Your Search Results
Use materials about this topic in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content - such as case studies and journal articles - for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Topic: Elemental Semiconductors
Results
2011 / IEEE
By: Ameen, A.; Hoon-Sik Kim; Sang Min Won; Rogers, J.A.; Nanshu Lu; Duenas, T.; Del Solar, C.; Dae-Gon Kim;
By: Ameen, A.; Hoon-Sik Kim; Sang Min Won; Rogers, J.A.; Nanshu Lu; Duenas, T.; Del Solar, C.; Dae-Gon Kim;
2011 / IEEE
By: Sasaki, T.; Akutsu, H.; Hokazono, A.; Sonehara, T.; Uchida, H.; Toyoshima, Y.; Inaba, S.; Kawanaka, S.; Tomita, M.;
By: Sasaki, T.; Akutsu, H.; Hokazono, A.; Sonehara, T.; Uchida, H.; Toyoshima, Y.; Inaba, S.; Kawanaka, S.; Tomita, M.;
2011 / IEEE
By: Beenakker, C.I.M.; Morrison, T.; Robertson, M.; Tajari Mofrad, M.R.; Ishihara, R.; Golshani, N.; Derakhshandeh, J.;
By: Beenakker, C.I.M.; Morrison, T.; Robertson, M.; Tajari Mofrad, M.R.; Ishihara, R.; Golshani, N.; Derakhshandeh, J.;
2011 / IEEE
By: Gurun, G.; Satir, S.; Xu, T.; Hochman, M.; Zahorian, J.; Degertekin, F.L.; Karaman, M.;
By: Gurun, G.; Satir, S.; Xu, T.; Hochman, M.; Zahorian, J.; Degertekin, F.L.; Karaman, M.;
2011 / IEEE
By: Eidelloth, S.; Gatz, S.; Kessler, M.; Schulte-Huxel, H.; Zielke, D.; Bock, R.; Brendel, R.; Dullweber, T.; Petermann, J.; Schmidt, J.; Garralaga Rojas, E.;
By: Eidelloth, S.; Gatz, S.; Kessler, M.; Schulte-Huxel, H.; Zielke, D.; Bock, R.; Brendel, R.; Dullweber, T.; Petermann, J.; Schmidt, J.; Garralaga Rojas, E.;
2011 / IEEE
By: Cruz-Campa, J.L.; Gupta, V.P.; Friedmann, T.; Okandan, M.; Nielson, G.N.; Clews, P.J.; Sanchez, C.A.; Resnick, P.J.;
By: Cruz-Campa, J.L.; Gupta, V.P.; Friedmann, T.; Okandan, M.; Nielson, G.N.; Clews, P.J.; Sanchez, C.A.; Resnick, P.J.;
2011 / IEEE
By: Kapoor, A.; Upadhyaya, V.; Tate, K.; Das, A.; Chia-Wei Chen; Upadhyaya, A.; Jiun-Hong Lai; Ramanathan, S.; Rohatgi, A.;
By: Kapoor, A.; Upadhyaya, V.; Tate, K.; Das, A.; Chia-Wei Chen; Upadhyaya, A.; Jiun-Hong Lai; Ramanathan, S.; Rohatgi, A.;
2011 / IEEE
By: Hallam, B.; Fath, P.P.; Jordan, D.; Edwards, M.; Wenham, S.; Chong, C.; Mai, L.; Sugianto, A.;
By: Hallam, B.; Fath, P.P.; Jordan, D.; Edwards, M.; Wenham, S.; Chong, C.; Mai, L.; Sugianto, A.;
2011 / IEEE
By: Lang, K.-D.; Reichl, H.; Guttowski, S.; Lobbicke, K.; Curran, B.; Ndip, I.; Henke, H.;
By: Lang, K.-D.; Reichl, H.; Guttowski, S.; Lobbicke, K.; Curran, B.; Ndip, I.; Henke, H.;
