;
By: Li, B.; Jiang, T.; Yang, Y.; Maruyama, S.; Pan, Y.; Wang, M.; Li, W.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0668-4
By: Popa, T.; Manfreo, B.; Chen-Yu Gung; Doshi, B.; Dell Orco, G.; Cordier, J.; Reich, J.;
By: Popa, T.; Manfreo, B.; Chen-Yu Gung; Doshi, B.; Dell Orco, G.; Cordier, J.; Reich, J.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0668-4
By: Dong Won Lee; Seungyon Cho; Muhwan Kim; Seol Ha Kim; Jae Sung Yoon;
By: Dong Won Lee; Seungyon Cho; Muhwan Kim; Seol Ha Kim; Jae Sung Yoon;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0668-4
By: Agostinetti, P.; Veltri, P.; Cavenago, M.; Antoni, V.; Serianni, G.;
By: Agostinetti, P.; Veltri, P.; Cavenago, M.; Antoni, V.; Serianni, G.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0668-4
By: Hyunki Park; Kyoungo Nam; Shaw, R.; Kihak Im; Dongjin Kim; Byungseok Kim; Kyoungkyu Kim; Jooshik Bak; Heejae Ahn;
By: Hyunki Park; Kyoungo Nam; Shaw, R.; Kihak Im; Dongjin Kim; Byungseok Kim; Kyoungkyu Kim; Jooshik Bak; Heejae Ahn;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0668-4
By: Pradhan, S.; Patel, D.; Prasad, U.; Kedia, S.; Doshi, K.; Varmora, P.; Sharma, A.N.; Khristi, Y.;
By: Pradhan, S.; Patel, D.; Prasad, U.; Kedia, S.; Doshi, K.; Varmora, P.; Sharma, A.N.; Khristi, Y.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0668-4
By: Eo Hwak Lee; Seungyon Cho; Jae Sung Yoon; Suk Kwon Kim; Dong Won Lee;
By: Eo Hwak Lee; Seungyon Cho; Jae Sung Yoon; Suk Kwon Kim; Dong Won Lee;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0668-4
By: Pericoli-Ridolfini, V.; Pizzuto, A.; Crisanti, F.; Crescenzi, F.; Maddaluno, G.; Frosi, P.; Cocilovo, V.; Calabro, G.; Brolatti, G.; Cucchiaro, A.; Rossi, P.; Roccella, S.; Ramogida, G.; Rita, C.;
By: Pericoli-Ridolfini, V.; Pizzuto, A.; Crisanti, F.; Crescenzi, F.; Maddaluno, G.; Frosi, P.; Cocilovo, V.; Calabro, G.; Brolatti, G.; Cucchiaro, A.; Rossi, P.; Roccella, S.; Ramogida, G.; Rita, C.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0668-4
By: Rajainmaki, H.; Readman, P.; Losasso, M.; Harrison, R.; Fanthome, J.; Cornelis, M.; Caballero, J.; Portone, A.; Bratu, E.; Boutboul, T.; Rebollo, E.B.; Oliva, A.B.; Bellesia, B.; Batista, R.; Soto, E.B.; Sborchia, C.; Valente, P.;
By: Rajainmaki, H.; Readman, P.; Losasso, M.; Harrison, R.; Fanthome, J.; Cornelis, M.; Caballero, J.; Portone, A.; Bratu, E.; Boutboul, T.; Rebollo, E.B.; Oliva, A.B.; Bellesia, B.; Batista, R.; Soto, E.B.; Sborchia, C.; Valente, P.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0668-4
