Your Search Results
Use materials about this topic in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content - such as case studies and journal articles - for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Topic: Free Electron Lasers
Results
2012 / IEEE
By: Simanovskii, D.M.; Mackanos, M.A.; Jansen, E.D.; Kozub, J.A.; Contag, C.H.; Hutson, M.M.; Schriver, K.E.;
By: Simanovskii, D.M.; Mackanos, M.A.; Jansen, E.D.; Kozub, J.A.; Contag, C.H.; Hutson, M.M.; Schriver, K.E.;
2012 / IEEE
By: Yabashi, M.; Kimura, H.; Tono, K.; Matsubara, S.; Togashi, T.; Nagasono, M.; Fukuda, T.; Higashiya, A.; Wakamiya, A.; Kano, M.; Sarukura, N.; Shimizu, T.; Nakazato, T.; Cadatal-Raduban, M.; Sakai, K.; Yamanoi, K.; Ishikawa, T.; Ohashi, H.;
By: Yabashi, M.; Kimura, H.; Tono, K.; Matsubara, S.; Togashi, T.; Nagasono, M.; Fukuda, T.; Higashiya, A.; Wakamiya, A.; Kano, M.; Sarukura, N.; Shimizu, T.; Nakazato, T.; Cadatal-Raduban, M.; Sakai, K.; Yamanoi, K.; Ishikawa, T.; Ohashi, H.;
2012 / IEEE
By: Shimizu, T.; Nakazato, T.; Cadatal-Raduban, M.; Takeda, K.; Sakai, K.; Sarukura, N.; Wakamiya, A.; Kano, M.; Yamanoi, K.; Fukuda, T.;
By: Shimizu, T.; Nakazato, T.; Cadatal-Raduban, M.; Takeda, K.; Sakai, K.; Sarukura, N.; Wakamiya, A.; Kano, M.; Yamanoi, K.; Fukuda, T.;
2012 / IEEE
By: Batani, D.; Vauzour, B.; Santos, J.J.; Perez, F.; Koenig, M.; Baton, S.; Ramis, R.; Nicolai, P.; Volpe, L.;
By: Batani, D.; Vauzour, B.; Santos, J.J.; Perez, F.; Koenig, M.; Baton, S.; Ramis, R.; Nicolai, P.; Volpe, L.;
2012 / IEEE
By: Martinez, L.M.; Martinez, T.; Guirao, A.; Garcia-Tabares, L.; Gutierrez, J.L.; de la Gama, J.; Cela, J.M.; Calero, J.; Abramian, P.; Sanz, S.; Vazquez, C.; Toral, F.; Pardillo, A.; Moya, I.; Molina, E.;
By: Martinez, L.M.; Martinez, T.; Guirao, A.; Garcia-Tabares, L.; Gutierrez, J.L.; de la Gama, J.; Cela, J.M.; Calero, J.; Abramian, P.; Sanz, S.; Vazquez, C.; Toral, F.; Pardillo, A.; Moya, I.; Molina, E.;
2012 / IEEE
By: Negrazus, M.; Pedrozzi, M.; Ganter, R.; Kim, Y.J.; Gabard, A.; Vrankovic, V.; Sidorov, S.; Sanfilippo, S.;
By: Negrazus, M.; Pedrozzi, M.; Ganter, R.; Kim, Y.J.; Gabard, A.; Vrankovic, V.; Sidorov, S.; Sanfilippo, S.;
1992 / IEEE / 000-0-0000-0000-0
By: Zhang, Z.X.; Bidwell, S.W.; Freund, H.P.; Rodgers, J.; Levush, B.; Granatstein, V.L.; Destler, W.W.; Antonsen, T.M.;
By: Zhang, Z.X.; Bidwell, S.W.; Freund, H.P.; Rodgers, J.; Levush, B.; Granatstein, V.L.; Destler, W.W.; Antonsen, T.M.;
1992 / IEEE / 000-0-0000-0000-0
By: Chen, S.C.; Wurtele, J.S.; Trotz, S.; Temkin, R.J.; Lin, C.L.; Gonichon, J.; Danly, B.G.;
By: Chen, S.C.; Wurtele, J.S.; Trotz, S.; Temkin, R.J.; Lin, C.L.; Gonichon, J.; Danly, B.G.;