2011 / IEEE
By: Tate, K.; Renshaw, J.; Ebong, A.; Chia-Wei Chen; Finot, M.; Rohatgi, A.; Zimbardi, F.;
By: Tate, K.; Renshaw, J.; Ebong, A.; Chia-Wei Chen; Finot, M.; Rohatgi, A.; Zimbardi, F.;
2011 / IEEE
By: Biro, D.; Hofmann, M.; Saint-Cast, P.; Kimmerle, A.; Mack, S.; Brosinsky, C.; Wolf, A.; Schmeisser, S.;
By: Biro, D.; Hofmann, M.; Saint-Cast, P.; Kimmerle, A.; Mack, S.; Brosinsky, C.; Wolf, A.; Schmeisser, S.;
2011 / IEEE
By: Xiaoyan Wang; Payne, A.M.; Davis, H.H.; Chandrasekaran, V.; Meier, D.L.; Yelundur, V.; Zimbardi, F.; Rohatgi, A.; Young-Woo Ok; O'Neill, E.;
By: Xiaoyan Wang; Payne, A.M.; Davis, H.H.; Chandrasekaran, V.; Meier, D.L.; Yelundur, V.; Zimbardi, F.; Rohatgi, A.; Young-Woo Ok; O'Neill, E.;
2011 / IEEE
By: Ja Hoon Koo; Juree Hong; Sangwook Lee; Taeyoon Lee; Seongil Im; Kwanghyun Lee; Seulah Lee;
By: Ja Hoon Koo; Juree Hong; Sangwook Lee; Taeyoon Lee; Seongil Im; Kwanghyun Lee; Seulah Lee;
2011 / IEEE
By: Vincent, P.; Siligaris, A.; Cathelin, A.; Busson, P.; Pilard, R.; Yamamoto, S.D.; Dussopt, L.; Lanteri, J.; Dehos, C.; Ferragut, R.; Chaix, F.; Mounet, C.; Martineau, B.; Richard, O.; Belot, D.;
By: Vincent, P.; Siligaris, A.; Cathelin, A.; Busson, P.; Pilard, R.; Yamamoto, S.D.; Dussopt, L.; Lanteri, J.; Dehos, C.; Ferragut, R.; Chaix, F.; Mounet, C.; Martineau, B.; Richard, O.; Belot, D.;
2011 / IEEE
By: Preu, R.; Biro, D.; Wolf, A.; Clement, F.; Krieg, A.; Retzlaff, M.; Lohmuller, E.; Specht, J.; Mack, S.; Jager, U.; Pospischil, M.; Thaidigsmann, B.; Nekarda, J.;
By: Preu, R.; Biro, D.; Wolf, A.; Clement, F.; Krieg, A.; Retzlaff, M.; Lohmuller, E.; Specht, J.; Mack, S.; Jager, U.; Pospischil, M.; Thaidigsmann, B.; Nekarda, J.;
2011 / IEEE
By: Chenhsin Lien; Wen-Fa Wu; Jr-Jie Tsai; Ruei-Kai Shia; Nguyen Dang Chien; Chun-Hsing Shih; Ji-Ting Liang; Yan-Xiang Luo; Wei Chang; Ming-Kun Huang;
By: Chenhsin Lien; Wen-Fa Wu; Jr-Jie Tsai; Ruei-Kai Shia; Nguyen Dang Chien; Chun-Hsing Shih; Ji-Ting Liang; Yan-Xiang Luo; Wei Chang; Ming-Kun Huang;
2011 / IEEE
By: Valletta, A.; Gaucci, P.; Mariucci, L.; Fortunato, G.; Cuscuna, M.; Maiolo, L.; Pecora, A.;
By: Valletta, A.; Gaucci, P.; Mariucci, L.; Fortunato, G.; Cuscuna, M.; Maiolo, L.; Pecora, A.;
2011 / IEEE
By: Ohyun Kim; Yoon-Ha Jeong; Chan-Hoon Park; Fleetwood, D.M.; Jae-Joon Song; Schrimpf, R.D.; En Xia Zhang; Bo Kyoung Choi;
By: Ohyun Kim; Yoon-Ha Jeong; Chan-Hoon Park; Fleetwood, D.M.; Jae-Joon Song; Schrimpf, R.D.; En Xia Zhang; Bo Kyoung Choi;