By: Jang, H.S.; Im, B.S.; Im, K.H.; Her, N.I.; Choi, C.H.; Lee, G.S.; Kwon, M.; Hong, H.; Park, K.H.D.S.; Ha, T.H.; Kim, K.H.; Park, M.K.; Cho, K.W.; Kim, H.K.; Sa, J.W.; Park, K.R.; Kim, W.C.; Park, Y.M.; Kim, B.C.; Kim, Y.S.; Oh, Y.K.; Kim, K.; Bak, J.S.; Yang, H.L.;
By: Jang, H.S.; Im, B.S.; Im, K.H.; Her, N.I.; Choi, C.H.; Lee, G.S.; Kwon, M.; Hong, H.; Park, K.H.D.S.; Ha, T.H.; Kim, K.H.; Park, M.K.; Cho, K.W.; Kim, H.K.; Sa, J.W.; Park, K.R.; Kim, W.C.; Park, Y.M.; Kim, B.C.; Kim, Y.S.; Oh, Y.K.; Kim, K.; Bak, J.S.; Yang, H.L.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0927-2
By: Chabaud, D.; Marot, L.; Salasca, S.; Jouve, M.; Moncada, V.; Martin, V.; Ferme, J.-J.; Joanny, M.; Aumeunier, M.-H.; Travere, J.; Thonnat, M.; Bremond, F.;
By: Chabaud, D.; Marot, L.; Salasca, S.; Jouve, M.; Moncada, V.; Martin, V.; Ferme, J.-J.; Joanny, M.; Aumeunier, M.-H.; Travere, J.; Thonnat, M.; Bremond, F.;
2006 / American Institute of Physics
By: S. P. Obenschain; D. G. Colombant; A. J. Schmitt; J. D. Sethian; M. W. McGeoch;
By: S. P. Obenschain; D. G. Colombant; A. J. Schmitt; J. D. Sethian; M. W. McGeoch;
2012 / American Institute of Physics
By: G. P. Grim; N. Guler; F. E. Merrill; G. L. Morgan; C. R. Danly; P. L. Volegov; C. H. Wilde; D. C. Wilson; D. S. Clark; D. E. Hinkel; O. S. Jones; K. S. Raman; N. Izumi; D. N. Fittinghoff; O. B. Drury; E. T. Alger; P. A. Arnold; R. C. Ashabranner; L. J. Atherton; M. A. Barrios; S. Batha; P. M. Bell; L. R. Benedetti; R. L. Berger; L. A. Bernstein; L. V. Berzins; R. Betti; S. D. Bhandarkar; R. M. Bionta; D. L. Bleuel; T. R. Boehly; E. J. Bond; M. W. Bowers; D. K. Bradley; G. K. Brunton; R. A. Buckles; S. C. Burkhart; R. F. Burr; J. A. Caggiano; D. A. Callahan; D. T. Casey; C. Castro; P. M. Celliers; C. J. Cerjan; G. A. Chandler; C. Choate; S. J. Cohen; G. W. Collins; G. W. Cooper; J. R. Cox; J. R. Cradick; P. S. Datte; E. L. Dewald; P. Di Nicola; J. M. Di Nicola; L. Divol; S. N. Dixit; R. Dylla-Spears; E. G. Dzenitis; M. J. Eckart; D. C. Eder; D. H. Edgell; M. J. Edwards; J. H. Eggert; R. B. Ehrlich; G. V. Erbert; J. Fair; D. R. Farley; B. Felker; R. J. Fortner; J. A. Frenje; G. Frieders; S. Friedrich; M. Gatu-Johnson; C. R. Gibson; E. Giraldez; V. Y. Glebov; S. M. Glenn; S. H. Glenzer; G. Gururangan; S. W. Haan; K. D. Hahn; B. A. Hammel; A. V. Hamza; E. P. Hartouni; R. Hatarik; S. P. Hatchett; C. Haynam; M. R. Hermann; H. W. Herrmann; D. G. Hicks; J. P. Holder; D. M. Holunga; J. B. Horner; W. W. Hsing; H. Huang; M. C. Jackson; K. S. Jancaitis; D. H. Kalantar; R. L. Kauffman; M. I. Kauffman; S. F. Khan; J. D. Kilkenny; J. R. Kimbrough; R. Kirkwood; J. L. Kline; J. P. Knauer; K. M. Knittel; J. A. Koch; T. R. Kohut; B. J. Kozioziemski; K. Krauter; G. W. Krauter; A. L. Kritcher; J. Kroll; G. A. Kyrala; K. N. La