Your Search Results
Use materials about this topic in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content - such as case studies and journal articles - for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Topic: Frequency Standards
Results
2006 / IEEE / 978-3-9805741-8-1
By: Solovyov, V.S.; Zub, S.I.; Levenberg, A.I.; Kleiman, A.S.; Usenko, T.A.; Kravchenko, P.A.; Sidorenko, G.S.;
By: Solovyov, V.S.; Zub, S.I.; Levenberg, A.I.; Kleiman, A.S.; Usenko, T.A.; Kravchenko, P.A.; Sidorenko, G.S.;
2006 / IEEE / 978-3-9805741-8-1
By: Prevedelli, M.; Tino, G.M.; Sorrentino, F.; Ferrari, G.; Drullinger, R.E.; Poli, N.;
By: Prevedelli, M.; Tino, G.M.; Sorrentino, F.; Ferrari, G.; Drullinger, R.E.; Poli, N.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-774-0
By: Hai-dong Lei; Zhi-quan Wang; Cong Yi; Zhi-ming Zhan; Xiao-dong Liu;
By: Hai-dong Lei; Zhi-quan Wang; Cong Yi; Zhi-ming Zhan; Xiao-dong Liu;
2011 / IEEE / 978-0-85825-974-4
By: Reshitnyk, Y.; Farr, W.; Fan, Y.; le Floch, J.; Benmessai, K.; Duty, T.L.; Creedon, D.L.; Ivanov, E.N.; Tobar, M.E.; Martinis, J.M.;
By: Reshitnyk, Y.; Farr, W.; Fan, Y.; le Floch, J.; Benmessai, K.; Duty, T.L.; Creedon, D.L.; Ivanov, E.N.; Tobar, M.E.; Martinis, J.M.;
2011 / IEEE / 978-0-9775657-8-8
By: Matsubara, K.; Nagano, S.; Ido, T.; Wakui, K.; Li, Y.; Hayasaka, K.; Hanado, Y.;
By: Matsubara, K.; Nagano, S.; Ido, T.; Wakui, K.; Li, Y.; Hayasaka, K.; Hanado, Y.;
2012 / IEEE / 978-1-4577-1820-5
By: Lijun Wang; Bo Wang; Kai Miao; Shiguang Wang; Zhengbo Wang; Jianwei Zhang;
By: Lijun Wang; Bo Wang; Kai Miao; Shiguang Wang; Zhengbo Wang; Jianwei Zhang;
2006 / American Institute of Physics
By: F. Narbonneau; M. Lours; S. Bize; A. Clairon; G. Santarelli; O. Lopez; Ch. Chardonnet; Ch. Daussy; A. Amy-Klein;
By: F. Narbonneau; M. Lours; S. Bize; A. Clairon; G. Santarelli; O. Lopez; Ch. Chardonnet; Ch. Daussy; A. Amy-Klein;
1992 / IEEE / 0-7803-0476-4
By: Dick, G.J.; Sydnor, R.L.; Kuhnle, P.F.; Hamell, R.L.; Diener, W.A.; Kirk, A.;
By: Dick, G.J.; Sydnor, R.L.; Kuhnle, P.F.; Hamell, R.L.; Diener, W.A.; Kirk, A.;
1994 / IEEE / 0-7803-1984-2
By: Lazaryuk, S.V.; Vitushkin, L.F.; Toptygina, G.I.; Smirnov, M.Z.; Robertsson, L.; Pul'kin, S.A.;
By: Lazaryuk, S.V.; Vitushkin, L.F.; Toptygina, G.I.; Smirnov, M.Z.; Robertsson, L.; Pul'kin, S.A.;
1995 / IEEE / 0-7803-2500-1
By: Giffard, R.P.; DeYoung, J.A.; Kubik, A.J.; Matsakis, D.N.; Cutler, L.S.;
By: Giffard, R.P.; DeYoung, J.A.; Kubik, A.J.; Matsakis, D.N.; Cutler, L.S.;
1995 / IEEE / 0-7803-2500-1
By: Stephens, M.; Marquardt, J.H.; Waltman, S.; Aman, J.; Hollberg, L.; Pendrill, L.; Fox, R.W.; Mackie, N.; Zibrova, T.P.; Zibrov, A.S.; Robinson, H.G.; Weimer, C.S.; Van Baak, D.A.;
By: Stephens, M.; Marquardt, J.H.; Waltman, S.; Aman, J.; Hollberg, L.; Pendrill, L.; Fox, R.W.; Mackie, N.; Zibrova, T.P.; Zibrov, A.S.; Robinson, H.G.; Weimer, C.S.; Van Baak, D.A.;
Application of a phase-locked optical divide-by-3 system to precision optical frequency measurements
1998 / IEEE / 1-55752-339-0By: Marmet, L.; Whitford, B.G.; Bernard, J.E.; Siemsen, K.J.; Madej, A.A.;
1998 / IEEE / 1-55752-541-2
By: Woehl, G.; Cruz, F.C.; Scalabrin, A.; Pereira, D.; Viscovini, R.C.; Telles, E.M.; Garcia, G.A.;
By: Woehl, G.; Cruz, F.C.; Scalabrin, A.; Pereira, D.; Viscovini, R.C.; Telles, E.M.; Garcia, G.A.;
1998 / IEEE / 1-55752-541-2
By: Storz, R.; Jack, K.; Braxmaier, C.; Bencheikh, K.; Schneider, K.; Lang, M.; Mlynek, J.; Schiller, S.;
By: Storz, R.; Jack, K.; Braxmaier, C.; Bencheikh, K.; Schneider, K.; Lang, M.; Mlynek, J.; Schiller, S.;
1998 / IEEE / 0-7803-5018-9
By: Nez, F.; de Beauvoir, B.; Acef, O.; Hilico, L.; Julien, L.; Jozefowski, L.; Schwob, C.; Biraben, F.; Clairon, A.;
By: Nez, F.; de Beauvoir, B.; Acef, O.; Hilico, L.; Julien, L.; Jozefowski, L.; Schwob, C.; Biraben, F.; Clairon, A.;
1998 / IEEE / 0-7803-5018-9
By: Braxmaier, C.; Schiller, S.; Mlynek, J.; Schneider, K.; Jack, K.; Bencheikh, K.; Storz, R.;
By: Braxmaier, C.; Schiller, S.; Mlynek, J.; Schneider, K.; Jack, K.; Bencheikh, K.; Storz, R.;