1992 / IEEE / 000-0-0000-0000-0
By: Tomimasu, T.; Nagai, A.; Abe, S.; Okano, M.; Bessho, I.; Saeki, K.; Nishimura, E.; Koga, A.; Kobayashi, A.; Keishi, T.; Miyauchi, Y.; Sato, S.; Imasaki, K.;
By: Tomimasu, T.; Nagai, A.; Abe, S.; Okano, M.; Bessho, I.; Saeki, K.; Nishimura, E.; Koga, A.; Kobayashi, A.; Keishi, T.; Miyauchi, Y.; Sato, S.; Imasaki, K.;
1992 / IEEE / 000-0-0000-0000-0
By: Lifen Zhang; Zaitong Lu; Zhijiang Wang; Bibo Feng; Ming Chang Wang;
By: Lifen Zhang; Zaitong Lu; Zhijiang Wang; Bibo Feng; Ming Chang Wang;
1992 / IEEE / 000-0-0000-0000-0
By: Labrouche, J.; Germain, G.; Gardelle, J.; Devin, A.; Bottollier-Curtet, H.; Launspach, J.; Bonnafond, C.; Bardy, J.; de Mascureau, J.; Le Taillandier, P.;
By: Labrouche, J.; Germain, G.; Gardelle, J.; Devin, A.; Bottollier-Curtet, H.; Launspach, J.; Bonnafond, C.; Bardy, J.; de Mascureau, J.; Le Taillandier, P.;
2000 / IEEE
By: Bolotin, V.P.; Gavrilov, N.G.; Vobly, P.D.; Vinokurov, N.A.; Skrinsky, A.N.; Shevchenko, O.A.; Sheglov, M.A.; Shaftan, T.V.; Popik, M.V.; Kairan, D.A.; Kholopov, M.A.; Kolobanov, E.I.; Kubarev, V.V.; Kulipanov, G.N.; Miginsky, S.V.; Mironenko, L.A.; Oreshkov, A.D.;
By: Bolotin, V.P.; Gavrilov, N.G.; Vobly, P.D.; Vinokurov, N.A.; Skrinsky, A.N.; Shevchenko, O.A.; Sheglov, M.A.; Shaftan, T.V.; Popik, M.V.; Kairan, D.A.; Kholopov, M.A.; Kolobanov, E.I.; Kubarev, V.V.; Kulipanov, G.N.; Miginsky, S.V.; Mironenko, L.A.; Oreshkov, A.D.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1226-5
By: Torres, R.; Hernandez-Garcia, C.; Sola, I.J.; Roso, L.; Ruiz, C.; Perez-Hernandez, J.A.; Holgado, W.; Varela, O.; Plaja, L.; Ramos, J.; Chacon, A.; Roman, J.S.; Alonso, B.;
By: Torres, R.; Hernandez-Garcia, C.; Sola, I.J.; Roso, L.; Ruiz, C.; Perez-Hernandez, J.A.; Holgado, W.; Varela, O.; Plaja, L.; Ramos, J.; Chacon, A.; Roman, J.S.; Alonso, B.;
2011 / IEEE / 978-83-932075-2-7
By: Hoffmann, M.; Zukocinski, M.; Czuba, K.; Zembala, L.; Weddig, H.-C.; Ludwig, F.;
By: Hoffmann, M.; Zukocinski, M.; Czuba, K.; Zembala, L.; Weddig, H.-C.; Ludwig, F.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0509-0
By: Kalinin, P.V.; Arzhannikov, A.V.; Sergeev, A.S.; Peskov, N.Y.; Ginzburg, N.S.; Thumm, M.; Sinitsky, S.L.;
By: Kalinin, P.V.; Arzhannikov, A.V.; Sergeev, A.S.; Peskov, N.Y.; Ginzburg, N.S.; Thumm, M.; Sinitsky, S.L.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0509-0
By: Schulz, S.; Hoffmann, M.C.; Schmidt, B.; Wunderlich, S.; Wesch, S.;
By: Schulz, S.; Hoffmann, M.C.; Schmidt, B.; Wunderlich, S.; Wesch, S.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-8939-8