Fortune; G. LaCaille; L. J. Lagin; T. A. Land; O. L. Landen; D. W. Larson; D. A. Latray; R. J. Leeper; T. L. Lewis; S. LePape; J. D. Lindl; R. R. Lowe-Webb; T. Ma; B. J. MacGowan; A. J. MacKinnon; A. G. MacPhee; R. M. Malone; T. N. Malsbury; E. Mapoles; C. D. Marshall; D. G. Mathisen; P. McKenty; J. M. McNaney; N. B. Meezan; P. Michel; J. L. Milovich; J. D. Moody; A. S. Moore; M. J. Moran; K. Moreno; E. I. Moses; D. H. Munro; B. R. Nathan; A. J. Nelson; A. Nikroo; R. E. Olson; C. Orth; A. E. Pak; E. S. Palma; T. G. Parham; P. K. Patel; R. W. Patterson; R. D. Petrasso; R. Prasad; J. E. Ralph; S. P. Regan; H. Rinderknecht; H. F. Robey; G. F. Ross; C. L. Ruiz; F. H. Séguin; J. D. Salmonson; T. C. Sangster; J. D. Sater; R. L. Saunders; M. B. Schneider; D. H. Schneider; M. J. Shaw; N. Simanovskaia; B. K. Spears; P. T. Springer; C. Stoeckl; W. Stoeffl; L. J. Suter; C. A. Thomas; R. Tommasini; R. P. Town; A. J. Traille; B. Van Wonterghem; R. J. Wallace; S. Weaver; S. V. Weber; P. J. Wegner; P. K. Whitman; K. Widmann; C. C. Widmayer; R. D. Wood; B. K. Young; R. A. Zacharias; A. Zylstra;
By: G. P. Grim; N. Guler; F. E. Merrill; G. L. Morgan; C. R. Danly; P. L. Volegov; C. H. Wilde; D. C. Wilson; D. S. Clark; D. E. Hinkel; O. S. Jones; K. S. Raman; N. Izumi; D. N. Fittinghoff; O. B. Drury; E. T. Alger; P. A. Arnold; R. C. Ashabranner; L. J. Atherton; M. A. Barrios; S. Batha; P. M. Bell; L. R. Benedetti; R. L. Berger; L. A. Bernstein; L. V. Berzins; R. Betti; S. D. Bhandarkar; R. M. Bionta; D. L. Bleuel; T. R. Boehly; E. J. Bond; M. W. Bowers; D. K. Bradley; G. K. Brunton; R. A. Buckles; S. C. Burkhart; R. F. Burr; J. A. Caggiano; D. A. Callahan; D. T. Casey; C. Castro; P. M. Celliers; C. J. Cerjan; G. A. Chandler; C. Choate; S. J. Cohen; G. W. Collins; G. W. Cooper; J. R. Cox; J. R. Cradick; P. S. Datte; E. L. Dewald; P. Di Nicola; J. M. Di Nicola; L. Divol; S. N. Dixit; R. Dylla-Spears; E. G. Dzenitis; M. J. Eckart; D. C. Eder; D. H. Edgell; M. J. Edwards; J. H. Eggert; R. B. Ehrlich; G. V. Erbert; J. Fair; D. R. Farley; B. Felker; R. J. Fortner; J. A. Frenje; G. Frieders; S. Friedrich; M. Gatu-Johnson; C. R. Gibson; E. Giraldez; V. Y. Glebov; S. M. Glenn; S. H. Glenzer; G. Gururangan; S. W. Haan; K. D. Hahn; B. A. Hammel; A. V. Hamza; E. P. Hartouni; R. Hatarik; S. P. Hatchett; C. Haynam; M. R. Hermann; H. W. Herrmann; D. G. Hicks; J. P. Holder; D. M. Holunga; J. B. Horner; W. W. Hsing; H. Huang; M. C. Jackson; K. S. Jancaitis; D. H. Kalantar; R. L. Kauffman; M. I. Kauffman; S. F. Khan; J. D. Kilkenny; J. R. Kimbrough; R. Kirkwood; J. L. Kline; J. P. Knauer; K. M. Knittel; J. A. Koch; T. R. Kohut; B. J. Kozioziemski; K. Krauter; G. W. Krauter; A. L. Kritcher; J. Kroll; G. A. Kyrala; K. N. La