2011 / IEEE
By: Ji-Hong Chiang; Lun-Chun Chen; Chao-Kan Yang; Yung-Chun Wu; Hung-Bin Chen; Chun-Yen Chang;
By: Ji-Hong Chiang; Lun-Chun Chen; Chao-Kan Yang; Yung-Chun Wu; Hung-Bin Chen; Chun-Yen Chang;
2011 / IEEE
By: Van Houdt, J.; Van den bosch, G.; Van Aerde, S.; Richard, O.; Douhard, B.; Vrancken, C.; Debusschere, I.; Paraschiv, V.; De Keersgieter, A.; Breuil, L.; Cacciato, A.; Arreghini, A.; Blomme, P.; Kar, G.S.;
By: Van Houdt, J.; Van den bosch, G.; Van Aerde, S.; Richard, O.; Douhard, B.; Vrancken, C.; Debusschere, I.; Paraschiv, V.; De Keersgieter, A.; Breuil, L.; Cacciato, A.; Arreghini, A.; Blomme, P.; Kar, G.S.;
2011 / IEEE
By: Fang-Hsing Wang; Han-Wen Liu; Chia-Min Lin; Ta-Chuan Liao; Tsung-Kuei Kang; Huang-Chung Cheng;
By: Fang-Hsing Wang; Han-Wen Liu; Chia-Min Lin; Ta-Chuan Liao; Tsung-Kuei Kang; Huang-Chung Cheng;
2011 / IEEE
By: Oehme, M.; Schulze, J.; Kasper, E.; Kaschel, M.; Schmid, M.; Gollhofer, M.; Werner, J.;
By: Oehme, M.; Schulze, J.; Kasper, E.; Kaschel, M.; Schmid, M.; Gollhofer, M.; Werner, J.;
2011 / IEEE
By: Cassan, E.; Duan, G.; Fedeli, J.; Sanchis, P.; Campo, A.M.G.; Vivien, L.; Marris-Morini, D.; Ziebell, M.; Rasigade, G.; Brimont, A.;
By: Cassan, E.; Duan, G.; Fedeli, J.; Sanchis, P.; Campo, A.M.G.; Vivien, L.; Marris-Morini, D.; Ziebell, M.; Rasigade, G.; Brimont, A.;
2011 / IEEE
By: Dirisaglik, F.; Cywar, A.; Gokirmak, A.; Silva, H.; Steen, S.; Bakan, G.; Akbulut, M.;
By: Dirisaglik, F.; Cywar, A.; Gokirmak, A.; Silva, H.; Steen, S.; Bakan, G.; Akbulut, M.;
2011 / IEEE
By: Katopodis, V.; Kouloumentas, C.; Richter, T.; Bougioukos, M.; Avramopoulos, H.; Harmon, R.; Maxwell, G.; Schubert, C.; Poustie, A.; Harrison, J.; Rogers, D.;
By: Katopodis, V.; Kouloumentas, C.; Richter, T.; Bougioukos, M.; Avramopoulos, H.; Harmon, R.; Maxwell, G.; Schubert, C.; Poustie, A.; Harrison, J.; Rogers, D.;
2012 / IEEE
By: Groeseneken, G.; Soree, B.; Vandenberghe, W.G.; Verhulst, A.S.; Kuo-Hsing Kao; De Meyer, K.;
By: Groeseneken, G.; Soree, B.; Vandenberghe, W.G.; Verhulst, A.S.; Kuo-Hsing Kao; De Meyer, K.;
2012 / IEEE
By: Hattori, T.; Natori, K.; Sugii, N.; Tsutsui, K.; Nishiyama, A.; Iwai, H.; Ahmet, P.; Kakushima, K.; Yeonghun Lee; Kawanago, T.;
By: Hattori, T.; Natori, K.; Sugii, N.; Tsutsui, K.; Nishiyama, A.; Iwai, H.; Ahmet, P.; Kakushima, K.; Yeonghun Lee; Kawanago, T.;
2012 / IEEE