By: Fourmaux, S.; Popovici, C.A.; Ozaki, T.; Marjoribanks, R.; Lecherbourg, L.; Kieffer, J.; Vidal, F.; Gnedyuk, S.; Buffechoux, S.;
By: Fourmaux, S.; Popovici, C.A.; Ozaki, T.; Marjoribanks, R.; Lecherbourg, L.; Kieffer, J.; Vidal, F.; Gnedyuk, S.; Buffechoux, S.;
2011 / IEEE / 978-1-4673-0120-6
By: Struder, L.; Sant, T.; Sandow, C.; Porro, M.; Moch, D.; Lutz, G.; Andritschke, R.; Lechner, P.; Hansen, K.; Granato, S.; Fischer, P.; Aschauer, S.; Weidenspointner, G.;
By: Struder, L.; Sant, T.; Sandow, C.; Porro, M.; Moch, D.; Lutz, G.; Andritschke, R.; Lechner, P.; Hansen, K.; Granato, S.; Fischer, P.; Aschauer, S.; Weidenspointner, G.;
2011 / IEEE / 978-1-4673-0120-6
By: Kugel, A.; Gerlach, T.; Fischer, P.; Muntefering, D.; Klar, H.; Hansen, K.; Wurz, A.;
By: Kugel, A.; Gerlach, T.; Fischer, P.; Muntefering, D.; Klar, H.; Hansen, K.; Wurz, A.;
2011 / IEEE / 978-1-4673-0120-6
By: Hildebrand, T.; Lutz, G.; De Vita, G.; Hermenau, K.; Bahr, A.; Aschauer, S.; Andricek, L.; Lechner, P.; Struder, L.; Soltau, H.; Schaller, G.; Sandow, C.; Richter, R.H.; Porro, M.; Majewski, P.;
By: Hildebrand, T.; Lutz, G.; De Vita, G.; Hermenau, K.; Bahr, A.; Aschauer, S.; Andricek, L.; Lechner, P.; Struder, L.; Soltau, H.; Schaller, G.; Sandow, C.; Richter, R.H.; Porro, M.; Majewski, P.;
2011 / IEEE / 978-1-4673-0120-6
By: Fiorini, C.; Facchinetti, S.; Castoldi, A.; Bombelli, L.; Guazzoni, C.; Erdinger, F.; De Vita, G.; Porro, M.; Mezza, D.;
By: Fiorini, C.; Facchinetti, S.; Castoldi, A.; Bombelli, L.; Guazzoni, C.; Erdinger, F.; De Vita, G.; Porro, M.; Mezza, D.;
2012 / IEEE / 978-1-4577-1725-3
By: Musazzi, S.; Zanetta, G.A.; Barberis, F.; Perini, U.; Golinelli, E.;
By: Musazzi, S.; Zanetta, G.A.; Barberis, F.; Perini, U.; Golinelli, E.;
2011 / IEEE / 978-0-9775657-8-8
By: Takahashi, E.J.; Togashi, T.; Ishikawa, T.; Midorikawa, K.; Yabashi, M.; Watanabe, T.; Tomizawa, H.; Tanaka, T.; Tanaka, H.; Otake, Y.; Ohshima, T.; Matsubara, S.; Hara, T.; Yamanouchi, K.; Owada, S.; Iwasaki, A.; Sato, T.; Yamakawa, K.; Aoyama, M.;
By: Takahashi, E.J.; Togashi, T.; Ishikawa, T.; Midorikawa, K.; Yabashi, M.; Watanabe, T.; Tomizawa, H.; Tanaka, T.; Tanaka, H.; Otake, Y.; Ohshima, T.; Matsubara, S.; Hara, T.; Yamanouchi, K.; Owada, S.; Iwasaki, A.; Sato, T.; Yamakawa, K.; Aoyama, M.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0631-8
By: Graas, M.; Hartman, C.; Crewson, W.; Lindholm, M.; Elmquist, K.;
By: Graas, M.; Hartman, C.; Crewson, W.; Lindholm, M.; Elmquist, K.;
2012 / IEEE / 978-1-4577-1438-2
By: Ludwig, F.; Hoffmann, M.; Czuba, K.; Zukocinski, M.; Piekarski, J.; Schiarb, H.;
By: Ludwig, F.; Hoffmann, M.; Czuba, K.; Zukocinski, M.; Piekarski, J.; Schiarb, H.;
2012 / IEEE / 978-1-4673-0189-3