Fortune; G. LaCaille; L. J. Lagin; T. A. Land; O. L. Landen; D. W. Larson; D. A. Latray; R. J. Leeper; T. L. Lewis; S. LePape; J. D. Lindl; R. R. Lowe-Webb; T. Ma; B. J. MacGowan; A. J. MacKinnon; A. G. MacPhee; R. M. Malone; T. N. Malsbury; E. Mapoles; C. D. Marshall; D. G. Mathisen; P. McKenty; J. M. McNaney; N. B. Meezan; P. Michel; J. L. Milovich; J. D. Moody; A. S. Moore; M. J. Moran; K. Moreno; E. I. Moses; D. H. Munro; B. R. Nathan; A. J. Nelson; A. Nikroo; R. E. Olson; C. Orth; A. E. Pak; E. S. Palma; T. G. Parham; P. K. Patel; R. W. Patterson; R. D. Petrasso; R. Prasad; J. E. Ralph; S. P. Regan; H. Rinderknecht; H. F. Robey; G. F. Ross; C. L. Ruiz; F. H. Séguin; J. D. Salmonson; T. C. Sangster; J. D. Sater; R. L. Saunders; M. B. Schneider; D. H. Schneider; M. J. Shaw; N. Simanovskaia; B. K. Spears; P. T. Springer; C. Stoeckl; W. Stoeffl; L. J. Suter; C. A. Thomas; R. Tommasini; R. P. Town; A. J. Traille; B. Van Wonterghem; R. J. Wallace; S. Weaver; S. V. Weber; P. J. Wegner; P. K. Whitman; K. Widmann; C. C. Widmayer; R. D. Wood; B. K. Young; R. A. Zacharias; A. Zylstra;
2008 / American Institute of Physics
By: Masao Ishikawa; Takashi Kondoh; Takeo Nishitani; Yoshinori Kusama;
By: Masao Ishikawa; Takashi Kondoh; Takeo Nishitani; Yoshinori Kusama;
2008 / American Institute of Physics
By: M. Davi; Y. Corre; D. Guilhem; F. Jullien; R. Reichle; S. Salasca; J. M. Travère; J. B. Migozzi; E. de la Cal; A. Manzanares; J. L. de Pablos;
By: M. Davi; Y. Corre; D. Guilhem; F. Jullien; R. Reichle; S. Salasca; J. M. Travère; J. B. Migozzi; E. de la Cal; A. Manzanares; J. L. de Pablos;
2008 / American Institute of Physics
By: T. Minea; A. Lifschitz; G. Maynard; K. Katsonis; A. Simonin; J. Bretagne;
By: T. Minea; A. Lifschitz; G. Maynard; K. Katsonis; A. Simonin; J. Bretagne;
2010 / American Institute of Physics
By: M. Joanny; J. M. Travère; S. Salasca; Y. Corre; L. Marot; C. Thellier; J. J. Fermé; G. Gallay; C. Cammarata; B. Passier;
By: M. Joanny; J. M. Travère; S. Salasca; Y. Corre; L. Marot; C. Thellier; J. J. Fermé; G. Gallay; C. Cammarata; B. Passier;
2011 / American Institute of Physics
By: J. S. Mishra; R. Sakamoto; G. Motojima; A. Matsuyama; H. Yamada;
By: J. S. Mishra; R. Sakamoto; G. Motojima; A. Matsuyama; H. Yamada;
2012 / American Institute of Physics
By: N. Guler; P. Volegov; C. R. Danly; G. P. Grim; F. E. Merrill; C. H. Wilde;