By: O'uchi, S.; Endo, K.; Matsukawa, T.; Kamei, T.; Yongxun Liu; Masahara, M.; Tsukada, J.; Sakamoto, K.; Ogura, A.; Hayashida, T.; Ishikawa, Y.; Yamauchi, H.;
By: O'uchi, S.; Endo, K.; Matsukawa, T.; Kamei, T.; Yongxun Liu; Masahara, M.; Tsukada, J.; Sakamoto, K.; Ogura, A.; Hayashida, T.; Ishikawa, Y.; Yamauchi, H.;
2012 / IEEE
By: Saxena, A.K.; Manhas, S.K.; Maheshwaram, S.; Rathod, S.S.; Kaushal, G.; Dasgupta, S.;
By: Saxena, A.K.; Manhas, S.K.; Maheshwaram, S.; Rathod, S.S.; Kaushal, G.; Dasgupta, S.;
2012 / IEEE
By: Pandey, R.K.; Bajaj, M.; Gundapaneni, S.; Kottantharayil, A.; Ganguly, S.; Murali, K.V.R.M.;
By: Pandey, R.K.; Bajaj, M.; Gundapaneni, S.; Kottantharayil, A.; Ganguly, S.; Murali, K.V.R.M.;
2011 / IEEE
By: Jong-Hyun Lee; Chang-Auk Choi; Myung-Lae Lee; Byung-Geun Lee; Sung-Sik Yun; Dae-Hun Jeong;
By: Jong-Hyun Lee; Chang-Auk Choi; Myung-Lae Lee; Byung-Geun Lee; Sung-Sik Yun; Dae-Hun Jeong;
2012 / IEEE
By: Xuejun Xu; Narusawa, S.; Chiba, T.; Shiraki, Y.; Jinsong Xia; Usami, N.; Maruizumi, T.; Tsuboi, T.;
By: Xuejun Xu; Narusawa, S.; Chiba, T.; Shiraki, Y.; Jinsong Xia; Usami, N.; Maruizumi, T.; Tsuboi, T.;
2012 / IEEE
By: Harris, J.S.; Kamins, T.I.; Wahl, P.; Rong, Y.; Miller, D.A.B.; Fei, E.T.; Roth, J.E.; Edwards, E.H.; Schaevitz, R.K.;
By: Harris, J.S.; Kamins, T.I.; Wahl, P.; Rong, Y.; Miller, D.A.B.; Fei, E.T.; Roth, J.E.; Edwards, E.H.; Schaevitz, R.K.;
2012 / IEEE
By: Chunle Xiong; Monat, C.; Collins, M.J.; Tranchant, L.; Petiteau, D.; Clark, A.S.; Eggleton, B.J.; Marshall, G.D.; Steel, M.J.; Juntao Li; O'Faolain, L.; Krauss, T.F.; Grillet, C.;
By: Chunle Xiong; Monat, C.; Collins, M.J.; Tranchant, L.; Petiteau, D.; Clark, A.S.; Eggleton, B.J.; Marshall, G.D.; Steel, M.J.; Juntao Li; O'Faolain, L.; Krauss, T.F.; Grillet, C.;
2012 / IEEE
By: Cheung, M.C.; Ka Yi Yung; Huina Xu; Bright, F.V.; Ke Liu; Chodavarapu, V.P.; Cartwright, A.N.; Kraut, N.D.;
By: Cheung, M.C.; Ka Yi Yung; Huina Xu; Bright, F.V.; Ke Liu; Chodavarapu, V.P.; Cartwright, A.N.; Kraut, N.D.;
2012 / IEEE
By: Jin-Chai Li; Chia-Cheng Tu; Ching-Hsueh Chiu; Shih-Cheng Huang; Po-Min Tu; Chien-Chung Lin; Zhen-Yu Li; Chun-Yen Chang; Shing-Chung Wang; Hao-Chung Kuo; Tien-Chang Lu; Hsiao-Wen Zan; Wu-Yih Uen;
By: Jin-Chai Li; Chia-Cheng Tu; Ching-Hsueh Chiu; Shih-Cheng Huang; Po-Min Tu; Chien-Chung Lin; Zhen-Yu Li; Chun-Yen Chang; Shing-Chung Wang; Hao-Chung Kuo; Tien-Chang Lu; Hsiao-Wen Zan; Wu-Yih Uen;