By: Denis, Thomas; van Dijk, Marc; Lee, Joan H. H.; Boller, Klaus-Jochen; van der Slot, Peter J. M.;
By: Denis, Thomas; van Dijk, Marc; Lee, Joan H. H.; Boller, Klaus-Jochen; van der Slot, Peter J. M.;
2012 / IEEE / 978-1-4673-0189-3
By: Boller, Klaus-J.; van der Slot, Peter J. M.; Lee, Joan H. H.; van Dijk, Marc W.; Denis, Thomas;
By: Boller, Klaus-J.; van der Slot, Peter J. M.; Lee, Joan H. H.; van Dijk, Marc W.; Denis, Thomas;
2012 / American Institute of Physics
By: D. Rolles; C. Schmidt; A. Rouzee; M. Swiggers; S. Carron; J.-C. Castagna; J. D. Bozek; M. Messerschmidt; W. F. Schlotter; C. Bostedt; A. Rudenko; S. Schorb; T. Gorkhover; J. P. Cryan; J. M. Glownia; M. R. Bionta; R. N. Coffee; B. Erk; R. Boll;
By: D. Rolles; C. Schmidt; A. Rouzee; M. Swiggers; S. Carron; J.-C. Castagna; J. D. Bozek; M. Messerschmidt; W. F. Schlotter; C. Bostedt; A. Rudenko; S. Schorb; T. Gorkhover; J. P. Cryan; J. M. Glownia; M. R. Bionta; R. N. Coffee; B. Erk; R. Boll;
2012 / American Institute of Physics
By: M. Beye; O. Krupin; G. Hays; A. H. Reid; D. Rupp; S. de Jong; S. Lee; W.-S. Lee; Y.-D. Chuang; R. Coffee; J. P. Cryan; J. M. Glownia; A. Föhlisch; M. R. Holmes; A. R. Fry; W. E. White; C. Bostedt; A. O. Scherz; H. A. Durr; W. F. Schlotter;
By: M. Beye; O. Krupin; G. Hays; A. H. Reid; D. Rupp; S. de Jong; S. Lee; W.-S. Lee; Y.-D. Chuang; R. Coffee; J. P. Cryan; J. M. Glownia; A. Föhlisch; M. R. Holmes; A. R. Fry; W. E. White; C. Bostedt; A. O. Scherz; H. A. Durr; W. F. Schlotter;
2006 / American Institute of Physics
By: H. Schneider; O. Drachenko; S. Winnerl; M. Helm; M. Walther;
By: H. Schneider; O. Drachenko; S. Winnerl; M. Helm; M. Walther;
2007 / American Institute of Physics
By: X. J. Wang; T. Watanabe; Y. Shen; R. K. Li; J. B. Murphy; T. Tsang; H. P. Freund;
By: X. J. Wang; T. Watanabe; Y. Shen; R. K. Li; J. B. Murphy; T. Tsang; H. P. Freund;
2011 / American Institute of Physics
By: Héctor Alvaro Galué; Corey A. Rice; Jeffrey D. Steill; Jos Oomens;
By: Héctor Alvaro Galué; Corey A. Rice; Jeffrey D. Steill; Jos Oomens;
2008 / American Institute of Physics
By: A. L. Kritcher; P. Neumayer; H. J. Lee; T. Döppner; R. W. Falcone; E. C. Morse; S. H. Glenzer;
By: A. L. Kritcher; P. Neumayer; H. J. Lee; T. Döppner; R. W. Falcone; E. C. Morse; S. H. Glenzer;
2009 / American Institute of Physics
By: M. Zangrando; A. Abrami; D. Cocco; D. Bacescu; I. Cudin; C. Fava; F. Frassetto; A. Galimberti; R. Godnig; D. Giuressi; L. Poletto; L. Rumiz; R. Sergo; C. Svetina;
By: M. Zangrando; A. Abrami; D. Cocco; D. Bacescu; I. Cudin; C. Fava; F. Frassetto; A. Galimberti; R. Godnig; D. Giuressi; L. Poletto; L. Rumiz; R. Sergo; C. Svetina;