By: N. Guler; P. Volegov; C. R. Danly; G. P. Grim; F. E. Merrill; C. H. Wilde;
1988 / IEEE
By: Kato, T.; Sato, M.; Yamamura, H.; Hoshino, M.; Shimamoto, S.; Hiyama, T.; Tada, E.; Kawano, K.;
By: Kato, T.; Sato, M.; Yamamura, H.; Hoshino, M.; Shimamoto, S.; Hiyama, T.; Tada, E.; Kawano, K.;
1989 / IEEE
By: Wells, R.P.; Kwan, J.W.; Kunkel, W.B.; Cooper, W.S.; Anderson, O.A.; Matuk, C.A.; De Vries, G.J.; Reginato, L.L.; Vella, M.C.; Soroka, L.; Purgalis, P.;
By: Wells, R.P.; Kwan, J.W.; Kunkel, W.B.; Cooper, W.S.; Anderson, O.A.; Matuk, C.A.; De Vries, G.J.; Reginato, L.L.; Vella, M.C.; Soroka, L.; Purgalis, P.;
1989 / IEEE
By: Takahashi, Y.; Nishi, M.F.; Yoshida, K.; Ando, T.; Okuno, K.; Koizumi, K.; Tsuji, H.;
By: Takahashi, Y.; Nishi, M.F.; Yoshida, K.; Ando, T.; Okuno, K.; Koizumi, K.; Tsuji, H.;
1989 / IEEE
By: Tada, E.; Shibanuma, K.; Sugihara, M.; Yoshida, K.; Tsuji, H.; Shimomura, Y.; Matsuda, S.; Abe, T.; Fujisawa, N.; Hasegawa, M.; Honda, T.; Horie, T.; Hosobuchi, H.; Iida, H.; Ishida, S.; Kashihara, S.; Kimura, H.; Koizumi, K.; Kuroda, T.; Kusama, Y.; Maki, K.; Matoba, T.; Matsuoka, F.; Mizoguchi, T.; Mori, M.; Naruse, H.; Nishio, T.; Ohara, Y.; Ohkawa, Y.; Okuno, K.; Sato, K.; Seki, S.; Seki, Y.; Shinya, Y.; Takatsu, H.; Tanaka, S.; Takizuka, T.; Tsunematsu, T.; Yamamoto, S.; Yoshida, H.;
By: Tada, E.; Shibanuma, K.; Sugihara, M.; Yoshida, K.; Tsuji, H.; Shimomura, Y.; Matsuda, S.; Abe, T.; Fujisawa, N.; Hasegawa, M.; Honda, T.; Horie, T.; Hosobuchi, H.; Iida, H.; Ishida, S.; Kashihara, S.; Kimura, H.; Koizumi, K.; Kuroda, T.; Kusama, Y.; Maki, K.; Matoba, T.; Matsuoka, F.; Mizoguchi, T.; Mori, M.; Naruse, H.; Nishio, T.; Ohara, Y.; Ohkawa, Y.; Okuno, K.; Sato, K.; Seki, S.; Seki, Y.; Shinya, Y.; Takatsu, H.; Tanaka, S.; Takizuka, T.; Tsunematsu, T.; Yamamoto, S.; Yoshida, H.;
1989 / IEEE
By: Nelson, B.E.; Lousteau, D.C.; Lindquist, W.B.; Miller, J.M.; Thomson, S.L.; Lee, V.D.;
By: Nelson, B.E.; Lousteau, D.C.; Lindquist, W.B.; Miller, J.M.; Thomson, S.L.; Lee, V.D.;
1989 / IEEE
By: Taylor, D.J.; Ryan, P.M.; Haste, G.R.; Goulding, R.H.; Swain, D.W.; Hoffman, D.J.; Yugo, J.J.; Baity, F.W.; Mayberry, M.J.;
By: Taylor, D.J.; Ryan, P.M.; Haste, G.R.; Goulding, R.H.; Swain, D.W.; Hoffman, D.J.; Yugo, J.J.; Baity, F.W.; Mayberry, M.J.;
1989 / IEEE
By: Akiba, M.; Araki, M.; Watanabe, K.; Tanaka, S.; Seki, M.; Okumura, Y.; Matsuda, Y.; Ohara, Y.; Mizuno, M.; Matsuoka, M.; Kuriyama, M.; Kojima, H.; Inoue, T.; Hanada, M.;
By: Akiba, M.; Araki, M.; Watanabe, K.; Tanaka, S.; Seki, M.; Okumura, Y.; Matsuda, Y.; Ohara, Y.; Mizuno, M.; Matsuoka, M.; Kuriyama, M.; Kojima, H.; Inoue, T.; Hanada, M.;